專利名稱：流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于氣固兩相流測量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置。
背景技術(shù)：
循環(huán)流化床鍋爐內(nèi)顆粒速度的大小，不僅影響著顆粒在床內(nèi)的停留時間和密度分布，還直接影響顆粒與受熱面的傳熱強(qiáng)度，進(jìn)而影響受熱面的具體布置。目前，基于不同的測量原理，人們已研究和開發(fā)了多種方法和裝置測量循環(huán)流化床內(nèi)顆粒速度，如光纖探頭法、沖擊力法、等速取樣法、多普勒激光測速技術(shù)(LDV)和粒子圖像技術(shù)(PIV)等。光纖探頭法可用于較高顆粒濃度條件下(如循環(huán)流化床鍋爐內(nèi)下部密相區(qū)和上部邊壁區(qū)附近)的顆粒速度測量，光纖探頭具有重量輕、尺寸小、幾何形狀可以根據(jù)需要靈活選擇、靈敏度高等的優(yōu)點(diǎn)，但需要有外部光源激勵，系統(tǒng)相對較為復(fù)雜。沖擊力法不受爐內(nèi)顆粒濃度的影響， 可用于循環(huán)流化床內(nèi)不同高度和區(qū)域內(nèi)顆粒速度測量，但測量元件對床內(nèi)固體顆粒流動產(chǎn)生較大的干擾作用。等速采樣法的最大優(yōu)點(diǎn)在于測量設(shè)備非常簡單，但由于測量過程中假定顆粒流為連續(xù)流，故只適用于循環(huán)流化床鍋爐下部密相區(qū)和上部邊壁區(qū)域高顆粒濃度條件下的顆粒速度測量，而不適用于上部核心區(qū)的顆粒速度測量。多普勒顆粒速度測量是利用顆粒的移動導(dǎo)致散射光產(chǎn)生頻移測量顆粒速度，具有簡單、可靠等特點(diǎn)，在流體實(shí)驗(yàn)研究領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，但是多普勒速度測量系統(tǒng)設(shè)備昂貴，且僅適用于稀相懸浮流動條件。PIV技術(shù)可實(shí)現(xiàn)完整的顆粒流動速度分布測量，但結(jié)果分析耗時，僅適用于實(shí)驗(yàn)室研究， 高濃度時無法測量，不適合工業(yè)現(xiàn)場應(yīng)用。氣固流動系統(tǒng)中顆粒與顆粒、顆粒與氣體及顆粒與管壁的相互碰撞、摩擦及分離， 導(dǎo)致顆粒產(chǎn)生荷電現(xiàn)象。近些年來，人們利用顆粒荷電研究并開發(fā)了靜電相關(guān)法及靜電感應(yīng)空間濾波顆粒速度測速儀，測量系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)簡單、硬件成本低、適合于惡劣的工業(yè)現(xiàn)場環(huán)境等特點(diǎn)。對于靜電相關(guān)和空間濾波法，主要采用外置式環(huán)狀或弧狀靜電感應(yīng)陣列，環(huán)狀靜電感應(yīng)只能獲得管道截面上顆粒的平均速度，而弧狀靜電感應(yīng)陣列外置于測量管道外部，所獲得的信息只能反映近管壁處的顆粒局部速度，而無法反映整個管道截面上的顆粒速度分布信息。

實(shí)用新型內(nèi)容為了克服現(xiàn)有循環(huán)流化床內(nèi)局部顆粒速度測量裝置的不足，本實(shí)用新型提出了一種流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置。本實(shí)用新型具有較高的空間選擇性，提高了頻譜尖峰頻率和速度測量的準(zhǔn)確性，實(shí)現(xiàn)了流化床內(nèi)局部顆粒速度的測量。