專利名稱：一種觸摸屏測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于觸摸屏測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸摸屏測試系統(tǒng)及方法。
技術(shù)背景當(dāng)今，隨著市場的成熟化，企業(yè)與企業(yè)之間的竟?fàn)幵絹碓郊ち?，企業(yè)的單 個產(chǎn)品的利潤越來越少，企業(yè)之間的竟?fàn)幉粌H僅取決與定單的多少，特別是受 到市場的飽和以及金融危機(jī)的影響，成本意識越來越受到企業(yè)的重視，減少了 成本就意味著增加了利潤，減少了產(chǎn)品的制造成本，就更有竟?fàn)幜?，企業(yè)就能 有更好的發(fā)展?，F(xiàn)有技術(shù)中，在觸摸屏檢測技術(shù)領(lǐng)域，檢測觸摸屏的儀器大都是以電腦為 主，利用電腦軟件對觸摸屏進(jìn)行電氣功能性測試，但是這種方法成本高、體積 大、不便攜帶。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種觸摸屏測試系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中 對觸摸屏進(jìn)行電氣功能性測試，成本高、體積大、不便攜帶的問題。本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的， 一種觸摸屏測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括依次連 接的待測觸摸屏，觸摸屏連接模塊、觸摸屏驅(qū)動模塊、單片機(jī)以及顯示模塊。本發(fā)明的另 一 目的在于提供一種觸摸屏測試方法，所述方法包括以下步驟 單片機(jī)驅(qū)動顯示模塊顯示；當(dāng)在待測觸摸屏上有觸摸動作時，觸摸屏驅(qū)動模塊將待測觸摸屏的電阻值 信號發(fā)送到單片機(jī)；單片機(jī)接收觸摸屏驅(qū)動模塊發(fā)出的電阻值信號，并將所述電阻值信號處理為圖片數(shù)據(jù)；單片機(jī)將所述圖片數(shù)據(jù)傳送到顯示模塊顯示。 本發(fā)明通過使用單片機(jī)對待測觸摸屏進(jìn)行檢測，體積小、操作方便、使得 檢測觸摸屏的成本大大降低、極大的提高了檢測效率。


圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的觸摸屏測試系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的觸摸屏測試系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)圖；圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的觸摸屏測試系統(tǒng)機(jī)械結(jié)構(gòu)中PCB的結(jié)構(gòu)圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的觸摸屏測試方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí) 施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅 僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明利用單片機(jī)通過編寫觸摸屏的測試程序，使用觸摸筆在觸摸屏上動 作的同時在顯示模塊上顯示相應(yīng)的圖片來確認(rèn)待測觸摸屏的性能的好壞。請參閱圖1,該圖示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的觸4莫屏測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。該 系統(tǒng)包括單片機(jī)，觸摸屏連接模塊以及顯示模塊。其中，所述單片機(jī)連接觸摸屏驅(qū)動模塊，觸摸屏驅(qū)動模塊連接觸摸屏連接 模塊，當(dāng)觸摸筆在待測觸摸屏上有觸摸動作時，觸摸屏驅(qū)動模塊將待測觸摸屏 的電阻值信號發(fā)送到單片機(jī)。單片機(jī)接收觸摸屏驅(qū)動模塊發(fā)出的電阻值信號，并將所述電阻值信號處理 為圖片數(shù)據(jù)，并將所述圖片數(shù)據(jù)傳送到顯示模塊顯示。在具體實(shí)施過程中，所述單片機(jī)還包括CPU，所述CPU連接觸摸屏驅(qū)動模塊。觸摸屏連接模塊放置待測觸摸屏。優(yōu)選的，本發(fā)明實(shí)施例的單片機(jī)釆用W78E516B單片機(jī)，編寫好的觸摸屏 驅(qū)動IC程序下載到單片機(jī)后，整個系統(tǒng)通電便可進(jìn)入正常使用狀態(tài)。優(yōu)選的，本設(shè)計(jì)采用的觸摸屏驅(qū)動模塊是ADS7846,系統(tǒng)啟動后，CPU接 收觸摸屏驅(qū)動模塊發(fā)送的數(shù)據(jù)，通過軟件編程把觸摸屏的顯示區(qū)域二維的細(xì)分 為n個很小的區(qū)域，每個小的區(qū)域?qū)?yīng)一個X、 Y方向的值，驅(qū)動IC把觸摸屏 對應(yīng)的X, Y的電阻值的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號傳送到CPU, CPU根據(jù)接 收到不同的信號處理后發(fā)送到顯示;f莫塊上顯示不同的畫面。