專利名稱：發(fā)光二極管光源測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種發(fā)光二極管光源測試裝置。
背景技術(shù)：
發(fā)光二極管(Light Emitting Diode, LED)是一種可將電流轉(zhuǎn)換成特定波長范圍的光的半導(dǎo)體元件。發(fā)光二極管以其亮度高、工作電壓低、功耗小、易與集成電路匹配、驅(qū)動簡單、壽命長等優(yōu)點(diǎn)，從而可作為光源而廣泛應(yīng)用于照明領(lǐng)域。在發(fā)光二極管光源生產(chǎn)過程中，需要對發(fā)光二極管光源的電氣特性及光學(xué)特性進(jìn)行測試，上述電氣特性及光學(xué)特性的測試一般在不同的測試機(jī)臺下進(jìn)行，導(dǎo)致測試時間過長，且由于電氣特性及光學(xué)特性分別在不同的測試機(jī)臺下測試，導(dǎo)致很難得到電氣特性及光學(xué)特性之間的對應(yīng)關(guān)系，例如，電流與發(fā)光亮度的關(guān)系等。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種能夠同時對發(fā)光二極管光源的電氣特性及光學(xué)特性進(jìn)行測試的發(fā)光二極管光源測試裝置。一種發(fā)光二極管光源測試裝置，其包括一個承載臺及一個測試系統(tǒng)。所述承載臺用于承載待測試發(fā)光二極管光源。所述測試系統(tǒng)具有一個光感測器、一個電連接頭及一個測試模塊。所述光感測器和電連接頭分別與所述測試模塊電連接。所述光感測器用于感測發(fā)光二極管光源發(fā)出的光線。所述電連接頭用于與待測發(fā)光二極管光源電連接。所述測試模塊用于測試發(fā)光二極管光源的電學(xué)特性，并同時能夠跟據(jù)光感測器感測到的發(fā)光二極管光源發(fā)出的光線，得到發(fā)光二極管光源的光學(xué)特性。所述發(fā)光二極管光源測試裝置中的測試系統(tǒng)能夠同時測試發(fā)光二極管光源的電氣特性及光學(xué)特性，一方面能夠縮短發(fā)光二極管光源的測試時間，另一方面，能夠得到發(fā)光二極管光源的電氣特性和光學(xué)特性之間的對應(yīng)關(guān)系。


圖1是本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種發(fā)光二極管光源測試裝置示意圖。圖2是圖1中的發(fā)光二極管光源測試裝置中的承載臺立體示意圖。主要元件符號說明發(fā)光二極管光源測試裝置100殼體10容置腔11底壁12頂壁13側(cè)壁14承載臺20
測試系統(tǒng)30光感測器31電連接頭32測試模塊33恒溫系統(tǒng)40供氣裝置41導(dǎo)氣管42開口121通氣口141發(fā)光二極管光源200電極20具體實(shí)施例方式以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。請參閱圖1，本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種發(fā)光二極管光源測試裝置100包括殼體 10、承載臺20、測試系統(tǒng)30及恒溫系統(tǒng)40。所述殼體10具有一個容置腔11，該容置腔11能夠收容所述承載臺20。本實(shí)施方式中，所述殼體10包括底壁12、頂壁13以及連接所述底壁12和頂壁13的側(cè)壁14。所述底壁12上具有一個開口 121，所述承載臺20可通過該開口 121伸入到所述殼體10中。優(yōu)選地，所述殼體10采用透明材料制成。所述承載臺20用于承載待測試發(fā)光二極管光源200。所述發(fā)光二極管光源200可以為點(diǎn)光源、線光源或面光源等。請進(jìn)一步參閱圖2，本實(shí)施方式中，所述發(fā)光二極管光源 200為發(fā)光二極管燈條。發(fā)光二極管燈條是指一種將發(fā)光二極管呈線性排列的發(fā)光裝置，由于制作容易、成本低，目前其已被廣泛應(yīng)用來作為光源。所述承載臺20能夠在殼體10內(nèi)沿平行于頂壁13及垂直于頂壁13的方向移動。所述承載臺20上承載有多個發(fā)光二極管光源200，每個發(fā)光二極管光源200具有兩個電極201，通過該兩個電極201可為發(fā)光二極管光源200供電。所述測試系統(tǒng)30包括光感測器31、電連接頭32及測試模塊33。所述光感測器31 和電連接頭32分別與所述測試模塊33電連接。所述光感測器31用于感測發(fā)光二極管光源200發(fā)出的光線。本實(shí)施方式中，所述光感測器31固定于殼體10的頂壁13的內(nèi)表面。可以理解，在其他實(shí)施方式中，該光感測器31也可以固定于殼體10的側(cè)壁14的內(nèi)表面上，只要光感測器31能夠接收到發(fā)光二極管光源200發(fā)出的光線即可。所述電連接頭32能夠與發(fā)光二極管光源200上的兩個電極201電連接，用于實(shí)現(xiàn)測試模塊33與發(fā)光二極管光源200的電連接。通過移動所述承載臺20，可以讓電連接頭32 分別與每個發(fā)光二極管光源200進(jìn)行電連接，從而能夠?qū)γ總€發(fā)光二極管光源200進(jìn)行測試。本實(shí)施方式中，所述電連接頭32為探針，其固定于殼體10的側(cè)壁14的內(nèi)表面上。可以理解，在其他實(shí)施方式中，所述電連接頭32也可以固定于殼體10的頂壁13的內(nèi)表面上， 只要電連接頭32能夠與發(fā)光二極管光源200進(jìn)行電連接即可。
