專利名稱：一種超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及超導(dǎo)材料性能測試技術(shù)，具體地，涉及一種超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
超導(dǎo)現(xiàn)象對我們并不陌生，而且超導(dǎo)材料領(lǐng)域每一次里程碑式的突破都會吸引幾乎所有人的目光，皆因?yàn)槠洫?dú)特的物理性質(zhì)及誘人的應(yīng)用前景。事實(shí)上，超導(dǎo)物理和材料學(xué)家分別就超導(dǎo)物理機(jī)制、如何提高超導(dǎo)臨界參數(shù)及尋求新的超導(dǎo)材料等已經(jīng)為之分頭近乎一個世紀(jì)。對于超導(dǎo)材料與結(jié)構(gòu)力學(xué)問題的研究是伴隨著低溫超導(dǎo)材料的發(fā)展與應(yīng)用而開啟的，超導(dǎo)材料正常工作需要極低溫環(huán)境(低溫超導(dǎo)4. 2K，液氦冷卻環(huán)境；高溫超導(dǎo)-77K， 液氮冷卻環(huán)境)，超導(dǎo)材料在這種低溫環(huán)境下的力學(xué)特性如楊氏模量、熱導(dǎo)率，斷裂韌性等及其對于溫度、磁場的依賴規(guī)律，是超導(dǎo)材料與結(jié)構(gòu)力學(xué)的最基本力學(xué)課題。目前，國內(nèi)的超導(dǎo)實(shí)驗(yàn)主要集中在高溫超導(dǎo)懸浮系統(tǒng)的懸浮力測量方面，國際上在超導(dǎo)材料結(jié)構(gòu)變形測試方面的實(shí)驗(yàn)也十分有限(國內(nèi)幾乎沒有開展，已成為國內(nèi)開展 ITER相關(guān)研究的掣肘)，其主要難度在于低溫環(huán)境下有限空間內(nèi)的檢測裝置安裝與極低溫與強(qiáng)磁場環(huán)境下的變形測量傳感器適應(yīng)性；而在超導(dǎo)體失超磁熱分布規(guī)律與有效檢測方面幾乎還沒有精度很好的檢測實(shí)驗(yàn)方法和手段。在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)中至少存在變形測量傳感器適應(yīng)性差、測量數(shù)據(jù)有效性差、測量準(zhǔn)確性差與檢測精度低等缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，針對上述問題，提出一種超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)變形測量傳感器適應(yīng)性好、測量數(shù)據(jù)有效性好、測量準(zhǔn)確性好與檢測精度高的優(yōu)點(diǎn)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是一種超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，包括由水平設(shè)置的銅質(zhì)支撐板與豎直設(shè)置的銅質(zhì)支撐桿組成的支架；在所述銅質(zhì)支撐板上，自下向上依次設(shè)有激振器、鋁制托盤與超導(dǎo)體測試裝置；在所述銅質(zhì)支撐桿上，水平設(shè)置有高度可調(diào)的鋁梁，懸掛在所述鋁梁上的永磁體，以及用于將所述永磁體固定在鋁梁上的永磁體固定螺栓。進(jìn)一步地，所述超導(dǎo)體測試裝置包括設(shè)置在鋁制托盤上的聚苯乙烯泡沫塑料容器與振動測試傳感器；在所述聚苯乙烯泡沫塑料容器的內(nèi)部盛裝有液氮，在液氮中放置有高溫超導(dǎo)體、以及與所述高溫超導(dǎo)體配合設(shè)置、且用于低溫測試組件與超導(dǎo)體表面無縫連接的超導(dǎo)體探頭夾具；在聚苯乙烯泡沫塑料容器的頂部加蓋有環(huán)氧樹脂蓋板。進(jìn)一步地，所述超導(dǎo)體探頭夾具用低溫膠固定黏貼在聚苯乙烯泡沫塑料容器的底端，包括上下對稱設(shè)置、且具有凹陷空腔的上“凹”型骨架與下“凹”型骨架，以及設(shè)置在所述上“凹”型骨架與下“凹”型骨架之間的低溫測試組件。