本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案一種流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置，包括測量探針、前置電荷差分放大電路、數(shù)據(jù)采集卡及計(jì)算機(jī)，測量探針的兩電極陣列導(dǎo)線分別與前置差分放大電路的兩輸入端連接，前置電荷差分放大電路的輸出端與數(shù)據(jù)采集卡輸入端連接，數(shù)據(jù)采集卡的輸出端與計(jì)算機(jī)的輸入端連接并由計(jì)算機(jī)對數(shù)據(jù)采集卡的輸出信號進(jìn)行頻譜分析并確定頻譜上的峰值頻率，進(jìn)而計(jì)算獲得氣固兩相流顆粒局部速度，所述測量探針包括金屬屏蔽管，在金屬屏蔽管的一端填充絕緣隔離材料以形成的絕緣隔離塊，在絕緣隔離塊內(nèi)部設(shè)有的第一靜電感應(yīng)電極陣列及第二靜電感應(yīng)電極陣列，所述第一靜電感應(yīng)電極陣列至少包括第11電極、第12電極、第13電極、第14電極、第15電極，并且第一靜電感應(yīng)電極陣列中相鄰的電極之間的徑向間距P相等，第一靜電感應(yīng)電極陣列中的各個電極由第一靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線連接，所述第二靜電感應(yīng)電極陣列至少包括第21電極、第22電極、第23電極、 第24電極、第25電極，第二靜電感應(yīng)電極陣列中的各個電極由第二靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線連接，所述第一靜電感應(yīng)電極陣列中的各個電極以及所述第二靜電感應(yīng)電極陣列的各個電極位于同一平面內(nèi)且相互平行，第21電極設(shè)在第11電極與第12電極之間且第21電極至第11電極之間的徑向距離等于第21電極至第12電極之間的徑向距離，第22電極設(shè)在第 12電極與第13電極之間且第22電極至第12電極之間的徑向距離等于第22電極至第13 電極之間的徑向距離，第23電極設(shè)在第13電極與第14電極之間且第23電極至第13電極之間的徑向距離等于第23電極至第14電極之間的徑向距離，第M電極設(shè)在第14電極與第15電極之間且第M電極至第14電極之間的徑向距離等于第M電極至第15電極之間的徑向距離，第25電極與第15電極之間的距離為第一靜電感應(yīng)電極陣列(5)中相鄰的電極之間的徑向間距P的二分之一。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有如下優(yōu)點(diǎn)1)氣固流動系統(tǒng)中顆粒與顆粒、顆粒與氣體及顆粒與管壁的相互碰撞、摩擦及分離，導(dǎo)致顆粒產(chǎn)生荷電現(xiàn)象，本實(shí)用新型基于顆粒荷電現(xiàn)象和靜電感應(yīng)原理設(shè)計(jì)靜電感應(yīng)電極陣列，實(shí)現(xiàn)了局部顆粒速度的測量，由于是通過顆粒所帶的電荷來測量顆粒速度，測量信號反應(yīng)的是顆粒帶電量，而與顆粒本身物理化學(xué)特性無直接關(guān)系，所以測量不受顆粒濃度的限制，測量范圍廣，可用于復(fù)雜的氣固兩相流動測量。2)目前靜電空間濾波法測量氣固兩相流速度主要采用單極片結(jié)構(gòu)，極片充當(dāng)一個空間濾波器，然后從時空分布的靜電流噪聲中提取特殊頻率，但由于頻帶較寬，所確定的特殊頻率準(zhǔn)確性不高，本實(shí)用新型采用的靜電感應(yīng)電極陣列的頻率特性主要由電極陣列的結(jié)構(gòu)所決定，空間濾波選擇性相比于單極片更高，頻帶更窄，速度信號中心頻率測量的不確定性更低，從而有較高的顆粒速度測量準(zhǔn)確性。3)本實(shí)用新型利用粉體顆粒自然荷電特性，屬于被動式測量方法，與現(xiàn)有循環(huán)流化床鍋爐內(nèi)顆粒速度測量方法相比具有明顯的優(yōu)勢。光纖探頭法用于較高顆粒濃度條件下顆粒速度測量，需要有外部光源激勵，系統(tǒng)相對較為復(fù)雜，本實(shí)用新型與光纖探頭法相比， 無需外部光源激勵，測量不受顆粒濃度的限制，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單。沖擊力法測量元件對床內(nèi)固體顆粒流動產(chǎn)生較大的干擾作用，本實(shí)用新型所用探頭尺寸可設(shè)計(jì)較小，對流場的干擾也就更小。等速采樣法只適用于高顆粒濃度條件下的顆粒速度測量，測量范圍要比本實(shí)用新型的小得多。