專利名稱：一種帶線路轉(zhuǎn)換板的晶體振蕩器測試夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子元器件生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種用于貼片式晶體振蕩器生產(chǎn)過程中的帶線路轉(zhuǎn)換板的測試夾具。
背景技術(shù)：
晶體振蕩器是很多電子產(chǎn)品不可或缺的部件，從電子手表到計(jì)算機(jī)，從手機(jī)到衛(wèi)星、雷達(dá)。晶體振蕩器就像電源一樣無處不在，有人認(rèn)為它們的重要性等同于電源。晶體振蕩器的主要作用是為系統(tǒng)提供基本的時(shí)鐘信號，如果晶體振蕩器不能正常工作，各元件之間就沒有辦法協(xié)調(diào)工作，從而導(dǎo)致錯誤頻發(fā)，甚至引致整個系統(tǒng)崩潰、停機(jī)，所以晶體振蕩器的穩(wěn)定性十分重要。
晶體振蕩器在生產(chǎn)過程中需要在-50°C 125°C的溫度環(huán)境中反復(fù)測試。測試結(jié)果要求十分精確。在測試過程中，接線端子的氧化或夾持力度的變化都會造成接觸電阻變化，而影響測量結(jié)果，甚至電源線或測量信號線的擺放位置變化都會引起寄生電感或寄生電容變化，而帶來測量誤差。貼片式晶體振蕩器在大批量生產(chǎn)過程中，生產(chǎn)測試板作為貼片式晶體振蕩器的承載平臺，并實(shí)現(xiàn)貼片式晶體振蕩器與生產(chǎn)測試系統(tǒng)間的數(shù)據(jù)通訊、信號傳輸，因此固定貼片式晶體振蕩器的夾具極為重要。
為了提高生產(chǎn)效率，往往在一個可變溫度的測試環(huán)境中，會將不同型號規(guī)格，但性能指標(biāo)接近的產(chǎn)品，混和成批次生產(chǎn)，甚至一個生產(chǎn)測試板上搭載若干個型號的晶體振蕩器。因此需要滿足大批量生產(chǎn)測試的同時(shí)，盡可能的消除系統(tǒng)測量誤差。而現(xiàn)有的夾具都只能滿足單個或批量順序測試，如中國專利CN101576575A揭示的技術(shù)，無法滿足在同一可變溫度的測試環(huán)境中、大批量、高精度、高可靠性的生產(chǎn)測試。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對上述存在的問題和不足，提供一種帶線路轉(zhuǎn)換板的晶體振蕩器測試夾具，在生產(chǎn)貼片式晶體振蕩器的過程中，能牢靠的將貼片式晶體振蕩器固定在生產(chǎn)測試板上，實(shí)現(xiàn)在同一可變溫度的生產(chǎn)測試環(huán)境中、大批量、高精度、高可靠性的生產(chǎn)測試。
本發(fā)明的上述目的是通過以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)一種帶線路轉(zhuǎn)換板的晶體振蕩器測試夾具，其結(jié)構(gòu)包括夾具、設(shè)置在夾具下方的線路轉(zhuǎn)換板及連接夾具和線路轉(zhuǎn)換板的多根金屬導(dǎo)電針，其中，夾具包括夾具底座和夾具蓋，夾具蓋一端與夾具底座活動鉸接成活葉式開合設(shè)計(jì)，且鉸接處裝有聯(lián)軸彈簧，夾具蓋和夾具底座另一端通過鎖緊機(jī)構(gòu)連接；夾具底座的上部設(shè)有一個用于放置待測貼片式晶體振蕩器的凹槽工位，所述金屬導(dǎo)電針埋設(shè)在夾具底座中，其上端穿過夾具底座從凹槽工位中伸出， 金屬導(dǎo)電針排列方式與其對應(yīng)的貼片式晶體振蕩器或其他IC電子元器件輸入輸出端相對應(yīng)，所述金屬導(dǎo)電針的下端穿過線路轉(zhuǎn)接板并焊接固定在線路轉(zhuǎn)接板上；所述夾具蓋的扣合面對應(yīng)凹槽工位位置設(shè)有一個用于頂壓貼片式晶體振蕩器的半圓形凸起。凸起的半圓形結(jié)構(gòu)使得夾具蓋合上的過程中，貼片式晶體振蕩器的頂端受力均衡。
