專利名稱：溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法
溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及開關(guān)壽命測試方法，尤其涉及一種溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法。背景技術(shù)：
溫度保護(hù)開關(guān)作為一種電子元器件的保護(hù)神，其發(fā)展越來越迅速，運(yùn)用的場合越來越廣泛。溫度保護(hù)開關(guān)一般采用雙金屬片作為感溫組件的溫控器，電子元器件正常工作時(shí)，雙金屬片處于自由狀態(tài)，觸點(diǎn)處于閉合狀態(tài)，當(dāng)溫度達(dá)到動作溫度時(shí)，雙金屬片受熱產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力而迅速動作，打開觸點(diǎn)，切斷電路，從而起到控溫作用。當(dāng)電子元器件冷卻到復(fù)位溫度時(shí)，觸點(diǎn)自動閉合，恢復(fù)正常工作狀態(tài)。隨著溫度保護(hù)開關(guān)的廣泛應(yīng)用，在短時(shí)間內(nèi)篩選出合格的溫度保護(hù)開關(guān)對產(chǎn)品的快速投入市場顯得尤其重要。溫度保護(hù)開關(guān)的使用壽命是衡量其質(zhì)量的重要指標(biāo)，但是傳統(tǒng)的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法是在運(yùn)用于電子元器件正常使用狀態(tài)下進(jìn)行長期壽命測試，直至溫度保護(hù)開關(guān)壽命終結(jié)；正常溫度保護(hù)開關(guān)的使用次數(shù)可達(dá)到上萬次，這樣測試效率低下，增長了產(chǎn)品的研發(fā)周期，而且浪費(fèi)大量的人力物力。

發(fā)明內(nèi)容基于此，有必要提供一種測試簡單、效率高的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法。一種溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，包括以下步驟:將溫度保護(hù)開關(guān)與電子 元器件串聯(lián)，溫度保護(hù)開關(guān)貼附在電子元器件上面；將所述串聯(lián)電子元器件的溫度保護(hù)開關(guān)置于溫度箱內(nèi)，通額定的電流并記錄溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間T及溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)η所用的時(shí)間t;其中所述溫度箱內(nèi)的測試溫度設(shè)為溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度；根據(jù)公式N = n*T/t計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)的壽命，其中，N為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開的總次數(shù)，T為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間，t為溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)η所用的時(shí)間。優(yōu)選地，所述當(dāng)溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開的總次數(shù)為1000時(shí)，對溫度保護(hù)開關(guān)進(jìn)行功能檢查。優(yōu)選地，所述電子元器件的阻值為30 Ω。優(yōu)選地，所述溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)置于溫度箱后，在電子元器件兩端通IOA的額定電流。優(yōu)選地，所述方法還包括:所述溫度箱內(nèi)的溫度以額定值遞增，并在每個(gè)溫度點(diǎn)駐留；記錄每個(gè)溫度點(diǎn)溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)；選擇溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度點(diǎn)為測試溫度點(diǎn)。優(yōu)選地，所述溫度箱內(nèi)的溫度由20°C開始，以10°C的額定值遞增，并在每個(gè)溫度點(diǎn)駐留60min。
優(yōu)選地，所述方法還包括計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間。優(yōu)選地，所述計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間的步驟為:將所述溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)后置于溫度箱內(nèi)，通額定電流；記錄溫度保護(hù)開關(guān)斷開電路額定次數(shù)η所用的時(shí)間t ；根據(jù)公式h = n/t計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間h。優(yōu)選地，所述溫度保護(hù)開關(guān)失效前的功能檢查正?？倳r(shí)間為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作時(shí)間。優(yōu)選地，所述電子元器件為水泥電阻。上述溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，在保持溫度保護(hù)開關(guān)失效機(jī)理不變的條件下，通過將電子元器件置于溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度下，能夠快速實(shí)現(xiàn)電子元器件溫度變化來控制溫度保護(hù)開關(guān)閉合，達(dá)到提高其工作頻率的方法來加速失效發(fā)現(xiàn)其潛在的缺陷，并根據(jù)合理的計(jì)算方法推斷出其使用壽命，能夠在短時(shí)間內(nèi)快速獲得溫度保護(hù)開關(guān)的使用壽命。

圖1為溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法流程圖。
