專利名稱：一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置。
背景技術(shù)：
汽車行業(yè)零部件生產(chǎn)在于大批量，多孔位壓鑄件是汽車零部件的典型零件，該類型零件測量無外乎兩種方式進(jìn)行一是，使用相應(yīng)的測量量具，對孔位位置度進(jìn)行單個測量，具有測量準(zhǔn)確，測量時間長，單件零件測量等特點；二是，采用兩個定位方式定位，其它采用沉頭孔或通孔確認(rèn)產(chǎn)品孔的位置，再使用相應(yīng)尺寸的銷子對每個孔進(jìn)行驗證。但是，現(xiàn)有檢測中所用到的各種檢測裝置使用起來都過于復(fù)雜，檢測人員不能在第一時間內(nèi)實現(xiàn)對所有孔的快速精確檢測。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的以上問題，提供一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置。為實現(xiàn)本發(fā)明的目的一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，包括有圓盤狀檢測裝置本體，其中所述的圓盤狀檢測裝置本體上設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的主孔位置相對應(yīng)的主基準(zhǔn)測量組件；所述的主基準(zhǔn)測量組件四周設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的副孔位置相對應(yīng)的副基準(zhǔn)測量組件。進(jìn)一步地，上述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，其中，所述的副基準(zhǔn)測量組件高度低于主基準(zhǔn)測量組件的高度。更進(jìn)一步地，上述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，其中，所述的主基準(zhǔn)測量組件為直形銷；所述的副基準(zhǔn)測量組件為定位銷。采用本發(fā)明技術(shù)方案，由于主基準(zhǔn)測量組件與副基準(zhǔn)測量組件與各個待檢測的孔位置相對應(yīng)，只要在待檢測圓盤鑄件上扣上本發(fā)明即可在很短時間內(nèi)一次性檢測多個孔位。這樣，使用者不需要采用多個復(fù)雜的檢測裝置來挨個進(jìn)行孔位檢查，有利于實際生產(chǎn)中的快速而精確的檢測。本發(fā)明的目的、優(yōu)點和特點，將通過下面優(yōu)先實施例的非限制性說明進(jìn)行圖示和解釋，這些實施例是參照附圖僅作為例子給出的。


圖1是本圓盤鑄件用多孔位檢測裝置的正面構(gòu)造示意圖；圖2是本圓盤鑄件用多孔位檢測裝置的側(cè)面構(gòu)造示意圖。圖中各附圖標(biāo)記的含義如下1圓盤狀檢測裝置本體2直形銷3定位銷
具體實施例方式如圖1、圖2所示的一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，包括有圓盤狀檢測裝置本體 1，其與眾不同之處在于本發(fā)明所采用的圓盤狀檢測裝置本體1上設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的主孔位置相對應(yīng)的主基準(zhǔn)測量組件。同時，在主基準(zhǔn)測量組件四周設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的副孔位置相對應(yīng)的副基準(zhǔn)測量組件。結(jié)合本發(fā)明一較佳的實施方式來看，考慮到能夠通過主基準(zhǔn)測量組件首先進(jìn)行一個圓盤鑄件的中心定位，本發(fā)明所采用的副基準(zhǔn)測量組件高度低于主基準(zhǔn)測量組件的高度。進(jìn)一步來看，為了提高檢測的精確程度，在本檢測裝置扣合到待檢測圓盤鑄件上時能夠讓檢測者第一時間知曉圓盤鑄件是否合格，本發(fā)明所采用的主基準(zhǔn)測量組件為直形銷2，而副基準(zhǔn)測量組件為定位銷3。結(jié)合本發(fā)明的實際使用情況來看，將其扣合到待檢測圓盤鑄件上。此時，直形銷2 插入待檢測圓盤鑄件的主孔內(nèi)，進(jìn)行一個中心定位。之后，稍作旋轉(zhuǎn)本檢測裝置，另定位銷 3的位置與副孔相對應(yīng)。在此期間，如果各個定位銷3均能順利沒入副孔內(nèi)，則可判定該圓盤鑄件的各個孔開設(shè)合格。如果出現(xiàn)個別定位銷3無法與副孔相對應(yīng)，既整個檢測裝置與水平面出現(xiàn)傾斜角度，則判斷為該圓盤鑄件有孔開設(shè)不合格。通過上述的文字表述并結(jié)合附圖可以看出，采用本發(fā)明后，由于主基準(zhǔn)測量組件與副基準(zhǔn)測量組件與各個待檢測的孔位置相對應(yīng)，只要在待檢測圓盤鑄件上扣上本發(fā)明即可在很短時間內(nèi)一次性檢測多個孔位。這樣，使用者不需要采用多個復(fù)雜的檢測裝置來挨個進(jìn)行孔位檢查，有利于實際生產(chǎn)中的快速而精確的檢測。當(dāng)然，以上僅是本發(fā)明的具體應(yīng)用范例，對本發(fā)明的保護(hù)范圍不構(gòu)成任何限制。除上述實施例外，本發(fā)明還可以有其它實施方式。凡采用等同替換或等效變換形成的技術(shù)方案，均落在本發(fā)明所要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，包括有圓盤狀檢測裝置本體，其特征在于所述的圓盤狀檢測裝置本體上設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的主孔位置相對應(yīng)的主基準(zhǔn)測量組件； 所述的主基準(zhǔn)測量組件四周設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的副孔位置相對應(yīng)的副基準(zhǔn)測量組件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，其特征在于所述的副基準(zhǔn)測量組件高度低于主基準(zhǔn)測量組件的高度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，其特征在于所述的主基準(zhǔn)測量組件為直形銷；所述的副基準(zhǔn)測量組件為定位銷。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種圓盤鑄件用多孔位檢測裝置，包括有圓盤狀檢測裝置本體，其特點是圓盤狀檢測裝置本體上設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的主孔位置相對應(yīng)的主基準(zhǔn)測量組件。同時，在主基準(zhǔn)測量組件四周設(shè)置有與待檢測圓盤鑄件的副孔位置相對應(yīng)的副基準(zhǔn)測量組件。由此，主基準(zhǔn)測量組件與副基準(zhǔn)測量組件與各個待檢測的孔位置相對應(yīng)，只要在待檢測圓盤鑄件上扣上本發(fā)明，即可在很短時間內(nèi)一次性檢測多個孔位。這樣，使用者不需要采用多個復(fù)雜的檢測裝置來挨個進(jìn)行孔位檢查，有利于實際生產(chǎn)中的快速而精確的檢測。
文檔編號G01B5/00GK102478376SQ20101056012
公開日2012年5月30日 申請日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月25日
發(fā)明者劉剛橋 申請人:蘇州春興精工股份有限公司