進(jìn)一步地，夾具底座與夾具蓋的對合面中部縱向設(shè)有凸臺，凹槽工位設(shè)置在凸臺中部，且凹槽工位設(shè)置為倒梯形，凹槽工位沿著橫向和縱向分別設(shè)置有橫向通道和縱向通道；夾具蓋對應(yīng)凸臺位置設(shè)有與凸臺適配的凹槽，凸起設(shè)置在凹槽中部對應(yīng)凹槽工位位置且與凹槽工位適配。凹槽工位的倒梯形結(jié)構(gòu)起導(dǎo)向作用，在放入貼片式晶體振蕩器，合上夾具蓋時(shí)，貼片式晶體振蕩器在夾具蓋的壓力下，由斜面引導(dǎo)至正確的位置。
上述金屬導(dǎo)電針設(shè)置為4個或4個以上，直立排列固定在倒梯形凹槽工位內(nèi)，金屬導(dǎo)電針伸至凹槽工位的部分為內(nèi)含彈簧的彈性伸縮端，彈性伸縮端的頂部設(shè)為半圓頭，彈性伸縮端作為夾具與貼片式晶體振蕩器的引腳，起供電及信號傳輸連接作用；金屬導(dǎo)電針的彈性伸縮端與待檢測的貼片式晶體振蕩器的供電及信號傳輸引腳以壓觸方式連接。
鎖緊機(jī)構(gòu)可以有多種結(jié)構(gòu)形式，如鎖緊機(jī)構(gòu)可以采用彈性撥片，彈性撥片包括撥片本體、設(shè)置在撥片本體下部的鉤接端以及設(shè)置在撥片本體上部的抵緊端，彈性撥片的鉤接端垂直于夾具底座和夾具蓋的扣合面埋設(shè)在夾具底座里，彈性撥片上部的抵緊端垂直于夾具底座和夾具蓋的扣合面向上伸出，抵緊端為撥片本體的頂部斜向下延伸并在延伸末端設(shè)置的圓弧彈圈，圓弧彈圈最低點(diǎn)與夾具底座的垂直距離略小于夾具蓋在該處的厚度尺寸，使得夾具蓋合上時(shí)能被圓弧彈圈頂緊。夾具底座上對應(yīng)彈性撥片撥拉方向的位置設(shè)為斜面空隙，當(dāng)需要夾具蓋與夾具底座合上時(shí)，撥拉彈性撥片使其抵緊端壓緊夾具蓋，當(dāng)需要打開夾具蓋時(shí)，撥開彈性撥片，夾具蓋在聯(lián)軸彈簧回復(fù)力的作用下自動彈開。鎖緊機(jī)構(gòu)還可以采用鉤扣機(jī)構(gòu)或其他鎖扣機(jī)構(gòu)。
進(jìn)一步地，夾具底座和夾具蓋的鉸接端外側(cè)設(shè)有限位斜面，限位斜面的角度決定夾具底座和夾具蓋開合的角度。不同型號規(guī)格的貼片式晶體振蕩器用不同規(guī)格的夾具，夾具的倒梯形凹槽工位與其對應(yīng)的貼片式晶體振蕩器外型尺寸相適配。
進(jìn)一步地，凸起中部設(shè)有穿過夾具蓋的觀察孔。凸起的下部外邊緣設(shè)為圓角。
本發(fā)明由于使用內(nèi)含彈簧的半圓頭金屬導(dǎo)電針，增大了接觸力度，避免了因過高的溫度變化造成金屬形變而帶來的接觸電阻過大或電路斷路，金屬導(dǎo)電針的彈性伸縮端頂端的半圓形結(jié)構(gòu)提高了電連接的可靠性。線路轉(zhuǎn)換板將不同間距規(guī)格夾具的金屬導(dǎo)電針轉(zhuǎn)換成生產(chǎn)測試板上定義的統(tǒng)一管腳規(guī)格，同時(shí)線路轉(zhuǎn)換板上的阻抗匹配電路，提高了測量信號的準(zhǔn)確度。由于夾具與線路轉(zhuǎn)換板在生產(chǎn)測試板上是直插式連接，減少了因?qū)Ь€引起寄生電感或寄生電容，減少了線路干擾提高了測量信號的準(zhǔn)確度，也避免了眾多導(dǎo)線帶來的龐大體積。在實(shí)際應(yīng)用中，一個生產(chǎn)測試板上通過本發(fā)明的夾具與線路轉(zhuǎn)換板可同時(shí)搭載幾十個甚至兩三百個貼片式晶體振蕩器進(jìn)行測試，從而大大提高了勞動生產(chǎn)率。
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。