多普勒顆粒速度測量是利用顆粒的移動導(dǎo)致散射光產(chǎn)生頻移測量顆粒速度， 具有簡單、可靠等特點(diǎn)，在流體實(shí)驗(yàn)研究領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，但是多普勒速度測量系統(tǒng)設(shè)備昂貴，且僅適用于稀相懸浮流動條件，本實(shí)用新型與多普勒法相比，無需外部激勵源， 測量探頭結(jié)構(gòu)更為簡單，測量系統(tǒng)設(shè)備成本低，且測量范圍不局限于稀相懸浮流動。PIV技術(shù)可實(shí)現(xiàn)完整的顆粒流動速度分布測量，但結(jié)果分析耗時，僅適用于實(shí)驗(yàn)室研究，高濃度時無法測量，不適合工業(yè)現(xiàn)場應(yīng)用，本實(shí)用新型與PIV技術(shù)相比，可以實(shí)現(xiàn)顆粒流動速度分布測量，且信號處理方便快捷，測量不受顆粒濃度限制。

圖1是流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置示意圖，其中，1-測量探針； 2-前置電荷差分放大電路；3-數(shù)據(jù)采集卡；4-計(jì)算機(jī)。圖2是本實(shí)用新型靜電感應(yīng)電極陣列測量探針結(jié)構(gòu)簡圖，(a)是橫截面結(jié)構(gòu)圖， (b)是縱截面剖視圖，其中，5-第一靜電感應(yīng)電極陣列；6-第二靜電感應(yīng)電極陣列；7-第一靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線；8-第二靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線；9-絕緣隔離塊；10-金屬屏蔽管。圖3是靜電感應(yīng)電極陣列前置電荷差分放大電路圖，其中，11-第一輸入端；12-第二輸入端；13-信號輸出端。
具體實(shí)施方式
一種流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置，包括測量探針1、前置電荷差分放大電路2、數(shù)據(jù)采集卡3及計(jì)算機(jī)4，測量探針1的兩電極陣列導(dǎo)線分別與前置差分放大電路2的兩輸入端連接，前置電荷差分放大電路2的輸出端與數(shù)據(jù)采集卡3輸入端連接， 數(shù)據(jù)采集卡3的輸出端與計(jì)算機(jī)4的輸入端連接并由計(jì)算機(jī)4對數(shù)據(jù)采集卡3的輸出信號進(jìn)行頻譜分析并確定頻譜上的峰值頻率，進(jìn)而計(jì)算獲得氣固兩相流顆粒局部速度，所述測量探針1包括金屬屏蔽管10，在金屬屏蔽管10的一端填充絕緣隔離材料以形成的絕緣隔離塊9，在絕緣隔離塊9內(nèi)部設(shè)有的第一靜電感應(yīng)電極陣列5及第二靜電感應(yīng)電極陣列6， 所述第一靜電感應(yīng)電極陣列5至少包括第11電極、第12電極、第13電極、第14電極、第15 電極，并且第一靜電感應(yīng)電極陣列5中相鄰的電極之間的徑向間距ρ相等，第一靜電感應(yīng)電極陣列5中的各個電極由第一靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線7連接，所述第二靜電感應(yīng)電極陣列6 至少包括第21電極、第22電極、第23電極、第M電極、第25電極，第二靜電感應(yīng)電極陣列 6中的各個電極由第二靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線8連接，所述第一靜電感應(yīng)電極陣列5中的各個電極以及所述第二靜電感應(yīng)電極陣列6的各個電極位于同一平面內(nèi)且相互平行，第21電極設(shè)在第11電極與第12電極之間且第21電極至第11電極之間的徑向距離等于第21電極至第12電極之間的徑向距離，第22電極設(shè)在第12電極與第13電極之間且第22電極至第12電極之間的徑向距離等于第22電極至第13電極之間的徑向距離，第23電極設(shè)在第 13電極與第14電極之間且第23電極至第13電極之間的徑向距離等于第23電極至第14 電極之間的徑向距離，第M電極設(shè)在第14電極與第15電極之間且第M電極至第14電極之間的徑向距離等于第M電極至第15電極之間的徑向距離，第25電極與第15電極之間的距離為第一靜電感應(yīng)電極陣列5中相鄰的電極之間的徑向間距ρ的二分之一。