專利名稱：用于測量電路的電氣性能的方法和系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于測量電路的電氣性能的方法和系統(tǒng)。
技術背景
關于印刷電路板PCB的測試，舉例來說，每個PCB可以包括多個測試觸點，其中可 以通過接觸器接觸測試觸點的子組(例如，成對的)的方式來測試PCB，并通過處理單元來 測量電氣性能。由于存在多個測試觸點，所以現(xiàn)有技術方案要么包括不得不以緩慢的處理 相對于被檢查的PCB機械地移動的少量接觸器，要么包括被設計成與PCB的特定線的測試 觸點相接觸的許多接觸器，因為在每個PCB產(chǎn)品中測試觸點位于不同的位置。這種多接觸 器測試設備的設計和制造十分復雜、緩慢而且昂貴。
另外，在利用現(xiàn)有技術測試PCB的方法中會碰到的另一問題是不同的測試觸點 (以及PC的其它部件)可能位于不同的高度(例如，在多層電路中)。顯然，對于這種現(xiàn)有 技術，接觸位于不同高度的大量測試觸點進一步增加了額外的復雜性。發(fā)明內(nèi)容
一種用于電氣測量的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)可以包括(a)第一支撐結(jié)構(gòu)；(b)連接至所 述第一支撐結(jié)構(gòu)的電插入器(electrical interposer)的第一陣列；其中，所述第一陣列 的每個電插入器具有連接到第一電路的第一端和設置成當將電插入器壓到被測設備的點 上時與被測設備的點相接觸的第二端；其中，所述第一陣列的多個電插入器設置成當其被 壓到所述被測設備上時，改變所述第一陣列的所述多個電插入器的第二端和所述第一支撐 結(jié)構(gòu)之間的高度差；其中，所述電插入器的第一陣列成形為與被測設備的感興趣的點接觸， 而不考慮被測設備的設計；以及(c)第一電路設置成將所述電插入器的第一陣列電耦合至 處理單元，所述處理單元設置成測量被測設備的至少一個電氣參數(shù)。
所述第一陣列的電插入器的密度可以為被測設備的兩個感興趣的點之間的距離 的一部分(二分之一、三分之一、四分之一或者更少)。
每個電插入器可以包括設置成一旦將電插入器壓到被測設備上時就與被測設備 的點相接觸的彈簧。
每個電插入器可以包括設置成一旦將電插入器壓到被測設備上時與被測設備的 點相接觸的彈性且導電的元件。
所述第一陣列成形為當其被壓向被測設備時，同時與被測設備的遍布于整個被測 設備上的點相接觸。
所述被測設備可以是印刷電路板，并且所述第一陣列可以成形為當其被壓向所述印刷電路板時，所述第一陣列與遍布于所述印刷電路板的大部分的印刷電路板的點相接觸。
多個電插入器設置成以非垂直的方式與被測設備的點相接觸。
所述第一陣列的電插入器設置成與被測設備的位于被測設備的第一面(facet) 處的點相接觸；并且所述系統(tǒng)還可以包括(a)第二支撐結(jié)構(gòu)；(b)連接至所述第二支撐結(jié) 構(gòu)的電插入器的第二陣列；其中所述第二陣列的每個電插入器具有第一端和第二端，所述 第一端連接至第二電路，所述第二端設置成當電插入器被壓到被測設備的點上時，與被測 設備的位于被測設備的第二面上的點相接觸；其中所述被測設備的第二面可以不同于被測 設備的第一面；其中第二陣列的多個電插入器設置成當其被壓到所述被測設備上時，改變 所述第二陣列的所述多個電插入器的第二端與所述第二支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差；以及(C) 第二電路設置成將電插入器的第二陣列電耦合至第二處理單元，所述第二處理單元設置成 測量被測設備的至少一個電氣參數(shù)。
所述第一面可以與所述第二面相對。
所述被測設備可以是印刷電路板，并且所述第一面可以與所述第二面相對。
所述第一和第二處理單元設置成通過比較產(chǎn)生自所述被測設備的屬于被測設備 的第一和第二面中的不同面上的點的電信號，來評估被測設備的電氣參數(shù)。
所述系統(tǒng)可以包括多個支撐結(jié)構(gòu)和多個電插入器陣列，每個電插入器陣列連接到 單個的支撐結(jié)構(gòu)；其中所述第一陣列的每個電插入器具有耦合到電路的第一端和設置成當 將其壓到被測設備的點上時，與被測設備的點接觸的第二端；其中每個電插入器設置成當 其被壓到被測設備上時，改變電插入器的第二端和所述第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差；并且 其中所述電路設置成將電插入器的陣列電耦合至處理單元，所述處理單元設置成測量被測 設備的至少一個電氣參數(shù)。
所述多個電插入器設置成當其被壓到被測設備上時，響應于被測設備的被壓到所 述多個電插入器的所述第二端上的點之間的高度差，改變所述多個電插入器的第二端和所 述第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差。
