專利名稱：一種檢測供電電壓極限值的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測供電電壓極限值的方法及裝置。
背景技術(shù)：
由于受集成電路(ICJntegrated Circuit)生產(chǎn)工藝的制約，在實(shí)際應(yīng)用中IC各項(xiàng)參數(shù)都會存在一定的容差，因此檢測IC的各個參數(shù)是相當(dāng)重要的。供電電壓的電壓值決定了 IC的工作狀態(tài)，因此，檢測IC的供電電壓極限值極其重要，目前，檢測IC的供電電壓極限值的方法如下
用電壓源儀表給被測IC和由被測IC與其它元件構(gòu)成的電路模塊供電，人工觀察IC的工作狀態(tài)，通過人工調(diào)節(jié)電壓源儀表，逐步提高或降低電壓值，直到IC無法正常工作，以此方法得出IC的供電電壓極限值?，F(xiàn)有技術(shù)中需要專用的電壓源儀表和人工調(diào)試完成IC的供電電壓極限值的檢測，且專用的電壓源儀表是非常昂貴的，這樣檢測IC的供電電壓極限值所花費(fèi)的成本很高，且無法實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種檢測供電電壓極限值的方法及裝置，降低檢測IC供電電壓極限值的成本，且能實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測供電電壓極限值的方法，包括
向基準(zhǔn)集成電路IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號，所述基準(zhǔn)IC和被測IC的型號相同；
向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序，所述基準(zhǔn)驅(qū)動時序和所述被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，所述被測驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓；
判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，返回執(zhí)行所述向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號的步驟；
若判斷結(jié)果為否，則記錄所述被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。相應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測供電電壓極限值的裝置，包括初級驅(qū)動單元，用于向基準(zhǔn)IC提供基準(zhǔn)供電電壓信號和基準(zhǔn)驅(qū)動時序；
次級驅(qū)動單元，用于向被測IC提供測供電電壓信號和被測驅(qū)動時序，所述基準(zhǔn)驅(qū)動時序和所述被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，所述被測驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓，所述基準(zhǔn)IC與所述被IC的型號相同；
5可調(diào)電壓源單元，用于調(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓；主控單元，用于判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則控制可調(diào)電壓源單元調(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓，控制所述初級驅(qū)動單元初始化提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序，并進(jìn)行下一輪的檢測；
若判斷結(jié)果為否，則記錄所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。本發(fā)明實(shí)施例，向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號，向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序，所述基準(zhǔn)驅(qū)動時序和所述被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，所述被測驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓，判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，再進(jìn)行下輪的檢測；若判斷結(jié)果為否，記錄所述被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。這樣就可以檢測出IC的供電電壓極限值，降低檢測IC供電電壓極限值的成本，且能實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的方法的流程示意圖2是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的方法另一實(shí)施例的流程示意圖；圖3是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的方法另一實(shí)施例的流程示意圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。圖1是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的方法的流程示意圖，如圖1所示，包括
S101、向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號?？梢岳斫獾氖?，基準(zhǔn)供電電壓信號就是基準(zhǔn)IC供電電壓，被測供電電壓信號就是被測IC的供電電壓。需要說明的是，基準(zhǔn)IC和被測IC的型號相同。S102、向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序。
可以理解的是，向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序，也就是給基準(zhǔn)IC和被測IC提供一個激勵信號，讓基準(zhǔn)IC和被測IC收到這個信號后會根據(jù)這個信號返回一個應(yīng)答信號。需要說明的是，檢測過程中被測驅(qū)動時序的高電平等于被測供電電壓信號的電壓。需要說明的是，基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，檢測過程中給基準(zhǔn)IC和被測IC提供驅(qū)動時序的時序必需是相同的。如給基準(zhǔn)IC和被測IC提供驅(qū)動時序的周期和占空比等除了高電平之外的所有參數(shù)是相同的，這樣才可以保證在基準(zhǔn)IC和被測IC在所能承受的邏輯電平范圍內(nèi)返回的應(yīng)答信號是相同的。需要說明的是，步驟S102向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序可以通過如下步驟來實(shí)現(xiàn)
