專利名稱：一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及儀器儀表領(lǐng)域，具體涉及一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置。
背景技術(shù)：
萬用答題卡是近幾年最新研制的可重復(fù)使用的答題卡，在國內(nèi)開始推廣使用。該卡的使用大大降低了答題卡的使用成本，對環(huán)保和節(jié)能減排有非常重要的意義，因此有巨大的市場潛力。萬用答題卡在使用過程中最讓用戶擔心的是讀卡的準確度。答題卡的讀卡原理就是跟卡表面光的反射率有關(guān)，在整張答題卡反射率一致的情況下，涂過卡的地方反射率和透射率較低，所以確?？ǖ谋砻娣瓷渎室恢率侨f用卡生產(chǎn)過程中重要得工藝。

發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，用于萬用答題卡的生產(chǎn)。為實現(xiàn)上述技術(shù)目的，達到上述技術(shù)效果，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)
一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，包括一單片機，所述單片機一端連接A/D 轉(zhuǎn)換電路，所述A/D轉(zhuǎn)換電路連接數(shù)據(jù)選擇譯碼電路，所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路連接56點陣列光反射傳感器，所述單片機另一端連接按鍵、顯示電路。進一步的，所述56點陣列光反射傳感器由56個反射光測量傳感器組成，每行7 個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。進一步的，所述反射光測量傳感器的電壓變換電路包括光敏管，所述光敏管的發(fā)射極與集電極之間依次連接有第一發(fā)光二極管、第二發(fā)光二極管、電阻和可調(diào)電阻。進一步的，所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路采用了 7片4051集成電路來選擇56路信號，所述7片4051集成電路分別設(shè)有7個模擬輸出，分別輸給所述A/D轉(zhuǎn)換電路的7個通道。進一步的，所述A/D轉(zhuǎn)換電路為模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路MAXl 18，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路MAX118中設(shè)有8個模擬通道輸入，其中7個模擬通道接收來自所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路的所述7個模擬輸出信號，所述A/D轉(zhuǎn)換電路還包括第一輸入按鍵和第二輸入按鍵。進一步的，按鍵、顯示電路包括數(shù)碼管顯示電路，所述數(shù)碼管顯示電路包括連體的 4位LED數(shù)碼管，所述連體的4位LED數(shù)碼管上設(shè)有4個位信號輸入和8個段碼信號輸入， 所述數(shù)碼管顯示電路的接法為動態(tài)掃描顯示。本發(fā)明的原理是
⑴卡表面反射光測量56點陣列傳感器及其電壓變換電路。反射光測量傳感器由兩個發(fā)射光電二極管和一個接收光電二極管組成，發(fā)射二極管將光打到答題卡表面，由接收二極管接收卡的反射光，并轉(zhuǎn)換成電壓。56點陣列傳感器由56個反射光測量傳感器組成，每行7個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。傳感器電壓變換電路將接收二極管接收的答題卡表面反射光，轉(zhuǎn)換成電壓，送給數(shù)據(jù)選擇譯碼電路。(2)信號處理電路。信號處理電路由單片機控制，有以下幾個部分
數(shù)據(jù)選擇譯碼電路單片機通過地址譯碼，控制數(shù)據(jù)選擇電路，有選擇的將輸入的56 路傳感器電壓，分別依次輸給模數(shù)轉(zhuǎn)換電路。模數(shù)轉(zhuǎn)換電路將反射光電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，由單片機采樣進行反射數(shù)據(jù)計算。鍵盤顯示電路接收按鍵功能，顯示反射數(shù)據(jù)及測量結(jié)果，該電路與由單片機控制的數(shù)據(jù)選擇譯碼電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路為一體，整體設(shè)計。本發(fā)明的有益效果是
該發(fā)明用于萬用答題卡的生產(chǎn)過程中控制卡生產(chǎn)的質(zhì)量，檢測卡表面對讀卡光的反射數(shù)據(jù)，對卡表面56點同時測量，確保答題卡表面光反射率一致。


此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中
圖1是本發(fā)明的框架結(jié)構(gòu)示意圖2是本發(fā)明的單點反射光測量傳感器原理圖3是本發(fā)明的單點反射光傳感器電壓變換電路原理圖4是本發(fā)明數(shù)據(jù)選擇譯碼電路原理圖5是本發(fā)明的模數(shù)轉(zhuǎn)換電路原理圖6是本發(fā)明的數(shù)碼管顯示電路原理圖。圖中標號說明1、單片機，2、A/D轉(zhuǎn)換電路，3、數(shù)據(jù)選擇譯碼電路，4、56點陣列光反射傳感器，5、按鍵、顯示電路，Ni、光敏管，Li、第一發(fā)光二極管，L2、第二發(fā)光二極管， R1、電阻，P1、可調(diào)電阻，Ul-U7、4051集成電路，AD1-AD7、模擬輸出，U9、模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路 MAX118，1N1-1N7、模擬通道，K1、第一輸入按鍵，K2、第二輸入按鍵，U10、連體的4位LED數(shù)碼管，L1-L4、位信號輸入，A-H、段碼信號輸入。
