專(zhuān)利名稱：一種測(cè)試表筆的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)量?jī)x器儀表技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種測(cè)試表筆。
背景技術(shù)：
目前，通常的萬(wàn)用表等測(cè)量?jī)x器儀表所配測(cè)試表筆，由絕緣的筆桿、頂端為尖錐形 的金屬探針、導(dǎo)線及導(dǎo)線插頭等構(gòu)成?，F(xiàn)有表筆用于測(cè)試已焊接或插接在線路板上的電子 元器件，如測(cè)試集成電路塊的相關(guān)參數(shù)，由于集成電路塊的引出腳是一個(gè)接一個(gè)緊密排列 的，相鄰兩個(gè)引出腳之間只有很小的間隙，當(dāng)現(xiàn)有表筆的探針碰觸所測(cè)引出腳時(shí)，由于并無(wú) 固定接觸位置的結(jié)構(gòu)功能，尖滑的探針極易從所測(cè)引出腳滑落，同時(shí)碰觸到相鄰的引出腳， 引起測(cè)量結(jié)果的不實(shí)變化。若集成電路塊處于通電狀態(tài)，則還可能造成短路，燒毀集成電路 塊。如測(cè)試三極管中間的一極，則易碰觸旁邊的兩極。有的元件如電阻，往往位置緊貼線路 板，引出線很短，表筆也不易穩(wěn)定地與之接觸。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種可靠地與所 測(cè)電子元器件引出腳接觸，不易與相鄰引出腳相碰的測(cè)試表筆。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種測(cè)試表筆，包括筆桿、后半 部嵌入筆桿的探針，所述的探針的前端端部呈扁平狀，該端部開(kāi)有凹口。所述的凹口內(nèi)邊緣呈與電子元器件引出腳外壁相配合的弧形。所述的探針前端端部的寬度小于電子元器件引出腳的最大寬度。所述的探針后半部與設(shè)置在筆桿內(nèi)的導(dǎo)線相連接，導(dǎo)線的另一端連接有插頭。本實(shí)用新型采用上述結(jié)構(gòu)，具有以下優(yōu)點(diǎn)1、用于線路板上集成電路塊測(cè)試時(shí)， 探針端部可插置于所測(cè)引出腳與其插孔之間存在的微小縫隙處，這樣可以既保證與所測(cè)引 出腳可靠接觸，又不會(huì)左右移動(dòng)與相鄰引出腳相碰；2、用于線路板上電阻、二極管、三極管 等電子元件上參數(shù)測(cè)試時(shí)，可以探針前端端部的凹口，卡住所測(cè)引出腳，保證穩(wěn)定可靠的接 觸，操作者可以騰出雙手操作儀器。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明；

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；在圖1中，1、筆桿；2、探針；3、凹口。
具體實(shí)施方式
如圖1所示一種測(cè)試表筆，包括筆桿1、后半部嵌入筆桿的探針2，探針2的前端端 部呈扁平狀，該端部開(kāi)有凹口 3。凹口 3內(nèi)邊緣呈與電子元器件引出腳外壁相配合的弧形。 凹口 3外邊緣過(guò)塑絕緣。探針2前端端部的寬度小于電子元器件引出腳的最大寬度。探針后半部與設(shè)置在筆桿1內(nèi)的導(dǎo)線相連接，導(dǎo)線的另一端連接有插頭。插頭的類(lèi)型視所配 屬的儀表而定。該表筆在用于線路板上集成電路塊測(cè)試時(shí)，探針2端部可插置于所測(cè)引出 腳與其插孔之間存在的微小縫隙處，這樣可以既保證與所測(cè)引出腳可靠接觸，又不會(huì)左右 移動(dòng)與相鄰引出腳相碰。該表筆用于線路板上電阻、二極管、三極管等電子元件上參數(shù)測(cè)試 時(shí)，可以用探針2前端端部的凹口 3，卡住所測(cè)電子元器件的引出腳，保證穩(wěn)定可靠的接觸。 上面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了示例性描述，顯然本實(shí)用新型具體實(shí)現(xiàn)并不受 上述方式的限制，只要采用了本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行的各種改進(jìn)，或未經(jīng)改進(jìn)直接應(yīng) 用于其它場(chǎng)合的，均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測(cè)試表筆，包括筆桿(1)、后半部嵌入筆桿的探針O)，其特征在于所述的探針 (2)的前端端部呈扁平狀，該端部開(kāi)有凹口(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試表筆，其特征在于所述的凹口( 內(nèi)邊緣呈與電 子元器件引出腳外壁相配合的弧形。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試表筆，其特征在于所述的探針( 前端端部的寬 度小于電子元器件引出腳的最大寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試表筆，其特征在于所述的探針后半部與設(shè)置在筆 桿(1)內(nèi)的導(dǎo)線相連接，導(dǎo)線的另一端連接有插頭。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種測(cè)試表筆，包括筆桿、后半部嵌入筆桿的探針，所述的探針的前端端部呈扁平狀，該端部開(kāi)有凹口。采用上述結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)1、用于線路板上集成電路塊測(cè)試時(shí)，探針端部可插置于所測(cè)引出腳與其插孔之間存在的微小縫隙處，這樣可以既保證與所測(cè)引出腳可靠接觸，又不會(huì)左右移動(dòng)與相鄰引出腳相碰；2、用于線路板上電阻、二極管、三極管等電子元件上參數(shù)測(cè)試時(shí)，可以探針前端端部的凹口，卡住所測(cè)引出腳，保證穩(wěn)定可靠的接觸。
文檔編號(hào)G01R1/067GK201903558SQ20102064413
公開(kāi)日2011年7月20日 申請(qǐng)日期2010年12月6日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月6日
發(fā)明者羅大偉 申請(qǐng)人:羅大偉