專利名稱：稅控收款機(jī)主板測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及的是一種測試設(shè)備，特別涉及的是一種稅控收款機(jī)主板測試裝置。
背景技術(shù)：
目前，金融稅控收款機(jī)、稅控收款機(jī)、稅控器、稅控打印機(jī)等各類稅控產(chǎn)品在各行 各業(yè)已得到廣泛應(yīng)用，但是，稅控收款機(jī)產(chǎn)品不同于一般的終端產(chǎn)品，它對(duì)稅控?cái)?shù)據(jù)的準(zhǔn)確 生成、可靠存儲(chǔ)和安全傳輸有著極高的要求，在板卡加工、整機(jī)裝配等環(huán)節(jié)需對(duì)稅控功能進(jìn) 行嚴(yán)格檢測，否則很難保障稅控機(jī)的產(chǎn)品質(zhì)量。另外，由于稅控功能需要特殊的測試環(huán)境，現(xiàn)有技術(shù)的稅控收款機(jī)產(chǎn)品在出廠前 未對(duì)稅控功能進(jìn)行系統(tǒng)測試，導(dǎo)致生產(chǎn)合格的產(chǎn)品到用戶手中后，出現(xiàn)無法初始化、無法 開票、無法報(bào)數(shù)等稅控功能方面的質(zhì)量問題，影響了客戶的使用，對(duì)公司形象造成了不良影 響，同時(shí)也使售后服務(wù)成本升高信譽(yù)降低。在現(xiàn)有技術(shù)中如果要對(duì)稅控收款機(jī)的功能進(jìn)行 系統(tǒng)測試，多使用手動(dòng)拔插各連接線，因而，存在測試時(shí)間長、效率低、測試用的排線等部件 消耗大等問題，增大了生產(chǎn)成本和測試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度，質(zhì)量得不到保證，影響了產(chǎn)品的批 量生產(chǎn)。鑒于上述缺陷，本實(shí)用新型創(chuàng)作者經(jīng)過長時(shí)間的研究和實(shí)踐終于獲得了本創(chuàng)作。 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于，提供一種稅控收款機(jī)主板測試裝置，用以克服現(xiàn)有技術(shù) 的缺陷。與現(xiàn)有技術(shù)比較，本實(shí)用新型采用的方案在于，提供一種稅控收款機(jī)主板測試裝 置，其包括一測試裝置基體；—測試平臺(tái)，其用以放置待測的目標(biāo)主板，并使所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)與 一測試電路系統(tǒng)中探針相接觸；一壓板，其抵壓在所述的目標(biāo)主板上，用以確保所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)與 所述測試電路系統(tǒng)中的探針相接觸緊密；一聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其與所述的測試裝置基體以及所述的壓板相連接，用以帶動(dòng)所述的 壓板上下運(yùn)動(dòng)；所述的測試電路系統(tǒng)，用以實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)主板的測試。較佳的，所述的測試裝置本體包括一機(jī)座；導(dǎo)向柱，其設(shè)置與所述的機(jī)座上；法蘭軸承，其將所述的壓板設(shè)置于導(dǎo)向柱上，使所述的壓板沿所述的導(dǎo)向柱上下滑動(dòng)。較佳的，所述的壓板包括一基板，其套設(shè)在所述的導(dǎo)向柱上；多個(gè)壓制桿，其設(shè)置在所述的基板上，用以抵壓在所述的目標(biāo)主板上。
4[0016]較佳的，所述的聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括支撐片，其嵌設(shè)在所述的基板的后端；連接片，其一端鉸接于所述的支撐片的下端；連接體，其一端鉸接于所述的連接片的下端；轉(zhuǎn)軸支板，其固定設(shè)置在所述的基座上，且其上端與所述的連接體的下端通過轉(zhuǎn) 軸相連接；旋臂，其末端與所述的轉(zhuǎn)軸一端相連接，通過所述的旋臂的轉(zhuǎn)動(dòng)，帶動(dòng)基板的上下 運(yùn)動(dòng)。較佳的，所述的測試平臺(tái)包括針板，其上設(shè)置有針，用以實(shí)現(xiàn)與所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)的接觸，所述的針 通過數(shù)據(jù)線與所述的測試電路系統(tǒng)的各測試電路相連接；護(hù)針板，其設(shè)置在所述的針板上，通過彈性件與所述的針板連接，并保持一定的距 離，所述的護(hù)針板上設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)鏤空區(qū)，所述的針板上的針與所述的鏤空區(qū)相對(duì)應(yīng)。