專利名稱：電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型提供了一種量測(cè)系統(tǒng)，尤其涉及一種自動(dòng)化量測(cè)電子元件性能的量測(cè)
系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在生產(chǎn)電子產(chǎn)品時(shí)，需要對(duì)所需的電子元件(包括電阻、電感、電容以及其它IC) 的電氣性能進(jìn)行嚴(yán)格的管控，以防止使用不符合規(guī)格的電子元件而導(dǎo)致發(fā)生嚴(yán)重質(zhì)量問(wèn) 題。 目前由于沒(méi)有一套智能化的輔助管理系統(tǒng)，作業(yè)員往往需要手動(dòng)地量測(cè)電子元件
的電氣值，然后根據(jù)量測(cè)值與電子元件的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格值，手動(dòng)地去計(jì)算比較來(lái)得出結(jié)果，以確
定組件是否符合規(guī)格，再根據(jù)計(jì)算結(jié)果，記錄相應(yīng)料巻是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)。 而我們?cè)谏a(chǎn)一種電子產(chǎn)品時(shí)，往往需要幾十種甚至上百種電子組件，所以這種
手動(dòng)量測(cè)，人工計(jì)算比對(duì)和人工記錄過(guò)程的方式需要大量的人力工作，且過(guò)程繁瑣復(fù)雜，費(fèi)
時(shí)費(fèi)力，出錯(cuò)的機(jī)率也很高(包括計(jì)算錯(cuò)誤，記錄錯(cuò)誤等)，效率低下。

發(fā)明內(nèi)容鑒于上述問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了一種電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)，不僅大大提高 了測(cè)試效率，節(jié)省了人力，而且出錯(cuò)率低。 為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用了如下的技術(shù)方案一種電子元件自動(dòng)化量 測(cè)系統(tǒng)，其用以量測(cè)電子元件是否符合規(guī)格，該系統(tǒng)主要包括若干量測(cè)裝置、存儲(chǔ)裝置以及 控制裝置，其中，所述量測(cè)裝置用以對(duì)待測(cè)電子元件進(jìn)行量測(cè)，以得出待測(cè)電子元件的實(shí)際 電氣值；又，所述存儲(chǔ)裝置用以存儲(chǔ)待測(cè)電子元件的信息和該量測(cè)裝置進(jìn)行量測(cè)后的待測(cè) 電子元件的實(shí)際電氣值；此外，所述控制裝置，其一端與該量測(cè)裝置連接，其另一端與存儲(chǔ) 裝置連接，該控制裝置主要包括設(shè)定單元、控制單元、比較判斷單元及顯示單元，所述設(shè)定 單元用以設(shè)定待測(cè)電子元件的信息，所述控制單元根據(jù)設(shè)定單元設(shè)定的待測(cè)電子元件的信 息選擇對(duì)應(yīng)的量測(cè)裝置進(jìn)行量測(cè)，以得到待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值；所述比較判斷單元 讀取該量測(cè)裝置量測(cè)后得到的待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值，將該實(shí)際電氣值與存儲(chǔ)裝置內(nèi) 存儲(chǔ)的待測(cè)電子元件的標(biāo)準(zhǔn)電氣值作比較，從而判斷該待測(cè)電子元件是否符合規(guī)格，所述 顯示單元用以顯示判斷結(jié)果。 較佳的，本實(shí)用新型提供了一種電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)，其中，所述設(shè)定單元設(shè) 定的待測(cè)電子元件的信息包括料號(hào)、類型、描述信息、量測(cè)狀況、標(biāo)準(zhǔn)電氣值、公差上限、公 差下限、量測(cè)電壓以及量測(cè)頻率，又，所述控制單元根據(jù)設(shè)定單元設(shè)定的待測(cè)電子元件的類 型選擇對(duì)應(yīng)的量測(cè)裝置。 相較于先前技術(shù)，本實(shí)用新型提供了一種電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)，不僅出錯(cuò)率 低，嚴(yán)格管控了電子元件的質(zhì)量，且提高了測(cè)試效率，有效節(jié)省了人力。
圖1為本實(shí)用新型的方框示意圖具體實(shí)施方式請(qǐng)參照?qǐng)Dl所示，為本實(shí)用新型的方框示意圖。本實(shí)用新型所述之電子元件自動(dòng) 化量測(cè)系統(tǒng)10，主要用以量測(cè)不同類型的電子元件是否符合規(guī)格。 其中，本實(shí)用新型所述之電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)10主要包括若干量測(cè)裝置
101、控制裝置102以及存儲(chǔ)裝置103，所述若干個(gè)量測(cè)裝置IOI(包括量測(cè)裝置1、量測(cè)裝置
2…量測(cè)裝置n)用以對(duì)應(yīng)量測(cè)各種不同類型的電子元件，所述控制裝置102可為計(jì)算機(jī)，且
該計(jì)算機(jī)內(nèi)可設(shè)置有GPIB工控卡，所述存儲(chǔ)裝置103可為后臺(tái)數(shù)據(jù)庫(kù)服務(wù)器。 又，所述若干量測(cè)裝置101用以對(duì)待測(cè)電子元件進(jìn)行量測(cè)，以得出待測(cè)電子元件