可以提供一種用于電氣測量的方法，所述方法包括將電插入器的第一陣列壓到被 測設備上，并且使所述第一陣列的多個電插入器與被測設備的多個點接觸，并且改變所述 多個電插入器的第二端和連接到所述第一陣列的第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差；其中，所述 第一陣列的電插入器的第一端耦合至第一處理單元；并且通過所述第一處理單元對被測設 備進行電氣測量。


參照附圖，僅通過示例描述本發(fā)明的進一步的細節(jié)、方面和實施例。在附圖中，類 似的附圖標記用來標識類似的或者功能性類似的元件。為了簡便和清楚起見，附圖中的元 件不必按比例繪制。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的電氣測量系統(tǒng)；
圖2A示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)的側(cè)視圖，以及根據(jù)本發(fā)明的實施例具 有一些測試點的PCB的側(cè)視圖2B示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)的側(cè)視圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)的側(cè)視圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)；
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)；
圖6示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的方法；
圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的方法。
具體實施方式
結(jié)合下面的詳細描述和附圖，本發(fā)明的上述內(nèi)容和其它目的、特征和優(yōu)點將變得 顯而易見。在附圖中，在不同的視圖中類似的附圖標記表示類似的元件。
由于所示出的本發(fā)明的實施例在很大程度上都使用本領域技術人員公知的電子 元件和電路來實施，并且為了不混淆或者不偏移本發(fā)明的教導，將不以高于為了理解和體 會本發(fā)明的潛在的概念所必要的程度來解釋具體細節(jié)。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的電氣測量系統(tǒng)100，所述電氣測量系統(tǒng)100可以 用來測量諸如(盡管不限于)印刷電路板(PCB)的電路的電氣性能。
電氣測量系統(tǒng)100包括在其上安裝多個電插入器110的陣列的支撐結(jié)構(gòu)120，其 中，當向電插入器Iio施加力時，每個電插入器110相對于支撐結(jié)構(gòu)120的高度可能發(fā)生變 化。系統(tǒng)100還包括用于將系統(tǒng)100的每個電插入器110連接到至少一個處理單元(未示 出)的電路(通常用130表示，為了清楚起見只部分地示出)，所述處理單元可以或者包括 在系統(tǒng)100中，或者在其外部(例如經(jīng)由一個或多個電氣接口 140)。
為了方便起見，每個電插入器110或者至少部分地是彈性的，或者連接至連接到 支撐結(jié)構(gòu)120的彈性結(jié)構(gòu)。例如，每個電插入器110可以是自身具有彈性的彈簧結(jié)構(gòu)，或者 在彈性結(jié)構(gòu)(例如硅樹脂凸起)上構(gòu)建。根據(jù)另一示例，電插入器110可以是安裝在彈性 的或者其它的柔性材料上的靜態(tài)導電部件。應當注意的是，根據(jù)本發(fā)明的幾個實施例，與測 試對象間的連接可以是垂直的或者不垂直的。
除了其它用途以外，電氣測量系統(tǒng)100可以用于電氣測量和/或用于測試諸如PCB 的電路。如上所述，在這種電路中(在下文中，將用術語PCB表示PCB或者其它類型的電 路)，不同的電氣觸點可能處于不同的高度。電插入器110或者其上均安裝有電插入器的結(jié) 構(gòu)的彈性能夠有助于電插入器110的接觸，即PCB的每個測試點的接觸。在利用系統(tǒng)100 進行測試之前，可將系統(tǒng)100(其用作測試床)按壓到PCB上。根據(jù)本發(fā)明的實施例，可以 通過將系統(tǒng)100按壓到測試對象(例如PCB)上來實現(xiàn)將系統(tǒng)100按壓到PCB上。根據(jù)本 發(fā)明的實施例，可以通過將被測對象按壓至電插入器110的方式來完成這種按壓。
電插入器可以定位成使得與被測設備的感興趣的點進行接觸，而不考慮被測設備 的設計。例如，這可以通過如下方式來實現(xiàn)將電插入器以非常密的陣列形式來設置，其中 相鄰的電插入器之間的距離為被測設備的兩個感興趣的點之間的距離的一部分(二分之 一、三分之一、四分之一或者更少)。