向基準(zhǔn)IC提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序；獲取基準(zhǔn)驅(qū)動時序；
調(diào)節(jié)獲取的基準(zhǔn)驅(qū)動時序的高電平，并將調(diào)節(jié)后的基準(zhǔn)驅(qū)動時序作為被測驅(qū)動時序；向被測IC提供被測驅(qū)動時序。具體實(shí)現(xiàn)方法可以如下
雙電源總線收發(fā)器獲取向被測IC提供被測驅(qū)動時序，雙電源總線收發(fā)器根據(jù)被測供電電壓信號的電壓調(diào)節(jié)獲取到的基準(zhǔn)驅(qū)動時序的高電平，輸出調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序作為被測驅(qū)動時序傳輸至被測IC，被測驅(qū)動時序的高電平等于被測供電電壓信號的電壓。通過以上方法就可以保證向基準(zhǔn)IC和被測IC提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同。S103、判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則執(zhí)行步驟S104調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序。若判斷結(jié)果為否，則執(zhí)行步驟105記錄被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。需要說明的是，判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同可以通過以下方式實(shí)現(xiàn)
單片機(jī)(MCU，Micro Control Unit)、數(shù)字信號處理器(DSP，Digital SignalProcessing)或微處理器(ARM，Advanced RISC Machines)中一種或多種控制器，判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同。需要說明的是，當(dāng)基準(zhǔn)IC和被測IC接收到驅(qū)動時序后，就會返回應(yīng)答信號，返回的應(yīng)答信號可以是邏輯電平信號或協(xié)議數(shù)據(jù)，具體根據(jù)檢測的IC的不同而不同，如檢測的IC是簡單的集成電路，如邏輯與門集成電路，那么檢測該IC時就會返回一個邏輯電平信號；如檢測的IC是復(fù)雜的IC，如一些無線收發(fā)器、傳感器或微控制器，那么檢測該IC時就會返回一個協(xié)議數(shù)據(jù)。當(dāng)然協(xié)議數(shù)據(jù)也可以是兩線式串行(I2C，Inter - IntegratedCircuit或)協(xié)議數(shù)據(jù)或外圍串行接口(SPI，Serial Peripheral hterface)協(xié)議數(shù)據(jù)，如檢測無線收發(fā)器就會返回SPI協(xié)議數(shù)據(jù)，如檢測傳感器就會返回I2C協(xié)議數(shù)據(jù)。
需要說明的是，基準(zhǔn)IC接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測IC接收的被測驅(qū)動時序可以是多個周期的時序，這樣基準(zhǔn)IC和被測IC根據(jù)接收的驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號也是多個周期的應(yīng)答信號。在這種情況下，步驟S103可以是判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，繼續(xù)執(zhí)行步驟S103判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同的判斷，直至基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號傳輸結(jié)束，則執(zhí)行步驟S104調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序；若判斷結(jié)果為否，則執(zhí)行步驟S105記錄被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。S104、調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序。當(dāng)基準(zhǔn)IC和被測IC根據(jù)接收的驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是相同的，就說明此時的被測供電電壓信號的電壓在被測IC的安全范圍內(nèi)，這時就要調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，也就是調(diào)節(jié)被測IC的供電電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，就執(zhí)行步驟SlOl分別向基準(zhǔn)集成電路IC和被測IC提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號，開始下一輪的檢測?？梢岳斫獾氖?，初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，是為了調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓后，重新開始檢測。需要說明的是，調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓可以通過如下方法實(shí)現(xiàn)
