專利名稱：用于熒光分析儀上的x射線檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于熒光品位分析儀上的x射線檢測(cè)方法，尤其涉及一種用于熒 光分析儀上的x射線檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
選礦行業(yè)常用X熒光分析儀對(duì)礦漿品位進(jìn)行在線檢測(cè)，及時(shí)調(diào)整工藝以保證產(chǎn)品 指標(biāo)。元素特征X射線的譜峰檢測(cè)是X射線熒光分析技術(shù)的關(guān)鍵，其檢測(cè)精度直接影響品 位分析精度。 目前選礦行業(yè)中，有基于兩種工作原理的在線X熒光品位分析儀，一種是波長(zhǎng)色 散型；另一種是能量色散型。波長(zhǎng)色散型是利用分光晶體將不同元素的特征X射線分離出 來(lái)得到某個(gè)元素的譜峰，能量色散型則是用軟件算法對(duì)重疊的譜峰進(jìn)行分解。
上述現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下缺點(diǎn) 分析方法單一，譜峰識(shí)別的精度低，分析儀的品位分析精度低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種譜峰識(shí)別的精度高，分析儀的品位分析精度高的用于熒 光分析儀上的X射線檢測(cè)方法。 本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的 本發(fā)明的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，它是波長(zhǎng)色散和能量色散相結(jié)合 的檢測(cè)方法，包括步驟 A、利用布拉格定律將被測(cè)對(duì)象的特征X射線分離出來(lái)； B、對(duì)分離出來(lái)的特征X射線用X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)； C、將步驟A中得到的分離后的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理。 由上述本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明所述的用于熒光分析儀上的X射 線檢測(cè)方法，由于它是波長(zhǎng)色散和能量色散相結(jié)合的檢測(cè)方法，首先，利用布拉格定律將被 測(cè)對(duì)象的特征X射線分離出來(lái)；然后對(duì)分離出來(lái)的特征X射線用X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光 譜數(shù)據(jù)，并對(duì)分離后的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理。用兩種方法處 理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行品位計(jì)算，相比單用一種分析方法，可提高品位分析精度，尤其適用于被測(cè) 對(duì)象的物理性質(zhì)變化較大、低品位測(cè)量和非金屬元素測(cè)量的情況。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其較佳的具體實(shí)施方式
是 它是波長(zhǎng)色散和能量色散相結(jié)合的檢測(cè)方法，具體包括步驟 A、利用布拉格定律將被測(cè)對(duì)象的特征X射線分離出來(lái)； B、對(duì)分離出來(lái)的特征X射線用X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)；
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C、將步驟A中得到的分離后的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理。
所述步驟C之后還可以包括步驟 D、對(duì)分離前的特征X射線用另外的X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)； E、將步驟D中檢測(cè)到的分離前的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處
理； F、用步驟E中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)步驟C中的數(shù)據(jù)進(jìn)行修正，用于對(duì)步驟A中分離出
來(lái)的被測(cè)對(duì)象進(jìn)行分析。 所述步驟E之后還可以包括步驟 用步驟E中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)步驟A中未被分離出來(lái)的元素進(jìn)行分析，所述未被分
離出來(lái)的元素指低品位元素和/或非金屬元素等。 上述的步驟C和E中，用能量色散的方法進(jìn)行處理包括 根據(jù)先驗(yàn)知識(shí)，對(duì)于不存在譜峰重疊的特征X射線，用高斯擬合方法進(jìn)行處理；對(duì) 存在譜峰重疊的情況，進(jìn)行譜峰分解處理。
最后還可以包括步驟 當(dāng)被測(cè)對(duì)象物理性質(zhì)有一定變化時(shí)，根據(jù)步驟C或步驟E處理后的數(shù)據(jù)建立品位 分析模型。 本方法的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，是一種用于X熒光品位分析儀上 的X射線檢測(cè)方法，本發(fā)明中 首先，進(jìn)行分光處理；然后，對(duì)分光后的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行能量色散處理，包括高斯擬 合處理和譜峰分解處理，其中，譜峰分解是針對(duì)被測(cè)對(duì)象組分比較復(fù)雜的情況，即兩種元素 含有相同波長(zhǎng)的特征X射線； 本發(fā)明中，還單獨(dú)用一個(gè)高分辨率的X射線探測(cè)器檢測(cè)分光前的所有元素的特征 X射線并用能量色散的方法進(jìn)行譜峰計(jì)算，結(jié)合其他幾個(gè)探測(cè)器的光譜數(shù)據(jù)，進(jìn)行特征X射 線的譜峰計(jì)算。 分光是波長(zhǎng)色散的原理，對(duì)分光后的譜峰再次進(jìn)行高斯擬合處理和譜峰分解處理 是能量色散的原理，加上用能量色散方法處理分光前的X射線光譜數(shù)據(jù)，用兩種方法處理 后的數(shù)據(jù)進(jìn)行品位計(jì)算，相比單用一種分析方法，可提高品位分析精度，尤其適用于被測(cè)對(duì) 象的物理性質(zhì)變化較大、低品位測(cè)量和非金屬元素測(cè)量的情況。
