專利名稱：一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置。
背景技術(shù)：
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，電子產(chǎn)品逐步進入到人們的生活中，比如手機、MP4等電子產(chǎn)品。電子產(chǎn)品中均設(shè)置有多個電子單元，電子單元之間通過弱電信號進行通信，如果電子單元上掉落粉塵容易造成短路，損害電子產(chǎn)品中的電路，加速電子產(chǎn)品的老化，縮短電子產(chǎn)品的壽命，短路電流甚至造成電子產(chǎn)品的爆炸，給用戶帶來較大的損失，增加用戶的使用成本。尤其是電子產(chǎn)品一般均設(shè)置有顯示屏，以方便用戶體驗，顯示屏是一種將一定的電子文件通過特定的傳輸設(shè)備儀器顯示到屏幕上再反射到人眼的一種顯示工具，其主要包括TFT液晶顯示屏、UFB液晶顯示屏、STN屏幕以及AMOLED屏幕，如果顯示屏上覆蓋較多粉塵，則降低了其顯示效果，給用戶帶來諸多不便。但目前在粉塵環(huán)境下對電子產(chǎn)品進行結(jié)構(gòu)密閉性測試的設(shè)備尚未見諸報道。由此可見，現(xiàn)有技術(shù)有待于更進一步的改進和發(fā)展。
實用新型內(nèi)容本實用新型為解決上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷提供一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置，解決不能在粉塵環(huán)境下對電子產(chǎn)品進行結(jié)構(gòu)密閉性測試的技術(shù)問題， 以提高電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性檢測的準確性，方便操作。為解決上述技術(shù)問題，本實用新型方案包括—種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置，其包括支架，其中，所述支架上設(shè)置有旋轉(zhuǎn)的箱體，所述箱體用于放置試件與粉塵，所述箱體與一用于驅(qū)動箱體旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動機構(gòu)相連接。所述的實驗裝置，其中，所述箱體相向的側(cè)壁上分別設(shè)置有轉(zhuǎn)軸，兩個轉(zhuǎn)軸位于同一軸線，一個轉(zhuǎn)軸設(shè)置在支架的軸承內(nèi)，另一個轉(zhuǎn)軸與所述驅(qū)動機構(gòu)相連接。所述的實驗裝置，其中，所述驅(qū)動機構(gòu)包括一減速電機，所述減速電機的動力輸出軸與一聯(lián)軸器相連接，所述聯(lián)軸器與所述另一個轉(zhuǎn)軸相連接；所述減速電機上設(shè)置有一轉(zhuǎn)速控制器，所述轉(zhuǎn)速控制器上設(shè)置有用于記錄所述箱體旋轉(zhuǎn)次數(shù)的計數(shù)器。所述的實驗裝置，其中，所述支架底部均勻設(shè)置有多個可調(diào)腳墊。所述的實驗裝置，其中，所述箱體的任一側(cè)壁上設(shè)置有一用于放入試件與粉塵的入口，與設(shè)置有所述入口的側(cè)壁相向之側(cè)壁的下部設(shè)置有粉塵清理出口，所述入口配置有一密封門體，所述粉塵清理出口配置有一旋塞。所述的實驗裝置，其中，所述入口為方形，所述粉塵清理出口為圓形。本實用新型提供了一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置，通過將試件與粉塵放置在箱體內(nèi)，然后驅(qū)動箱體按照預(yù)設(shè)的旋轉(zhuǎn)速度以及旋轉(zhuǎn)次數(shù)旋轉(zhuǎn)，使試件在
3粉塵環(huán)境下進行充分震蕩，然后將試件取出測試試件各項功能是否正常，顯示屏內(nèi)是否有明顯灰塵，從而提高了電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性檢測的準確性，其操作簡便，檢測效率高，是現(xiàn)有技術(shù)的極大進步。

圖1是本實用新型中實驗裝置的結(jié)構(gòu)簡圖；圖2是本實用新型中實驗裝置的后視結(jié)構(gòu)簡圖。
具體實施方式