圖I為本發(fā)明生產(chǎn)測試工作原理結(jié)構(gòu)圖；圖2為本發(fā)明測試夾具合上時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明測試夾具打開時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為本發(fā)明夾具蓋仰視時(shí)的結(jié)構(gòu)示意5為本發(fā)明夾具底座圖俯視的結(jié)構(gòu)示意。
主要組件符號說明I-夾具，31-彈性伸縮端，2-線路轉(zhuǎn)換板，32-半圓頭，3-金屬導(dǎo)電針，4-夾具底座，43-縱向通道， 46/54-限位斜面，52-凸起，41-凸臺，44-斜面，5-夾具蓋， 53-觀察孔，72-鉤接端，42-橫向通道，45-凹槽工位，51-凹槽，6-聯(lián)軸彈簧，73-抵緊端，71-撥片本體，8-貼片式晶體振蕩器。
具體實(shí)施方式
如圖1-5所示，本發(fā)明為一種帶線路轉(zhuǎn)換板的晶體振蕩器測試夾具，其結(jié)構(gòu)包括夾具I、設(shè)置在夾具I下方的線路轉(zhuǎn)換板2及連接夾具I和線路轉(zhuǎn)換板2的多根金屬導(dǎo)電針 3，其中，夾具I包括夾具底座4和夾具蓋5，夾具蓋5 —端與夾具底座4活動鉸接成活葉式開合設(shè)計(jì)，且鉸接處裝有聯(lián)軸彈簧6，夾具蓋5和夾具底座4另一端通過鎖緊機(jī)構(gòu)連接；夾具底座4的上部設(shè)有一個用于放置待測貼片式晶體振蕩器8的凹槽工位45，金屬導(dǎo)電針3 埋設(shè)在夾具底座4中，其上端穿過夾具底座4從凹槽工位45中伸出，金屬導(dǎo)電針3排列方式與其對應(yīng)的貼片式晶體振蕩器8輸入輸出端相對應(yīng)，金屬導(dǎo)電針3的下端穿過線路轉(zhuǎn)接板2并焊接固定在線路轉(zhuǎn)接板2上；夾具蓋5的扣合面對應(yīng)凹槽工位45位置設(shè)有一個用于頂壓貼片式晶體振蕩器8的凸起52。凸起52中部設(shè)有穿過夾具蓋5的觀察孔53，使凸起 52形成框形。凸起52的下部外邊緣設(shè)為圓角，也可以是直角。本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例凸起52 的下部外邊緣設(shè)為圓角。夾具底座4和夾具蓋5的鉸接端外側(cè)分別設(shè)有限位斜面46、54，限位斜面46、54的角度決定夾具底座4和夾具蓋5開合的角度。
如圖4、5所示，夾具底座4與夾具蓋5的對合面中部縱向設(shè)有凸臺41，凹槽工位 45設(shè)置在凸臺41中部，且凹槽工位45設(shè)置為倒梯形，凹槽工位45沿著橫向和縱向分別設(shè)置有橫向通道42和縱向通道43 ;夾具蓋5對應(yīng)凸臺41位置設(shè)有與凸臺41適配的凹槽51， 凸起52設(shè)置在凹槽51中部對應(yīng)凹槽工位45位置且與凹槽工位45適配。凹槽工位45的倒梯形結(jié)構(gòu)起導(dǎo)向作用，在放入貼片式晶體振蕩器，合上夾具蓋時(shí)，貼片式晶體振蕩器8在夾具蓋的壓力下，由斜面引導(dǎo)至正確的位置。
金屬導(dǎo)電針3為4個或4個以上，通常為4、6、8、10、12個，如圖1_3、5所示，本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例金屬導(dǎo)電針3采用8個，金屬導(dǎo)電針3直立排列固定在倒梯形凹槽工位45內(nèi)， 金屬導(dǎo)電針3伸至凹槽工位45的部分為內(nèi)含彈簧的彈性伸縮端31，彈性伸縮端31的頂部設(shè)為半圓頭32，彈性伸縮端31作為夾具I與貼片式晶體振蕩器8的接觸引腳，起供電及信號傳輸連接作用；金屬導(dǎo)電針3的彈性伸縮端31與待檢測的貼片式晶體振蕩器8的供電及信號傳輸引腳以壓觸方式連接。
