專利名稱：一種用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于電磁兼容(EMC)測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置。
背景技術(shù)：
電磁兼容性EMC (Electro Magnetic Compatibility)，是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運行并且不對其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無法忍受的電磁干擾的能力。EMC 包括EMI (interference)和EMS (susceptibility)，也就是電磁干擾和電磁抗干擾。因此， EMC包括兩個方面的要求一方面是指設(shè)備在正常運行過程中對所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾不能超過一定的限值；另一方面是指器具對所在環(huán)境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度，即電磁敏感性?，F(xiàn)有技術(shù)中公開了 EMC測試裝置包括一個80cm的絕緣桌以及一個可以垂直轉(zhuǎn)動的支架臺，不同的測試換不同的支撐物。但是換支撐物過程會產(chǎn)生下述問題1)支架臺位置的變動會造成位置偏差導(dǎo)致測量結(jié)果有偏差；2)即使支架臺位置固定，移動過程耗時大，大大降低工作效率；幻多次測試多次移動會導(dǎo)致支架臺容易損壞，影響使用壽命。

實用新型內(nèi)容為解決現(xiàn)有技術(shù)中，EMC暗室測試時，不同測試換用不同的支撐物容易導(dǎo)致的問題1)每次支架臺位置可能變動，一旦變動就會造成位置偏差導(dǎo)致測量結(jié)果有偏差；2)即使每次支架臺位置固定，移動支架臺的過程耗時大，大大降低了工作效率；3)多次測試多次移動會導(dǎo)致支架臺容易損壞，影響使用壽命。本實用新型提供了一種電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，解決了以上問題，降低了工作成本，且提高了測試靈敏度。為了達(dá)到上述目的，本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的一種用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，包括暗室和操作間，所述操作間內(nèi)設(shè)有電動機械部，所述電動機械部是用以控制暗室內(nèi)部轉(zhuǎn)盤和支架臺運作的儀器的統(tǒng)稱， 包括轉(zhuǎn)盤控制器及支架控制器；所述暗室內(nèi)設(shè)有支架臺、轉(zhuǎn)盤，所述支架臺位于轉(zhuǎn)盤上，所述轉(zhuǎn)盤與所述操作間內(nèi)的電動機械部電連接，所述支架臺包括支架面板、支架、支架座、轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸上有齒輪；所述支架座與轉(zhuǎn)盤電連接。支架臺部分如

圖1所示，支架面板，用于擺放無線通信終端產(chǎn)品如手機；轉(zhuǎn)軸上有齒輪，用于帶動支架面板轉(zhuǎn)動；支架，支架縱向部分內(nèi)有皮帶，通過操作間內(nèi)的電動機械部分控制，用于帶動轉(zhuǎn)軸使支架面板轉(zhuǎn)動；支架座， 用于支持整個支架臺，內(nèi)有電源線及其它連接線，可跟系統(tǒng)連接起來。轉(zhuǎn)盤下方有光纖跟系統(tǒng)連接，可通過軟件控制其轉(zhuǎn)動。本實用新型所述支架縱向部分指的是，支架水平部分以上，用以托舉轉(zhuǎn)軸和支架面板的豎直部分。本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置保證測試環(huán)境不變，提高了測試靈敏度。以下結(jié)合附圖對本實用新型所述的電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置的結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步的詳細(xì)說明圖1所示為本實用新型的支架臺及轉(zhuǎn)盤部分；圖2所示為本實用新型的絕緣桌部分；圖3所示為本實用新型的立體結(jié)構(gòu)示意圖；圖4所示為本實用新型測試電子設(shè)備或通訊終端時的示意圖；圖5所示為本實用新型測試一般電子產(chǎn)品時的示意圖；圖1至圖2中1、支架面板，2、轉(zhuǎn)軸，3、支架，4、支架座，5、轉(zhuǎn)盤，6、桌面，7、電子設(shè)
備或通訊終端(指手機等輕巧而使用多樣的電子產(chǎn)品)，8、一般電子產(chǎn)品(指臺式電腦等相對大型的電子產(chǎn)品)。