本實(shí)用新型是基于流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量方法來設(shè)計(jì)測量裝置的1)兩組具有相同結(jié)構(gòu)和尺度的靜電感應(yīng)電極陣列安裝在金屬屏蔽管10內(nèi)部，產(chǎn)生兩組反映氣固兩相流流動信息的靜電感應(yīng)信號，兩組信號分別接入前置電荷差分放大電路2的兩輸入端進(jìn)行差分放大后，由數(shù)據(jù)采集卡3送入計(jì)算機(jī)4。2)對采集到的差分靜電信號e (η)進(jìn)行傅里葉變換處理得到，然后再取其幅值的平方，并除以靜電信號離散數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)長度N，作為序列e (η)的功率譜P(k)的估計(jì)，則母)=去酬2(1)其中，η為時域差分靜電信號離散點(diǎn)，k為頻域離散點(diǎn)。3)根據(jù)步驟2)得到的功率譜特性函數(shù)的峰值位置確定尖峰頻率值&，公式如下f0 = K · F (2)其中，K為功率譜函數(shù)峰值對應(yīng)位置的離散點(diǎn)數(shù)；F為功率譜分析的頻率分辨率。4)根據(jù)功率譜尖峰頻率值&和線性靜電感應(yīng)電極陣列電極間隔P，確定管道內(nèi)氣固兩相流顆粒流動局部速度vm，計(jì)算公式如下vm = k0 · ρ · fο(3)k0為速度無量綱校正系數(shù)，由實(shí)驗(yàn)標(biāo)定確定。在實(shí)際粉體顆粒輸送條件下，利用相位多普勒測速儀(PDA)對靜電感應(yīng)速度測量進(jìn)行對比標(biāo)定。具體的標(biāo)定過程如下相位多普勒測速儀與靜電感應(yīng)速度測量同步測量，速度測量系統(tǒng)記錄測量數(shù)據(jù)并保存，取與PDA 同時間、同區(qū)間測量值的平均值與PDA測量值組成一個數(shù)據(jù)對，每次標(biāo)定至少要獲得15對數(shù)據(jù)。以靜電感應(yīng)法速度測量系統(tǒng)測量的顆粒速度為橫坐標(biāo)(X)，PDA測得的顆粒速度為縱坐標(biāo)(y)。將相關(guān)系數(shù)大于0. 85的數(shù)據(jù)對定義為有效數(shù)據(jù)點(diǎn)，有效測點(diǎn)的數(shù)量m應(yīng)在10個以上。運(yùn)用一元線性回歸，給出標(biāo)定曲線，進(jìn)而獲得標(biāo)定系數(shù)1
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V'=1
xj因此由式(3)可見獲得了差分靜電信號功率譜特性的尖峰頻率值&，即可計(jì)算出顆粒局部速度vm。參照圖1、圖2和圖3所示，用于流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置主要包括測量探針1、前置電荷差分放大電路2、數(shù)據(jù)采集卡3和計(jì)算機(jī)4。探針內(nèi)第一靜電感應(yīng)電極陣列5和第二靜電感應(yīng)電極陣列6的輸出信號，通過導(dǎo)線分別與前置電荷差分放大電路2的兩輸入端相連，經(jīng)差分放大后，通過數(shù)據(jù)采集卡3與計(jì)算機(jī)4相連接相連。在計(jì)算機(jī)4內(nèi)由自行編制的數(shù)據(jù)采集與處理軟件包，將差分靜電信號進(jìn)行預(yù)處理后，進(jìn)行分析與處理，獲得顆粒的流動局部速度的測量值。測量裝置中所用線性靜電感應(yīng)電極陣列測量探針1，在金屬屏蔽管10的內(nèi)部安裝結(jié)構(gòu)相同的第一靜電感應(yīng)電極陣列5和第二靜電感應(yīng)電極陣列6，并且兩陣列的電極按間距為P/2的相對位置進(jìn)行交叉布置，并且以上所述電極均處于同一平面內(nèi)。