專利名稱：光盤片的厚度檢測方法與裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤片的厚度檢測方法與裝置，且特別涉及一種在光驅(qū)中檢測光盤片各層之間厚度的方法與裝置。
背景技術(shù)：
一般來說，光盤片中透明塑膠材料厚度為影響光驅(qū)系統(tǒng)中球面像差(spherical aberration)現(xiàn)象的主要因素，也是判斷光盤片種類(如⑶、DVD、或BD)的重要參考依據(jù)。 如果可以正確檢測出光盤片的透明塑膠材料厚度，即可準(zhǔn)確地校正球面像差，或判斷出光盤片種類。一般來說，光盤片的透明塑膠材料厚度即是光盤片的表面層(surface layer) 與記錄層(data layer)之間的距離。請參照第1圖，其所繪示為現(xiàn)有光驅(qū)系統(tǒng)中光盤片的透明塑膠材料厚度檢測裝置。所述裝置100包括處理單元110、馬達(dá)驅(qū)動器120、聚焦致動器(focus actuator) 125, 物鏡130、光感測器140及前置放大器150。其中，處理單元110可為一個數(shù)字信號處理器 (DSP)，其可輸出一個聚焦控制輸出信號(focus control output signal，F(xiàn)C0)至馬達(dá)驅(qū)動器120，使得馬達(dá)驅(qū)動器120輸出一個聚焦馬達(dá)輸出信號(focus motor output signal, FM0)至聚焦致動器125。而聚焦致動器125即根據(jù)聚焦馬達(dá)輸出信號FMO來產(chǎn)生一個施力 (force, F)來移動物鏡130。因此，通過移動的物鏡130將光盤片反射回來的光束(Beam， B)送至光感測器140即可檢測出光強(qiáng)度的變化，當(dāng)聚焦光點(diǎn)移動至表層或數(shù)據(jù)層時，會相對應(yīng)的產(chǎn)生多個光信號(photo signal, PS)至前置放大器150，并且合成一個光束強(qiáng)度信號BS以及聚焦誤差信號FE至處理單元110。一般來說，光盤片的透明塑膠材料厚度檢測流程是利用處理單元110輸出遞增的聚焦控制信號FC0，所述聚焦控制信號FCO經(jīng)由馬達(dá)驅(qū)動器120放大后成為聚焦馬達(dá)輸出信號FM0，使得聚焦致動器125控制物鏡130往光盤片的方向移動。請參照圖2，其所繪示為現(xiàn)有檢測光盤片的透明塑膠材料厚度時的相關(guān)信號示意圖。當(dāng)物鏡130上升時激光束的焦點(diǎn)會依序經(jīng)過光盤片的表面層使得光束強(qiáng)度信號BS產(chǎn)生振幅較小的第一峰值(或可稱為表面信號)，當(dāng)物鏡繼續(xù)向上升焦點(diǎn)到達(dá)記錄層時，光束強(qiáng)度信號BS會出現(xiàn)振幅較大的第二峰值(或可稱記錄層信號)，而計(jì)算此兩峰值經(jīng)過的時間T，即可換算出光盤片表面層與數(shù)據(jù)層之間的厚度?；蛘?，當(dāng)物鏡130上升時激光束的焦點(diǎn)會依序經(jīng)過光盤片的表面層使得聚焦誤差信號FE產(chǎn)生第一 S曲線(s curve)，當(dāng)物鏡繼續(xù)向上升焦點(diǎn)到達(dá)記錄層時，聚焦誤差信號 (FE)產(chǎn)生第二 S曲線，計(jì)算此兩S曲線經(jīng)過零交越點(diǎn)(zero crossing point)之間的時間 T，也可換算出光盤片的透明塑膠材料厚度。也就是說，根據(jù)控制單元100輸出的聚焦控制輸出信號FCO乘上馬達(dá)驅(qū)動器120 的增益(gain)即可獲得聚焦馬達(dá)輸出信號FM0，并據(jù)以推導(dǎo)出物鏡移動的速度(ν)。