圖2A示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)100的側(cè)視圖以及具有幾個測試點(表 示為黑色長方形)的PCB 10的側(cè)視圖。圖2B示出了當接觸PCB 10時系統(tǒng)100的側(cè)視圖。 如圖所示，當向不同的電插入器110施加力時，每個電插入器110相對于支撐結(jié)構(gòu)120的高 度發(fā)生改變，可以與PCB 10的每個測試點建立電氣接觸。
圖3是根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)100的側(cè)視圖。應當注意，電插入器110的數(shù) 量可以比示意性圖示的多得多，并且電插入器110的陣列可以足夠集中，以與各類PCB的測 試觸點形成良好的電氣接觸。應當注意，電插入器110或者其上安裝有電插入器110的結(jié) 構(gòu)的彈性可來自于用來制造它們的材料(例如，硅樹脂結(jié)構(gòu)、人造橡膠結(jié)構(gòu)等等)或者來自 于結(jié)構(gòu)設計(例如，彈簧)，或者來自于它們的組合。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，電插入器110的陣列的分辨率為400微米，也可為其它的分 辨率(甚至還可以實施為明顯不同的分辨率)。根據(jù)本發(fā)明的實施例，基于支撐結(jié)構(gòu)120的 電插入器110的陣列包括32X32( = 1024)個電插入器110。應當注意，可以使用其它數(shù)量 的電插入器110，并且電插入器110能夠以其它配置來定制(即，并非為X-Y的柵格)。
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)200。系統(tǒng)200包括一個或多個面板，每 個面板包括系統(tǒng)100。所述面板(為方便起見，用100表示)可以相互連接，可以連接至公 共的物理結(jié)構(gòu)，或者不連接到公共的物理結(jié)構(gòu)，并可以或者不可以獨立移動和/或控制。例 如，可以將100個面板(例如，10X10陣列)用作IO6個電插入器110的被測設備，其中每 個面板具有32 X 32個電插入器。為了進行電氣測量，系統(tǒng)200還可以包括一個或多個適于 電連接到兩個或更多個的電插入器110的處理單元250(可以或不可以結(jié)合在一個或多個 系統(tǒng)100中)。應當注意，用于選擇所述兩個或多個電插入器110的開關裝置可以包括在處 理單元150中，或者包括在每個系統(tǒng)100中與其相連接的單元中、或者包括在這些方案的組合中。
應當注意，系統(tǒng)200可適于使用來自不同面板的兩個或多個電插入器110進行電氣測量。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，每個32X32單元的尺寸為12. 8mmX 12. 8mm。根據(jù)本發(fā)明的 實施例，每個32X32單元的尺寸由兩個電插入器110之間的距離確定。因此，如果各單元 的總尺寸為12. 8mmX 12. 8mm，則32X32個電插入器中的每對電插入器之間的距離大約為 0. 4mm。
因此，如果各單元的總尺寸為1. ^Xl.觀讓，則32 X 32個電插入器的每對電插入 器之間的距離大約為0. 04mm。
與來自多個電插入器110的電氣連接可以或者為并聯(lián)連接，或者為串聯(lián)連接。根 據(jù)本發(fā)明的實施例，系統(tǒng)100和/或200可以包括電源(例如，3. 3v直流電源)。
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)200。系統(tǒng)200適于對雙面PCB進行電氣測量。
參照系統(tǒng)100和系統(tǒng)200，應當注意，盡管支撐結(jié)構(gòu)描述為基本平的，但是也不一 定非要如此，根據(jù)本發(fā)明不同的實施例，支撐結(jié)構(gòu)120可以具有不同的外形，并且進一步為 可變化的。
圖6示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的方法600。
方法600起始于改變系統(tǒng)中的至少一個模塊(例如，系統(tǒng)或者面板100)的位置的 步驟610，所述系統(tǒng)包括一個或多個模塊，每個模塊包括在其上安裝有多個電插入器110的 陣列的支撐結(jié)構(gòu)120。其中，當向電插入器110施加力時，每個電插入器110相對于支撐結(jié) 構(gòu)120的高度可以改變。其中，所述至少一個模塊的位置的變化導致多個電插入器110相 對于支撐結(jié)構(gòu)120的高度的變化，并導致在多個電插入器110之間以及電路的不同點之間形成電氣接觸。
應當注意，為了方便，所述高度的變化包括將所述至少一個模塊壓到電路上。