進(jìn)一步地，所述上“凹”型骨架與下“凹”型骨架，均為用于使超導(dǎo)體部分裸露以調(diào)整位置的網(wǎng)架結(jié)構(gòu)。進(jìn)一步地，所述上“凹”型骨架與下“凹”型骨架的凹陷處相對設(shè)置、且具有內(nèi)螺紋， 所述低溫測試組件包括銅管、封裝在所述銅管中的低溫霍爾探頭及溫度傳感器、放置在下 “凹”型骨架的內(nèi)部空腔中的超導(dǎo)體、以及貼附在所述超導(dǎo)體表面上的低溫應(yīng)變片；與所述上“凹”型骨架及下“凹”型骨架的內(nèi)螺紋相配合，在所述銅管的外圍設(shè)有外螺紋。進(jìn)一步地，所述低溫霍爾探頭包括探頭支座，以及根據(jù)測試點(diǎn)的數(shù)目設(shè)置的多個探頭點(diǎn)；與每個探頭點(diǎn)相對應(yīng)，設(shè)有伸出銅管的探頭導(dǎo)線余量與導(dǎo)線卡件；相應(yīng)的探頭導(dǎo)線余量通過相應(yīng)的導(dǎo)線卡件，卡接在上“凹”型骨架遠(yuǎn)離凹陷處的頂板上。進(jìn)一步地，所述超導(dǎo)體為圓柱體或正六棱柱狀的超導(dǎo)塊。本發(fā)明各實(shí)施例的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，由于包括由水平設(shè)置的銅質(zhì)支撐板與豎直設(shè)置的銅質(zhì)支撐桿組成的支架；在銅質(zhì)支撐板上，自下向上依次設(shè)有激振器、鋁制托盤與超導(dǎo)體測試裝置；在銅質(zhì)支撐桿上，水平設(shè)置有高度可調(diào)的鋁梁，懸掛在鋁梁上的永磁體，以及用于將所述永磁體固定在鋁梁上的永磁體固定螺栓；可以測量超導(dǎo)材料在動態(tài)情形下的力學(xué)變形、磁場分布、熱傳導(dǎo)規(guī)律等的實(shí)驗(yàn)測試平臺，解決在極端環(huán)境下超導(dǎo)材料電磁與力學(xué)等特性參數(shù)的實(shí)驗(yàn)測量方法的基礎(chǔ)性關(guān)鍵問題；可以通過實(shí)驗(yàn)的手段，揭示超導(dǎo)材料其物理特性參數(shù)對極低溫和磁場環(huán)境的依賴規(guī)律，為超導(dǎo)材料的應(yīng)用提供有效且可靠的基本數(shù)據(jù)；從而可以克服現(xiàn)有技術(shù)中變形測量傳感器適應(yīng)性差、 測量數(shù)據(jù)有效性差、測量準(zhǔn)確性差與檢測精度低的缺陷，以實(shí)現(xiàn)變形測量傳感器適應(yīng)性好、 測量數(shù)據(jù)有效性好、測量準(zhǔn)確性好與檢測精度高的優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在所寫的說明書、權(quán)利要求書、以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。下面通過附圖和實(shí)施例，對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。


附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中
圖1為根據(jù)本發(fā)明超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為根據(jù)本發(fā)明超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)中低溫探頭、超導(dǎo)體及夾具的裝配結(jié)構(gòu)示意圖加為圖2中低溫探頭及探頭支座的俯視圖的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2b和圖2c為圖2中超導(dǎo)體的橫截面示意圖。結(jié)合附圖，本發(fā)明實(shí)施例中附圖標(biāo)記如下
1-銅質(zhì)支撐桿；2-鋁梁；3-永磁體；4-永磁體固定螺栓；5-環(huán)氧樹脂蓋板；6-聚苯乙烯泡沫塑料容器；7-液氮；8-超導(dǎo)體探頭夾具；9-高溫超導(dǎo)體；10-振動測試傳感器； 11-鋁制托盤；12-激振器；13-導(dǎo)線卡件；14-探頭導(dǎo)線余量；15-內(nèi)螺紋；16-外螺紋； 17-低溫霍爾(hall)探頭及溫度傳感器；18-超導(dǎo)塊；19-低溫應(yīng)變片。