較佳的，所述的測試電路系統(tǒng)包括一處理器；程序下載測試電路，其與所述的處理器相連接，用以向所述目標(biāo)主板加載程序；穩(wěn)壓電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的電源狀況；LED控制電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的LED控制功 能；USB主端控制器，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的USB通信功 能；目標(biāo)芯片信號(hào)加載電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的上 電、復(fù)位功能；存儲(chǔ)器測試電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板上存儲(chǔ)器的 存儲(chǔ)功能；時(shí)鐘測試電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板上時(shí)鐘電路狀況。較佳的，所述的存儲(chǔ)器測試電路包括=SDRAM存儲(chǔ)測試電路和FLASH存儲(chǔ)測試電路。較佳的，所述的測試電路系統(tǒng)還包括一程序調(diào)制連接器，用以和外部的計(jì)算機(jī)相 連接，用以調(diào)試所述的處理器。較佳的，還包括一可編程邏輯控件，用以擴(kuò)展所述處理器的功能，其分別與所述 的穩(wěn)壓電路和LED控制電路相連接。與現(xiàn)有技術(shù)比較本實(shí)用新型的有益效果在于，方便可靠，操作簡單、界面友好、自 動(dòng)化程度高、系統(tǒng)可配置等特點(diǎn)，極大的減少目前所使用的人工測試流程所帶來的人力，時(shí) 間成本壓力，提高成產(chǎn)效率。

圖1為本實(shí)用新型稅控收款機(jī)主板測試裝置機(jī)械部分側(cè)視示意圖；[0039]圖2為本實(shí)用新型稅控收款機(jī)主板測試裝置機(jī)械部分主視示意圖；圖3為本實(shí)用新型稅控收款機(jī)主板測試裝置機(jī)械部分俯視示意圖；圖4為本實(shí)用新型稅控收款機(jī)主板測試裝置控制部分的功能結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖，對(duì)本新型上述的和另外的技術(shù)特征和優(yōu)點(diǎn)作更詳細(xì)的說明。請(qǐng)參閱圖1-圖3所示，其分別本實(shí)用新型稅控收款機(jī)主板測試裝置機(jī)械部分側(cè) 視、主視以及俯視示意圖，所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置機(jī)械部分包括一測試裝置基 體、一測試平臺(tái)、一壓板以及一聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)；所述的測試裝置本體包括一機(jī)座1 ；導(dǎo)向柱9，其設(shè)置與所述的機(jī)座1上；法蘭軸承31，其將所述的壓板設(shè)置于導(dǎo)向柱9上，使所述的壓板沿所述的導(dǎo)向柱9 上下滑動(dòng)。所述的測試平臺(tái)，其用以放置待測的目標(biāo)主板，并使所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸 點(diǎn)與一測試電路系統(tǒng)中探針相接觸；其中，所述的測試平臺(tái)包括針板22，其上設(shè)置有探針，用以實(shí)現(xiàn)與所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)的接觸，所述 的探針通過數(shù)據(jù)線與所述的測試電路系統(tǒng)的各測試電路相連接；護(hù)針板21，其設(shè)置在所述的針板22上，通過彈性件23與所述的針板22連接，并保 持一定的距離，所述的護(hù)針板21上設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)鏤空區(qū)24，所述的針板22上的探針與所述 的鏤空區(qū)24相對(duì)應(yīng)，這里所述的彈性件23為彈簧。