具體實(shí)施方式如圖1所示，為一種溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法的流程圖，包括以下步驟:步驟S110，將溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)，溫度保護(hù)開關(guān)貼附在電子元器件上面。在本實(shí)施例中，在溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件貼附的同時(shí)緊密相連，這樣能夠讓溫度開關(guān)更有效的監(jiān)控電子元器件的溫度。在本實(shí)施例中，電子元器件在導(dǎo)電情況下能夠快速發(fā)熱。優(yōu)選地，電子元器件為水泥電阻。電子元器件一般選擇阻值較大的，導(dǎo)熱性能較好的，這樣能夠在快速發(fā)熱的同時(shí)將溫度傳遞給溫度保護(hù)開關(guān)，增強(qiáng)溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試電路的靈敏性。優(yōu)選地，電子元器件的阻值為30 Ω。步驟S120，將所述串聯(lián)電子元器件的溫度保護(hù)開關(guān)置于溫度箱內(nèi)，通額定的電流并記錄溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間T及溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)η所用的時(shí)間t ;其中所述溫度箱內(nèi)的測試溫度設(shè)為溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度。在本實(shí)施例中，所述溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)置于溫度箱后，在電子元器件兩端通IOA的額定電流。在本實(shí)施例中，所述溫度保護(hù)開關(guān)失效前的功能檢查正?？倳r(shí)間為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作時(shí)間。
在本實(shí)施例中，當(dāng)溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開的總次數(shù)為1000時(shí)，對溫度保護(hù)開關(guān)進(jìn)行功能檢查。在本實(shí)施例中，記錄溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)η所用的時(shí)間t是為了獲取溫度保護(hù)開關(guān)斷開單次所用的時(shí)間，從而能夠在獲得溫度保護(hù)開關(guān)斷開總次數(shù)所用的時(shí)間時(shí)獲得溫度保護(hù)開關(guān)斷開的總次數(shù)。一般情況，記錄溫度保護(hù)開關(guān)斷開10次所用的時(shí)間。
步驟S130，根據(jù)公式N = n*T/t計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)的壽命，其中，N為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開的總次數(shù)，T為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間T，t為溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)η所用的時(shí)間。在本實(shí)施例中，所述溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法還包括:①所述溫度箱內(nèi)的溫度以額定值遞增，并在每個(gè)溫度點(diǎn)駐留。②記錄每個(gè)溫度點(diǎn)溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)。③選擇溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度點(diǎn)為測試溫度點(diǎn)。在本實(shí)施例中，所述溫度箱內(nèi)的溫度由20°C開始，以10°C的額定值遞增，并在每個(gè)溫度點(diǎn)駐留60min。在本實(shí)施例中，所述溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法還包括計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間。在本實(shí)施例中，所述計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間的步驟為:①將所述溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)后置于溫度箱內(nèi)，通額定電流；②記錄溫度保護(hù)開關(guān)斷開電路額定次數(shù)η所用的時(shí)間t。③根據(jù)公式h = n/t計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間h。在本實(shí)施例中，溫度箱測試溫度設(shè)為溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度。將溫度保護(hù)開關(guān)和電子元器件放置于溫度箱內(nèi)，通IOA電流，記錄溫度保護(hù)開關(guān)斷開電路10次總時(shí)間，然后計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路的時(shí)間。在溫度保護(hù)開關(guān)動作滿1000次時(shí)對溫度保護(hù)開關(guān)進(jìn)行功能檢查，確認(rèn)溫度保護(hù)開關(guān)是否正常工作，并且規(guī)定溫度保護(hù)開關(guān)失效前一次功能檢查正常總時(shí)間為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作時(shí)間。基于上述所有實(shí)施例，某溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法如下:某溫度保護(hù)開關(guān)在測試環(huán)境30°C時(shí)，溫度保護(hù)開關(guān)閉合次數(shù)最多，在此溫度進(jìn)行測試，通過記錄溫度保護(hù)開關(guān)閉合/斷開10次總時(shí)間T = 50s，計(jì)算每次閉合/斷開時(shí)間t=T/10 = 50/10s = 5s。溫度保護(hù)開關(guān)壽命測試功能檢查間隔時(shí)間Tra= IOOOt = 1000*5s=5000s。測試進(jìn)行至溫度保護(hù)開關(guān)閉合/斷開16Tra (第16次功能檢查時(shí))發(fā)現(xiàn)溫度保護(hù)開關(guān)失效，確定溫度保護(hù)開關(guān)在本次壽命測試中正常工作總時(shí)間T,6= 15Tfs]= 15*5000s=75000s，計(jì)算出溫度開關(guān)使用壽命η = T總/t = 75000/5 = 15000次。