具體實施例方式下面將參考附圖并結(jié)合實施例，來詳細說明本發(fā)明。參見圖1所示，一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，包括一單片機1，所述單片機1 一端連接A/D轉(zhuǎn)換電路2，所述A/D轉(zhuǎn)換電路2連接數(shù)據(jù)選擇譯碼電路3，所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路3連接56點陣列光反射傳感器4，所述單片機1另一端連接按鍵、顯示電路 5。進一步的，所述56點陣列光反射傳感器4由56個反射光測量傳感器組成，每行7 個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。參見圖3所示，進一步的，所述反射光測量傳感器的電壓變換電路包括光敏管m， 所述光敏管W的發(fā)射極與集電極之間依次連接有第一發(fā)光二極管Li、第二發(fā)光二極管L2、電阻Rl和可調(diào)電阻PI。參見圖4所示，進一步的，所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路3采用了 7片4051集成電路 U1-U7來選擇56路信號，所述7片4051集成電路U1-U7分別設(shè)有7個模擬輸出AD1-AD7， 分別輸給所述A/D轉(zhuǎn)換電路2的7個通道。參見圖5所示，進一步的，所述A/D轉(zhuǎn)換電路2為模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路MAX118 U9， 所述模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路MAXl 18 U9中設(shè)有8個模擬通道輸入，其中7個模擬通道1N1-1N7 接收來自所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路3的所述7個模擬輸出信號AD1-AD7，所述A/D轉(zhuǎn)換電路2 還包括第一輸入按鍵Kl和第二輸入按鍵K2。參見圖6所示，進一步的，按鍵、顯示電路5包括數(shù)碼管顯示電路，所述數(shù)碼管顯示電路包括連體的4位LED數(shù)碼管U10，所述連體的4位LED數(shù)碼管UlO上設(shè)有4個位信號輸入L1-L4和8個段碼信號輸入A-H，所述數(shù)碼管顯示電路的接法為動態(tài)掃描顯示。該發(fā)明的卡表面光反射多點同時測量、判斷方法
該裝置設(shè)計了 4位LED數(shù)碼管顯示，前兩位顯示光反射傳感器的點數(shù)，后兩位顯示該點所測量的光反射數(shù)據(jù)。該裝置設(shè)計了 2個功能按鍵，工作時將56點陣反射光傳感器，放在答題卡表面，接通電源后，按下功能鍵1，開始測試。測試時先計算56點反射數(shù)據(jù)平均值，再計算每點反射數(shù)據(jù)與平均值的差，當所有差值小于某個設(shè)定范圍時，該卡合格，若有差值大于該范圍，該卡不合格。通過4位LED數(shù)碼管顯示結(jié)果，結(jié)果顯示為前3位LED暗，若卡合格，最后一位顯示1，不合格顯示0。連續(xù)按下功能鍵2可以顯示每一點的光反射數(shù)據(jù)。需要強調(diào)的是，上述設(shè)施例雖然對本發(fā)明作了比較詳細的說明，但是這些說明只是對本發(fā)明說明性的，而不是對發(fā)明的限制，任何不超出本發(fā)明實質(zhì)精神內(nèi)的發(fā)明創(chuàng)造，均落在本發(fā)明權(quán)利保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特征在于包括一單片機(1)，所述單片機(1) 一端連接A/D轉(zhuǎn)換電路(2 )，所述A/D轉(zhuǎn)換電路(2 )連接數(shù)據(jù)選擇譯碼電路(3 )，所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路(3)連接56點陣列光反射傳感器(4)，所述單片機(1)另一端連接按鍵、顯示電路(5)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特征在于所述56 點陣列光反射傳感器(4)由56個反射光測量傳感器組成，每行7個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1、2所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特征在于所述反射光測量傳感器的電壓變換電路包括光敏管(Ni )，所述光敏管(Ni)的發(fā)射極與集電極之間依次連接有第一發(fā)光二極管(Li)、第二發(fā)光二極管(L2)、電阻(Rl)和可調(diào)電阻(P1)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特征在于所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路(3)采用了 7片4051集成電路(U1-U7)來選擇56路信號，所述7片4051 集成電路(U1-U7)分別設(shè)有7個模擬輸出(AD1-AD7)，分別輸給所述A/D轉(zhuǎn)換電路(2)的7 個通道。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、4所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特征在于所述 A/D轉(zhuǎn)換電路(2)為模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路MAXl 18 (U9)，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路MAXl 18 (U9) 中設(shè)有8個模擬通道輸入，其中7個模擬通道(mi-lN7)接收來自所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路 (3)的所述7個模擬輸出信號(AD1-AD7)，所述A/D轉(zhuǎn)換電路(2)還包括第一輸入按鍵(Kl) 和第二輸入按鍵(K2)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特征在于按鍵、顯示電路(5)包括數(shù)碼管顯示電路，所述數(shù)碼管顯示電路包括連體的4位LED數(shù)碼管(U10)， 所述連體的4位LED數(shù)碼管(UlO)上設(shè)有4個位信號輸入(L1-L4)和8個人段碼信號輸入 (A-H)，所述數(shù)碼管顯示電路的接法為動態(tài)掃描顯示。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，包括一單片機，所述單片機一端連接A/D轉(zhuǎn)換電路，所述A/D轉(zhuǎn)換電路連接數(shù)據(jù)選擇譯碼電路，所述數(shù)據(jù)選擇譯碼電路連接56點陣列光反射傳感器，所述單片機另一端連接按鍵、顯示電路。該發(fā)明用于萬用答題卡的生產(chǎn)過程中控制卡生產(chǎn)的質(zhì)量，檢測卡表面對讀卡光的反射數(shù)據(jù)，對卡表面56點同時測量，確保答題卡表面光反射率一致。
文檔編號G01R15/22GK102539872SQ20121003120
公開日2012年7月4日 申請日期2012年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月13日
發(fā)明者朱愛敏, 樊斌 申請人:蘇州科技學院