調(diào)節(jié)由數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換模塊DAC和集成運(yùn)放組成的可調(diào)電壓源、由脈沖寬度調(diào)制模塊PWM和場效晶體管MOSFET組成的可調(diào)電壓源、由直流轉(zhuǎn)直流電源DC/DC和可編程電阻器可調(diào)電壓源或由可調(diào)低壓差線性穩(wěn)壓模塊LDO和可編程電位器組成的可調(diào)電壓源中一種或多種可調(diào)電壓源的輸出信號的電壓，以上提供到可調(diào)電壓源的輸出信號與被測供電電壓信號是相同的。需要說明的是，調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓可以是調(diào)高或調(diào)低被測供電電壓信號的電壓，如調(diào)大或調(diào)小由DAC和集成運(yùn)放組成的可調(diào)電壓源內(nèi)DAC的數(shù)字信號脈沖寬度，調(diào)節(jié)可調(diào)電壓源的輸出信號的電壓，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或調(diào)低被測供電電壓信號的電壓；又如調(diào)大或調(diào)小由PWM和MOSFET組成的可調(diào)電壓源內(nèi)PWM的數(shù)字信號脈沖寬度，調(diào)節(jié)可調(diào)電壓源的輸出信號的電壓，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或調(diào)低被測供電電壓信號的電壓；又如調(diào)大或調(diào)小由可調(diào)DC/DC和可編程電阻器可調(diào)電壓源內(nèi)可調(diào)DC/DC的電阻，調(diào)節(jié)可調(diào)電壓源的輸出信號的電壓，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或調(diào)低被測供電電壓信號的電壓；又如調(diào)大或調(diào)小由可調(diào)LDO和可編程電位器組成的可調(diào)電壓源內(nèi)可調(diào)LDO的電阻，調(diào)節(jié)可調(diào)電壓源的輸出信號的電壓，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或調(diào)低被測供電電壓信號的電壓。這樣就可以完成檢測IC的供電電壓的極大值和極小值。需要說明的是，步驟S104調(diào)節(jié)調(diào)高或調(diào)低被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，還可以是
調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓；存儲被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓信息；并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序；讀取存儲中的被測供電電壓信號的電壓信息；
根據(jù)存儲中的被測供電電壓信號的電壓信息調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓。
在調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓之后，將被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓信息存儲，這樣可以避免因進(jìn)行初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序改變調(diào)節(jié)后被測供電電壓信號的電壓。存儲被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓信息可以通過閃速存儲器Flash Memory、同步動態(tài)隨機(jī)存儲器(SDRAM, Synchronous Dynamic Random Access Memory)或可擦可編程只讀存儲器(EEPROM, Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)中一種或多種存儲器，存儲被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓信息。S105、記錄被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。本發(fā)明實(shí)施例，向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號，向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序，所述基準(zhǔn)驅(qū)動時序和所述被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，所述被測驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓，判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，再進(jìn)行下輪的檢測；若判斷結(jié)果為否，記錄所述被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。這樣就可以檢測出IC的供電電壓極限值，降低檢測IC供電電壓極限值的成本，且能實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。圖2是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的方法的另一實(shí)施例的流程示意圖，如圖2所示，包括
S201、獲取基準(zhǔn)供電電壓信號。獲取基準(zhǔn)供電電壓信號的電壓是基準(zhǔn)IC安全范圍內(nèi)的電壓。需要說明的是，獲取基準(zhǔn)供電電壓信號可以通過以下方式實(shí)現(xiàn)
模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換(AD，Digital-t0-Anal0g)芯片、MCU內(nèi)的模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊(ADC，Analog-to-Digital Converter),DSP內(nèi)的ADC或ARM內(nèi)的ADC中的一種或多種電路，獲取基準(zhǔn)供電電壓信號。S202、將基準(zhǔn)供電電壓信號的電壓信息轉(zhuǎn)換為電阻信息，根據(jù)獲取到的電阻信息調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓。將獲取到的電壓信息轉(zhuǎn)換為電阻信息可以通過上面實(shí)施例中的MCU或DSP或ARM來實(shí)現(xiàn)電壓信息轉(zhuǎn)換為電阻信息，調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓的調(diào)節(jié)方式可以是通過電阻信息調(diào)節(jié)可調(diào)電壓源的反饋電阻來實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)可調(diào)電壓源的輸出信號的電壓，還可以采用上面實(shí)施例中描述的調(diào)節(jié)方法，此處不作重復(fù)說明。