專利名稱：一種電路調(diào)試筆的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)試電子線路的測(cè)試工具領(lǐng)域，尤其是涉及一種電路調(diào)試筆。
技術(shù)背景在現(xiàn)有的電路調(diào)試過(guò)程中，當(dāng)要測(cè)試某個(gè)元器件對(duì)電路的影響時(shí)，通常要將電路板上 的元件用電焊鐵取下，再用電焊鐵焊上待測(cè)的元件，而當(dāng)需要測(cè)試較多元件時(shí)，這種更換 過(guò)程就較為煩瑣了 ，不但效率低下同時(shí)由于焊接等原因也造成大量元件的浪費(fèi)。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種電路調(diào)試筆，其可使電路調(diào)試過(guò)程中無(wú)需 拆卸待測(cè)元件，操作簡(jiǎn)單方便且無(wú)耗材。為解決本實(shí)用新型的技術(shù)問題，本實(shí)用新型公開一種電路調(diào)試筆，其包括筆桿和兩端 筆頭，所述至少一端筆頭上設(shè)有夾持裝置及至少兩個(gè)連接到夾持裝置上且向外伸出筆頭的 金屬探針。其中所述夾持裝置包4ti殳置于筆頭上的夾持室和位于夾持室內(nèi)且沿電路調(diào)試筆的中 心線方向放置的彈簧片。其中所述夾持室是開于所述筆頭側(cè)面的通孔。其中所述金屬探針的末端固定于所迷?shī)A持室內(nèi)，前端朝電路調(diào)試筆的中心線方向伸出筆頭。其中所述金屬探針末端通過(guò)固定座固定于夾持室內(nèi)。 其中所述另一端筆頭可設(shè)有筆芯。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有如下有益效果通過(guò)設(shè)置在筆頭上的夾持裝置夾 持電阻、電容等元器件，且連接到金屬探針末端，從而通過(guò)金屬探針將元器件連接到待測(cè) 的電路板上，使調(diào)試過(guò)程更為簡(jiǎn)單方便，且無(wú)需將待測(cè)元件拆卸下來(lái)，不會(huì)造成大量元件 浪費(fèi)。
附困說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型的縱截面剖視圖； 圖2是本實(shí)用新型的仰視圖； 圖3是本實(shí)用新型的待測(cè)電路圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。本實(shí)用新型主要是通過(guò)設(shè)于筆頭上的夾持裝置將電阻、電容等元器件夾住，并使其兩 端連接到固定于筆頭上且伸出筆頭的金屬探針，再通過(guò)金屬探針將待測(cè)電路與所夾住的元 件相連，從而可簡(jiǎn)單方便地進(jìn)行電路調(diào)試。如圖1和圖2所示，本實(shí)施例的電路調(diào)試筆包括筆桿10、上端筆頭20和下端筆頭30， 下端筆頭30上設(shè)有夾持裝置和兩個(gè)金屬探針33，其中夾持裝置包括一夾持室31和位于夾 持室31內(nèi)且沿中心線方向放置的彈簧片32，所述夾持室31是開口于下端筆頭30側(cè)面的 方形通孔，彈簧片32用于夾住元器件40,可通過(guò)膠粘或卡扣等方式固定在夾持室31內(nèi)。兩個(gè)金屬探針33的末端通過(guò)固定座34固定于夾持室31內(nèi)，且金屬探針33的末端露 出一段與元器件40的兩端相接觸，金屬探針33的前端朝中心線方向伸出下端筆頭30的 端面35,金屬探針33伸出端面35的長(zhǎng)度約為2cm至2.5cm。為方便記錄測(cè)試結(jié)果，在上端筆頭20上還設(shè)置有筆芯21。如圖3所示，Vi是倌號(hào)輸入端，Vo是信號(hào)輸出端，在對(duì)這個(gè)電路進(jìn)行調(diào)試時(shí)，若要 確定Ll對(duì)電路的影響，如果按照傳統(tǒng)方法來(lái)調(diào)試，必須先把測(cè)試儀器斷開，把電路板關(guān) 掉，然后用烙鐵把L1焊掉，再換個(gè)其它電感值的電感貼上去，再打開電路板電源，再連 接到測(cè)試儀器上，進(jìn)行調(diào)試。而使用本實(shí)施例的電路調(diào)試筆后，將使調(diào)試過(guò)程非常方便，不用斷開測(cè)試儀器及電路 板，也不用把L1焊掉，只需在夾持室31上裝上新電感，并且電感兩端分別與兩個(gè)金屬探 針33的末端相接觸，手握筆桿10,將兩金屬探針33的前端分別接觸Ll的兩端，從而使 夾持室31內(nèi)的電感與L1相并聯(lián)，透過(guò)測(cè)試儀器可直觀的，高效率的判斷出該如何調(diào)試。 同時(shí)，還可以很隨意的將筆放在其它地方，比如L2、 L3、 Rl、 R2、 Cl、 C2等上面。另夕卜， 也可容易地將夾持室31內(nèi)的電感等元件取出。由此可見，使用本實(shí)用新型進(jìn)行電路調(diào)試，可使調(diào)試過(guò)程更為簡(jiǎn)單方便，且無(wú)需將待 測(cè)元件拆卸下來(lái)，不會(huì)造成大量元件浪費(fèi)。
權(quán)利要求1、一種電路調(diào)試筆，其包括筆桿和兩端筆頭，其特征在于所述至少一端筆頭上設(shè)有夾持裝置及至少兩個(gè)連接到夾持裝置上且向外伸出筆頭的金屬探針。
2、 如權(quán)利要求1所述的電路調(diào)試筆，其特征在于所述夾持裝置包括設(shè)置于筆頭上 的夾持室和位于夾持室內(nèi)且沿電路調(diào)試筆的中心線方向放置的彈簧片。
3、 如權(quán)利要求2所述的電路調(diào)試筆，其特征在于所述夾持室是開于所述筆頭側(cè)面 的通孔。
4、 如權(quán)利要求2或3所述的電路調(diào)試筆，其特征在于所述金屬探針的末端固定于 所述夾持室內(nèi)，前端朝電路調(diào)試筆的中心線方向伸出筆頭。
5、 如權(quán)利要求4述的電路調(diào)試筆，其特征在于所迷金屬揮:針末端通過(guò)固定座固定 于夾持室內(nèi)。
6、 如權(quán)利要求1所迷的電路調(diào)試筆，其特征在于所述另一端筆頭可設(shè)有筆芯。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種電路調(diào)試筆，其包括筆桿和兩端筆頭，所述至少一端筆頭上設(shè)有夾持裝置及至少兩個(gè)連接到夾持裝置上且向外伸出筆頭的金屬探針。本實(shí)用新型通過(guò)夾持裝置夾持電阻、電容等元器件，且連接到金屬探針末端，從而通過(guò)金屬探針將元器件連接到待測(cè)的電路板上，使調(diào)試過(guò)程更為簡(jiǎn)單方便，且無(wú)需將待測(cè)元件拆卸下來(lái)，不會(huì)造成大量元件浪費(fèi)。
文檔編號(hào)G01R1/06GK201035044SQ20072011994
公開日2008年3月12日 申請(qǐng)日期2007年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月27日
發(fā)明者劉偉治 申請(qǐng)人:深圳市同洲電子股份有限公司