因此， 即可輕易地計(jì)算出光盤片的透明塑膠材料厚度Ad = VXT0然而，由于在量產(chǎn)上馬達(dá)驅(qū)動器120與聚焦致動器125的增益容易產(chǎn)生變化。也就是說，在不同的光驅(qū)中，雖然針對馬達(dá)驅(qū)動器120設(shè)定相同的增益，然而馬達(dá)驅(qū)動器120 實(shí)際輸出的聚焦馬達(dá)輸出信號FMO會不相同。因此，計(jì)算出光盤片的透明塑膠材料厚度Ad 會有很大的誤差，造成厚度誤判的情況發(fā)生。舉例來說，若光盤片的透明塑膠材料厚度檢測裝置100中，由于馬達(dá)驅(qū)動器120或聚焦致動器125因制造上質(zhì)量問題而造成其增益不一致，則所檢測出來的光盤片的透明塑膠材料厚度就無法采信。請參照圖3，其所繪示為馬達(dá)驅(qū)動器150增益變化時的信號示意圖。在相異的兩個光驅(qū)中輸出相同的聚焦控制輸出信號FCO以及設(shè)定相同的增益，因此兩光驅(qū)推導(dǎo)出透鏡的速度都為ν。但是由于馬達(dá)驅(qū)動器120與聚焦致動器125的增益產(chǎn)生變化，將造成聚焦馬達(dá)輸出信號FMO不相同。如圖3所示，針對相同的光盤片，實(shí)際上第一光驅(qū)的增益小于第二光驅(qū)的增益，將造成第一光驅(qū)的聚焦馬達(dá)輸出信號FMOl的斜率小于第二光驅(qū)的聚焦馬達(dá)輸出信號FM02。因此，第一光驅(qū)根據(jù)實(shí)線的第一光束強(qiáng)度信號BSl得知經(jīng)過兩峰值的時間為Tl，而第二光驅(qū)根據(jù)虛線的第二光束強(qiáng)度信號BS2得知經(jīng)過兩峰值的時間為T2，且Tl > T2。所以第一光驅(qū)計(jì)算出光盤片的透明塑膠材料厚度Adl =VXTl將會大于第二光驅(qū)計(jì)算出光盤片的透明塑膠材料厚度Ad2 = VXT2。而兩光驅(qū)計(jì)算出來的誤差將可到達(dá)20%， 最高更可達(dá)到50%。當(dāng)然，如果是利用聚焦誤差信號FE來檢測光盤片的透明塑膠材料厚度，也會產(chǎn)生不相同的結(jié)果，因此不再贅述。由上述說明可知，現(xiàn)有的光盤片的透明塑膠材料厚度檢測方法，運(yùn)用于具有變化馬達(dá)增益的光驅(qū)時將會得到不同的光盤片的透明塑膠材料厚度。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述問題，本發(fā)明的目的在于提供一種光驅(qū)中檢測光盤片各層之間厚度的方法與裝置，其利用已知的S曲線可檢測范圍Ds來準(zhǔn)確的測量光盤片兩個層之間的厚度，并且完全忽略馬達(dá)驅(qū)動器與聚焦致動器增益的變化。因此，本發(fā)明提出一種光盤片的厚度檢測方法，包括開啟一個激光束并移動一個物鏡以產(chǎn)生一個光束強(qiáng)度信號以及一個聚焦誤差信號；利用所述光束強(qiáng)度信號或者所述聚焦誤差信號來獲得所述激光束的一個焦點(diǎn)經(jīng)過一個光盤片的第一層與第二層之間所花費(fèi)的第一時間；檢測所述聚焦誤差信號中的一個S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的第二時間；以及根據(jù)已知的一個S曲線可檢測范圍、所述第一時間、與所述第二時間，獲得所述第一層與所述第二層之間的厚度為所述S曲線可檢測范圍乘以所述第一時間并除以所述第二時間。