需要說明的是，這里調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓目的是為了在整個檢測過程之前向基準(zhǔn)IC和向被測IC提供的基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號的電壓是相同的。這樣在檢測過程中調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓更加有目的性，減少調(diào)節(jié)次數(shù)，同時，也避免向被測IC提供的被測供電電壓信號的電壓過高燒壞被測IC。S203、向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號。S204、向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序。S205、判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則執(zhí)行步驟S206調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序。若判斷結(jié)果為否，則執(zhí)行步驟S207記錄被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。S206、調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序。S207、記錄被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。本實(shí)施例中，在上面實(shí)施例中增加了檢測前調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，目的是為了在整個檢測過程之前向基準(zhǔn)IC和向被測IC提供的基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號的電壓是相同的。這樣在檢測過程中調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓更加有目的性，減少調(diào)節(jié)次數(shù)，也可以避免向被測IC提供的被測供電電壓信號的電壓過高燒壞被測IC，且能檢測出IC的供電電壓極限值，降低檢測IC供電電壓極限值的成本，實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。圖3是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的方法的另一實(shí)施例的流程示意圖，如圖3所示，包括
S301、獲取基準(zhǔn)供電電壓信號。S302、將基準(zhǔn)供電電壓信號的電壓信息轉(zhuǎn)換為電阻信息，根據(jù)獲取到的電阻信息調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓。S303、向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號。S304、向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序。S305、判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，并執(zhí)行步驟S306顯示被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果，若判斷結(jié)果為是，則執(zhí)行步驟S308調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序。若判斷結(jié)果為否，則執(zhí)行步驟S309記錄被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。S306、顯示被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果。當(dāng)判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，判斷完后就可以顯示出被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果，這樣檢測過程更加的透明化，可以及時知曉檢測的狀態(tài)。需要說明的是，顯示向被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果，可以通過以下方式來實(shí)現(xiàn)
通過液晶顯示器(LCD，Liquid Crystal Display)、電子顯示屏(LED，Light EmittingDiode)或真空熒光顯示屏(VFD，Vacuum Fluorescent Display)中的一種或多種顯示屏，顯示被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果。需要說明的是，執(zhí)行完步驟S306后還可以執(zhí)行步驟S307根據(jù)被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果生成特性曲線，當(dāng)然還可以是執(zhí)行步驟S306或步驟S307中的任意
一個步驟。S307、根據(jù)被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果生成特性曲線。當(dāng)判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，判斷完后就可以根據(jù)被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果生成特性曲線，如生成一個可以說明被測IC的供電電壓極大值是多少伏，極小值是多少伏，被測IC的供電電壓的安全范圍是多少伏到多少伏的曲線圖。這樣可以清楚表示出被測IC的供電電壓極限值的安全供電電壓范圍。S308、調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序。S309、記錄被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。本實(shí)施例中，增加了顯示調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓前被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果，以及根據(jù)被測供電電壓信號的電壓信息和判斷結(jié)果生成特性曲線的方法，這樣檢測過程更加的透明化，可以及時知曉檢測的狀態(tài)，能清楚表示出被測IC的供電電壓極限值的安全供電電壓范圍。且能檢測出IC的供電電壓極限值，降低檢測IC供電電壓極限值的成本，實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。圖4是本發(fā)明實(shí)施例一種檢測供電電壓極限值的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖4所示，包括初級驅(qū)動單元41、次級驅(qū)動單元42、可調(diào)電壓源單元43和主控單元44，其中
