專利名稱：一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試方法、裝置及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及腳本調(diào)試技術(shù)，特別涉及一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試方法、裝置及其系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電路板級調(diào)試是處理器設(shè)計過程中的重要環(huán)節(jié)，目前用于電路板級調(diào)試的調(diào)試裝置及其方法需要配合多個開發(fā)環(huán)境才能完成上位機(jī)到下位機(jī)的數(shù)據(jù)傳輸、下載，控制程序執(zhí)行的操作，其操作十分繁瑣。計算機(jī)程序和應(yīng)用利用多種不同的程序語言來實現(xiàn)所期望的功能，在一些環(huán)境中，例如Python或Perl之類的腳本語言的代碼調(diào)用C++(或其他本機(jī)代碼)、Visual Basic 之類其他語言的外部函數(shù)，其腳本環(huán)境通常要提供相應(yīng)的腳本代碼的調(diào)試體驗，但這些腳本語言或腳本環(huán)境在電路板級調(diào)試中卻顯得捉襟見肘，無法提供便捷的服務(wù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了解決電路板級測試中腳本調(diào)試操作繁瑣的問題。為實現(xiàn)上述目的，一方面，本發(fā)明提供了一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試方法，該方法包括以下步驟識別各條語句中的腳本命令；獲取所述腳本命令的參數(shù)；查詢參數(shù)定義表解析所述參數(shù)，并計算所述參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值；根據(jù)所述腳本命令的名稱查詢映射的底層函數(shù)，并將所述參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值傳遞給所述底層函數(shù)執(zhí)行。另一方面，本發(fā)明提供了一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試裝置，該裝置包括識別模塊，用于識別語句中的腳本命令；獲取模塊，用于獲取所述腳本命令的參數(shù)；解析模塊，用于查詢參數(shù)定義表解析所述參數(shù)，并計算所述參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值；函數(shù)執(zhí)行模塊，用于根據(jù)所述腳本命令查詢映射的底層函數(shù)，并將所述各參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值傳遞給所述底層函數(shù)執(zhí)行。再一方面，本發(fā)明提供了一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試系統(tǒng)。本發(fā)明實施例解決了現(xiàn)有技術(shù)中電路板級測試操作繁瑣的問題，能更有效的支持電路板級測試操作，簡化了用戶的腳本調(diào)試操作。


圖I為本發(fā)明實施提提供的一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試系統(tǒng)；圖2為參數(shù)定義表的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實施例提供的一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試方法；圖4為本發(fā)明實施例提供的一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試裝置。
具體實施方式
下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。圖I為本發(fā)明實施例提供的一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)提出了一套獨(dú)立的腳本編程語法，并配備對應(yīng)的腳本調(diào)試裝置，相比傳統(tǒng)的腳本編程語言，它能更有效的支持電路板級調(diào)試操作，其編程方式也更加簡單，可支持各種上位機(jī)、下位機(jī)的通信模式，可大幅減少電路板級調(diào)試的冗余度，方便了電路板級開發(fā)者。如圖I所示，該腳本調(diào)試系統(tǒng)100包括用戶操作模塊110、腳本調(diào)試裝置120、上位機(jī)130和下位機(jī)140，其中用戶操作模塊110為用戶提供編程環(huán)境，并將編寫完成的腳本程序文件發(fā)送給腳本調(diào)試裝置120 ;腳本調(diào)試裝置120將接收的腳本程序文件進(jìn)行逐行解釋，從中獲取參數(shù)，并通過調(diào)用一一映射的底層函數(shù)執(zhí)行，底層函數(shù)的實現(xiàn)是根據(jù)電路板級通信的協(xié)議通過高級語言完成編寫的；上位機(jī)130根據(jù)函數(shù)執(zhí)行結(jié)果指導(dǎo)下位機(jī)140工作。上位機(jī)130和下位機(jī)140之間的通信則根據(jù)具體電路板級設(shè)計過程中的通信協(xié)議進(jìn)行處理， 但不會影響腳本調(diào)試系統(tǒng)的工作。以上針對本發(fā)明實施例腳本調(diào)試系統(tǒng)100進(jìn)行了描述，以下針對腳本編程語法進(jìn)行描述。腳本語言的設(shè)計，通常是建立在其他高級語言的基礎(chǔ)之上，因此，不可避免的需要建立腳本命令與底層函數(shù)的對應(yīng)關(guān)系。下表I列舉了各種用于指導(dǎo)用戶進(jìn)行編程的內(nèi)置數(shù)據(jù)變量，例如，內(nèi)置數(shù)據(jù)變量“name”，它的數(shù)據(jù)類型為字符指針，主要功能用于定義變量名稱，這些內(nèi)置數(shù)據(jù)變量一方面可以和多種數(shù)據(jù)類型以及輸入模式建立映射關(guān)系，以擴(kuò)展用戶參數(shù)的輸入模式，另一方面，可作為對應(yīng)底層函數(shù)的參數(shù)進(jìn)行傳遞。表I

內(nèi)置數(shù)據(jù)變量數(shù)據(jù)類型輸入格式功能描述
timeint%d時間相關(guān)
numint%d片選信號