所述的壓板，其抵壓在所述的目標(biāo)主板上，用以確保所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸 點(diǎn)與測試電路系統(tǒng)中的探針相接觸緊密；所述的壓板包括一基板32，其套設(shè)在所述的導(dǎo) 向柱9上；多個(gè)壓制桿11，其設(shè)置在所述的基板32上，用以在所述的基板32向下運(yùn)動(dòng)時(shí)抵壓 在所述的目標(biāo)主板上所述的聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其與所述的測試裝置基體以及所述的壓板相連接，用以帶動(dòng)所 述的壓板上下運(yùn)動(dòng)；其中所述的聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括支撐片61，其嵌設(shè)在所述的基板32的后端；連接片62，其一端鉸接于所述的支撐片61的下端；連接體63，其一端鉸接于所述的連接片62的下端；轉(zhuǎn)軸支板8，其固定設(shè)置在所述的基座1上，且其上端與所述的連接體63的下端通 過轉(zhuǎn)軸7相連接；旋臂4，其末端與所述的轉(zhuǎn)軸7 —端相連接，通過所述的旋臂4的轉(zhuǎn)動(dòng)，帶動(dòng)基板 32的上下運(yùn)動(dòng)。還包括一個(gè)控制面板10，實(shí)現(xiàn)對(duì)測試電路部分的控制以及指示功能。本實(shí)用新型稅控收款機(jī)主板測試裝置非常重要的一個(gè)組成部分為一測試電路系 統(tǒng)，用以實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)主板的測試，請(qǐng)參閱圖3，其為本實(shí)用新型稅控收款機(jī)主板測試裝置控 制部分的功能結(jié)構(gòu)框圖。所述的測試電路系統(tǒng)包括一處理器el3，其為本系統(tǒng)的控制核心，用以進(jìn)行數(shù)據(jù)的處理和程序的控制；[0061]程序下載測試電路，其與所述的處理器el3相連接，用以向所述目標(biāo)主板加載程 序，其包括一程序測試端口 e5以及與所述的處理器el3相連接的串行總線e4 ；穩(wěn)壓電路e 1，其用以測試所述目標(biāo)主板的電源狀況，LED控制電路e3，，用以測試所述目標(biāo)主板的LED控制功能；一可編程邏輯控件 e2，用以擴(kuò)展所述處理器的功能，其分別與所述的穩(wěn)壓電路el和LED控制電路e3相連接， 進(jìn)而實(shí)現(xiàn)所述的穩(wěn)壓電路el和LED控制電路e3與所述的處理器el3相連接。USB主端控制器e9，其與所述的處理器el3相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的USB 通信功能；目標(biāo)芯片信號(hào)加載電路ell，其與所述的處理器el3相連接，用以測試所述目標(biāo)主 板的上電、復(fù)位功能；存儲(chǔ)器測試電路，其與所述的處理器el3相連接，用以測試所述目標(biāo)主板上存儲(chǔ) 器的存儲(chǔ)功能；所述的存儲(chǔ)器測試電路包括=SDRAM存儲(chǔ)測試電路e6和FLASH存儲(chǔ)測試電 路e7。時(shí)鐘電路el2，其與所述的處理器el3相連接，用以測試所述目標(biāo)主板上時(shí)鐘電路 狀況。以上說明對(duì)本新型而言只是說明性的，而非限制性的，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員理解， 在不脫離以下所附權(quán)利要求所限定的精神和范圍的情況下，可做出許多修改，變化，或等 效，但都將落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求一種稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，其包括一測試裝置基體；一測試平臺(tái)，其用以放置待測的目標(biāo)主板，并使所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)與一測試電路系統(tǒng)中探針相接觸；一壓板，其抵壓在所述的目標(biāo)主板上，用以確保所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)與所述的測試電路系統(tǒng)中的探針相接觸緊密；一聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其與所述的測試裝置基體以及所述的壓板相連接，用以帶動(dòng)所述的壓板上下運(yùn)動(dòng)；所述的測試電路系統(tǒng)，用以實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)主板的測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，所述的測試裝置本 體包括一機(jī)座；導(dǎo)向柱，其設(shè)置與所述的機(jī)座上；法蘭軸承，其將所述的壓板設(shè)置于導(dǎo)向柱上，使所述的壓板沿所述的導(dǎo)向柱上下滑動(dòng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，所述的壓板包括一 基板，其套設(shè)在所述的導(dǎo)向柱上；多個(gè)壓制桿，其設(shè)置在所述的基板上，用以抵壓在所述的目標(biāo)主板上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，所述的聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括支撐片，其嵌設(shè)在所述的基板的后端； 