初級驅(qū)動單元41，用于向基準(zhǔn)IC提供基準(zhǔn)供電電壓信號和基準(zhǔn)驅(qū)動時序?？梢岳斫獾氖牵跫夠?qū)動單元41提供的基準(zhǔn)供電電壓信號就是基準(zhǔn)IC的供電電壓。次級驅(qū)動單元42，用于向被測IC提供測供電電壓信號和被測驅(qū)動時序?？梢岳斫獾氖?，次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號就是被測IC的供電電壓。需要說明的是，初級驅(qū)動單元41提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序和次級驅(qū)動單元42提供的被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，被測驅(qū)動時序的高電平等于被測供電電壓信號的電壓，基準(zhǔn)IC與被IC的型號相同。可調(diào)電壓源單元43，用于調(diào)節(jié)次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號的電壓。需要說明的是，可調(diào)電壓源單元43可以是
由DAC和集成運(yùn)放組成的可調(diào)電壓源、由PWM和MOSFET管組成的可調(diào)電壓源、由可調(diào)DC/DC和可編程電阻器可調(diào)電壓源或由可調(diào)LDO和可編程電位器組成的可調(diào)電壓源中的一種或多種可調(diào)電壓源。以上提供到可調(diào)電壓源的輸出信號等于次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號，而次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號為被測IC的供電電壓，也就是說，可調(diào)電壓源單元的輸出信號就是被測IC的供電電壓。需要說明的是，調(diào)節(jié)次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓可以是調(diào)高或調(diào)低次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓，如調(diào)大或調(diào)小由DAC和集成運(yùn)放組成的可調(diào)電壓源內(nèi)DAC的數(shù)字信號脈沖寬度，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或調(diào)低次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓；又如調(diào)大或調(diào)小由PWM和MOSFET組成的可調(diào)電壓源內(nèi)PWM的數(shù)字信號脈沖寬度，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或高低次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓；又如調(diào)大或調(diào)小由可調(diào)DC/DC和可編程電阻器可調(diào)電壓源內(nèi)可調(diào)DC/DC的電阻，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或調(diào)低次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓；又如調(diào)大或調(diào)小由可調(diào)LDO和可編程電位器組成的可調(diào)電壓源內(nèi)可調(diào)LDO的電阻，實(shí)現(xiàn)調(diào)高或調(diào)低次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓。主控單元44，用于判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則控制可調(diào)電壓源單元43調(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號的電壓，控制初級驅(qū)動單元41初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，并進(jìn)行下一輪的檢測；
若判斷結(jié)果為否，則記錄次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。需要說明的是，主控單元可以是MCU、DSP或ARM中的一種或多種控制器。需要說明的是，當(dāng)基準(zhǔn)IC和被測IC接收到驅(qū)動時序后，就會返回應(yīng)答信號，返回的應(yīng)答信號可以是邏輯電平信號或協(xié)議數(shù)據(jù)，具體根據(jù)檢測的IC的不同而不同，如檢測的IC是簡單的集成電路，如邏輯與門集成電路，那么檢測該IC時就會返回一個邏輯電平信號；如檢測的IC是復(fù)雜的IC，如一些無線收發(fā)器、傳感器或微控制器，那么檢測該IC時就會返回一個協(xié)議數(shù)據(jù)。當(dāng)然協(xié)議數(shù)據(jù)也可以是I2C協(xié)議數(shù)據(jù)或SPI協(xié)議數(shù)據(jù)，如檢測無線收發(fā)器就會返回SPI協(xié)議數(shù)據(jù)，如檢測傳感器就會返回I2C協(xié)議數(shù)據(jù)。需要說明的是，基準(zhǔn)IC和被測IC接收的驅(qū)動時序可以是多個周期的時序，這樣基準(zhǔn)IC和被測IC根據(jù)接收的驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號也是多個周期的應(yīng)答信號。在這種情況下，主控單元44，用于判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，繼續(xù)執(zhí)行判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同的判斷，直至所述基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號傳輸結(jié)束，則控制可調(diào)電壓源單元43調(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元輸出的被測供電電壓信號的電壓，控制初級驅(qū)動單元41初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，并進(jìn)行下一輪的檢測；
