專利名稱：托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于光譜空間分辨測量裝置領域，具體涉及一種托卡馬克系統中的空 間分辨狹縫裝置。
背景技術：
真空紫外波段的光譜測量不能采用可見光譜普遍采用的光纖成像技術，其半徑為 米量級的球面光柵更是真空紫外波段光譜成像的技術難點。國際上有采用視線掃描方式實 現空間分布測量的，也有用單入射狹縫借助于模擬計算得到空間分布測量的，或用多組入 射狹縫聯合實現極向環(huán)向分布測量的。因帶動整個系統掃描的頻率有限，真空條件下快速 移動龐大的抽氣系統，容易造成系統的真空破壞而存在安全隱患，而且系統龐大復雜。單入 射狹縫模擬方法假設太多，結果誤差較大。多組入射狹縫造成光強損失大，嚴重影響信號質 量，系統結構也比較復雜，加工精度要求高。
發(fā)明內容本實用新型的目的是為了解決由于真空紫外波段的光譜測量不能采用可見光譜 普遍采用的光纖成像技術，其半徑為米量級的球面光柵更是真空紫外波段光譜成像的技術 問題，提供一種托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置。實現本實用新型的技術方案是托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置，它包括真 空殼體、密封頂蓋、轉軸固定板、主動齒輪、過度齒輪、從動齒輪、狹縫組件、轉軸、密封螺釘、 密封圈、調節(jié)旋鈕和定位螺釘；所述的密封頂蓋通過密封螺釘和密封圈固定在真空殼體上； 所述的密封頂蓋的下部設有轉軸固定板，所述的轉軸固定板上通過轉軸設置有從動齒輪， 所述的密封頂蓋的外部設置有調節(jié)旋鈕，在調節(jié)旋鈕的內側連接有主動齒輪，主動齒輪連 接設置在轉軸固定板上的過度齒輪，過度齒輪連接從動齒輪；在所述的從動齒輪上開有若 干個圓孔，在所述的圓孔上設置有狹縫組件；在所述的各個圓孔之間設置有定位螺釘。所述的狹縫組件包括狹縫圓板、狹縫片和固定螺釘；在所述的狹縫圓板上開有槽 孔，所述的狹縫片上開有滑動槽孔；所述的狹縫片分別通過固定螺釘固定在槽孔的上下兩 側上。所述的調節(jié)旋鈕上設置有刻度標示；所述的狹縫片之間的間隙調節(jié)范圍為30 500umo本實用新型的效果是實現等離子體中各種雜質的空間分布測量，裝置操作簡單， 在不破壞真空條件下，很容易實現從雜質的純光譜測量切換到雜質的空間分布測量，對光 譜強度的衰減小，可實現最小空間分辨2mm，時間分辨5. 6ms，光譜分辨0.15人。使用本實用 新型，可同時得到等離子體光譜隨時間、空間和光譜的變化波形，和國際同類光譜空間分布 測量系統相比，本實用新型設計結構簡單，易操作，對光強影響小，視場范圍大，以及空間分 辨率高等優(yōu)勢，可以觀測從中心到邊緣的多種雜質光譜分布，為等離子體中雜質輸運和控 制提供重要依據，為未來聚變裝置ITER提供寶貴的實驗數據。
圖1為本實用新型所述的托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置的示意圖；圖2為本實用新型的主動齒輪、過度齒輪和從動齒輪的示意圖；圖3為本實用新型所述的托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置的側面示意圖；圖4為本實用新型所述的狹縫組件的示意圖；圖5為本實用新型所述的狹縫片的示意圖。圖中1、真空殼體；2、密封頂蓋；3、轉軸固定板；4、主動齒輪；5、過度齒輪；6、從 動齒輪；7、狹縫組件；8、轉軸；9、密封螺釘；10、密封圈；11、調節(jié)旋鈕；12、圓孔；13、定位螺 釘；14、狹縫圓板；15、狹縫片；16、固定螺釘；17、槽孔；18、滑動槽孔；