采用溫度保護(hù)開關(guān)壽命測試方法，可以比傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)和試驗(yàn)以快得多的速度得出溫度保護(hù)開關(guān)的使用壽命，在新產(chǎn)品設(shè)計(jì)中，采用合格的溫度保護(hù)開關(guān)能使鎮(zhèn)流器等電子元器件避免由于持續(xù)的高溫導(dǎo)致失效，從而影響整個(gè)系統(tǒng)產(chǎn)品的使用壽命。溫度保護(hù)開關(guān)壽命測試方法在短時(shí)間內(nèi)篩選出合格的溫度保護(hù)開關(guān)運(yùn)用于產(chǎn)品，降低測試成本，縮短產(chǎn)品研制的總時(shí)間，提高產(chǎn)品的可靠度，使產(chǎn)品得以早日投放市場。以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，包括以下步驟: 將溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)，所述溫度保護(hù)開關(guān)貼附在電子元器件上面； 將所述串聯(lián)電子元器件的溫度保護(hù)開關(guān)置于溫度箱內(nèi)，通額定的電流并記錄溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間T及溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)η所用的時(shí)間t ;其中，所述溫度箱內(nèi)的測試溫度設(shè)為溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度； 根據(jù)公式N = n*T/t計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)的壽命，其中，N為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開的總次數(shù)，T為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間，t為溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)η所用的時(shí)間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，當(dāng)溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開的總次數(shù)為1000時(shí)，對溫度保護(hù)開關(guān)進(jìn)行功能檢查。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述電子元器件的阻值為30 Ω。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)置于溫度箱后，在電子元器件兩端通IOA的額定電流。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述方法還包括: 所述溫度箱內(nèi)的溫度以額定值遞增，并在每個(gè)溫度點(diǎn)駐留； 記錄每個(gè)溫度點(diǎn)溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)； 選擇溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度點(diǎn)為測試溫度點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述溫度箱內(nèi)的溫度由20°C開始，以10°C的額定值遞增，并在每個(gè)溫度點(diǎn)駐留60min。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述方法還包括計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間的步驟為: 將所述溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)后置于溫度箱內(nèi)，通額定電流； 記錄溫度保護(hù)開關(guān)斷開電路額定次數(shù)η所用的時(shí)間t ； 根據(jù)公式h = n/t計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)單次斷開電路所用的時(shí)間h。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述溫度保護(hù)開關(guān)失效前的功能檢查正?？倳r(shí)間為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作時(shí)間。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，其特征在于，所述電子元器件為水泥電阻。
全文摘要
一種溫度保護(hù)開關(guān)的壽命測試方法，包括以下步驟將溫度保護(hù)開關(guān)與電子元器件串聯(lián)，所述溫度保護(hù)開關(guān)貼附在電子元器件上面；將所述串聯(lián)電子元器件的溫度保護(hù)開關(guān)置于溫度箱內(nèi)，通額定的電流并記錄溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間T及溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)n所用的時(shí)間t；其中所述溫度箱內(nèi)的測試溫度設(shè)為溫度保護(hù)開關(guān)斷開次數(shù)最多的溫度；根據(jù)公式N＝n*T/t計(jì)算溫度保護(hù)開關(guān)的壽命，其中，N為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開的總次數(shù)，T為溫度保護(hù)開關(guān)正常工作斷開總次數(shù)所用的時(shí)間，t為溫度保護(hù)開關(guān)斷開額定次數(shù)n所用的時(shí)間。上述方法能夠在短時(shí)間內(nèi)快速獲得溫度保護(hù)開關(guān)的使用壽命。
文檔編號G01R31/327GK103163455SQ20111042135
公開日2013年6月19日 申請日期2011年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月15日
發(fā)明者周明杰, 王永清 申請人:海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明工程有限公司