addrunsigned int0x%X, 0x%04X, 0x%08X, %d目標(biāo)地址
sizeunsigned int0x%X, 0x%08X, %d目標(biāo)字節(jié)數(shù)
ofstunsigned int0x%X, 0x%08X, %d偏移量
nameconst char*%s變量名稱
messageconst char*%s輸出信息
valueunsigned int%C, 0x%X, 0x%08X, %d值
varvalstruct varval t%C, 0x%vX, 0x%v08X, %vd, %vs變量值
countunsigned int0x%X, 0x%08X, %d統(tǒng)計次數(shù)
權(quán)利要求
1.一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試方法，其特征在于，所述方法包括 識別語句中的腳本命令； 獲取所述腳本命令的參數(shù)； 查詢參數(shù)定義表解析所述參數(shù)，并計算所述參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值； 根據(jù)所述腳本命令的名稱查詢映射的底層函數(shù)，并將所述參數(shù)對應(yīng)的數(shù) 值傳遞給所述底層函數(shù)執(zhí)行。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述參數(shù)定義表包括第一級參數(shù)表和第二級參數(shù)表，所述第一級參數(shù)表由底層函數(shù)的參數(shù)集合構(gòu)成；所述第二級參數(shù)表由所述參數(shù)集合中元素對應(yīng)的定義集合構(gòu)成。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，在所述計算所述參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值操作后還包括 判斷所述腳本命令是否存在于腳本函數(shù)內(nèi)部，如果是，將所述參數(shù)的名稱以及對應(yīng)的數(shù)值存儲在局部參數(shù)表中，否則，存儲在全局參數(shù)表中；其中， 所述局部參數(shù)表以所述底層函數(shù)名和參數(shù)名作為計算哈希值的字符串； 所述全局參數(shù)表以腳本程序文件名和參數(shù)名作為計算哈希值的字符串。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或3所述的方法，其特征在于，在所述識別語句中的腳本命令操作后還包括 記錄循環(huán)起始語句到循環(huán)結(jié)束語句之間的各條語句，根據(jù)循環(huán)次數(shù)循環(huán)執(zhí)行所述被記錄的各條語句。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述腳本命令的名稱與底層函數(shù)之間是一一映射。
6.一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試裝置，其特征在于，所述裝置包括 識別模塊，用于識別語句中的腳本命令； 獲取模塊，用于獲取所述腳本命令的參數(shù)； 解析模塊，用于查詢參數(shù)定義表解析所述參數(shù)，并計算所述參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值； 函數(shù)執(zhí)行模塊，用于根據(jù)所述腳本命令查詢一一映射的底層函數(shù)，并將所述各參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值傳遞給所述底層函數(shù)執(zhí)行。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述參數(shù)定義表包括第一級參數(shù)表和第二級參數(shù)表，所述第一級參數(shù)表由底層函數(shù)的參數(shù)集合構(gòu)成；所述第二級參數(shù)表由參數(shù)集合中元素對應(yīng)的定義集合構(gòu)成。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括 判斷模塊，用于判斷所述腳本命令是否存在于腳本函數(shù)內(nèi)部，如果是，將所述參數(shù)的名稱以及對應(yīng)的數(shù)值存儲在局部參數(shù)表中，否則，存儲在全局參數(shù)表中；其中， 所述局部參數(shù)表以所述底層函數(shù)名和參數(shù)名作為計算哈希值的字符串； 所述全局參數(shù)表以所述腳本程序文件名和參數(shù)名作為計算哈希值的字符串。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括 記錄單元，用于記錄循環(huán)起始語句到循環(huán)結(jié)束語句間的各條語句，所述裝置可以根據(jù)循環(huán)次數(shù)循環(huán)執(zhí)行被記錄的各條語句。
10.一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試系統(tǒng)，包括如權(quán)利要求6所述的腳本調(diào)試裝置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括用戶操作模塊，用于輸入并發(fā)送用戶編寫的腳本程序文件。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于電路板級測試的腳本調(diào)試方法、裝置及其系統(tǒng)。該方法包括以下步驟識別語句中的腳本命令；獲取該腳本命令的參數(shù)；查詢參數(shù)定義表解析該參數(shù)，并計算該參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值；根據(jù)腳本命令的名稱查詢映射的底層函數(shù)，并將參數(shù)對應(yīng)的數(shù)值傳遞給底層函數(shù)執(zhí)行。該裝置包括識別模塊、獲取模塊、解析模塊和函數(shù)執(zhí)行模塊。本發(fā)明可擴(kuò)展性強(qiáng)，能更有效的支持電路板級測試的腳本調(diào)試操作，簡化了用戶的操作。
文檔編號G06F11/36GK102799528SQ20121024239
公開日2012年11月28日 申請日期2012年7月12日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月12日
發(fā)明者朱浩, 彭楚, 王東輝, 洪纓, 侯朝煥 申請人:中國科學(xué)院聲學(xué)研究所