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施例對本實用新型所述的一種托卡馬克系統中的空間分 辨狹縫裝置作進一步的詳細描述。如圖1、圖2和圖3所示托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置，它包括真空殼體 1、密封頂蓋2、轉軸固定板3、主動齒輪4、過度齒輪5、從動齒輪6、狹縫組件7、轉軸8、密封 螺釘9、密封圈10、調節(jié)旋鈕11和定位螺釘13 ；所述的密封頂蓋2通過密封螺釘9和密封圈 10固定在真空殼體1上；所述的密封頂蓋2的下部安裝轉軸固定板3，所述的轉軸固定板3 上通過轉軸8設置有從動齒輪6，所述的密封頂蓋2的外部設置有調節(jié)旋鈕11，在調節(jié)旋鈕 11的內側連接有主動齒輪4，主動齒輪4連接設置在轉軸固定板3上的過度齒輪5，過度齒 輪5連接從動齒輪6 ；在所述的從動齒輪6上開有5個圓孔12，在所述的圓孔12上設置有 狹縫組件7 ；在所述的各個圓孔12之間設置有定位螺釘13。如圖4和圖5所示所述的狹縫組件7包括狹縫圓板14、狹縫片15和固定螺釘16 ； 在所述的狹縫圓板14上開有槽孔17，所述的狹縫片15上開有滑動槽孔18 ；所述的狹縫片 15分別通過固定螺釘16固定在槽孔17的上下兩側上。所述的調節(jié)旋鈕11上設置有刻度標示；所述的狹縫片15之間的間隙調節(jié)范圍為 30 500um。在使用時可轉動調節(jié)旋鈕11使所需的狹縫組件7轉動到水平位置。使用本實用新型，可同時得到等離子體光譜隨時間、空間和光譜的變化波形，和國 際同類光譜空間分布測量系統相比，本實用新型設計結構簡單，易操作，對光強影響小，視 場范圍大，以及空間分辨率高等優(yōu)勢，可以觀測從中心到邊緣的多種雜質光譜分布，為等離 子體中雜質輸運和控制提供重要依據，為未來聚變裝置ITER提供寶貴的實驗數據。
權利要求1.托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置，其特征在于它包括真空殼體(1)、密封頂蓋 (2)、轉軸固定板(3)、主動齒輪(4)、過度齒輪(5)、從動齒輪(6)、狹縫組件(7)、轉軸(8)、 密封螺釘(9)、密封圈(10)、調節(jié)旋鈕(11)和定位螺釘(13)；所述的密封頂蓋(2)通過密 封螺釘(9)和密封圈(10)固定在真空殼體(1)上；所述的密封頂蓋( 的下部設有轉軸固 定板(3)，所述的轉軸固定板C3)上通過轉軸(8)設置有從動齒輪(6)，所述的密封頂蓋(2) 的外部設置有調節(jié)旋鈕(11)，在調節(jié)旋鈕(11)的內側連接有主動齒輪G)，主動齒輪(4) 連接設置在轉軸固定板C3)上的過度齒輪(5)，過度齒輪( 連接從動齒輪(6)；在所述的 從動齒輪(6)上開有若干個圓孔(12)，在所述的圓孔(12)上設置有狹縫組件(7)；在所述 的各個圓孔(1 之間設置有定位螺釘(13)。
2.根據權利要求1所述的托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置，其特征在于所述的 狹縫組件⑵包括狹縫圓板(14)、狹縫片(15)和固定螺釘(16)；在所述的狹縫圓板(14) 上開有槽孔(17)，所述的狹縫片(1 上開有滑動槽孔(18)；所述的狹縫片(1 分別通過 固定螺釘(16)固定在槽孔(17)的上下兩側上。
3.根據權利要求1所述的托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置，其特征在于所述的 調節(jié)旋鈕(11)上設置有刻度標示；所述的狹縫片(巧)之間的間隙調節(jié)范圍為30 500um。
專利摘要本實用新型屬于光譜空間分辨測量裝置領域，具體涉及一種托卡馬克系統中的空間分辨狹縫裝置。它包括真空殼體、密封頂蓋、轉軸固定板、主動齒輪、過渡齒輪、從動齒輪、狹縫組件、轉軸、密封螺釘、密封圈、調節(jié)旋鈕和定位螺釘。實現等離子體中各種雜質的空間分布測量，系統操作簡單，在不破壞真空條件下，很容易實現從雜質的純光譜測量切換到雜質的空間分布測量，對光譜強度的衰減小，可實現最小空間分辨2mm，時間分辨5.6ms，光譜分辨
文檔編號G01J3/04GK201876310SQ20102020658
公開日2011年6月22日 申請日期2010年5月28日 優(yōu)先權日2010年5月28日
發(fā)明者傅柄忠, 崔正英 申請人:核工業(yè)西南物理研究院