具體實施方式
如圖3、圖4所示，本實用新型所述的技術(shù)方案為一種用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，包括暗室和操作間，所述操作間內(nèi)設(shè)有電動機械部，所述電動機械部是用以控制暗室內(nèi)部轉(zhuǎn)盤和支架臺運作的儀器的統(tǒng)稱，包括轉(zhuǎn)盤控制器及支架控制器；所述暗室內(nèi)設(shè)有支架臺、轉(zhuǎn)盤，所述支架臺位于轉(zhuǎn)盤上，所述轉(zhuǎn)盤與所述操作間內(nèi)的電動機械部電連接，所述支架臺包括支架面板、支架、支架座、轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸上有齒輪；所述支架座與轉(zhuǎn)盤電連接。支架臺部分如圖1所示，支架面板，用于擺放無線通信終端產(chǎn)品，如手機；轉(zhuǎn)軸上有齒輪，用于帶動支架面板轉(zhuǎn)動；支架，支架縱向部分內(nèi)有皮帶，用于帶動轉(zhuǎn)軸使支架面板轉(zhuǎn)動；支架座，用于支持整個支架臺，內(nèi)有電源線及其它連接線，可跟電動機械部的系統(tǒng)連接起來；轉(zhuǎn)盤下方有光纖跟電動機械部的系統(tǒng)連接，可通過系統(tǒng)軟件控制其轉(zhuǎn)動。本實用新型所述的電動機械部位于暗室外的操作間內(nèi)，是用以控制暗室內(nèi)部轉(zhuǎn)臺和支架臺運作的儀器的統(tǒng)稱，包括轉(zhuǎn)盤控制器及支架控制器。本實用新型所述的系統(tǒng)是指電磁兼容測試系統(tǒng)。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，所述支架面板水平放置時距離轉(zhuǎn)盤80-200cm，此數(shù)值范圍為根據(jù)GB 9254，GB/T17626. 3要求。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，優(yōu)選地，所述支架面板水平放置時，支架面板和轉(zhuǎn)盤距離為80cm或150cm或170cm。根據(jù)GB92M和 GB17626. 3要求，測試高度為80cm，同理根據(jù)其他相關(guān)測試高度也會選用150cm和170cm，故測試高度選取80cm、150cm、170cm中的一種，具體應(yīng)根據(jù)實驗室測試項目的要求選取適當(dāng)?shù)囊?guī)格。測試電子設(shè)備或通訊終端等結(jié)構(gòu)小巧的電子產(chǎn)品時，使用該電磁兼容暗室測試系統(tǒng)做測試時候可以實現(xiàn)三維的測試。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，所述測試裝置還包括位于暗室內(nèi)的絕緣桌，所述絕緣桌位于轉(zhuǎn)盤上，所述絕緣桌包括絕緣桌面、底部支架。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，所述絕緣桌面有缺口，所述缺口的下部空間無底部支架，缺口周圍桌面區(qū)域的下部空間設(shè)有底部支架，所述底部支架用于支撐絕緣桌面。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，所述絕緣桌面為矩形I，矩形I的長為1.2-1. 8m，矩形I的寬為0.8-1. 2m。進(jìn)一步優(yōu)選地，矩形I的長為 1. 5m，矩形I的寬為1. 0m。綜合考慮實驗室的轉(zhuǎn)盤大小，以及整體布局，絕緣桌面的大小應(yīng)根據(jù)實際情況來確定，上述僅為一優(yōu)選方案。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，所述絕緣桌面缺口為矩形II，矩形II的長為絕緣桌面長度與支架座副軸跨度之差的二分之一，該矩形寬為支架座主軸的直徑，確保使用絕緣桌時，絕緣桌面的中心位置與支架座主軸重合。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，優(yōu)選地所述絕緣桌面水平放置時距離轉(zhuǎn)盤80cm。本實用新型所述的絕緣桌部分如圖2所示，只有三面的底部支架，可以使絕緣桌在不移動支架臺的前提下放進(jìn)轉(zhuǎn)盤；絕緣桌面上的缺口處可以使絕緣桌在不移動支架臺的前提下放進(jìn)轉(zhuǎn)盤。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，所述絕緣桌由操作間內(nèi)的電動機械部分控制轉(zhuǎn)盤帶動轉(zhuǎn)動。根據(jù)本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，所述絕緣桌水平轉(zhuǎn)動角度0-360度。