在步驟610之后是步驟620，為了進行電氣測量，步驟620選擇所述至少一個模塊 的多個電插入器。所述選擇允許電插入器的子集(subset)連接到處理單元。所選擇的電 插入器的數(shù)量取決于處理單元的用于測量電氣參數(shù)的端口的量。
在步驟620之后為將電連接切換到所選擇的電插入器的步驟630。
在步驟630之后是步驟640，步驟640通過連接到多個電插入器(例如，那些所選 擇的和/或切換至的電插入器)的處理單元來測量電路的電氣參數(shù)。
測量可以包括測量被測設備的電容、測量被測設備的電導等等。
圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的方法700。
方法700起始于步驟710，在步驟710中，將電插入器的第一陣列按壓到被測設備 上，使所述第一陣列的多個電插入器與被測設備的多個點接觸，并且使得多個電插入器的 第二端和被連接到所述第一陣列的第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差改變。所述第一陣列的電插 入器的第一端耦合至第一處理單元。所述按壓可以包括將包括電插入器的系統(tǒng)推向被測設備。
步驟710之后是通過所述第一處理單元對被測設備進行電氣測試的步驟720。
步驟710可以包括將所述第一陣列的電插入器的彈簧壓到被測設備上。所述彈簧 是導電的，并且一旦壓到被測設備上時就與被測設備的點相接觸。所述彈簧連接至所述電路。
步驟710可以包括將電插入器的彈性和導電元件壓到被測設備上。當壓到被測設 備上時，所述彈性和導電元件接觸被測設備的點。
步驟710可以包括當被壓到被測設備上時，同時與被測設備的點接觸，這些點遍 布于整個被測設備或者至少分布于被測設備的大部分上。
被測設備可以是印刷電路板，步驟710可以包括通過第一陣列同時與所述印刷電 路板的分布于所述印刷電路板的大部分上的觸點相接觸。
步驟710可以包括通過多個電插入器以非垂直的方式與被測設備的點接觸。因 此，電插入器可以具有當其與被測設備的點接觸時，與被測設備的面不垂直的縱軸。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，步驟710包括與被測設備的位于被測設備的第一面上的點 相接觸，并且方法700還包括步驟730，步驟730將電插入器的第二陣列壓到被測設備上，并 使得所述第二陣列的多個電插入器與被測設備的屬于被測設備的第二面的多個點相接觸， 并使得多個電插入器的第二端和連接到所述第二陣列的第二支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差改變。 所述第二陣列的電插入器的第一端耦合到第二處理單元。所述第一面可以不同于第二面。 或者，第一和第二面為同一面。
步驟710和730可以以并行方式、部分重疊的方式、或者順序的方式執(zhí)行。
第二處理單元可以不同于第一處理單元?；蛘撸谝缓偷诙幚韱卧梢詾橥惶幚韱卧?。
步驟730之后為通過第二處理單元對被測設備進行電氣測試的步驟740。
第一面可以與第二面相對。
被測設備可以是印刷電路板，并且第一面可以與第二面相對。
步驟740可以包括通過比較產(chǎn)生自所述被測設備的屬于被測設備的第一和第二 面中的不同面上的點的電信號來評估被測設備的電氣參數(shù)。該評估可以包括評估印刷電路 板的兩個面之間的漏電流。
步驟720和740可以包括或者在它們之前選擇耦合到處理單元的電插入器。
圖7示出了通過一對陣列進行電氣測試。應當注意，陣列的數(shù)量不限于2個并且可 以超過2個。例如，圖5示出了包括4個陣列的4個面板。因此，在方法700中可以包括 (a)將電插入器的多個陣列壓到被測設備上，并使多個陣列的多個電插入器與被測設備的 多個點相接觸，并且使多個電插入器的第二端和連接到所述多個陣列的多個支撐結(jié)構(gòu)之間 的高度差改變，其中，電插入器的第一端耦合到至少一個處理單元；以及(b)通過所述至少 一個處理單元對被測設備進行電氣測試，其中，所述多個陣列包括第一陣列，并且其中所述 多個支撐結(jié)構(gòu)包括第一支撐結(jié)構(gòu)。
可以采用常規(guī)的工具、方法和部件來實踐本發(fā)明。因此，在這里不具體闡述這種工 具、部件和方法。為了徹底地理解本發(fā)明，在先前的描述中，闡述了許多具體細節(jié)。然而，應 當意識到，本發(fā)明的實踐并不依賴于所闡述的具體細節(jié)。
本公開中示出和描述了本發(fā)明的示例性實施例以及少數(shù)多功能性的示例。應理 解，本發(fā)明能夠用于各種其它組合和環(huán)境中，并且能夠在如本文所表示的發(fā)明精神的范圍 內(nèi)進行各種修改或變型。
權(quán)利要求