若判斷結(jié)果為否，則記錄次級驅(qū)動單元42輸出的被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。需要說明的是，該裝置還可以包括調(diào)節(jié)單元45。調(diào)節(jié)單元45，用于獲取初級驅(qū)動單元41提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序，調(diào)節(jié)獲取到的基準(zhǔn)驅(qū)動時序的高電平，將調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序傳輸至次級驅(qū)動單元，調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序的高電平等于被測供電電壓信號的電壓。次級驅(qū)動單元42還用于接收調(diào)節(jié)單元45調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序，并將所述調(diào)節(jié)單元調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序作為被測驅(qū)動時序。通過調(diào)節(jié)單元45與次級驅(qū)動單元42結(jié)合實(shí)現(xiàn)次級驅(qū)動單元42提供的被測驅(qū)動時序除高電平之外其余參數(shù)與初級驅(qū)動時序41提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序是相同的。具體實(shí)現(xiàn)方法可以采用雙電源總線收發(fā)器來實(shí)現(xiàn)，過程如下
雙電源總線收發(fā)器的一側(cè)的電源端口和IO端口分別與初級驅(qū)動單元41提供基準(zhǔn)供電電壓信號和基準(zhǔn)驅(qū)動時序的端口連接，這樣雙電源總線收發(fā)器此側(cè)的電源和連接的驅(qū)動時序分別為初級驅(qū)動單元41提供的基準(zhǔn)供電電壓信號和基準(zhǔn)驅(qū)動時序。雙電源總線收發(fā)器的另一側(cè)電源端口與次級驅(qū)動單元42提供被測供電電壓信號的端口連接，以保證被測驅(qū)動時序的高電平等于被測供電電壓信號的電壓。
雙電源總線收發(fā)器參考次級驅(qū)動單元42提供的供電電壓，調(diào)節(jié)獲取到的基準(zhǔn)驅(qū)動時序的高電平，將調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序傳輸至次級驅(qū)動單元42 ；次級驅(qū)動單元42將雙電源總線收發(fā)器傳輸?shù)尿?qū)動時序作為被測驅(qū)動時序，這樣就可以實(shí)現(xiàn)次級驅(qū)動單元42提供的被測驅(qū)動時序除高電平之外其余參數(shù)與初級驅(qū)動時序41提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序是相同的。這里所說的雙電源總線收發(fā)器可以為三態(tài)輸出雙電源總線收發(fā)器，也就是說雙電源總線收發(fā)器的兩側(cè)，無論哪一側(cè)與初級驅(qū)動單元41提供基準(zhǔn)供電電壓信號和基準(zhǔn)驅(qū)動時序的端口連接都可以，另一側(cè)就與次級驅(qū)動單元42提供被測供電電壓信號和被測驅(qū)動時序的端口連接，因?yàn)槿龖B(tài)輸出雙電源總線收發(fā)器電平轉(zhuǎn)換后的信號傳輸方向是可以控制的，如可以將電平轉(zhuǎn)換后的信號從左側(cè)傳輸?shù)接覀?cè)，也可以從右側(cè)傳輸?shù)阶髠?cè)。需要說明的是，本裝置還可以包括電壓采樣單元46。電壓采樣單元46，用于獲取初級驅(qū)動單元41提供的基準(zhǔn)供電電壓信號，并將獲取的基準(zhǔn)供電電壓信號傳輸至主控單元44，以使主控單元44基準(zhǔn)供電電壓信號的電壓信息轉(zhuǎn)換成電阻信息，可調(diào)電壓源單元43根據(jù)主控單元44轉(zhuǎn)換的電阻信息調(diào)節(jié)次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號的電壓。以使檢測前初級驅(qū)動單元41提供的基準(zhǔn)供電電壓信號和次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號是相同的。這樣在檢測過程中調(diào)節(jié)初級驅(qū)動單元41輸出的被測供電電壓信號的電壓更加有目的性，減少調(diào)節(jié)次數(shù)，同時，也避免向被測IC提供的被測供電電壓信號的電壓過高燒壞被測ic。電壓采樣單元46可以是AD芯片、MCU內(nèi)的ADC、DSP內(nèi)的ADC或ARM內(nèi)的ADC中的一種或多種。需要說明的是，該裝置還可以包括顯示單元47。顯示單元47，用于顯示次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號調(diào)節(jié)前的電壓信息和主控單元44判斷的結(jié)果。顯示單元47可以是IXD、LED或VFD中一種或多種。這樣檢測過程更加的透明化，可以及時知曉檢測的狀態(tài)。需要說明的是，該裝置還可以包括上位機(jī)48。上位機(jī)48，用于根據(jù)次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號調(diào)節(jié)前的電壓信息和44主控單元44判斷的結(jié)果生成特性曲線。生成一個可以說明被測IC供電電壓極大值是多少伏，極小值是多少伏，被測IC安全供電電壓范圍是多少伏到多少伏的曲線圖。這樣可以清楚表示出被測IC的供電電壓極限值的安全供電電壓范圍。需要說明的是，該裝置還可以包括存儲單元49。存儲單元49，用于存儲次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓fn息ο存儲單元49可以是Flash Memory、SDRAM或EEI3ROM中一種或多種存儲器。將調(diào)節(jié)后的次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓信息，這樣可以避免因初級驅(qū)動單元41初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序改變調(diào)節(jié)后的次級驅(qū)動單元42提供的被測供電電壓信號。