為使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚，以下參照附圖并舉實施例，對本實用新型做進(jìn)一步詳細(xì)描述。實施例1測試電子設(shè)備或通訊終端(指手機等輕巧而使用多樣的電子產(chǎn)品)先把絕緣桌移開，把通訊終端放在支架面板上，如圖4，用軟件控制轉(zhuǎn)軸帶動支架面板轉(zhuǎn)動及控制轉(zhuǎn)盤帶動支架座轉(zhuǎn)動，從而實現(xiàn)三維全方位的測試。實施例2測試一般電子產(chǎn)品(指臺式電腦等相對大型的電子產(chǎn)品)把絕緣桌(如圖2)鑲嵌進(jìn)入支架臺，把一般電子產(chǎn)品放在絕緣桌面上，如圖5，用軟件控制轉(zhuǎn)盤帶動絕緣桌轉(zhuǎn)動，從而實現(xiàn)水平的全方位測試。以上所述，僅為本實用新型的具體實施方式
，但本實用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實用新型的保護(hù)范圍應(yīng)所述以權(quán)力要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，包括暗室和操作間，所述操作間內(nèi)設(shè)有電動機械部，所述電動機械部包括轉(zhuǎn)盤控制器及支架臺控制器；所述暗室內(nèi)設(shè)有支架臺、轉(zhuǎn)盤，所述支架臺位于轉(zhuǎn)盤上，所述轉(zhuǎn)盤與所述操作間內(nèi)的電動機械部電連接，其特征在于，所述支架臺包括支架面板、支架、支架座、轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸上有齒輪；所述支架座與轉(zhuǎn)盤電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述支架面板水平放置時距離轉(zhuǎn)盤 80-200cm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述支架面板水平放置時和轉(zhuǎn)盤的距離為80cm或150cm或170cm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括位于暗室內(nèi)的絕緣桌，所述絕緣桌位于轉(zhuǎn)盤上，所述絕緣桌包括絕緣桌面、底部支架。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述絕緣桌面有缺口，所述缺口的下部空間無底部支架，缺口周圍桌面區(qū)域的下部空間設(shè)有底部支架，所述底部支架用于支撐絕緣桌面。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述絕緣桌面為矩形I，矩形I的長為 1. 2-1. 8m，矩形 I 的寬為 0. 8-1. 2m。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于，所述絕緣桌面缺口形狀為矩形II，矩形II的長為絕緣桌面長度與支架座副軸跨度之差的二分之一，該矩形寬為支架座主軸的直徑，確保使用絕緣桌時，絕緣桌面的中心位置與支架座主軸重合。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述絕緣桌面水平放置時距離轉(zhuǎn)盤 80cmo
9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述絕緣桌由操作間內(nèi)的電動機械部分控制轉(zhuǎn)盤帶動轉(zhuǎn)動。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試裝置，其特征在于，所述絕緣桌水平轉(zhuǎn)動角度0-360度。
專利摘要本實用新型公開了一種用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置，包括暗室和操作間，所述操作間內(nèi)設(shè)有電動機械部，所述電動機械部包括轉(zhuǎn)盤控制器及支架臺控制器；所述暗室內(nèi)設(shè)有支架臺、轉(zhuǎn)盤，所述支架臺位于轉(zhuǎn)盤上，所述操作間內(nèi)的電動機械部與暗室內(nèi)的轉(zhuǎn)盤電相連，所述支架臺包括支架面板、支架、支架座、轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸上有齒輪；所述支架座與轉(zhuǎn)盤電連接。本實用新型所述的用于電磁兼容暗室測試系統(tǒng)的測試裝置保證測試環(huán)境不變，提高了測試靈敏度。
文檔編號G01R31/00GK202217021SQ20112032537
公開日2012年5月9日 申請日期2011年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月1日
發(fā)明者史繼金, 宋以鷹, 戚露興, 林漢洲, 薛怡 申請人:比亞迪股份有限公司