1.一種用于電氣測量的系統(tǒng)，包括 第一支撐結(jié)構(gòu)；連接至所述第一支撐結(jié)構(gòu)的電插入器的第一陣列；其中，所述第一陣列的每個電插入器具有連接至第一電路的第一端以及設置成當電插 入器被壓到被測設備的點上時與所述被測設備的點相接觸的第二端；其中，所述第一陣列的多個電插入器設置成當被壓到所述被測設備上時，改變所述第 一陣列的所述多個電插入器的第二端和所述第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差；其中，所述電插入器的第一陣列成形為與被測設備的感興趣的點接觸，而不考慮與所 述被測設備的設計；并且其中，所述第一電路設置成將所述電插入器的第一陣列電耦合至處理單元，所述處理 單元設置成測量被測設備的至少一個電氣參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述第一陣列的電插入器的密度為所述被測設 備的兩個感興趣的點之間的距離的一部分。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，每個電插入器包括彈簧，所述彈簧設置成一旦所 述電插入器被壓到所述被測設備上時就與所述被測設備的點相接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，每個電插入器包括彈性的且導電的元件，所述彈 性的且導電的元件設置成一旦所述電插入器被壓到所述被測設備上時就與所述被測設備 的點相接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述第一陣列成形為當其被壓到所述被測設備 上時，同時與所述被測設備的遍布于整個所述被測設備上的點相接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述被測設備為印刷電路板，并且其中所述第一 陣列成形為當其被壓到所述印刷電路板上時，所述第一陣列與分布于所述印刷電路板的大 部分上的點相接觸。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，多個電插入器設置成以非垂直的方式與所述被 測設備的點相接觸。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述第一陣列的電插入器設置成與所述被測設 備的位于所述被測設備的第一面上的點相接觸；其中，所述系統(tǒng)還包括第二支撐結(jié)構(gòu)；連接至所述第二支撐結(jié)構(gòu)的電插入器的第二陣列；其中，所述第二陣列的每個電插入器具有第一端和第二端，所述第一端連接至第二電 路，所述第二端設置成當所述第二陣列的每個電插入器被壓到所述被測設備的點上時，與 所述被測設備的位于所述被測設備的第二面上的點相接觸；其中，所述被測設備的所述第二面不同于所述被測設備的所述第一面； 其中，所述第二陣列的多個電插入器設置成當其被壓到所述被測設備上時，改變所述 第二陣列的所述多個電插入器的第二端和所述第二支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差；并且其中，所述第二電路設置成將電插入器的所述第二陣列電耦合至第二處理單元，所述 第二處理單元設置成測量所述被測設備的至少一個電氣參數(shù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，所述第一面與所述第二面相對。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，所述被測設備是印刷電路板，并且其中所述第 一面與所述第二面相對。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，所述第一和第二處理單元設置成通過比較產(chǎn)生 自所述被測設備的屬于所述被測設備的所述第一和第二面中的不同面上的點的電信號，來 評估所述被測設備的電氣參數(shù)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，包括多個支撐結(jié)構(gòu)和電插入器的多個陣列，電插入器 的每個陣列連接至單個的支撐結(jié)構(gòu)；其中，所述第一陣列的每個電插入器具有第一端和第二端，所述第一端耦合到電路，所 述第二端設置成當所述第一陣列的每個電插入器被壓到所述被測設備的點上時，與所述被 測設備的點相接觸；其中，每個電插入器設置成當其被壓到所述被測設備上時，改變所述電插入器的所述 第二端和所述第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差；并且其中，所述電路設置成將所述電插入器的陣列電耦合至處理單元，所述處理單元設置 成測量被測設備的至少一個電氣參數(shù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述多個電插入器設置成當其被壓到所述被測 設備時，響應于所述被測設備的被壓到所述多個電插入器的第二端的點之間的高度差，改 變所述多個電插入器的所述第二端和所述第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差。