如圖1-3所示，本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例鎖緊機(jī)構(gòu)采用彈性撥片，彈性撥片包括撥片本體71、設(shè)置在撥片本體71下部的鉤接端72以及設(shè)置在撥片本體71上部的抵緊端73，彈性撥片的鉤接端72垂直于夾具底座4和夾具蓋5的扣合面埋設(shè)在夾具底座4里，所述彈性撥片上部的抵緊端73垂直于夾具底座4和夾具蓋5的扣合面向上伸出，抵緊端73為撥片本體71的頂部斜向下延伸并在延伸末端設(shè)置的圓弧彈圈，圓弧彈圈最低點(diǎn)與夾具底座4的垂直距離略小于夾具蓋5在該處的厚度尺寸，使得夾具蓋合上時(shí)能被圓弧彈圈頂緊。夾具底座4上對應(yīng)彈性撥片撥拉方向的位置設(shè)為斜面44，夾具蓋5與夾具底座4合上時(shí)，彈性撥片的抵緊端73壓緊夾具蓋5，彈性撥片撥開后，夾具蓋5在聯(lián)軸彈簧6回復(fù)力的作用下自動彈開。鎖緊機(jī)構(gòu)還可以采用鉤扣機(jī)構(gòu)或其他鎖扣機(jī)構(gòu)。
本發(fā)明實(shí)施時(shí)，不同型號規(guī)格的貼片式晶體振蕩器8采用不同規(guī)格的夾具1，夾具 I的倒梯形凹槽工位45與其對應(yīng)的貼片式晶體振蕩器8外型尺寸相適配。
上述實(shí)施例為本發(fā)明較佳的實(shí)施方式，但本發(fā)明的實(shí)施方式并不受上述實(shí)施例的限制，其他的任何未背離本發(fā)明的精神實(shí)質(zhì)與原理下所作的改變、修飾、替代、組合、簡化， 均應(yīng)為等效的置換方式，都包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種帶線路轉(zhuǎn)換板的晶體振蕩器測試夾具，其特征在于包括夾具(I)、設(shè)置在夾具(I)下方的線路轉(zhuǎn)換板(2)及連接夾具(I)和線路轉(zhuǎn)換板(2)的多根金屬導(dǎo)電針(3)，其中，所述夾具(I)包括夾具底座(4)和夾具蓋(5 )，所述夾具蓋(5 ) 一端與夾具底座(4)活動鉸接成活葉式開合設(shè)計(jì)，且鉸接處裝有聯(lián)軸彈簧(6)，夾具蓋(5)和夾具底座(4)另一端通過鎖緊機(jī)構(gòu)連接；所述夾具底座(4)的上部設(shè)有一個用于放置待測貼片式晶體振蕩器(8) 的凹槽工位(45 )，所述金屬導(dǎo)電針(3 )埋設(shè)在夾具底座(4 )中，其上端穿過夾具底座(4 )從凹槽工位(45)中伸出，金屬導(dǎo)電針(3)排列方式與其對應(yīng)的貼片式晶體振蕩器(8)輸入輸出端相對應(yīng)，所述金屬導(dǎo)電針(3)的下端穿過線路轉(zhuǎn)接板(2)并焊接固定在線路轉(zhuǎn)接板(2) 上；所述夾具蓋(5)的扣合面對應(yīng)凹槽工位(45)位置設(shè)有一個用于頂壓貼片式晶體振蕩器(8)或其他IC電子元器件的凸起(52)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測試夾具，其特征在于所述夾具底座(4)與夾具蓋(5)的對合面中部縱向設(shè)有凸臺(41)，所述凹槽工位(45 )設(shè)置在凸臺(41)中部，且凹槽工位(45 ) 設(shè)置為倒梯形，凹槽工位(45)沿著橫向和縱向分別設(shè)置有橫向通道(42)和縱向通道(43); 夾具蓋(5)對應(yīng)凸臺(41)位置設(shè)有與凸臺(41)適配的凹槽(51)，所述凸起(52)設(shè)置在凹槽(51)中部對應(yīng)凹槽工位(45)位置且與凹槽工位(45)適配。