專利名稱：主板測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，尤其是一種主板測試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
隨著電子科學技術(shù)的發(fā)展，主板已成為各種電器設(shè)備(如計算機)不可缺少的重 要組成部分。由于受到元器件的老化等多種因素的影，若要保證主板在使用時的可靠性，就 必須在出廠時對其進行檢測。以往傳統(tǒng)的檢測方法需要依靠作業(yè)員的手工操作，由于檢測 的范圍廣、功能多，因此，在檢測時常常忙得不可開交，不僅勞動強度大，工作效率低，而且 容易產(chǎn)生人為錯誤，檢測的數(shù)據(jù)也不易管理。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種主板測試系統(tǒng)，其可自動測試主板。鑒于以上內(nèi)容，還有必要提供一種主板測試方法，其可自動測試主板。一種主板測試系統(tǒng)，包括測試電腦和示波器，該測試電腦通過交換機與控制電腦 和示波器相連，該測試電腦包括參數(shù)設(shè)置模塊，用于設(shè)置主板的測試參數(shù)，所述測試參數(shù) 包括待測零件在主板中的坐標位置、待測零件的測試信號序列、每個測試信號需要測試的 項目、每個測試項目的標準值及測試結(jié)果存儲路徑；參數(shù)獲取模塊，用于當測試開始時，獲 取待測零件的測試信號序列及每個測試信號需要測試的項目；探針定位模塊，用于根據(jù)待 測零件在主板中的坐標位置向控制電腦發(fā)出探針定位指令；所述控制電腦根據(jù)該探針定位 指令控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到主板上的待測零件；所述測試電 腦還包括信號測試模塊，用于依次對待測零件的每個測試信號進行測試，獲取示波器采集 到每個測試項目的測試數(shù)據(jù)；所述信號測試模塊，還用于根據(jù)設(shè)定的每個測試項目的標準 值對測試數(shù)據(jù)進行分析，以判斷每個測試項目的測試數(shù)據(jù)是否在設(shè)定的標準值范圍內(nèi)；所 述信號測試模塊，還用于當所有測試信號測試完畢時，匯整所有測試數(shù)據(jù)及分析結(jié)果，并將 其存儲在設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。一種主板測試方法，包括如下步驟于測試電腦中設(shè)置主板測試參數(shù)，所述測試參 數(shù)包括待測零件在主板中的坐標位置、待測零件的測試信號序列、每個測試信號需要測試 的項目、每個測試項目的標準值及測試結(jié)果存儲路徑；當測試開始時，測試電腦獲取待測零 件的測試信號序列及每個測試信號需要測試的項目；測試電腦根據(jù)待測零件在主板中的坐 標位置，通過交換機向控制電腦發(fā)出探針定位指令；控制電腦根據(jù)該探針定位指令控制機 械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到主板上的待測零件；示波器通過交換機將采 集到的每個測試項目的測試數(shù)據(jù)返回至測試電腦；測試電腦依次對待測零件的每個測試信 號進行測試，根據(jù)設(shè)定的每個測試項目的標準值對測試數(shù)據(jù)進行分析，以判斷每個測試項 目的測試數(shù)據(jù)是否在設(shè)定的標準值范圍內(nèi)；當所有測試信號測試完畢時，測試電腦匯整所 有測試數(shù)據(jù)及分析結(jié)果，并將其存儲在設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的主板測試系統(tǒng)及方法，可以自動測試主板，避免了人工作
4業(yè)的錯誤發(fā)生，提高了測試的可靠度及效率。


圖1是本發(fā)明主板測試系統(tǒng)較佳實施例的硬件架構(gòu)圖。圖2是圖1中所示主板測試系統(tǒng)的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明主板測試方法較佳實施例的流程圖。