因此，本發(fā)明還提出一種光盤片的厚度檢測裝置，包括處理單元，輸出一個聚焦控制輸出信號；馬達(dá)驅(qū)動器，電性連接至所述處理單元，接收所述聚焦控制輸出信號并產(chǎn)生一個聚焦馬達(dá)輸出信號；聚焦致動器，電性連接至所述馬達(dá)驅(qū)動器，接收所述聚焦馬達(dá)輸出信號并來產(chǎn)生一個施力；物鏡，連接至所述聚焦致動器，根據(jù)所述施力來移動；光感測器， 根據(jù)移動的所述物鏡接收一個光盤片反射回來的一個激光束，并相對應(yīng)的產(chǎn)生多個光信號；前置放大器，電性連接至所述光感測器，接收所述多個光信號并合成一個光束強(qiáng)度信號以及一個聚焦誤差信號并輸出至所述處理單元；其中，所述處理單元是利用所述光束強(qiáng)度信號或者所述聚焦誤差信號來獲得所述激光束的一個焦點(diǎn)經(jīng)過所述光盤片的一個第一層與一個第二層之間所花費(fèi)的第一時間，并且檢測所述聚焦誤差信號中的一個S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的第二時間；以及，根據(jù)已知的一個S曲線可檢測范圍、所述第一時間、與所述第二時間，獲得所述第一層與所述第二層之間的厚度。綜上所述，本發(fā)明判斷光盤片的透明塑膠材料厚度或者任兩層之間的厚度的方法與裝置完全無關(guān)于馬達(dá)驅(qū)動器與聚焦致動器的增益產(chǎn)生的變化，并且可準(zhǔn)確獲得光盤片的透明塑膠材料厚度。上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段， 而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。


圖1為現(xiàn)有光驅(qū)系統(tǒng)中光盤片的透明塑膠材料厚度檢測裝置的方框圖。圖2為現(xiàn)有檢測光盤片的透明塑膠材料厚度時的相關(guān)信號示意圖。圖3為馬達(dá)驅(qū)動器增益變化時的信號示意圖。圖4為S曲線可檢測范圍Ds示意圖。圖5為利用聚焦誤差信號FE的S曲線來檢測光盤片的透明塑膠材料厚度的信號示意圖。圖6為本發(fā)明光驅(qū)系統(tǒng)中光盤片的透明塑膠材料厚度檢測裝置的方框圖。圖7為本發(fā)明光盤片的透明塑膠材料厚度檢測方法的流程圖。圖8為利用聚焦誤差信號FE的S曲線來檢測光盤片的兩個記錄層之間厚度的信號示意圖。
圖9為本發(fā)明光盤片兩個記錄層之間厚度的檢測方法的流程圖, 圖10為本發(fā)明多層光盤片中任兩層之間厚度的信號示意圖。 上述附圖中的附圖標(biāo)記說明如下 100厚度檢測裝置110處理單元
125聚焦致動器 140光感測器 200厚度檢測裝置
120馬達(dá)驅(qū)動器 130物鏡 150前置放大器 210處理單元
214時間信號長度檢測單元 218厚度計(jì)算單元 225聚焦致動器 240光感測器
212控制單元 216存儲器 220馬達(dá)驅(qū)動器 230物鏡 250前置放大器
具體實(shí)施例方式
—般來說，當(dāng)光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭出廠時，其制造商會在規(guī)格書中定義一個S曲線可檢測范圍(S-curve p-p value)DSo如圖4所示，所謂S曲線可檢測范圍Ds為光學(xué)讀寫頭制造商于出廠時測量透鏡產(chǎn)生聚焦誤差信號FE的S曲線時，其最高峰與最低峰之間代表的移動距離，例如14μπι。由于S曲線可檢測范圍Ds的數(shù)值非常的準(zhǔn)確不易產(chǎn)生變化。因此，本發(fā)明的實(shí)施例即利用此特性來準(zhǔn)確的測量光盤片的透明塑膠材料厚度。而本發(fā)明判斷光盤片的透明塑膠材料厚度的方法與裝置，將可完全不受馬達(dá)驅(qū)動器與聚焦致動器的增益產(chǎn)生的變化的影響，并且可準(zhǔn)確的獲得光盤片的透明塑膠材料厚度。請參照圖5，其為利用聚焦誤差信號FE的S曲線來檢測光盤片的透明塑膠材料厚度的信號示意圖。