專利名稱：提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù)采樣以及存放能力的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體測試裝置，具體涉及一種半導(dǎo)體測試過程中自動測試設(shè)備的數(shù)據(jù)采樣及存放裝置。
背景技術(shù)：
目前，在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，一般的自動測試設(shè)備(ATE)本身的數(shù)字抓取模塊 DCAP (Digital Capture)存放容量是有限的。特別在數(shù)字抓取模塊DCAP串口芯片的輸出 時(shí)，往往一個(gè)存放位地址只能存放一個(gè)bit的數(shù)據(jù)，導(dǎo)致其他的bit位空閑而浪費(fèi)。如

圖1所示，目前串口輸出被測芯片在測試儀上的數(shù)字抓取模塊DCAP采樣方式， 每個(gè)地址只有1個(gè)bit位被使用。因此，需要找到一種裝置，能夠使空閑的bit位得到充分 的應(yīng)用。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種裝置，它可以提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù) 采樣以及存放能力。為了解決以上技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了一種提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù)采樣以及 存放能力的裝置；包括被測芯片，被測芯片上有串行端口；自動測試設(shè)備，自動控制設(shè)備 上數(shù)字抓取模塊端口 ；所述被測芯片和自動測試設(shè)備之間連接有數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，所述數(shù)據(jù) 轉(zhuǎn)換電路包括高頻采樣時(shí)鐘和寄存器；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路通過高頻采樣時(shí)鐘采集被測芯片的串 口輸出，并存放在一個(gè)高bit位的采樣寄存器中，該寄存器的位數(shù)等于數(shù)字抓取模塊存儲 器每個(gè)地址的bit位數(shù)；所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的輸出端連接到自動控制設(shè)備的數(shù)字抓取模塊 端□。本實(shí)用新型的有益效果在于可以提高自動測試設(shè)備ATE數(shù)字抓取模塊DCAP數(shù)據(jù) 采樣以及存放能力，采用本實(shí)用新型的裝置可以明顯提高自動測試設(shè)備ATE的能力，克服 了因?yàn)橛布旧頂?shù)字抓取模塊DCAP存放器能力不足的問題。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。圖1是現(xiàn)有串口輸出被測芯片在測試儀上的數(shù)字抓取模塊DCAP采樣示意圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例所述的數(shù)字抓取模塊DCAP采樣示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖2所示，應(yīng)用本實(shí)用新型的裝置的數(shù)字抓取模塊DCAP采樣方式，通過一個(gè)數(shù) 據(jù)轉(zhuǎn)換電路，把串口輸出的數(shù)據(jù)根據(jù)需要轉(zhuǎn)換成并口的輸出，之后一起數(shù)字抓取模塊DCAP 采樣到地址中去，提高了數(shù)據(jù)的采樣、存放能力；該方案是一種提高自動測試設(shè)備ATE數(shù)字 抓取模塊DCAP數(shù)據(jù)采樣以及存放能力的裝置。[0011]把該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路插入到自動測試設(shè)備ATE和被測芯片之間，并把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的輸出端子100到IOn分別轉(zhuǎn)換到自動測試設(shè)備ATE的數(shù)字抓取模塊DCAP采樣端子。當(dāng)需要使用數(shù)字抓取模塊DCAP進(jìn)行采樣時(shí)，先通過高頻采樣時(shí)鐘把被測芯片的 串口輸出采集到數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路中，并按照狀態(tài)需要存放在一個(gè)高bit位的采樣寄存器中， 該寄存器的位數(shù)等于數(shù)字抓取模塊DCAP存儲器每個(gè)地址的bit位數(shù)。該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路中狀態(tài)機(jī)共有3個(gè)狀態(tài)，可以根據(jù)情況進(jìn)行選擇。狀態(tài)Sl為默認(rèn)狀態(tài)，該狀態(tài)下，串口進(jìn)來的數(shù)據(jù)直接被存放到采樣寄存器的bitO 中，其他bit不儲存數(shù)據(jù)。狀態(tài)S2為數(shù)字抓取模塊DCAP存儲器最大利用狀態(tài)。該狀態(tài)下，采樣數(shù)據(jù)會依次 填滿采樣寄存器的所有bit位，一旦填滿，在輸出時(shí)鐘的控制下，并口輸出。狀態(tài)S3為可調(diào)節(jié)狀態(tài)，可以根據(jù)串口輸出數(shù)據(jù)的具體特征，自由定義采樣寄存器 的bit位數(shù)，以便數(shù)字抓取模塊DCAP采樣后，數(shù)據(jù)處理更加方便。本實(shí)用新型并不限于上文討論的實(shí)施方式。以上對具體實(shí)施方式
的描述旨在于為 了描述和說明本實(shí)用新型涉及的技術(shù)方案?；诒緦?shí)用新型啟示的顯而易見的變換或替代 也應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。以上的具體實(shí)施方式
用來揭示本實(shí)用新型的最 佳實(shí)施裝置，以使得本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能夠應(yīng)用本實(shí)用新型的多種實(shí)施方式以及多種 替代方式來達(dá)到本實(shí)用新型的目的。
權(quán)利要求一種提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù)采樣以及存放能力的裝置；包括被測芯片，被測芯片上有串行端口；自動測試設(shè)備，自動控制設(shè)備上數(shù)字抓取模塊端口；其特征在于，所述被測芯片和自動測試設(shè)備之間連接有數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路包括高頻采樣時(shí)鐘和寄存器；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路通過高頻采樣時(shí)鐘采集被測芯片的串口輸出，并存放在一個(gè)高bit位的采樣寄存器中，該寄存器的位數(shù)等于數(shù)字抓取模塊存儲器每個(gè)地址的bit位數(shù)；所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的輸出端連接到自動控制設(shè)備的數(shù)字抓取模塊端口。
2.如權(quán)利要求1所述的提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù)采樣以及存放能力的裝置，其特征在 于，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路串口進(jìn)來的數(shù)據(jù)直接被存放到采樣寄存器的bitO中，其他bit位不 儲存數(shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求1所述的提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù)采樣以及存放能力的裝置，其特征在 于，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路采樣數(shù)據(jù)會依次填滿采樣寄存器的所有bit位，一旦填滿，在輸出時(shí) 鐘的控制下，并口輸出。
4.如權(quán)利要求1所述的提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù)采樣以及存放能力的裝置，其特征在 于，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路根據(jù)串口輸出數(shù)據(jù)的具體特征，定義采樣寄存器的bit位數(shù)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種提高數(shù)字抓取模塊數(shù)據(jù)采樣以及存放能力的裝置；包括被測芯片，被測芯片上有串行端口；自動測試設(shè)備，自動控制設(shè)備上數(shù)字抓取模塊端口；所述被測芯片和自動測試設(shè)備之間連接有數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路包括高頻采樣時(shí)鐘和寄存器；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路通過高頻采樣時(shí)鐘采集被測芯片的串口輸出，并存放在一個(gè)高bit位的采樣寄存器中，該寄存器的位數(shù)等于數(shù)字抓取模塊DCAP存儲器每個(gè)地址的bit位數(shù)；所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的輸出端連接到自動控制設(shè)備的數(shù)字抓取模塊端口。本實(shí)用新型可以提高自動測試設(shè)備ATE數(shù)字抓取模塊DCAP數(shù)據(jù)采樣以及存放能力。
文檔編號G01R31/317GK201555932SQ20092007470
公開日2010年8月18日 申請日期2009年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月19日
發(fā)明者桑浚之, 辛吉升 申請人:上海華虹Nec電子有限公司