專利名稱：一種直線中間檢測機檢測方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及一種石英晶體行業(yè)的參數(shù)檢測機，尤其是一種直線中間檢測機檢測方法。
背景技術(shù)：
目前，直線微調(diào)機不能精確檢測晶體電阻等參數(shù)，所以，晶體微調(diào)完成后必須檢測參數(shù)，判定晶體性能。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有直線微調(diào)機不能精確檢測晶體電阻等參數(shù)，本發(fā)明提供了一種直線中間檢測機檢測方法，能根據(jù)客戶需求，檢測不同的晶體參數(shù)，判定產(chǎn)品性能，達到設計的效果。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種直線中間檢測機檢測方法，將需要檢測晶體數(shù)值在電腦里設定，電機轉(zhuǎn)動后，帶動晶體移動，晶體接觸測試頭時，測試頭檢測晶體的參數(shù)，參數(shù)值立刻在電腦上顯示，檢測速度快，精度高，由于上一盤的數(shù)據(jù)一直顯示，不影響工作，且生產(chǎn)效率高。本發(fā)明的有益效果是，采用電機傳送晶體，測試頭檢測晶體參數(shù)，最后參數(shù)值在電腦上顯示，方便快捷，精度高，能根據(jù)客戶需求，檢測不同的晶體參數(shù)，判定產(chǎn)品性能，達到設計的效果。


下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。附圖為本發(fā)明示意圖。圖中1.晶體，2.測試頭，3.電腦，4.電機。
具體實施例方式在圖中，將需要檢測晶體(1)數(shù)值在電腦(3)里設定，電機(4)轉(zhuǎn)動后，帶動晶體 (1)移動，晶體(1)接觸測試頭( 時，測試頭( 檢測晶體(1)的參數(shù)，參數(shù)值立刻在電腦 (3)上顯示，檢測速度快，精度高，由于上一盤的數(shù)據(jù)一直顯示，不影響工作，且生產(chǎn)效率高。
權(quán)利要求
1. 一種直線中間檢測機檢測方法，其特征是將需要檢測晶體數(shù)值在電腦里設定，電機轉(zhuǎn)動后，帶動晶體移動，晶體接觸測試頭時，測試頭檢測晶體的參數(shù)，參數(shù)值立刻在電腦上顯不。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種石英晶體行業(yè)的參數(shù)檢測機，尤其是一種直線中間檢測機檢測方法，將需要檢測晶體數(shù)值在電腦里設定，電機轉(zhuǎn)動后，帶動晶體移動，晶體接觸測試頭時，測試頭檢測晶體的參數(shù)，參數(shù)值立刻在電腦上顯示，解決了直線微調(diào)機不能精確檢測晶體電阻等參數(shù)，能根據(jù)客戶需求，檢測不同的晶體參數(shù)，判定產(chǎn)品性能，達到設計的效果。
文檔編號G01R31/00GK102565589SQ20121001175
公開日2012年7月11日 申請日期2012年1月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月7日
發(fā)明者呂春哲, 崔淑梅 申請人:煙臺力凱電子科技有限公司