具體實(shí)施例，包括步驟 步驟1、設(shè)計(jì)符合布拉格定律的光路和分光晶體，用來(lái)分離被測(cè)對(duì)象的特征X射 線； 步驟2、用半導(dǎo)體探測(cè)器檢測(cè)分離后的特征X射線，得到光譜數(shù)據(jù)； 步驟3、將步驟2中得到的分離后的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行
處理，包括 根據(jù)先驗(yàn)知識(shí)，對(duì)于不存在譜峰重疊的特征X射線，用高斯擬合方法進(jìn)行處理；對(duì) 存在譜峰重疊的情況，進(jìn)行譜峰分解處理； 步驟4、對(duì)分離前的特征X射線單獨(dú)用一個(gè)半導(dǎo)體探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè)； 步驟5、將步驟4中檢測(cè)到的分離前的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理，包括 根據(jù)先驗(yàn)知識(shí)，對(duì)于不存在譜峰重疊的特征X射線，用高斯擬合方法進(jìn)行處理；對(duì)存在譜峰重疊的情況，進(jìn)行譜峰分解處理； 步驟6、用步驟5中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)步驟3中的數(shù)據(jù)進(jìn)行修正，用于常規(guī)元素分析； 步驟7、用步驟5中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)非常規(guī)元素的能譜用于輔助分析，主要針對(duì)低品位元素和非金屬元素； 步驟8、當(dāng)被測(cè)對(duì)象物理性質(zhì)有一定變化時(shí)，根據(jù)步驟3和步驟5處理的數(shù)據(jù)建立品位分析模型。 以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，它是波長(zhǎng)色散和能量色散相結(jié)合的檢測(cè)方法，包括步驟A、利用布拉格定律將被測(cè)對(duì)象的特征X射線分離出來(lái)；B、對(duì)分離出來(lái)的特征X射線用X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)；C、將步驟A中得到的分離后的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟C之后還包括步驟D、 對(duì)分離前的特征X射線用另外的X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)；E、 將步驟D中檢測(cè)到的分離前的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理；F、 用步驟E中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)步驟C中的數(shù)據(jù)進(jìn)行修正，用于對(duì)步驟A中分離出來(lái)的 被測(cè)對(duì)象進(jìn)行分析。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟E之后還包括步驟用步驟E中處理后的數(shù)據(jù)對(duì)步驟A中未被分離出來(lái)的元素進(jìn)行分析。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，所述未被 分離出來(lái)的元素指低品位元素和/或非金屬元素。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，所述 用能量色散的方法進(jìn)行處理包括根據(jù)先驗(yàn)知識(shí)，對(duì)于不存在譜峰重疊的特征X射線，用高斯擬合方法進(jìn)行處理；對(duì)存在譜峰重疊的情況，進(jìn)行譜峰分解處理。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，其特征在于，最后還包括步驟當(dāng)被測(cè)對(duì)象物理性質(zhì)有一定變化時(shí)，根據(jù)步驟C或步驟E處理后的數(shù)據(jù)建立品位分析模型。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于熒光分析儀上的X射線檢測(cè)方法，首先利用布拉格定律將被測(cè)對(duì)象的特征X射線分離出來(lái)；然后對(duì)分離出來(lái)的特征X射線用X射線探測(cè)器檢測(cè)，得到光譜數(shù)據(jù)，并對(duì)分離后的特征X射線的光譜數(shù)據(jù)用能量色散的方法進(jìn)行處理。還單獨(dú)用一個(gè)高分辨率的X射線探測(cè)器檢測(cè)分光前的所有元素的特征X射線并用能量色散的方法進(jìn)行譜峰計(jì)算。用兩種方法處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行品位計(jì)算，相比單用一種分析方法，可提高品位分析精度，尤其適用于被測(cè)對(duì)象的物理性質(zhì)變化較大、低品位測(cè)量和非金屬元素測(cè)量的情況。
文檔編號(hào)G01N23/223GK101782537SQ201010108168
公開日2010年7月21日 申請(qǐng)日期2010年2月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月5日
發(fā)明者周俊武, 徐寧, 李 杰, 趙宇, 趙建軍 申請(qǐng)人:北京礦冶研究總院