由于兩個線性靜電感應(yīng)電極陣列的相對位置為各自電極間距P的一半，帶電顆粒經(jīng)過兩個線性靜電感應(yīng)電極陣列時，產(chǎn)生相位差為η的兩個輸出信號。第一靜電感應(yīng)電極陣列5和第二靜電感應(yīng)電極陣列6分別通過第一靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線7和第二靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線8與前置電荷差分放大電路2的第一輸入端11和第二輸入端12相連，經(jīng)差分放大后，窄帶周期性信號成分得以保留，而基頻直流部分被剔除。線性靜電感應(yīng)電極陣列由q個結(jié)構(gòu)和尺寸相同的金屬電極構(gòu)成，q個電極在顆粒流動方向上以相同電極間隔P沿金屬屏蔽管徑向均勻平行布置于絕緣隔離塊9內(nèi)部，并通過導(dǎo)線連為一體。電極的數(shù)目q—般取5-10個。電極的間隔P取決于所需獲得管道內(nèi)局部速度的區(qū)域的大小。線性靜電感應(yīng)電極陣列前置電荷差分放大電路2的連接方式為第一電容C1 一端和第一電阻R1 —端與第一運(yùn)算放大器A1的反向輸入端相連接，第一電容C1另一端、第一電阻R1另一端和第三電阻民一端與第一運(yùn)算放大器A1的輸出端相連接，第二電容C2 —端和第二電阻& 一端與第二運(yùn)算放大器A2的反向輸入端相連接，第二電容C2另一端、第二電阻 &另一端和第四電阻R4—端與第二運(yùn)算放大器4的輸出端相連接，第一運(yùn)算放大器A1的正向輸入端和第二運(yùn)算放大器A2的正向輸入端接地，第三電阻民另一端和第五電阻&一端與第三運(yùn)算放大器^的反向輸入端相連接，第五電阻&另一端與第三運(yùn)算放大器A3的輸出端相連接，第四電阻R4另一端和第六電阻& 一端與第三運(yùn)算放大器A3的正向輸入端相連接， 第六電阻&另一端接地。前置電荷差分放大電路2的輸出端通過數(shù)據(jù)采集卡PCI9112(凌華科技生產(chǎn))與計(jì)算機(jī)4相連接。該放大電路采用三個放大器組成差動放大電路，具有輸入阻抗高、共模抑制比高、失調(diào)電壓低、漂移小、放大倍數(shù)穩(wěn)定和輸出阻抗低等優(yōu)點(diǎn)。靜電感應(yīng)電極陣列輸出的感應(yīng)電荷信號是一種低頻的微弱信號，因此有必要采取抗干擾措施1) 元器件的選擇微弱信號檢測的首要問題就是盡量降低放大器本身的噪聲。本電路中第一運(yùn)算放大器和第二運(yùn)算放大器采用的是高輸入阻抗放大器0PA128，頻率范圍在ΙΟΗζ-ΙΟΚΗζ 時，等效噪聲的電壓值為2.4μν;在0. 1Ηζ-20ΚΗζ時，iN = 0. 12fA/(Hz)1氣第三運(yùn)算放大器0P07是一種高精度的儀用放大器，eN和iN的值均較小。電路中電阻均采用低噪聲的金屬膜電阻，精度為1%，功率為1/2(W)。信號線上的電容均采用渡銀云母電容，以降低電路中的噪聲。2)金屬屏蔽抗干擾采用接地金屬屏蔽盒可以消除電磁干擾，防止電路元件受到濕度、光線的照射，造成電路元件的性能參數(shù)的變化。此外，必須避免振動造成元器件變形或電路連接線發(fā)生移動帶來的影響。本實(shí)用新型的原理如下儀器的工作過程是首先針對實(shí)際應(yīng)用流化床，在粉體顆粒流動條件下，利用相位多普勒測速儀(PDA)對靜電感應(yīng)速度測量進(jìn)行對比標(biāo)定，獲得無量綱標(biāo)定系數(shù)1 ;應(yīng)用靜電感應(yīng)裝置速度測量時，由靜電感應(yīng)電極陣列及計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)對氣固兩相流顆粒靜電噪聲進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，通過傅里葉變換計(jì)算差分靜電信號的功率譜密度函數(shù)，之后即在功率譜特性曲線的趨勢項(xiàng)上讀出尖峰頻率值4，進(jìn)而根據(jù)Vm = h · ρ · &，計(jì)算獲得氣固兩相流局部顆粒的速度。