連接片，其一端鉸接于所述的支撐片的下端； 連接體，其一端鉸接于所述的連接片的下端；轉(zhuǎn)軸支板，其固定設(shè)置在所述的基座上，且其上端與所述的連接體的下端通過轉(zhuǎn)軸相 連接；旋臂，其末端與所述的轉(zhuǎn)軸一端相連接，通過所述的旋臂的轉(zhuǎn)動(dòng)，帶動(dòng)基板的上下運(yùn)動(dòng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，所述的測試平臺(tái)包括針板，其上設(shè)置有探針，用以實(shí)現(xiàn)與所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)的接觸，所述的探針 通過數(shù)據(jù)線與所述的測試電路系統(tǒng)的各測試電路相連接；護(hù)針板，其設(shè)置在所述的針板上，通過彈性件與所述的針板連接，并保持一定的距離， 所述的護(hù)針板上設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)鏤空區(qū)，所述的針板上的探針與所述的鏤空區(qū)相對(duì)應(yīng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一權(quán)利要求所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，所 述的測試電路系統(tǒng)包括一處理器；程序下載測試電路，其與所述的處理器相連接，用以向所述目標(biāo)主板加載程序； 穩(wěn)壓電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的電源狀況； LED控制電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的LED控制功能； USB主端控制器，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的USB通信功能； 目標(biāo)芯片信號(hào)加載電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板的上電、復(fù) 位功能；存儲(chǔ)器測試電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板上存儲(chǔ)器的存儲(chǔ) 功能；時(shí)鐘測試電路，其與所述的處理器相連接，用以測試所述目標(biāo)主板上時(shí)鐘電路狀況。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，所述的存儲(chǔ)器測試 電路包括SDRAM存儲(chǔ)測試電路和FLASH存儲(chǔ)測試電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，所述的測試電路系 統(tǒng)還包括一程序調(diào)制連接器，用以和外部的計(jì)算機(jī)相連接，用以調(diào)試所述的處理器。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的稅控收款機(jī)主板測試裝置，其特征在于，還包括一可編程邏 輯控件，用以擴(kuò)展所述處理器的功能，其分別與所述的穩(wěn)壓電路和LED控制電路相連接。
專利摘要本實(shí)用新型為一種稅控收款機(jī)主板測試裝置，其包括一測試裝置基體；一測試平臺(tái)，其用以放置待測的目標(biāo)主板，并使所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)與測試電路系統(tǒng)中探針相接觸；一壓板，其抵壓在所述的目標(biāo)主板上，用以確保所述的目標(biāo)主板相應(yīng)測試觸點(diǎn)與測試電路系統(tǒng)中的探針相接觸緊密；一聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其與所述的測試裝置基體以及所述的壓板相連接，用以帶動(dòng)所述的壓板上下運(yùn)動(dòng)；一測試電路系統(tǒng)，用以實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)主板的測試。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201662607SQ20102010120
公開日2010年12月1日 申請(qǐng)日期2010年1月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月25日
發(fā)明者侯丙營, 張傳波, 張磊, 李寧, 楊彥青, 陳懿, 陳皓 申請(qǐng)人:航天信息股份有限公司