當(dāng)物鏡230上升時激光束的焦點(diǎn)會依序經(jīng)過光盤片的表面層使得光束強(qiáng)度信號BS產(chǎn)生第一峰值(或可稱為表面信號)，當(dāng)物鏡繼續(xù)向上升焦點(diǎn)到達(dá)記錄層時，光束強(qiáng)度信號BS會出現(xiàn)第二峰值(或可稱記錄層信號)，并計(jì)算此兩峰值經(jīng)過的時間Tc?；蛘?，當(dāng)物鏡230上升時激光束的焦點(diǎn)會依序經(jīng)過光盤片的表面使得聚焦誤差信號FE產(chǎn)生第一 S曲線，當(dāng)物鏡繼續(xù)上升焦點(diǎn)到達(dá)記錄層時，聚焦誤差信號FE產(chǎn)生第二 S曲線，計(jì)算此兩 S曲線經(jīng)過零交越點(diǎn)之間的時間也可以獲得Tc。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，本發(fā)明必須檢測聚焦誤差信號FE中任一 S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的時間Ts。很明顯地，不論透鏡的移動速度為何，光盤片的透明塑膠材料厚度△(!與S 曲線可檢測范圍Ds之間的比例會相同于Tc與Ts的比例。也即，(Ad/Ds) = (Tc/Ts)。由于 S曲線可檢測范圍Ds、Tc、Ts都為已知，光盤片的透明塑膠材料厚度為Ad= (Tc/Ts) XDs0請參照圖6，其為本發(fā)明光驅(qū)系統(tǒng)中光盤片的透明塑膠材料厚度檢測裝置的方框圖。所述裝置200包括處理單元210、馬達(dá)驅(qū)動器220、聚焦致動器225、物鏡230、光感測器240及前置放大器250。其中，處理單元210可為數(shù)字信號處理器，還包括控制單元212、 時間信號長度檢測單元214、存儲器216、厚度計(jì)算單元218。再者，處理單元210中的控制單元212可輸出一個聚焦控制輸出信號FCO至馬達(dá)驅(qū)動器220，使得馬達(dá)驅(qū)動器220輸出一個聚焦馬達(dá)輸出信號FMO至聚焦致動器225。而聚焦致動器225即根據(jù)聚焦馬達(dá)輸出信號FMO來產(chǎn)生一個施力F來移動物鏡230。因此，通過移動的物鏡230將光盤片反射回來的光束B送至光感測器240即可檢測出光強(qiáng)度的變化， 并相對應(yīng)的產(chǎn)生多個光信號PS至前置放大器250，并且合成一個光束強(qiáng)度信號BS以及聚焦誤差信號FE至處理單元210。由于光學(xué)讀寫頭出廠時，制造商在規(guī)格書中已經(jīng)定義一個S曲線可檢測范圍Ds， 因此研發(fā)人員可將S曲線可檢測范圍Ds先行記錄于存儲器中216。再者，時間信號長度檢測單元214接收光束強(qiáng)度信號BS以及聚焦誤差信號FE，并且利用光束強(qiáng)度信號BS或者聚焦誤差信號FE來獲得激光束焦點(diǎn)經(jīng)過光盤片表面層與記錄層之間所花費(fèi)的時間Tc。再者， 時間信號長度檢測單元214更進(jìn)一步檢測聚焦誤差信號FE中任一 S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的時間Ts。厚度計(jì)算單元218接收存儲器216輸出的S曲線可檢測范圍Ds以及時間信號長度檢測單元214輸出的Tc與Ts。接著即可獲得光盤片的透明塑膠材料厚度為Ad= (Tc/ Ts)XDs。并且將光盤片的透明塑膠材料厚度Ad傳遞至控制單元212進(jìn)行后續(xù)的運(yùn)作，例如進(jìn)行球面像差補(bǔ)償或者光盤片的判斷。請參照圖7，其所繪示為本發(fā)明光盤片的透明塑膠材料厚度檢測方法的流程圖。首先，開啟激光束并移動物鏡以產(chǎn)生光束強(qiáng)度信號BS以及聚焦誤差信號冊(步驟S710)。接著，利用光束強(qiáng)度信號BS或者聚焦誤差信號FE來獲得激光束焦點(diǎn)經(jīng)過光盤片表面層與記錄層之間所花費(fèi)的時間Tc (步驟S720)。接著，檢測聚焦誤差信號FE中任一 S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的時間Ts (步驟S730)。最后，根據(jù)已知的S曲線可檢測范圍Ds、Tc與Ts來獲得光盤片的透明塑膠材料厚度為(Tc/Ts) XDs (步驟S740)。