權(quán)利要求1. 一種流化床內(nèi)局部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置，包括測量探針(1)、前置電荷差分放大電路O)、數(shù)據(jù)采集卡(3)及計(jì)算機(jī)G)，測量探針(1)的兩電極陣列導(dǎo)線分別與前置差分放大電路O)的兩輸入端連接，前置電荷差分放大電路(2)的輸出端與數(shù)據(jù)采集卡 ⑶輸入端連接，數(shù)據(jù)采集卡⑶的輸出端與計(jì)算機(jī)⑷的輸入端連接并由計(jì)算機(jī)⑷對數(shù)據(jù)采集卡(3)的輸出信號進(jìn)行頻譜分析并確定頻譜上的峰值頻率，進(jìn)而計(jì)算獲得氣固兩相流顆粒局部速度，其特征在于，所述測量探針(1)包括金屬屏蔽管(10)，在金屬屏蔽管 (10)的一端填充絕緣隔離材料以形成的絕緣隔離塊(9)，在絕緣隔離塊(9)內(nèi)部設(shè)有的第一靜電感應(yīng)電極陣列(5)及第二靜電感應(yīng)電極陣列(6)，所述第一靜電感應(yīng)電極陣列(5) 至少包括第11電極、第12電極、第13電極、第14電極、第15電極，并且第一靜電感應(yīng)電極陣列(5)中相鄰的電極之間的徑向間距ρ相等，第一靜電感應(yīng)電極陣列(5)中的各個電極由第一靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線(7)連接，所述第二靜電感應(yīng)電極陣列(6)至少包括第21電極、第22電極、第23電極、第M電極、第25電極，第二靜電感應(yīng)電極陣列(6)中的各個電極由第二靜電感應(yīng)電極陣列導(dǎo)線⑶連接，所述第一靜電感應(yīng)電極陣列(5)中的各個電極以及所述第二靜電感應(yīng)電極陣列(6)的各個電極位于同一平面內(nèi)且相互平行，第21電極設(shè)在第11電極與第12電極之間且第21電極至第11電極之間的徑向距離等于第21電極至第12電極之間的徑向距離，第22電極設(shè)在第12電極與第13電極之間且第22電極至第12 電極之間的徑向距離等于第22電極至第13電極之間的徑向距離，第23電極設(shè)在第13電極與第14電極之間且第23電極至第13電極之間的徑向距離等于第23電極至第14電極之間的徑向距離，第M電極設(shè)在第14電極與第15電極之間且第M電極至第14電極之間的徑向距離等于第M電極至第15電極之間的徑向距離，第25電極與第15電極之間的距離為第一靜電感應(yīng)電極陣列(5)中相鄰的電極之間的徑向間距ρ的二分之一。
專利摘要一種流化床內(nèi)部顆粒速度的靜電感應(yīng)測量裝置包括測量探針、前置電荷差分放大電路、數(shù)據(jù)采集卡及計(jì)算機(jī)，測量探針的兩電極陣列導(dǎo)線分別與前置差分放大電路的兩輸入端連接，前置電荷差分放大電路的兩個輸入端分別與測量探頭內(nèi)的第一靜電傳感器電極陣列及第二靜電傳感器電極陣列相連接，前置電荷差分放大電路的輸出端與數(shù)據(jù)采集卡輸入端連接，數(shù)據(jù)采集卡的輸出端與計(jì)算機(jī)相連接并由計(jì)算機(jī)對數(shù)據(jù)采集卡的輸出信號進(jìn)行頻譜分析并確定頻譜上的峰值頻率，進(jìn)而計(jì)算獲得流化床內(nèi)局部顆粒速度。測量探針包括金屬屏蔽管，在金屬屏蔽管一端設(shè)置的絕緣隔離塊，在絕緣隔離塊內(nèi)均勻平行布置多個電極以構(gòu)成的第一靜電感應(yīng)電極陣列和第二靜電感應(yīng)電極陣列。
文檔編號G01P5/08GK201955349SQ20102050810
公開日2011年8月31日 申請日期2010年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月27日
發(fā)明者付飛飛, 宋飛虎, 李健, 王式民, 許傳龍, 高鶴明 申請人:東南大學(xué)