專利名稱：雙線表筆的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電子技術(shù)中測(cè)量表筆，尤其是采用四線法測(cè)試微電阻用的表筆。
技術(shù)背景目前，公知的四線法測(cè)試微電阻需要有四個(gè)表筆，其中兩個(gè)用來提供測(cè)試電流，另外兩個(gè)用來直接測(cè) 試微電阻的電壓。這個(gè)辦法可以消除電流表筆引起的誤差。因此，需要精確測(cè)量電阻大小或者測(cè)試電阻比 起表筆的內(nèi)電阻來更小的時(shí)候，必須采用這個(gè)辦法來測(cè)量。但這個(gè)辦法比較煩瑣，需要四個(gè)表筆，實(shí)際使用起來很麻煩。以致絕大部分常用的儀器都沒有微電 阻測(cè)試功能。對(duì)于和表筆電阻相仿大小或更小的電阻， 一般的兩線電阻表已經(jīng)無能為力了，要么測(cè)量誤差 太人，要么根本測(cè)試不出來。測(cè)試微電阻測(cè)試需要采用專用的測(cè)試儀器，價(jià)格昂貴，使用不方便。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新觀提出一種新型雙線表筆結(jié)構(gòu)，把四線測(cè)試法中的兩個(gè)表筆集成到一個(gè)里面，外觀看起來和 普通的表筆是一樣的，但卻可以起到四線表筆的作用。采用這種雙線表筆就可以精確測(cè)量微小電阻，而不 再需要使用很麻煩的四線專用儀器了。而且該表筆可以兼容普通表筆，具有普通表筆完全一樣的其他功能。本實(shí)用新型采用的基本原理和四線法是一樣的，不過要在一個(gè)表筆內(nèi)安裝兩根導(dǎo)線， 一根導(dǎo)線用來提 供測(cè)試電流，可以叫做電流線；另外一根用來測(cè)試電壓，可以叫做電壓線。電流線和電壓線是絕緣的，直 到表筆的測(cè)試尖端才連接到一起。這樣，電壓線測(cè)試到的電壓，消除了電流線電阻的影響，可以精確測(cè)量 微電阻的數(shù)值了。本雙線表筆外觀和普通表筆幾乎一樣，并且可以完全兼容普通表筆。本實(shí)用新型的有益效果是方便了微電阻測(cè)試過程，可以使普通電阻表方便的測(cè)試微電阻。


以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。 圖l是本表筆的一個(gè)結(jié)構(gòu)圖。圖中l(wèi).半筆尖l， 2.半筆尖2， 3.表筆絕緣手柄，4.電流線，5.電壓線，6.表筆尖端部分具體實(shí)施方式
圖1中，半筆尖l (1)和半筆尖2 (2)構(gòu)成表筆接觸尖，他們只有在表筆尖端部分(6)才連接在一起， 其他部分是絕緣的。半筆尖l (1)和電壓線(5)連接在一起。半筆尖2 (2)和電流線(4)連接在一起。 電流線(4)和電壓線(5)是絕緣的。半筆尖(1)、半筆尖(2)、電流線(4)、電壓線(5)固定到表筆 絕緣手柄(3)里，形成一個(gè)完整的表筆結(jié)構(gòu)。雙線表筆測(cè)量微電阻時(shí)，靠表筆尖端部分(6)來接觸被測(cè)試點(diǎn)的。測(cè)試電流從電流線(4)流過來， 通過羋筆尖2 (2)流到被測(cè)試電阻上。測(cè)量時(shí)候，通過半筆尖l (1)和半筆尖2 (2)結(jié)合形成的表筆尖端 部分(6)，通過半筆尖l (1)、電壓線(5)來測(cè)試電壓，就是直接測(cè)試到表筆尖端部分(6)的電壓，也 就完全消除了筆尖和電流線帶來的誤差。而普通表筆的構(gòu)成是只有半筆尖2 (2)、表筆絕緣手柄(3)、電流線(4)。半筆尖l (1)和半筆尖2 (2)可以用同一個(gè)金屬加工成的，也可以分別制作，然后采用在表筆尖端部 分(6)來焊接的辦法也是可行的。
權(quán)利要求1.雙線表筆，其特征是一個(gè)表筆內(nèi)有兩條測(cè)試線，并且只有在測(cè)試尖端部分兩條測(cè)試線才連接到一起并導(dǎo)通。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙線表筆，其特征是測(cè)試筆尖是由兩個(gè)半筆尖組成，測(cè)試尖端部 分是導(dǎo)通的，其他部分絕緣。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙線表筆，其特征是兩條測(cè)試線分別連接一個(gè)半筆尖，兩測(cè)試線 是絕緣的。
專利摘要一種雙線表筆，一個(gè)表筆內(nèi)有兩條測(cè)試線，在測(cè)試尖端部分兩條測(cè)試線通過半筆尖連接到一起。雙線表筆的筆尖是由兩個(gè)半筆尖組成，測(cè)試尖端部分是導(dǎo)通的，其他部分絕緣。兩個(gè)測(cè)試線分別為電流線和電壓線，分別接一個(gè)半筆尖。這種表筆一對(duì)就集成了四線法測(cè)試微電阻使用的四個(gè)測(cè)試線，并且可以和普通測(cè)試表筆兼容。使用該表筆可以用普通表來實(shí)現(xiàn)四線法測(cè)試微電阻，消除了測(cè)試表筆帶來的測(cè)試誤差，而且使用方便。
文檔編號(hào)G01R1/06GK201051110SQ20072012010
公開日2008年4月23日 申請(qǐng)日期2007年5月18日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月18日
發(fā)明者孫振宇 申請(qǐng)人:孫振宇