由上述的描述可知，本發(fā)明利用已知的S曲線可檢測范圍Ds來準(zhǔn)確的測量光盤片的透明塑膠材料厚度，并且本發(fā)明判斷光盤片的透明塑膠材料厚度的方法與裝置，完全無關(guān)于馬達(dá)驅(qū)動器與聚焦致動器的增益產(chǎn)生的變化，并且可準(zhǔn)確的獲得光盤片的透明塑膠材料厚度。運(yùn)用相同的裝置，本發(fā)明除了可以運(yùn)用于檢測光盤片的透明塑膠材料厚度之外， 更可以用來檢測雙層光盤片的兩個記錄層之間厚度。請參照圖8，其所繪示利用聚焦誤差信號FE的S曲線來檢測光盤片的兩個記錄層之間厚度的信號示意圖。當(dāng)物鏡230上升時激光束的焦點(diǎn)會依序經(jīng)過光盤片的表面使得光束強(qiáng)度信號BS產(chǎn)生第一峰值(或可稱為表面信號)，當(dāng)物鏡繼續(xù)向上升焦點(diǎn)到達(dá)第一記錄層時，光束強(qiáng)度信號BS會出現(xiàn)第二峰值(或可稱第一記錄層信號)，當(dāng)物鏡繼續(xù)向上升焦點(diǎn)到達(dá)第二記錄層時，光束強(qiáng)度信號BS會出現(xiàn)第三峰值(或可稱第二記錄層信號)，并計(jì)算此第二峰值與第三峰值經(jīng)過的時間Td?；蛘撸?dāng)物鏡230上升時激光束的焦點(diǎn)會依序經(jīng)過光盤片的表面層使得聚焦誤差信號FE產(chǎn)生第一 S曲線，當(dāng)物鏡繼續(xù)上升焦點(diǎn)到達(dá)第一記錄層時，聚焦誤差信號FE產(chǎn)生第二 S曲線，當(dāng)物鏡繼續(xù)上升焦點(diǎn)到達(dá)第二記錄層時，聚焦誤差信號FE產(chǎn)生第三S曲線，計(jì)算第二 S曲線與第三S曲線經(jīng)過零交越點(diǎn)之間的時間也可以獲得 TcL根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，本發(fā)明必須檢測聚焦誤差信號FE中任一 S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的時間Ts。很明顯地，不論透鏡的移動速度為何，或馬達(dá)增益如何變化，光盤片的兩個記錄層之間厚度d與S曲線可檢測范圍Ds之間的比例會相同于Td與Ts的比例。也即，(d/ Ds) = (Td/Ts)。由于S曲線可檢測范圍Ds、Td、Ts都為已知，光盤片兩層數(shù)據(jù)層間厚度d =(Td/Ts) XDs0請參照圖9，其為本發(fā)明光盤片兩個記錄層之間厚度的檢測方法的流程圖。首先， 開啟激光束并移動物鏡以產(chǎn)生光束強(qiáng)度信號BS以及聚焦誤差信號FE(步驟S910)。接著， 利用光束強(qiáng)度信號BS或者聚焦誤差信號FE來獲得激光束焦點(diǎn)經(jīng)過光盤片第一記錄層與第二記錄層所花費(fèi)的時間Td(步驟S920)。接著，檢測聚焦誤差信號FE中任一 S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的時間Ts(步驟S930)。最后，根據(jù)已知的S曲線可檢測范圍Ds、Td與Ts來獲得光盤片兩個記錄層之間厚度為(Td/Ts) XDs (步驟S940)。由上述的描述可知，本發(fā)明利用已知的S曲線可檢測范圍Ds來準(zhǔn)確測量光盤片兩記錄層之間厚度。