本實(shí)施例中，初級驅(qū)動單元向基準(zhǔn)IC提供基準(zhǔn)供電電壓信號和基準(zhǔn)驅(qū)動時序，次級驅(qū)動單元向被測IC提供測供電電壓信號和被測驅(qū)動時序，基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，基準(zhǔn)IC與被IC的型號相同，主控單元判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則控制可調(diào)電壓源單元調(diào)節(jié)次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓，控制初級驅(qū)動單元初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，并進(jìn)行下一輪的檢測；若判斷結(jié)果為否，則記錄次級驅(qū)動單元輸出的被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。這樣就可以檢測出IC的供電電壓極限值，降低檢測IC供電電壓極限值的成本，且能實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。 以上所揭露的僅為本發(fā)明較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測供電電壓極限值的方法，其特征在于，包括向基準(zhǔn)集成電路IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號，所述基準(zhǔn)IC和被測IC的型號相同；向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序，所述基準(zhǔn)驅(qū)動時序和所述被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，所述被測驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓；判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，返回執(zhí)行所述向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號的步驟；若判斷結(jié)果為否，則記錄所述被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓包括調(diào)高所述被測供電電壓信號的電壓；或，調(diào)低所述被測供電電壓信號的電壓。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述分別向基準(zhǔn)集成電路IC和被測IC提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號之前包括獲取基準(zhǔn)供電電壓信號；將基準(zhǔn)供電電壓信號的電壓信息轉(zhuǎn)換為電阻信息，并根據(jù)所述電阻信息調(diào)節(jié)被測供電電壓信號的電壓，以使檢測前基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號是相同的。
4.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序包括向基準(zhǔn)IC提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序；獲取向基準(zhǔn)IC提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序；調(diào)節(jié)獲取到的基準(zhǔn)驅(qū)動時序的高電平，并將調(diào)節(jié)后的基準(zhǔn)驅(qū)動時序作為被測驅(qū)動時序，所述被測驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓；向被測IC提供被測驅(qū)動時序。
5.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同之后包括顯示被測供電電壓信號調(diào)節(jié)前的電壓信息和所述判斷結(jié)果；和/或，根據(jù)被測供電電壓信號調(diào)節(jié)前的電壓信息和所述判斷結(jié)果生成特性曲線；和/或，存儲被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓信息。
6.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述應(yīng)答信號包括邏輯電平信號或協(xié)議數(shù)據(jù)。
7.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓的步驟包括判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，繼續(xù)執(zhí)行所述判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同的判斷，直至所述基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號傳輸結(jié)束，則調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓的步驟。
8.—種檢測供電電壓極限值的裝置，其特征在于，包括初級驅(qū)動單元，用于向基準(zhǔn)IC提供基準(zhǔn)供電電壓信號和基準(zhǔn)驅(qū)動時序；次級驅(qū)動單元，用于向被測IC提供測供電電壓信號和被測驅(qū)動時序，所述基準(zhǔn)驅(qū)動時序和所述被測驅(qū)動時序的參數(shù)除高電平之外其余參數(shù)都相同，所述被測驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓，所述基準(zhǔn)IC與所述被IC的型號相同；可調(diào)電壓源單元，用于調(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓；主控單元，用于判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則控制可調(diào)電壓源單元調(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓，控制所述初級驅(qū)動單元初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，并進(jìn)行下一輪的檢測；若判斷結(jié)果為否，則記錄所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。