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的測試夾具，其特征在于所述金屬導(dǎo)電針(3)為4個或4個以上，直立排列固定在倒梯形凹槽工位(45)內(nèi)，金屬導(dǎo)電針(3)伸至凹槽工位(45) 的部分為內(nèi)含彈簧的彈性伸縮端(31)，彈性伸縮端(31)的頂部設(shè)為半圓頭(32)，彈性伸縮端(31)作為夾具(I)與貼片式晶體振蕩器(8)的接觸引腳，起供電及信號傳輸連接作用；金屬導(dǎo)電針(3)的彈性伸縮端(31)與待檢測的貼片式晶體振蕩器(8)的供電及信號傳輸引腳以壓觸方式連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試夾具，其特征在于所述鎖緊機(jī)構(gòu)為彈性撥片，所述彈性撥片包括撥片本體(71)、設(shè)置在撥片本體(71)下部的鉤接端(72)以及設(shè)置在撥片本體(71)上部的抵緊端(73 )，所述彈性撥片的鉤接端(72 )垂直于夾具底座(4 )和夾具蓋(5 ) 的扣合面埋設(shè)在夾具底座(4)里，所述彈性撥片上部的抵緊端(73)垂直于夾具底座(4)和夾具蓋(5)的扣合面向上伸出，所述抵緊端(73)為撥片本體(71)的頂部斜向下延伸并在延伸末端設(shè)置的圓弧彈圈，所述圓弧彈圈最低點(diǎn)與夾具底座(4)的垂直距離略小于夾具蓋 (5 )在該處的厚度尺寸，夾具底座(4 )上對應(yīng)彈性撥片撥拉方向的位置設(shè)為斜面(44 )，所述夾具蓋(5 )與夾具底座(4 )合上時(shí)，彈性撥片的抵緊端(73 )壓緊夾具蓋(5 )，所述彈性撥片撥開后，夾具蓋(5)在聯(lián)軸彈簧(6)回復(fù)力的作用下自動彈開。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試夾具，其特征在于所述夾具底座(4)和夾具蓋(5) 的鉸接端外側(cè)分別設(shè)有限位斜面(46、54)，限位斜面(46、54)的角度決定夾具底座(4)和夾具蓋(5)開合的角度。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測試夾具，其特征在于所述不同型號規(guī)格的貼片式晶體振蕩器(8)用不同規(guī)格的夾具(1)，夾具(I)的倒梯形凹槽工位(45)與其對應(yīng)的貼片式晶體振蕩器(8)外型尺寸相適配。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試夾具，其特征在于所述凸起(52)中部設(shè)有穿過夾具蓋(5)的觀察孔(53)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試夾具，其特征在于所述凸起(52)的下部外邊緣設(shè)為圓角。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種帶線路轉(zhuǎn)換板的晶體振蕩器測試夾具，包括夾具、線路轉(zhuǎn)換板。夾具包括夾具底座、夾具蓋以及夾具底座內(nèi)多條金屬導(dǎo)電針，夾具蓋一端與夾具底座鉸接，夾具蓋和夾具底座另一端通過鎖緊機(jī)構(gòu)連接；夾具底座的上部設(shè)有凹槽工位，金屬導(dǎo)電針上端穿過夾具底座從凹槽工位中伸出，金屬導(dǎo)電針的下端穿過線路轉(zhuǎn)接板并焊接固定在線路轉(zhuǎn)接板上；夾具蓋的扣合面設(shè)有半圓形凸起。內(nèi)含彈簧的半圓頭金屬導(dǎo)電針，增大接觸力度，避免因頻繁的大范圍的溫度變化造成金屬形變而帶來的接觸電阻過大或電路斷路，提高了電連接的可靠性。不同規(guī)格的夾具，其金屬導(dǎo)電針的間距規(guī)格也不同，線路轉(zhuǎn)換板將不同間距規(guī)格的金屬導(dǎo)電針轉(zhuǎn)換成生產(chǎn)測試板上定義的統(tǒng)一管腳規(guī)格，線路轉(zhuǎn)換板上的阻抗匹配電路，提高了測量信號的準(zhǔn)確度。
文檔編號G01R1/04GK102539846SQ20121003114
公開日2012年7月4日 申請日期2012年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月13日
發(fā)明者倪錦成, 唐道勇, 張昀 申請人:廣東中晶電子有限公司