觸摸筆在觸摸屏上動作，顯示模塊顯示相應(yīng)的畫面，檢測人員根據(jù)顯示的 結(jié)果是否與自己在觸摸屏上動作的結(jié)果是否一致直接判斷待測觸摸屏性能的好 壞。在具體實(shí)施過程中，本發(fā)明實(shí)施例的機(jī)械結(jié)構(gòu)請參閱圖2,圖3為圖2中 測試觸摸屏用的印制電路板(Printed Circuit Board, PCB)(即圖2中A)，下 面結(jié)合圖2和圖3伯文詳細(xì)說明。待測觸摸屏放置在觸摸屏連接模塊后，可根據(jù)待測觸摸屏的軟性線路板 (Flexible Printed Circuit, FPC )的PIN腳F的寬度尺寸不同，調(diào)整觸摸屏連接 模塊的PCB上的螺絲G,使待測觸摸屏的FPC的PIN角與觸摸屏連接模塊的 PCB上的金手指I (圖3)完全吻合對應(yīng)后，按下手柄D,使得待測觸摸屏的 FPC的PIN腳F通過壓頭E的壓力與觸摸屏連接模塊的PCB板的上的金手指I (圖3)連接導(dǎo)通，PCB板上的4個金手指I中1、 2、 3、 4分別與左側(cè)4個焊 盤H的1、 2、 3、 4——連接對應(yīng)。其中待測觸摸屏的PIN角定義順序不同可以通過調(diào)整焊接在PCB板上的4 個焊盤H上的4條線來實(shí)現(xiàn)。在觸摸屏上用觸摸筆做動作的同時根據(jù)顯示模塊顯示的畫面是否一致來判 斷觸摸屏的性能是否好壞。本發(fā)明實(shí)施例還提供一種觸摸屏測試方法，請參閱圖4。在步驟S101中，單片機(jī)驅(qū)動顯示模塊顯示。在步驟S102中，當(dāng)在待測觸摸屏上有觸摸動作時，觸摸屏驅(qū)動模塊將待測 觸摸屏的電阻值信號發(fā)送到單片機(jī)。優(yōu)選的，觸摸屏驅(qū)動模塊將待測觸摸屏的電阻值的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信 號發(fā)送到單片機(jī)。在步驟S103中，單片機(jī)接收觸摸屏驅(qū)動模塊發(fā)出的電阻值信號，并將所 述電阻值信號處理為圖片數(shù)據(jù)。在步驟S104中，單片機(jī)將所述圖片數(shù)據(jù)傳送到顯示模塊顯示。本發(fā)明通過使用單片機(jī)對待測觸摸屏進(jìn)行;險測，體積小、操作方便、使得 檢測觸摸屏的成本大大降低、極大的提高了檢測效率。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā) 明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括依次連接的待測觸摸屏，觸摸屏連接模塊、觸摸屏驅(qū)動模塊、單片機(jī)以及顯示模塊。
2、 如權(quán)利要求1所述的觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，所述單片機(jī)為 W78E516B單片機(jī)。
3、 如權(quán)利要求1所述的觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，所述觸摸屏驅(qū)動模 塊為ADS7846驅(qū)動IC。
4、 如權(quán)利要求1所述的觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，所述顯示模塊是 LCD顯示模塊。
5、 一種觸摸屏測試方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟 單片機(jī)驅(qū)動顯示模塊顯示；當(dāng)在待測觸摸屏上有觸摸動作時，觸摸屏驅(qū)動模塊將待測觸摸屏的電阻值 信號發(fā)送到單片機(jī)；單片機(jī)接收觸摸屏驅(qū)動模塊發(fā)出的電阻值信號，并將所述電阻值信號處理 為圖片數(shù)據(jù)；單片機(jī)將所述圖片數(shù)據(jù)傳送到顯示模塊顯示。
6、 如權(quán)利要求5所述的觸摸屏測試方法，其特征在于，所述觸摸屏驅(qū)動模 塊將待測觸摸屏的電阻值信號發(fā)送到單片機(jī)的步驟具體包括觸摸屏驅(qū)動模塊將待測觸摸屏的電阻值的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號發(fā)送到 單片機(jī)。
全文摘要
本發(fā)明適用于觸摸屏測試領(lǐng)域，提供了一種觸摸屏測試系統(tǒng)及方法，所述系統(tǒng)包括依次連接的待測觸摸屏，觸摸屏連接模塊、觸摸屏驅(qū)動模塊、單片機(jī)以及顯示模塊。本發(fā)明觸摸屏測試系統(tǒng)體積小、操作方便、使得檢測觸摸屏的成本大大降低、極大的提高了檢測效率。
文檔編號G01R31/00GK101545937SQ200810241750
公開日2009年9月30日 申請日期2008年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月30日
發(fā)明者溫健賓, 凡 陳 申請人:深圳創(chuàng)維－Rgb電子有限公司