技術(shù)編號(hào)：5877317
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于測(cè)量電路的電氣性能的方法和系統(tǒng)。技術(shù)背景關(guān)于印刷電路板PCB的測(cè)試，舉例來說，每個(gè)PCB可以包括多個(gè)測(cè)試觸點(diǎn)，其中可 以通過接觸器接觸測(cè)試觸點(diǎn)的子組(例如，成對(duì)的)的方式來測(cè)試PCB，并通過處理單元來 測(cè)量電氣性能。由于存在多個(gè)測(cè)試觸點(diǎn)，所以現(xiàn)有技術(shù)方案要么包括不得不以緩慢的處理 相對(duì)于被檢查的PCB機(jī)械地移動(dòng)的少量接觸器，要么包括被設(shè)計(jì)成與PCB的特定線的測(cè)試 觸點(diǎn)相接觸的許多接觸器，因?yàn)樵诿總€(gè)PCB產(chǎn)品中測(cè)試觸點(diǎn)位于不同的位置。這種多接觸...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。