具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說明，應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的優(yōu)選實(shí)施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，提供了一種超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)。 如圖1-圖2c所示，本實(shí)施例包括由水平設(shè)置的銅質(zhì)支撐板與豎直設(shè)置的銅質(zhì)支撐桿1組成的支架；在銅質(zhì)支撐板上，自下向上依次設(shè)有激振器12、鋁制托盤11與超導(dǎo)體測試裝置； 在銅質(zhì)支撐桿1上，水平設(shè)置有高度可調(diào)的鋁梁2，懸掛在鋁梁2上的永磁體3，以及用于將永磁體3固定在鋁梁2上的永磁體固定螺栓4。在上述實(shí)施例中，超導(dǎo)體測試裝置包括設(shè)置在鋁制托盤11上的聚苯乙烯泡沫塑料容器6與振動測試傳感器10 ；在聚苯乙烯泡沫塑料容器6的內(nèi)部盛裝有液氮7(77K)，在液氮7中放置有高溫超導(dǎo)體9、以及與高溫超導(dǎo)體9配合設(shè)置、且用于低溫測試組件與超導(dǎo)體表面無縫連接的超導(dǎo)體探頭夾具8 ；在聚苯乙烯泡沫塑料容器6的頂部加蓋有環(huán)氧樹脂蓋板5。在上述實(shí)施例中，超導(dǎo)體探頭夾具8用低溫膠固定黏貼在聚苯乙烯泡沫塑料容器 6的底端，包括上下對稱設(shè)置、且具有凹陷空腔的上“凹”型骨架與下“凹”型骨架，以及設(shè)置在上“凹”型骨架與下“凹”型骨架之間的低溫測試組件。其中，上“凹”型骨架與下“凹”型骨架，均為用于使超導(dǎo)體部分裸露以調(diào)整位置的網(wǎng)架結(jié)構(gòu)。這里，上“凹”型骨架與下“凹” 型骨架的材質(zhì)可采用鋁或銅。在上述實(shí)施例中，上“凹”型骨架與下“凹”型骨架的凹陷處相對設(shè)置、且具有內(nèi)螺紋15，低溫測試組件包括銅管(直接為2mm)、封裝在銅管中的低溫霍爾(hall)探頭(適用溫度77K-400K，尺寸為直徑2mm)及溫度傳感器(精度0. 1K)、放置在下“凹”型骨架的內(nèi)部空腔中的超導(dǎo)體、以及貼附在超導(dǎo)體表面上的低溫應(yīng)變片19 ；與上“凹”型骨架及下“凹”型骨架的內(nèi)螺紋15相配合，在銅管的外圍設(shè)有外螺紋16。這里，超導(dǎo)體為圓柱體或正六棱柱狀的超導(dǎo)塊18。在上述實(shí)施例中，低溫霍爾探頭包括探頭支座，以及根據(jù)測試點(diǎn)的數(shù)目設(shè)置的多個探頭點(diǎn)；與每個探頭點(diǎn)相對應(yīng)，設(shè)有伸出銅管的探頭導(dǎo)線余量14與導(dǎo)線卡件13，并在上 “凹”型骨架遠(yuǎn)離凹陷處的頂板上設(shè)有夾頭；相應(yīng)的探頭導(dǎo)線余量14通過相應(yīng)的導(dǎo)線卡件 13，卡接在上“凹”型骨架的夾頭處，夾頭的材質(zhì)為鋁或銅。具體操作時，將超導(dǎo)體放置于的超導(dǎo)體探頭夾具8中，同點(diǎn)測磁場強(qiáng)度的低溫 hall探頭及溫度傳感器17 (溫度傳感器同低溫hall探頭置于一體)，然后將超導(dǎo)體探頭夾具8整體用低溫膠黏貼在聚苯乙烯泡沫塑料容器6的底端，同聚苯乙烯泡沫塑料容器6固定在一起；將要實(shí)驗(yàn)的聚苯乙烯泡沫塑料容器6固定在激振器12的鋁制托盤11上，并在鋁制托盤11上放置振動測試傳感器10的動態(tài)信號；固定好聚苯乙烯泡沫塑料容器6和激振器12后，將液氮7倒入聚苯乙烯泡沫塑料容器6中，并用環(huán)氧樹脂蓋板5蓋住聚苯乙烯泡沫塑料容器6的開口，在鋁梁2上安放永磁體3，用永磁體固定螺栓4固定永磁體3，同時根據(jù)實(shí)驗(yàn)的要求可以調(diào)升或者降低鋁梁2的高度，從而達(dá)到實(shí)驗(yàn)的要求和目的。必要說明的是，超導(dǎo)體在動態(tài)時，存在與靜態(tài)時不同的特性，即磁熱分布規(guī)律有很大的差異，超導(dǎo)體表面的磁熱會有不同的特征，對于不同點(diǎn)測量，這就顯得尤為重要。同時，目前國內(nèi)、國外技術(shù)，所生產(chǎn)的超導(dǎo)體其結(jié)構(gòu)都是比較小的，其直徑約為30mm、高度約為20mm的圓柱體或者六棱柱，為此，上述實(shí)施例的超導(dǎo)體探頭夾具8及采用的低溫hall探頭的尺寸都非常的小，并且，超導(dǎo)體探頭夾具8能夠根據(jù)所測樣品的尺寸實(shí)現(xiàn)最大25個點(diǎn)的振動測試傳感器10的位置固定，能夠較為全面的測試超導(dǎo)體在動態(tài)情形下超導(dǎo)材料表面磁、熱分布規(guī)律進(jìn)行多點(diǎn)測試。