具體實施例方式如圖1所示，是本發(fā)明主板測試系統(tǒng)較佳實施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖。該系統(tǒng)主要包括 控制電腦1、測試電腦2、示波器3、交換機4、機械手臂5、待測試的主板6。其中，所述控制 電腦1、測試電腦2和示波器3通過交換機4相連，所述測試電腦2中安裝有主板測試系統(tǒng) 20。所述機械手臂5上安裝有探針抓取裝置50，該探針抓取裝置50用于抓取示波器3的探 針。所述主板6放置于測試機臺7上。當測試開始后，主板測試系統(tǒng)20向控制電腦1發(fā)出探針定位指令，所述控制電腦 1根據(jù)該探針定位指令控制機械手臂5的探針抓取裝置50將示波器3的探針定位到主板6 上的待測零件。然后，示波器3將測試到的數(shù)據(jù)通過交換機4返回至測試電腦2。測試電腦 2中的主板測試系統(tǒng)20對該測試數(shù)據(jù)進行分析處理。如圖2所示，是圖1中所示主板測試系統(tǒng)20的功能模塊圖。所述主板測試系統(tǒng)20 包括參數(shù)設(shè)置模塊201、參數(shù)獲取模塊202、探針定位模塊203和信號測試模塊204。本發(fā)明 所稱的模塊是完成一特定功能的計算機程序段，比程序更適合于描述軟件在計算機中的執(zhí) 行過程，因此在本發(fā)明以下對軟件描述中都以模塊描述。其中，所述參數(shù)設(shè)置模塊201用于設(shè)置主板6的測試參數(shù)，并將該測試參數(shù)存儲在 測試電腦2的存儲器中(如硬盤)。所述測試參數(shù)包括待測零件在主板6中的坐標位置、 待測零件的測試信號序列、每個測試信號需要測試的項目、每個測試項目的標準值及測試 結(jié)果存儲路徑等。其中，待測零件的測試信號序列包括電壓信號、周期頻率信號及電壓維持 高電平的時間等。例如，電壓信號的測試項目包括過沖(Overshoot)、下沖(Undershoot)、 斜率(Slew Rate)、上升時間(Rise Time)、下降時間(Fall Time)或占空比失真(DutyCycle Distortion)等。在本實施例中，以測試主板6上一個零件的信號序列為例進行說明。所述參數(shù)獲取模塊202用于當測試開始時，從存儲器中獲取待測零件的測試信號 序列及每個測試信號需要測試的項目。所述探針定位模塊203用于根據(jù)待測零件在主板6中的坐標位置，計算出該待測 零件到原點的偏移量，并向控制電腦1發(fā)出探針定位指令。其中，該探針定位指令包括待測 零件到原點的偏移量。在本實施例中，以主板6的中心為原點建立坐標系，探針抓取裝置50 的初始位置定位在坐標系原點位置。所述控制電腦1根據(jù)該探針定位指令控制機械手臂5的探針抓取裝置50將示波 器3的探針定位到主板6上的待測零件。假設(shè)待測零件在主板6中的坐標位置為(10，12)， 單位為毫米(mm)，則待測零件到原點的X軸偏移量為10毫米，Y軸偏移量為12毫米。當控 制電腦1接收到探針定位模塊203發(fā)送過來的探針定位指令后，控制機械手臂5的探針抓 取裝置50將示波器3的探針沿X軸正方向移動10毫米，沿Y軸正方向移動12毫米，定位到待測零件在主板6中的坐標位置。待測零件在坐標系中的Z軸坐標為零，控制電腦1將 根據(jù)探針抓取裝置50相對于待測零件的高度控制示波器3的探針沿Z軸方向移動。所述信號測試模塊204用于依次對待測零件的每個測試信號進行測試，獲取示波 器3采集到每個測試項目的測試數(shù)據(jù)，并存儲至設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。例如，設(shè)定測 試結(jié)果存儲路徑為D: \Motherboard\Test。所述信號測試模塊204還用于根據(jù)設(shè)定的每個測試項目的標準值對測試數(shù)據(jù)進 行分析，以判斷每個測試項目的測試數(shù)據(jù)是否在設(shè)定的標準值范圍內(nèi)，并將分析結(jié)果存儲 至設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。例如，設(shè)定待測零件電壓的高電平標準值范圍為[5，30]，單 位為伏特。如果示波器3采集到的電壓高電平為4. 5伏特，則信號測試模塊204判斷該測 試數(shù)據(jù)不合格。所述信號測試模塊204還用于判斷所有測試信號是否測試完畢，如果還有測試信 號需要測試，則繼續(xù)測試，如果所有測試信號都已測試完畢，則匯整所有測試數(shù)據(jù)并存儲在 設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。如圖3所示，是本發(fā)明主板測試方法較佳實施例的流程圖。步驟S41，參數(shù)設(shè)置模塊201設(shè)置主板6的測試參數(shù)，并將該測試參數(shù)存儲在測試 電腦2的存儲器中。所述測試參數(shù)包括待測零件在主板6中的坐標位置、待測零件的測試 信號序列、每個測試信號需要測試的項目、每個測試項目的標準值及測試結(jié)果存儲路徑等。 其中，待測零件的測試信號序列包括電壓信號、周期頻率信號及電壓維持高電平的時間等。 