技術(shù)編號(hào)：5849538
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體測(cè)試裝置，具體涉及一種半導(dǎo)體測(cè)試過程中自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的數(shù)據(jù)采樣及存放裝置。背景技術(shù)目前，在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，一般的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)本身的數(shù)字抓取模塊 DCAP (Digital Capture)存放容量是有限的。特別在數(shù)字抓取模塊DCAP串口芯片的輸出 時(shí)，往往一個(gè)存放位地址只能存放一個(gè)bit的數(shù)據(jù)，導(dǎo)致其他的bit位空閑而浪費(fèi)。如附圖說明圖1所示，目前串口輸出被測(cè)芯片在測(cè)試儀上的數(shù)字抓取模塊DCAP采樣方式， 每個(gè)地址只有1個(gè)b...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。