對于超導(dǎo)體的力學(xué)同步變形，采用在超導(dǎo)體柱面粘貼低溫應(yīng)變片19(適用溫度4一 400K)，測試超導(dǎo)體的力學(xué)形變特性，從而實(shí)現(xiàn)力學(xué)變形與磁、熱特征量的同步測試。其中，為了使超導(dǎo)材料表面與低溫hall探頭及溫度傳感器17的無縫接觸，上述實(shí)施例設(shè)計了超導(dǎo)體探頭夾具8 ；其中固定超導(dǎo)體的骨架為網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)，只需起到固定超導(dǎo)體與探頭支座無縫連接的作用，并且方便調(diào)整它在骨架里面的位置。探頭支座采用鋁質(zhì)材料， 其直徑為2mm，結(jié)構(gòu)為蜂窩結(jié)構(gòu)，可以將低溫hall探頭及溫度傳感器17插入孔中，與超導(dǎo)體截面無縫接觸，再通過上“凹”型骨架，來固定低溫hall探頭及溫度傳感器17還有導(dǎo)線，以免在振動中產(chǎn)生擺動，而影響實(shí)驗(yàn)測試，并且讓導(dǎo)線能夠不受張力，對導(dǎo)線產(chǎn)生破壞；從而整個超導(dǎo)體探頭夾具8可以使超導(dǎo)體以及測試的低溫hall探頭及溫度傳感器17于一體， 保證動態(tài)實(shí)驗(yàn)測試的準(zhǔn)確性和精度。上述實(shí)施例的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，是開創(chuàng)性的，有利于建立一套可靠、準(zhǔn)確、自動化程度高的測量超導(dǎo)材料在動態(tài)情形下的力學(xué)變形、磁場分布、熱傳導(dǎo)規(guī)律等的實(shí)驗(yàn)測試平臺，解決在極端環(huán)境下，超導(dǎo)材料電磁與力學(xué)等特性參數(shù)的實(shí)驗(yàn)測量方法的基礎(chǔ)性關(guān)鍵問題，可以通過實(shí)驗(yàn)的手段，來揭示超導(dǎo)材料其物理特性參數(shù)對極低溫和磁場環(huán)境的依賴規(guī)律，為超導(dǎo)材料的應(yīng)用提供有效的、可靠的基本數(shù)據(jù)，為進(jìn)一步開發(fā)和應(yīng)用打下良好的基礎(chǔ)；該超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，適用于極端環(huán)境下，超導(dǎo)材料在動態(tài)情形下，電磁與力學(xué)等特性參數(shù)的實(shí)驗(yàn)測量系統(tǒng)；可實(shí)現(xiàn)不施加外加電流情形下的超導(dǎo)體磁場、溫度場以及應(yīng)力場之間的關(guān)聯(lián)測試，填補(bǔ)超導(dǎo)失超磁熱分布規(guī)律的有效檢測。綜上所述，本發(fā)明各實(shí)施例的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，由于包括由水平設(shè)置的銅質(zhì)支撐板與豎直設(shè)置的銅質(zhì)支撐桿組成的支架；在銅質(zhì)支撐板上， 自下向上依次設(shè)有激振器、鋁制托盤與超導(dǎo)體測試裝置；在銅質(zhì)支撐桿上，水平設(shè)置有高度可調(diào)的鋁梁，懸掛在鋁梁上的永磁體，以及用于將所述永磁體固定在鋁梁上的永磁體固定螺栓；可以測量超導(dǎo)材料在動態(tài)情形下的力學(xué)變形、磁場分布、熱傳導(dǎo)規(guī)律等的實(shí)驗(yàn)測試平臺，解決在極端環(huán)境下超導(dǎo)材料電磁與力學(xué)等特性參數(shù)的實(shí)驗(yàn)測量方法的基礎(chǔ)性關(guān)鍵問題；可以通過實(shí)驗(yàn)的手段，揭示超導(dǎo)材料其物理特性參數(shù)對極低溫和磁場環(huán)境的依賴規(guī)律， 為超導(dǎo)材料的應(yīng)用提供有效且可靠的基本數(shù)據(jù)；從而可以克服現(xiàn)有技術(shù)中變形測量傳感器適應(yīng)性差、測量數(shù)據(jù)有效性差、測量準(zhǔn)確性差與檢測精度低的缺陷，以實(shí)現(xiàn)變形測量傳感器適應(yīng)性好、測量數(shù)據(jù)有效性好、測量準(zhǔn)確性好與檢測精度高的優(yōu)點(diǎn)。最后應(yīng)說明的是以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明， 盡管參照前述實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換。 凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，其特征在于，包括由水平設(shè)置的銅質(zhì)支撐板與豎直設(shè)置的銅質(zhì)支撐桿組成的支架；在所述銅質(zhì)支撐板上，自下向上依次設(shè)有激振器、鋁制托盤與超導(dǎo)體測試裝置；在所述銅質(zhì)支撐桿上，水平設(shè)置有高度可調(diào)的鋁梁，懸掛在所述鋁梁上的永磁體，以及用于將所述永磁體固定在鋁梁上的永磁體固定螺栓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述超導(dǎo)體測試裝置包括設(shè)置在鋁制托盤上的聚苯乙烯泡沫塑料容器與振動測試傳感器；在所述聚苯乙烯泡沫塑料容器的內(nèi)部盛裝有液氮，在液氮中放置有高溫超導(dǎo)體、以及與所述高溫超導(dǎo)體配合設(shè)置、且用于低溫測試組件與超導(dǎo)體表面無縫連接的超導(dǎo)體探頭夾具；在聚苯乙烯泡沫塑料容器的頂部加蓋有環(huán)氧樹脂蓋板。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述超導(dǎo)體探頭夾具用低溫膠固定黏貼在聚苯乙烯泡沫塑料容器的底端，包括上下對稱設(shè)置、且具有凹陷空腔的上“凹”型骨架與下“凹”型骨架，以及設(shè)置在所述上“凹”型骨架與下“凹”型骨架之間的低溫測試組件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上“凹”型骨架與下“凹”型骨架，均為用于使超導(dǎo)體部分裸露以調(diào)整位置的網(wǎng)架結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上“凹”型骨架與下“凹”型骨架的凹陷處相對設(shè)置、且具有內(nèi)螺紋，所述低溫測試組件包括銅管、封裝在所述銅管中的低溫霍爾探頭及溫度傳感器、放置在下“凹”型骨架的內(nèi)部空腔中的超導(dǎo)體、以及貼附在所述超導(dǎo)體表面上的低溫應(yīng)變片；與所述上“凹”型骨架及下“凹”型骨架的內(nèi)螺紋相配合，在所述銅管的外圍設(shè)有外螺紋。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述低溫霍爾探頭包括探頭支座，以及根據(jù)測試點(diǎn)的數(shù)目設(shè)置的多個探頭點(diǎn)；與每個探頭點(diǎn)相對應(yīng)，設(shè)有伸出銅管的探頭導(dǎo)線余量與導(dǎo)線卡件；相應(yīng)的探頭導(dǎo)線余量通過相應(yīng)的導(dǎo)線卡件，卡接在上“凹，，型骨架遠(yuǎn)離凹陷處的頂板上。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述超導(dǎo)體為圓柱體或正六棱柱狀的超導(dǎo)塊。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，包括由水平設(shè)置的銅質(zhì)支撐板與豎直設(shè)置的銅質(zhì)支撐桿組成的支架；在所述銅質(zhì)支撐板上，自下向上依次設(shè)有激振器、鋁制托盤與超導(dǎo)體測試裝置；在所述銅質(zhì)支撐桿上，水平設(shè)置有高度可調(diào)的鋁梁，懸掛在所述鋁梁上的永磁體，以及用于將所述永磁體固定在鋁梁上的永磁體固定螺栓。本發(fā)明所述超導(dǎo)體動態(tài)表面磁場及熱分布的多點(diǎn)測試系統(tǒng)，可以克服現(xiàn)有技術(shù)中變形測量傳感器適應(yīng)性差、測量數(shù)據(jù)有效性差、測量準(zhǔn)確性差與檢測精度低等缺陷，以實(shí)現(xiàn)變形測量傳感器適應(yīng)性好、測量數(shù)據(jù)有效性好、測量準(zhǔn)確性好與檢測精度高的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號G01N3/00GK102359905SQ20111028997
公開日2012年2月22日 申請日期2011年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月28日
發(fā)明者周軍, 周又和, 張興義, 趙沛 申請人:蘭州大學(xué)