9.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述可調(diào)電壓源單元用于調(diào)高或調(diào)低所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓。
10.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括電壓采樣單元，用于獲取所述初級驅(qū)動單元提供的基準(zhǔn)供電電壓信號；所述主控單元還用于將所述電壓采樣單元獲取的基準(zhǔn)供電電壓信號的電壓信息轉(zhuǎn)換為電阻信息，并將所述電阻信息傳輸至所述可調(diào)電壓源單元；所述可調(diào)電壓源單元還用于根據(jù)所述主控單元傳輸?shù)碾娮栊畔⒄{(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓，以使檢測前所述初級驅(qū)動單元輸出的基準(zhǔn)供電電壓信號和所述次級驅(qū)動單元輸出的被測供電電壓信號是相同的。
11.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括調(diào)節(jié)單元，用于獲取所述初級驅(qū)動單元提供的基準(zhǔn)驅(qū)動時序，調(diào)節(jié)獲取到的基準(zhǔn)驅(qū)動時序的高電平，將調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序傳輸至所述次級驅(qū)動單元，調(diào)節(jié)后驅(qū)動時序的高電平等于所述被測供電電壓信號的電壓；所述次級驅(qū)動單元，還用于接收所述調(diào)節(jié)單元調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序，并將所述調(diào)節(jié)單元調(diào)節(jié)后的驅(qū)動時序作為被測驅(qū)動時序。
12.如權(quán)利要求8-11中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括顯示單元，用于顯示所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號調(diào)節(jié)前的電壓信息和所述主控單元判斷的結(jié)果；和/或，上位機(jī)，用于根據(jù)所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號調(diào)節(jié)前的電壓信息和所述主控單元判斷的結(jié)果生成特性曲線；和/或，存儲單元，用于存儲所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號調(diào)節(jié)后的電壓信息。
13.如權(quán)利要求12所述的裝置，其特征在于，若所述裝置包括顯示單元，所述顯示單元包括液晶顯示屏LCD或電子顯示屏LED或真空熒光顯示屏VFD中的一種或多種；若所述裝置包括存儲單元，所述存儲單元包括通過閃速存儲器Flash Memory、同步動態(tài)隨機(jī)存儲器SDRAM或可編程只讀存儲器EEPROM中的一種或多種。
14.如權(quán)利要求8-11中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述主控單元包括MCU、DSP或ARM中的一種或多種。
15.如權(quán)利要求14所述的裝置，其特征在于，所述電壓采樣單元包括:AD芯片、所述MCU內(nèi)的ADC、所述DSP內(nèi)的ADC或所述ARM內(nèi)的ADC中的一種或多種。
16.如權(quán)利要求8-11中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于所述可調(diào)電壓源單元包括由DAC和集成運(yùn)放組成的可調(diào)電壓源、由PWM和場效晶體管MOSFET組成的可調(diào)電壓源、由DC/DC和可編程電阻器可調(diào)電壓源或由LDO和可編程電位器組成的可調(diào)電壓源中的一種或多種。
17.如權(quán)利要求8-11中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于所述主控單元還用于判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，繼續(xù)執(zhí)行判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同的判斷，直至所述基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號傳輸結(jié)束，則控制可調(diào)電壓源單元調(diào)節(jié)所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓，控制初級驅(qū)動單元初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，并進(jìn)行下一輪的檢測；若判斷結(jié)果為否，則記錄所述次級驅(qū)動單元提供的被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種檢測供電電壓極限值的方法及裝置，包括向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)供電電壓信號和被測供電電壓信號，向基準(zhǔn)IC和被測IC分別提供基準(zhǔn)驅(qū)動時序和被測驅(qū)動時序，判斷基準(zhǔn)IC根據(jù)接收的基準(zhǔn)驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號是否和被測IC根據(jù)接收的被測驅(qū)動時序返回的應(yīng)答信號相同，若判斷結(jié)果為是，則調(diào)節(jié)所述被測供電電壓信號的電壓，并初始化基準(zhǔn)驅(qū)動時序，再進(jìn)行下輪的檢測；若判斷結(jié)果為否，記錄所述被測供電電壓信號的電壓值，并將記錄值作為被測IC的供電電壓極限值。本發(fā)明實(shí)施例還公開了一種檢測供電電壓極限值的裝置。降低檢測IC供電電壓極限值的成本，且能實(shí)現(xiàn)自動化檢測IC的供電電壓極限值。
文檔編號G01R31/30GK102565679SQ20111043466
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月22日
發(fā)明者方南生, 蔡越 申請人:深圳創(chuàng)維數(shù)字技術(shù)股份有限公司