本實用新型提供了一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置，為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案以及優(yōu)點更清楚、明確，以下將結(jié)合附圖與實施例，對本實用新型進一步詳細說明。本實用新型提供了一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置，采用機械結(jié)構(gòu)檢測電子產(chǎn)品，比如手機、MP4等電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的密閉性，提高了電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性檢測的準確性。如圖1所示的，其包括支架101，所述支架101可以采用由鋼材焊接制成的普通支架，比如大體呈長方體的支架，并在其上預(yù)留多個布置空間，方便了各個部件的安裝， 當然所述支架101也可以采用現(xiàn)有技術(shù)其他形式技術(shù)手段。所述支架101上設(shè)置有能旋轉(zhuǎn)的箱體102，所述箱體102用于放置試件與粉塵，試件可以采用手機、MP4等電子產(chǎn)品，粉塵一般采用300目的滑石粉來模擬環(huán)境中的粉狀物，顯然的，將試件與粉塵放置在所述箱體 102內(nèi)進行實驗時，其實驗過程中所述箱體102始終處于密閉狀態(tài)。所述箱體102與一用于驅(qū)動箱體旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動機構(gòu)相連接，進而控制所述箱體102的旋轉(zhuǎn)速度、旋轉(zhuǎn)次數(shù)、旋轉(zhuǎn)時間等因素，更進一步的檢測了電子產(chǎn)品尤其是小型電子產(chǎn)品在惡劣氣候環(huán)境中可靠性。為了更進一步提高本實用新型的性能，所述箱體101相向的側(cè)壁上分別設(shè)置有轉(zhuǎn)軸103與轉(zhuǎn)軸104，如圖1與圖2所示的，轉(zhuǎn)軸103與轉(zhuǎn)軸104位于同一軸線，使所述箱體 102旋轉(zhuǎn)更流暢，一個轉(zhuǎn)軸103設(shè)置在所述支架101的軸承105內(nèi)，另一個轉(zhuǎn)軸104與所述驅(qū)動機構(gòu)相連接，顯然的，轉(zhuǎn)軸104也可以設(shè)置在所述支架101另一軸承106內(nèi)，然后再與所述驅(qū)動機構(gòu)相連接，使所述箱體101運行更穩(wěn)定。更進一步的，所述驅(qū)動機構(gòu)包括一減速電機107，所述減速電機107也可以采用伺服電機，還可以采用現(xiàn)有技術(shù)中其他的技術(shù)形式。所述減速電機107的動力輸出軸與一聯(lián)軸器108相連接，所述聯(lián)軸器108與所述另一個轉(zhuǎn)軸104相連接；所述減速電機107上設(shè)置有一轉(zhuǎn)速控制器109，所述轉(zhuǎn)速控制器109控制所述減速電機107的旋轉(zhuǎn)方向、旋轉(zhuǎn)次數(shù)、旋轉(zhuǎn)速度等設(shè)置，提高了本實用新型的操控性，所述轉(zhuǎn)速控制器109上設(shè)置有用于記錄所述箱體101旋轉(zhuǎn)次數(shù)的計數(shù)器110，也可以在所述計數(shù)器110上預(yù)設(shè)所述減速電機107的旋轉(zhuǎn)次數(shù)，進而當所述箱體102旋轉(zhuǎn)到預(yù)設(shè)次數(shù)時，所述減速電機107停止旋轉(zhuǎn)，使本實用新型操作更加方便。更進一步的，所述支架101底部均勻設(shè)置有多個可調(diào)腳墊111，例如所述支架101 底部為方形時，可以在所述支架101底部的四角分別設(shè)置一個可調(diào)腳墊111，從而可以調(diào)整所述支架101底部始終處于水平狀態(tài)，進而提高了檢測的穩(wěn)定性。更進一步的，所述箱體102的任一側(cè)壁上設(shè)置有一用于放入試件與粉塵的入口，為了描述方便假定所述入口設(shè)置在前側(cè)壁112上，如圖2所示的，與所述前側(cè)壁112相向的后側(cè)壁113的下部設(shè)置有粉塵清理出口，所述入口配置有一密封門體114，所述粉塵清理出口配置有一旋塞115，用戶可以將所述密封門體114打開進而將試件與粉塵放入所述箱體 102內(nèi)，也可以將試件從所述密封門體114取出，而將所述旋塞115打開，將粉塵從所述粉塵