當(dāng)然，利用本發(fā)明更可以用來計(jì)算多層光盤片之間的任意兩層之間的厚度。請參照圖10，其所繪示為多層光盤片的信號示意圖。以四層光盤片為例，當(dāng)物鏡 230上升時，由光束強(qiáng)度信號BS與聚焦誤差信號FE可知激光束的焦點(diǎn)依序經(jīng)過光盤片的表面、第一記錄層、第二記錄層、第三記錄層、第四記錄層。因此，時間信號長度檢測單元214 可獲得焦點(diǎn)經(jīng)過表面層與第一記錄層之間的時間為Tc，焦點(diǎn)經(jīng)過第一記錄層與第二記錄層之間的時間為Tdl，焦點(diǎn)經(jīng)過第二記錄層與第三記錄層之間的時間為Td2，焦點(diǎn)經(jīng)過第三記錄層與第四記錄層之間的時間為Td3。當(dāng)然，如果多層光盤片還有更多的記錄層，時間信號長度檢測單元214也可以獲得更多不同層之間的時間。由于時間信號長度檢測單元214也會檢測焦誤差信號FE中任一 S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的時間Ts。因此，厚度計(jì)算單元218即可計(jì)算任兩層之間的距離，舉例來說，第一記錄層與第四記錄層之間的距離d，= [(Tdl+Td2+Td3)/Ts]XDs。由以上的描述可知，本發(fā)明判斷光盤片的透明塑膠材料厚度或者任兩層之間的厚度的方法與裝置完全無關(guān)于馬達(dá)驅(qū)動器與聚焦致動器的增益產(chǎn)生的變化，并且可準(zhǔn)確獲得光盤片的透明塑膠材料厚度。以上所述，僅是本發(fā)明的實(shí)施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭示如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何本技術(shù)領(lǐng)域普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種光盤片的厚度檢測方法，包括開啟一個激光束并移動一個物鏡以產(chǎn)生一個光束強(qiáng)度信號以及一個聚焦誤差信號； 利用所述光束強(qiáng)度信號或者所述聚焦誤差信號來獲得所述激光束的一個焦點(diǎn)經(jīng)過一個光盤片的一個第一層與一個第二層之間所花費(fèi)的第一時間；檢測所述聚焦誤差信號中的一個S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的第二時間；以及根據(jù)已知的一個S曲線可檢測范圍、所述第一時間、與所述第二時間，獲得所述第一層與所述第二層之間的厚度為所述S曲線可檢測范圍乘以所述第一時間并除以所述第二時間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于當(dāng)所述第一層為所述光盤片的一個表面層，所述第二層為所述光盤片的一個第一記錄層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于當(dāng)所述第一層為所述光盤片的一個第一記錄層，所述第二層為所述光盤片的一個第二記錄層。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述光盤片為一個多層光盤片，且所述第一層與所述第二層為所述多層光盤片中的任意兩記錄層。
