專利名稱：避雷器絕緣老化測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及避雷器絕緣老化測試裝置。
背景技術(shù)：
避雷器的老化將嚴重影響到電力設(shè)備的使用安全，現(xiàn)有的方式是在每個避雷器上 裝有一個測試儀，需要工作人員去每臺設(shè)備上查看，而且這些查看的數(shù)據(jù)都是當前情況下 避雷器的漏電流數(shù)值，需要將這些數(shù)值變化量與時間對比才能知道避雷器是否老化。但是 避雷器的漏電流數(shù)值與時間基本是成指數(shù)關(guān)系變化的，在前期漏電流可能幾年內(nèi)都不會有 太大的變化，而在后期極短的時間內(nèi)就會出現(xiàn)較大的變化，單靠人工巡視記錄的方式來監(jiān) 測，會使得很多避雷器已經(jīng)老化很久才被發(fā)現(xiàn)，給電力設(shè)備的正常使用造成了極大的危險。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供避雷器絕緣老化測試裝置，能夠有效解決現(xiàn)有避雷器 漏電流監(jiān)測靠人工監(jiān)測，費時費力而且在避雷器出現(xiàn)老化不能及時發(fā)現(xiàn)的問題。為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的避雷器絕緣老 化測試裝置，包括模擬量處理系統(tǒng)、A/D處理系統(tǒng)、MCU計算處理器、存儲器、定時器、無線發(fā) 射器、I/O接口、串口，所述模擬量處理系統(tǒng)通過A/D處理系統(tǒng)與MCU計算處理器相連，所述 存儲器、定時器、I/O接口、串口均與MCU計算處理器相連，無線發(fā)射器與串口相連。優(yōu)選的，所述存儲器為FLASH存儲器；存儲量大，速度快，價格便宜，斷電后依然能 夠保留數(shù)據(jù)。優(yōu)選的，還包括看門狗，所述看門狗與MCU計算處理器相連；保證程序正常運行， 防止出現(xiàn)死循環(huán)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的優(yōu)點是能完整的記錄漏電量與時間的變化關(guān)系， 可以自由的設(shè)定漏電流變化速率值，當達到漏電流變化速率值后能通過無線網(wǎng)絡(luò)向中央電 力控制系統(tǒng)發(fā)出預(yù)警，不在需要拍人工一個一個查看避雷器的漏電流數(shù)據(jù)，節(jié)約了人力物 力，也使得避雷器一旦老化就及時知曉，保障了其他電力設(shè)備的正常運行。

圖1為本實用新型避雷器絕緣老化測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實施方式
參閱圖1為本實用新型避雷器絕緣老化測試裝置的實施例，避雷器絕緣老化測試 裝置，包括模擬量處理系統(tǒng)1、A/D處理系統(tǒng)2、MCU計算處理器3、存儲器4、定時器5、無線 發(fā)射器6、I/O接口 7、串口 8、看門狗9，所述模擬量處理系統(tǒng)1通過A/D處理系統(tǒng)2與MCU 計算處理器3相連，所述存儲器4、定時器5、、I/O接口 7、串口 8、看門狗9均與MCU計算處 理器3相連，無線發(fā)射器6與串口 8相連，所述存儲器4為FLASH存儲器4。
3[0010]避雷器絕緣老化測試方法，通過模擬量處理系統(tǒng)1收集避雷器的漏電流傳給A/D 處理系統(tǒng)2，A/D處理系統(tǒng)2將漏電流數(shù)值轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號傳給MCU計算處理器3，MCU計算 處理器3將上述漏電流數(shù)字信號與時間按指數(shù)變化曲線記錄，當一段時間內(nèi)漏電流的變化 量超過預(yù)先通過串口 8輸入的預(yù)定值時，MCU計算機處理器將通過無線發(fā)射器6向中央電 力控制系統(tǒng)發(fā)出警告?？梢酝ㄟ^串口 8寫入預(yù)先設(shè)定的漏電流變化速率值，在實際的漏電流變化率到達 這個設(shè)定值時，將向中央電力控制系統(tǒng)發(fā)出警告?？梢圆捎胢otorola公司的DSP56F807芯 片將A/D處理系統(tǒng)2、MCU計算處理器3、存儲器4、定時器5、I/O接口 7、串口 8、看門狗9集
成在一起。以上所述僅為本實用新型的具體實施例，但本實用新型的技術(shù)特征并不局限于 此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實用新型的領(lǐng)域內(nèi)，所作的變化或修飾皆涵蓋在本實用新 型的專利范圍之中。
權(quán)利要求1.避雷器絕緣老化測試裝置，包括模擬量處理系統(tǒng)(1)，其特征在于還包括A/D處理 系統(tǒng)O)、MCU計算處理器(3)、存儲器0)、定時器(5)、無線發(fā)射器(6)、I/O接口(7)、串 口(8)，所述模擬量處理系統(tǒng)(1)通過A/D處理系統(tǒng)( 與MCU計算處理器C3)相連，所述 存儲器G)、定時器(5)、1/0接口(7)、串口⑶均與MCU計算處理器(3)相連，無線發(fā)射器 (6)與串口 (8)相連。
2.如權(quán)利要求1所述的避雷器絕緣老化測試裝置，其特征在于所述存儲器(4)為 FLASH存儲器(4)。
3.如權(quán)利要求1所述的避雷器絕緣老化測試裝置，其特征在于還包括看門狗(9)，所 述看門狗(9)與MCU計算處理器(3)相連。
專利摘要本實用新型公開了避雷器絕緣老化測試裝置，模擬量處理系統(tǒng)通過A/D處理系統(tǒng)與MCU計算處理器相連，存儲器、定時器、I/O接口、串口均與MCU計算處理器相連，無線發(fā)射器與串口相連。本實用新型的優(yōu)點是可以自由的設(shè)定漏電流變化速率值，能通過無線網(wǎng)絡(luò)向中央電力控制系統(tǒng)發(fā)出預(yù)警，節(jié)約人力物力。
文檔編號G01R31/00GK201886098SQ201020643910
公開日2011年6月29日 申請日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月25日
發(fā)明者張從柱, 張芳江, 王云軍, 章偉國, 黃樂強 申請人:湖州泰侖電力自動化工程有限公司, 湖州電力局