專利名稱：電樞綜合性能測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試儀，尤其涉及一種測(cè)試電樞、轉(zhuǎn)子綜合性能的測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)的電樞(轉(zhuǎn)子)綜合測(cè)試儀的前端結(jié)構(gòu)的上壓頭與測(cè)試探針的距離較遠(yuǎn)，而壓 頭與測(cè)試探針都是用汽缸帶動(dòng)的，由于兩邊汽缸的不同步性以及汽缸壓力的大小不等等原因 ，造成電樞的測(cè)試探針在往下接觸換向片的過(guò)程中，經(jīng)常壓在兩個(gè)換向片的中間，造成測(cè)試 的錯(cuò)誤，影響測(cè)試的效率。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型主要是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足，從而開(kāi)發(fā)一種方便測(cè)試、提高測(cè)試效率 的電樞綜合測(cè)試儀。
本實(shí)用新型的上述技術(shù)問(wèn)題主要是通過(guò)下述技術(shù)方案得以解決的 一種電樞綜合性能測(cè) 試儀，包含有轉(zhuǎn)子，轉(zhuǎn)子上面有上壓塊，下面有下固定塊，轉(zhuǎn)子一側(cè)有換向器，換向器上面 有與換向片一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針，其特征在于在靠近測(cè)試探針一端的軸上裝有固定夾頭。
因此，本實(shí)用新型的有益效果是有效的保證了測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性，減少了汽缸的不穩(wěn) 定性造成的測(cè)試錯(cuò)誤，提高了生產(chǎn)效率。


附圖l是本實(shí)用新型的電樞綜合測(cè)試儀的前端結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

下面通過(guò)實(shí)施例并結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體說(shuō)明。 實(shí)施例
如圖l所示的電樞綜合性能測(cè)試儀，有轉(zhuǎn)子l，轉(zhuǎn)子上面有上壓塊2，下面有下固定塊3， 轉(zhuǎn)子一側(cè)有換向器5，換向器上面有與換向片一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針4，在靠近測(cè)試探針一端的 軸7上裝有固定夾頭6。
電樞綜合測(cè)試儀的工作過(guò)程先把轉(zhuǎn)子1的軸承檔位置放入固定夾頭6，然后把轉(zhuǎn)子 l裝入下固定塊3，按下啟動(dòng)按鈕，上固定塊2會(huì)在汽缸帶動(dòng)下壓緊轉(zhuǎn)子1，同時(shí)測(cè)試探針4也 會(huì)在汽缸的帶動(dòng)下壓向轉(zhuǎn)子換向片5進(jìn)行電機(jī)性能測(cè)試(電氣強(qiáng)度，絕緣電阻，片間電阻，
3匝間耐壓等)。
權(quán)利要求1.一種電樞綜合性能測(cè)試儀，包含有轉(zhuǎn)子(1)，轉(zhuǎn)子上面有上壓塊(2)，下面有下固定塊(3)，轉(zhuǎn)子一側(cè)有換向器(5)，換向器上面有與換向片一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針(4)，其特征在于在靠近測(cè)試探針(4)一端的軸(7)上裝有固定夾頭(6)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種電樞綜合性能測(cè)試儀。包含有轉(zhuǎn)子，轉(zhuǎn)子上面有上壓塊，下面有下固定塊，轉(zhuǎn)子一側(cè)有換向器，換向器上面有與換向片一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針，在靠近測(cè)試探針一端的軸上裝有固定夾頭。本實(shí)用新型有效的保證了測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性，減少了汽缸的不穩(wěn)定性造成的測(cè)試錯(cuò)誤，提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號(hào)G01R31/12GK201392377SQ20092030166
公開(kāi)日2010年1月27日 申請(qǐng)日期2009年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月27日
發(fā)明者魏厚軍 申請(qǐng)人:余姚市蘭山電機(jī)企業(yè)有限公司