在本實施例中，以測試主板6上一個零件的信號序列為例進行說明。步驟S42，當測試開始時，參數(shù)獲取模塊202從存儲器中獲取待測零件的測試信號 序列及每個測試信號需要測試的項目。步驟S43，探針定位模塊203根據(jù)待測零件在主板6中的坐標位置，計算出該待測 零件到原點的偏移量，并向控制電腦1發(fā)出探針定位指令。其中，該探針定位指令包括待測 零件到原點的偏移量。在本實施例中，所述坐標位置是以主板6的中心為原點建立坐標系 來確定，探針抓取裝置50的初始位置定位在坐標系原點位置。所述控制電腦1根據(jù)該探針定位指令控制機械手臂5的探針抓取裝置50將示波 器3的探針定位到主板6上的待測零件。步驟S44，信號測試模塊204依次對待測零件的每個測試信號進行測試。步驟S45，信號測試模塊204獲取示波器3采集到每個測試項目的測試數(shù)據(jù)，并存 儲至設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。例如，設(shè)定測試結(jié)果存儲路徑為D: \Motherboard\Test。步驟S46，信號測試模塊204還用于根據(jù)設(shè)定的每個測試項目的標準值對測試數(shù) 據(jù)進行分析，以判斷每個測試項目的測試數(shù)據(jù)是否在設(shè)定的標準值范圍內(nèi)，并將分析結(jié)果 存儲至設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。例如，設(shè)定電壓維持高電平時間的標準值范圍為[1， 5]，單位為秒。如果示波器3采集到的電壓維持高電平時間為0. 5秒，則信號測試模塊204 判斷該測試數(shù)據(jù)不合格。步驟S47，信號測試模塊204判斷所有測試信號是否測試完畢。如果還有測試信號 需要測試，則流程回到步驟S44，繼續(xù)測試下一個測試信號，如果所有測試信號都已測試完 畢，則執(zhí)行步驟S48。在本實施例中，以變量i記錄測試信號的測試次數(shù)，變量i的初始值等 于1，每測試完一個測試信號，將變量i的值累加1。假設(shè)測試信號序列中的測試信號個數(shù)
6為N，如果i大于等于N，則信號測試模塊204判斷所有測試信號測試完畢。步驟S48，信號測試模塊204匯整所有測試數(shù)據(jù)并存儲在設(shè)定的測試結(jié)果存儲路 徑中。本實施例是以一個待測零件為例進行說明的，如果主板6中包含兩個以上的待測 零件，則當測試完一個待測零件后，探針定位模塊203將根據(jù)下一個待測零件在主板6中的 坐標位置，計算出下一個待測零件到當前坐標位置的偏移量，并向控制電腦1發(fā)出探針定 位指令。其中，該探針定位指令包括待測零件到當前坐標位置的偏移量。所述控制電腦1 根據(jù)該偏移量控制機械手臂5的探針抓取裝置50將示波器3的探針定位到主板6上的下 一個待測零件，開始下一個測試流程，具體過程參閱圖3的描述，在此不在贅述。最后應(yīng)說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照 較佳實施例對本發(fā)明進行了詳細說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解，可以對本發(fā)明的 技術(shù)方案進行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
一種主板測試系統(tǒng)，包括測試電腦和示波器，其特征在于，該測試電腦通過交換機與控制電腦和示波器相連，該測試電腦包括參數(shù)設(shè)置模塊，用于設(shè)置主板的測試參數(shù)，所述測試參數(shù)包括待測零件在主板中的坐標位置、待測零件的測試信號序列、每個測試信號需要測試的項目、每個測試項目的標準值及測試結(jié)果存儲路徑；參數(shù)獲取模塊，用于當測試開始時，獲取待測零件的測試信號序列及每個測試信號需要測試的項目；探針定位模塊，用于根據(jù)待測零件在主板中的坐標位置向控制電腦發(fā)出探針定位指令；所述控制電腦用于根據(jù)該探針定位指令控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到主板上的待測零件；所述測試電腦還包括信號測試模塊，用于依次對待測零件的每個測試信號進行測試，獲取示波器采集到的每個測試項目的測試數(shù)據(jù)；所述信號測試模塊，還用于根據(jù)設(shè)定的每個測試項目的標準值對測試數(shù)據(jù)進行分析，以判斷每個測試項目的測試數(shù)據(jù)是否在設(shè)定的標準值范圍內(nèi)；及所述信號測試模塊，還用于當所有測試信號測試完畢時，匯整所有測試數(shù)據(jù)及分析結(jié)果，并將其存儲在設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。