14.一種用于電氣測量的方法，包括將電插入器的第一陣列壓到被測設備上，并使所述第一陣列的多個電插入器與所述被 測設備的多個點相接觸，并且使所述多個電插入器的第二端和連接到所述第一陣列的第一 支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差改變；其中，所述第一陣列的所述電插入器的第一端耦合至第一處 理單元；其中，所述電插入器的所述第一陣列成形為與被測設備的感興趣的點相接觸，而不 考慮與所述被測設備的設計；以及通過所述第一處理單元對所述被測設備進行電氣測量。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，包括將所述第一陣列的所述電插入器的彈簧壓到所 述被測設備上。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，包括將所述電插入器的彈性的且導電的元件壓到所 述被測設備上。
17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，包括當被壓到所述被測設備上時，同時與所述被測 設備的遍布于整個被測設備上的點相接觸。
18.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中，所述被測設備是印刷電路板，并且其中所述方 法包括通過所述第一陣列同時與所述印刷電路板的分布于所述印刷電路板的大部分上的 點相接觸。
19.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，包括通過多個電插入器以非垂直的方式與所述被測 設備的點相接觸。
20.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中，所述第一陣列的所述電插入器設置成與所述 被測設備的處于所述被測設備的第一面上的點相接觸，其中，所述方法還包括將電插入器的第二陣列壓到被測設備上，并使所述第二陣列的多個電插入器與所述被 測設備的屬于所述被測設備的第二面的多個點相接觸，并且使所述多個電插入器的第二端和連接至所述第二陣列的第二支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差改變，其中，所述第二陣列的所述電 插入器的第一端耦合至第二處理單元；以及通過所述第二處理單元對所述被測設備進行電氣測試；其中，所述第一面不同于所述第二面。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述第一面與所述第二面相對。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述被測設備是印刷電路板，并且其中所述第 一面與所述第二面相對。
23.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，包括通過比較產(chǎn)生自所述被測設備的屬于所述被測 設備的所述第一和第二面中的不同面上的點的電信號，來評估所述被測設備的電氣參數(shù)。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，包括將電插入器的多個陣列壓到被測設備上，并使所述多個陣列的多個電插入器與所述被 測設備的多個點相接觸，并且使所述多個電插入器的第二端和連接至所述多個陣列的多個 支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差改變；其中，所述電插入器的第一端耦合到至少一個處理單元；通 過所述至少一個處理單元對所述被測設備進行電氣測試；其中，所述多個陣列包括所述第 一陣列，并且其中所述多個支撐結(jié)構(gòu)包括所述第一支撐結(jié)構(gòu)。
25.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中，所述第一陣列的所述電插入器的密度為所述 被測設備的兩個感興趣的點之間的距離的一部分。
全文摘要
一種用于電氣測量的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括第一支撐結(jié)構(gòu)；連接至所述第一支撐結(jié)構(gòu)的電插入器的第一陣列；其中，所述第一陣列的每個電插入器具有第一端和第二端，所述第一端連接至第一電路，所述第二端設置成當電插入器被壓到所述被測設備的點上時與所述被測設備的點相接觸；其中，所述第一陣列的多個電插入器設置成其當被壓到所述被測設備上時，改變所述第一陣列的所述多個電插入器的第二端和所述第一支撐結(jié)構(gòu)之間的高度差；并且其中所述第一電路設置成將所述電插入器的第一陣列電耦合至處理單元，所述處理單元設置成測量被測設備的至少一個電氣參數(shù)。
文檔編號G01R1/02GK102033193SQ201010270050
公開日2011年4月27日 申請日期2010年6月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月3日
發(fā)明者Y·謝爾比斯 申請人:康代有限公司