所述測試模塊33用于測試發(fā)光二極管光源200的電學(xué)特性，并同時能夠跟據(jù)光感測器31感測到的發(fā)光二極管光源200發(fā)出的光線，得到發(fā)光二極管光源200的發(fā)光亮度、 顏色等光學(xué)特性，從而進(jìn)一步得到發(fā)光二極管光源200的電學(xué)特性與光學(xué)特性的關(guān)系，例如，發(fā)光二極管光源200的電流與發(fā)光亮度的對應(yīng)關(guān)系等。本實(shí)施方式中，所述測試模塊33 位于殼體10外。所述恒溫系統(tǒng)40包括供氣裝置41及導(dǎo)氣管42。所述供氣裝置41用于提供恒溫氣體，而導(dǎo)氣管42則用于輸送該恒溫氣體。對應(yīng)所述導(dǎo)氣管42，所述殼體10上開設(shè)有至少一個通氣口 141。本實(shí)施方式中，該通氣口 141開設(shè)在殼體10的側(cè)壁14上，且該通氣口 141開設(shè)于電連接頭32與殼體10的底壁12之間。通過供氣裝置41向殼體10內(nèi)通入恒溫氣體，能夠保持容置腔11內(nèi)的溫度穩(wěn)定，從而避免外在因素，如溫度等，影響測試結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施方式提供的發(fā)光二極管光源測試裝置中的測試系統(tǒng)能夠同時測試發(fā)光二極管光源的電氣特性及光學(xué)特性，一方面能夠縮短發(fā)光二極管光源的測試時間，另一方面，能夠得到發(fā)光二極管光源的電氣特性和光學(xué)特性之間的對應(yīng)關(guān)系?？梢岳斫獾氖?，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思做出其它各種像應(yīng)的改變與變形，而所有這些改變與變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光二極管光源測試裝置，其包括一個承載臺及一個測試系統(tǒng)，所述承載臺用于承載待測試發(fā)光二極管光源，其特征在于所述測試系統(tǒng)具有一個光感測器、一個電連接頭及一個測試模塊，所述光感測器和電連接頭分別與所述測試模塊電連接，所述光感測器用于感測發(fā)光二極管光源發(fā)出的光線，所述電連接頭用于與待測發(fā)光二極管光源電連接， 所述測試模塊用于測試發(fā)光二極管光源的電學(xué)特性，并同時能夠跟據(jù)光感測器感測到的發(fā)光二極管光源發(fā)出的光線，得到發(fā)光二極管光源的光學(xué)特性。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述發(fā)光二極管光源測試裝置還包括一個殼體，該殼體具有一個容置腔，所述承載臺能夠收容于該容置腔中，所述光感測器及電連接頭設(shè)置于所述殼體的內(nèi)壁上。
3.如權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述殼體具有底壁、頂壁以及連接所述底壁和頂壁的側(cè)壁，所述底壁上形成有一個能夠讓承載臺通過的開口。
4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述承載臺能夠在殼體內(nèi)沿平行于頂壁及垂直于頂壁的方向移動。
5.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述殼體采用透明材料制成。
6.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述光感測器固定于所述殼體的頂壁的內(nèi)表面。
7.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述電連接頭固定于所述殼體的側(cè)壁的內(nèi)表面。
8.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述殼體上開設(shè)有至少一個通氣口，所述發(fā)光二極管光源測試裝置還包括一個恒溫系統(tǒng)，該恒溫系統(tǒng)包括一個供氣裝置，所述供氣裝置用于通過所述通氣口向殼體內(nèi)通入恒溫氣體。
9.如權(quán)利要求8所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述通氣口開設(shè)于所述殼體的側(cè)壁上，且該通氣口位于電連接頭與殼體的底壁之間。
10.如權(quán)利要求9所述的發(fā)光二極管光源測試裝置，其特征在于所述電連接頭固定于所述殼體的側(cè)壁的內(nèi)表面。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管光源測試裝置，其包括一個承載臺及一個測試系統(tǒng)。所述承載臺用于承載待測試發(fā)光二極管光源。所述測試系統(tǒng)具有一個光感測器、一個電連接頭及一個測試模塊。所述光感測器和電連接頭分別與所述測試模塊電連接。所述光感測器用于感測發(fā)光二極管光源發(fā)出的光線。所述電連接頭用于與待測發(fā)光二極管光源電連接。所述測試模塊用于測試發(fā)光二極管光源的電學(xué)特性，并同時能夠跟據(jù)光感測器感測到的發(fā)光二極管光源發(fā)出的光線，得到發(fā)光二極管光源的光學(xué)特性。
文檔編號G01M11/02GK102486520SQ20101057308
公開日2012年6月6日 申請日期2010年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月4日
發(fā)明者洪孟賢 申請人:展晶科技(深圳)有限公司, 榮創(chuàng)能源科技股份有限公司