5.一種光盤片的厚度檢測裝置，包括 處理單元，輸出一個聚焦控制輸出信號；馬達(dá)驅(qū)動器，電性連接至所述處理單元，接收所述聚焦控制輸出信號并產(chǎn)生一個聚焦馬達(dá)輸出信號；聚焦致動器，電性連接至所述馬達(dá)驅(qū)動器，接收所述聚焦馬達(dá)輸出信號并來產(chǎn)生一個施力；物鏡，連接至所述聚焦致動器，根據(jù)所述施力來移動；光感測器，根據(jù)移動的所述物鏡接收一個光盤片反射回來的激光束，并相對應(yīng)地產(chǎn)生多個光信號；前置放大器，電性連接至所述光感測器，接收所述多個光信號并合成一個光束強(qiáng)度信號以及一個聚焦誤差信號并輸出至所述處理單元；其中，所述處理單元利用所述光束強(qiáng)度信號或者所述聚焦誤差信號來獲得所述激光束的一個焦點(diǎn)經(jīng)過所述光盤片的第一層與第二層之間所花費(fèi)的第一時間，并且檢測所述聚焦誤差信號中的一個S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的第二時間；以及，根據(jù)已知的一個S曲線可檢測范圍、所述第一時間、與所述第二時間，獲得所述第一層與所述第二層之間的厚度。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于所述處理單元包括 控制單元，輸出所述聚焦控制輸出信號；時間信號長度檢測單元，接收并利用所述光束強(qiáng)度信號或者所述聚焦誤差信號來獲得所述激光束的所述焦點(diǎn)經(jīng)過所述光盤片的所述第一層與所述第二層之間所花費(fèi)的所述第一時間，并且檢測所述聚焦誤差信號中的所述S曲線產(chǎn)生兩峰值所需的所述第二時間； 存儲器，儲存所述S曲線可檢測范圍；以及厚度計(jì)算單元，電性連接至所述存儲器與所述時間信號長度檢測單元，接收所述S曲線可檢測范圍、所述第一時間、與所述第二時間，并計(jì)算所述第一層與所述第二層之間的厚度為所述S曲線可檢測范圍乘以所述第一時間并除以所述第二時間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于所述控制單元接收所述第一層與所述第二層之間的厚度并進(jìn)行球面像差補(bǔ)償或者所述光盤片的一個判斷動作。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于當(dāng)所述第一層為所述光盤片的一個表面層，所述第二層為所述光盤片的一個第一記錄層。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于當(dāng)所述第一層為所述光盤片的一個第一記錄層，所述第二層為所述光盤片的一個第二記錄層。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于所述光盤片為一個多層光盤片，且所述第一層與所述第二層為所述多層光盤片中的任意兩記錄層。
全文摘要
本發(fā)明提出一種于光驅(qū)中檢測光盤片各層厚度的方法與裝置。此方法包括下列步驟開啟一個激光束并移動一個物鏡以產(chǎn)生一個光束強(qiáng)度信號以及一個聚焦誤差信號；利用所述光束強(qiáng)度信號或者所述聚焦誤差信號來獲得所述激光束的一個焦點(diǎn)經(jīng)過一個光盤片的第一層與第二層之間所花費(fèi)的第一時間檢測所述聚焦誤差信號中的一個S曲線產(chǎn)生兩個峰值所需的第二時間；以及根據(jù)已知的一個S曲線可檢測范圍、所述第一時間、與所述第二時間，獲得所述第一層與所述第二層之間的厚度為所述S曲線可檢測范圍乘以所述第一時間并除以所述第二時間。本發(fā)明的方法與裝置完全無關(guān)于馬達(dá)驅(qū)動器與聚焦致動器的增益產(chǎn)生的變化，并且可準(zhǔn)確獲得光盤片的透明塑膠材料厚度。
文檔編號G01B11/06GK102401634SQ201010284469
公開日2012年4月4日 申請日期2010年9月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月14日
發(fā)明者馮文俊, 林至信 申請人:凌陽科技股份有限公司