的實(shí)際電氣值。 此外，所述存儲(chǔ)裝置103用以存儲(chǔ)待測(cè)電子元件的信息以及該量測(cè)裝置IOI進(jìn)行 量測(cè)后的待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值。 再者，所述控制裝置102—端與若干量測(cè)裝置101分別連接，其另一端與存儲(chǔ)裝置 103連接，該控制裝置102主要包括設(shè)定單元1021、控制單元1022、比較判斷單元1023及顯 示單元1024。 所述設(shè)定單元1021用以設(shè)定待測(cè)電子元件的信息，該設(shè)定單元1021設(shè)定的待測(cè) 電子元件的信息主要包括料號(hào)、類型、描述信息、量測(cè)狀況、標(biāo)準(zhǔn)電氣值、公差上限、公差下 限、量測(cè)電壓以及量測(cè)頻率等信息，該待測(cè)電子元件的類型可為電感、電容、電阻或其他電 子元件。 所述控制單元1022根據(jù)上述設(shè)定單元1021設(shè)定的待測(cè)電子元件的類型選擇對(duì)應(yīng) 的量測(cè)裝置101進(jìn)行量測(cè)，以得到待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值，例如若待測(cè)電子元件為電 感，則選擇用以量測(cè)電感的量測(cè)裝置101，以得到電感的實(shí)際電氣值。 所述比較判斷單元1023讀取該量測(cè)裝置101量測(cè)得到的待測(cè)電子元件的實(shí)際電
氣值后，計(jì)算該實(shí)際電氣值與存儲(chǔ)裝置103內(nèi)存儲(chǔ)的待測(cè)電子元件的標(biāo)準(zhǔn)電氣值二者之間
的公差并作比較，從而判斷該待測(cè)電子元件是否符合規(guī)格，若二者之間的公差在公差上限
及公差下限之間的范圍內(nèi)，則該待測(cè)電子元件符合規(guī)格，若二者之間的公差超出公差上限
及公差下限，則該待測(cè)電子元件不符合規(guī)格，此外，所述顯示單元1024用以顯示判斷結(jié)果，
測(cè)試人員可直接從顯示單元1024獲知該待測(cè)電子元件是否符合規(guī)格。 本實(shí)用新型所述之電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)10，不僅出錯(cuò)率低，嚴(yán)格管控了各種
不同類型的電子元件的質(zhì)量，而且有效地提高了測(cè)試效率，節(jié)省了人力。
權(quán)利要求一種電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)，其用以測(cè)試電子元件是否符合規(guī)格，其特征在于，該系統(tǒng)主要包括若干對(duì)待測(cè)電子元件進(jìn)行量測(cè)以得出待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值的量測(cè)裝置；用以存儲(chǔ)待測(cè)電子元件的信息和該量測(cè)裝置進(jìn)行量測(cè)后的待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值的存儲(chǔ)裝置；以及控制裝置，其一端與該量測(cè)裝置連接，其另一端與存儲(chǔ)裝置連接，該控制裝置主要包括用以設(shè)定待測(cè)電子元件的信息的設(shè)定單元；根據(jù)設(shè)定單元設(shè)定的待測(cè)電子元件的信息選擇對(duì)應(yīng)的量測(cè)裝置進(jìn)行量測(cè)、以得到待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值的控制單元；用以讀取該量測(cè)裝置量測(cè)后得到的待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值，將該實(shí)際電氣值與存儲(chǔ)裝置內(nèi)存儲(chǔ)的待測(cè)電子元件的標(biāo)準(zhǔn)電氣值作比較，從而判斷該待測(cè)電子元件是否符合規(guī)格的比較判斷單元；及用以顯示判斷結(jié)果的顯示單元。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述設(shè)定單元設(shè)定 的待測(cè)電子元件的信息包括料號(hào)、類型、描述信息、量測(cè)狀況、標(biāo)準(zhǔn)電氣值、公差上限、公差 下限、量測(cè)電壓以及量測(cè)頻率。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述控制單元根據(jù) 設(shè)定單元設(shè)定的待測(cè)電子元件的類型選擇對(duì)應(yīng)的量測(cè)裝置。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種電子元件自動(dòng)化量測(cè)系統(tǒng)，其包括若干量測(cè)裝置、存儲(chǔ)裝置及控制裝置，其中，該量測(cè)裝置用以量測(cè)待測(cè)電子元件以獲取實(shí)際電氣值；又，該存儲(chǔ)裝置用以存儲(chǔ)待測(cè)電子元件的信息和實(shí)際電氣值；此外，該控制裝置，其分別與量測(cè)裝置及存儲(chǔ)裝置連接，該控制裝置包括設(shè)定單元、控制單元、比較判斷單元及顯示單元，所述設(shè)定單元用以設(shè)定待測(cè)電子元件的信息，所述控制單元根據(jù)設(shè)定的信息選擇量測(cè)裝置量測(cè)，以得到待測(cè)電子元件的實(shí)際電氣值；所述比較判斷單元比較該實(shí)際電氣值與標(biāo)準(zhǔn)電氣值，判斷該待測(cè)電子元件是否符合規(guī)格，所述顯示單元用以顯示判斷結(jié)果。本實(shí)用新型不僅出錯(cuò)率低，嚴(yán)格管控了電子元件的質(zhì)量，且提高了測(cè)試效率，有效節(jié)省了人力。
文檔編號(hào)G01R27/26GK201438204SQ200920301609
公開(kāi)日2010年4月14日 申請(qǐng)日期2009年3月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月25日
發(fā)明者周恩枝 申請(qǐng)人:佛山市順德區(qū)順達(dá)電腦廠有限公司