2.如權(quán)利要求1所述的主板測試系統(tǒng)，其特征在于，待測零件的測試信號序列包括電 壓信號、周期頻率信號及電壓維持高電平的時間。
3.如權(quán)利要求1所述的主板測試系統(tǒng)，其特征在于，所述探針定位模塊根據(jù)待測零件 在主板中的坐標位置向控制電腦發(fā)出探針定位指令包括根據(jù)待測零件在主板中的坐標位置，計算出該待測零件到原點的偏移量，所述的坐標 位置是以主板的中心為原點建立坐標系來確定，探針抓取裝置的初始位置定位在坐標系原 點位置；及向控制電腦發(fā)出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到原點的偏移量。
4.如權(quán)利要求1所述的主板測試系統(tǒng)，其特征在于，所述探針定位模塊還用于當主板中包含兩個以上的待測零件時，如果測試完第一個待測零件后，根據(jù)下一個待 測零件在主板中的坐標位置，計算出下一個待測零件到當前坐標位置的偏移量；及向控制電腦發(fā)出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到當前坐標位置的偏移量。
5.一種主板測試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟于測試電腦中設(shè)置主板測試參數(shù)，所述測試參數(shù)包括待測零件在主板中的坐標位置、 待測零件的測試信號序列、每個測試信號需要測試的項目、每個測試項目的標準值及測試 結(jié)果存儲路徑；當測試開始時，測試電腦獲取待測零件的測試信號序列及每個測試信號需要測試的項目；測試電腦根據(jù)待測零件在主板中的坐標位置，通過交換機向控制電腦發(fā)出探針定位指令；控制電腦根據(jù)該探針定位指令控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到 主板上的待測零件；示波器通過交換機將采集到的每個測試項目的測試數(shù)據(jù)返回至測試電腦； 測試電腦依次對待測零件的每個測試信號進行測試，根據(jù)設(shè)定的每個測試項目的標準 值對測試數(shù)據(jù)進行分析，以判斷每個測試項目的測試數(shù)據(jù)是否在設(shè)定的標準值范圍內(nèi)；及當所有測試信號測試完畢時，測試電腦匯整所有測試數(shù)據(jù)及分析結(jié)果，并將其存儲在 設(shè)定的測試結(jié)果存儲路徑中。
6.如權(quán)利要求5所述的主板測試方法，其特征在于，待測零件的測試信號序列包括電 壓信號、周期頻率信號及電壓維持高電平的時間。
7.如權(quán)利要求5所述的主板測試方法，其特征在于，所述步驟測試電腦根據(jù)待測零件 在主板中的坐標位置，通過交換機向控制電腦發(fā)出探針定位指令包括根據(jù)待測零件在主板中的坐標位置，計算出該待測零件到原點的偏移量，所述的坐標 位置是以主板的中心為原點建立坐標系來確定，探針抓取裝置的初始位置定位在坐標系原 點位置；及向控制電腦發(fā)出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到原點的偏移量。
8.如權(quán)利要求5所述的主板測試方法，其特征在于，還包括步驟當主板中包含兩個以上的待測零件時，如果測試完第一個待測零件后，測試電腦根據(jù) 下一個待測零件在主板中的坐標位置，計算出下一個待測零件到當前坐標位置的偏移量； 及向控制電腦發(fā)出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到當前坐標位置的偏移量。
全文摘要
一種主板測試方法，包括如下步驟設(shè)置測試參數(shù)；獲取待測零件的測試信號序列及每個測試信號需要測試的項目；將示波器的探針定位到主板上待測零件的位置；依次對每個測試信號進行測試；獲取測試數(shù)據(jù)并存儲；對測試數(shù)據(jù)進行分析并存儲；當所有測試信號測試完畢時，匯整所有測試數(shù)據(jù)并存儲。本發(fā)明還提供一種主板測試系統(tǒng)。利用本發(fā)明可以自動測試主板。
文檔編號G01R31/28GK101865975SQ20091030160
公開日2010年10月20日 申請日期2009年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月16日
發(fā)明者李昇軍, 許壽國 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司