清理出口清理、排放出去。更進一步的，所述入口為方形，方便了取放試件與粉塵，并且其加工工藝簡單，降低了其制造成本，而所述粉塵清理出口為圓形，在保證了能將粉塵徹底清理的前提下，提高了所述箱體101的密閉性，提高了測試的準確性。應(yīng)當理解的是，上述針對較佳實施例的描述較為詳細，并不能因此而認為是對本實用新型專利保護范圍的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本實用新型的啟示下，在不脫離本實用新型權(quán)利要求所保護的范圍情況下，還可以做出替換、簡單組合等多種變形，這些均落入本實用新型的保護范圍之內(nèi)，本實用新型的請求保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。
權(quán)利要求1.一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置，其包括支架，其特征在于，所述支架上設(shè)置有旋轉(zhuǎn)的箱體，所述箱體用于放置試件與粉塵，所述箱體與一用于驅(qū)動箱體旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動機構(gòu)相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實驗裝置，其特征在于，所述箱體相向的側(cè)壁上分別設(shè)置有轉(zhuǎn)軸，兩個轉(zhuǎn)軸位于同一軸線，一個轉(zhuǎn)軸設(shè)置在支架的軸承內(nèi)，另一個轉(zhuǎn)軸與所述驅(qū)動機構(gòu)相連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實驗裝置，其特征在于，所述驅(qū)動機構(gòu)包括一減速電機，所述減速電機的動力輸出軸與一聯(lián)軸器相連接，所述聯(lián)軸器與所述另一個轉(zhuǎn)軸相連接；所述減速電機上設(shè)置有一轉(zhuǎn)速控制器，所述轉(zhuǎn)速控制器上設(shè)置有用于記錄所述箱體旋轉(zhuǎn)次數(shù)的計數(shù)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實驗裝置，其特征在于，所述支架底部均勻設(shè)置有多個可調(diào)腳墊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實驗裝置，其特征在于，所述箱體的任一側(cè)壁上設(shè)置有一用于放入試件與粉塵的入口，與設(shè)置有所述入口的側(cè)壁相向之側(cè)壁的下部設(shè)置有粉塵清理出口，所述入口配置有一密封門體，所述粉塵清理出口配置有一旋塞。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的實驗裝置，其特征在于，所述入口為方形，所述粉塵清理出口為圓形。
專利摘要本實用新型公開了一種用于檢測電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性測試的實驗裝置，其包括支架，并且所述支架上設(shè)置有能旋轉(zhuǎn)的箱體，所述箱體用于放置試件與粉塵，所述箱體與一用于驅(qū)動箱體旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動機構(gòu)相連接。本實用新型通過將試件與粉塵放置在箱體內(nèi)，然后驅(qū)動箱體按照預(yù)設(shè)的旋轉(zhuǎn)速度以及旋轉(zhuǎn)次數(shù)旋轉(zhuǎn)，使試件在粉塵環(huán)境下進行充分震蕩，然后將試件取出測試試件各項功能是否正常，顯示屏內(nèi)是否有明顯灰塵，從而提高了電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密閉性檢測的準確性，其操作簡便，檢測效率高，是現(xiàn)有技術(shù)的極大進步。
文檔編號G01M3/02GK202255778SQ20112034821
公開日2012年5月30日 申請日期2011年9月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月16日
發(fā)明者李海龍, 溫永濤 申請人:惠州Tcl移動通信有限公司