專利名稱：液晶顯示面板的檢測電路與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)一種檢測電路與方法，特別是一種液晶顯示面板的檢測電 路與方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示面板(LCD pand)于出廠之前，所需經(jīng)過的檢測過程，會隨著使 用不同的檢測設(shè)備而需設(shè)計不同的檢測電路的布線。傳統(tǒng)上，不論是哪一種 檢測電路的布線，在一般面板檢測完畢后，皆需采用激光切割的工藝，用以 切斷檢測電路與面板走線，使后續(xù)IC在貼附后，不至于產(chǎn)生信號錯誤的問題。
然而，增加激光切割的工藝除了容易降低產(chǎn)品的產(chǎn)出率之外，在切割時 所產(chǎn)生的微粒也容易污染產(chǎn)品。再者，還須多增加激光切割機(jī)臺的采購成本。 因此，已知技術(shù)中提出在檢測電路中包含控制開關(guān)，于短路布線與掃描線、 數(shù)據(jù)線之間加入控制開關(guān)，而在測試時讓控制開關(guān)導(dǎo)通，待測試結(jié)束后則讓 控制開關(guān)斷路。如此，便可以省去傳統(tǒng)上使用激光切割的步驟，可得到更為 簡化的工藝與降低成本的功效。
利用控制開關(guān)雖可省略檢測完畢后的激光切割工藝，然而由于液晶顯示 面板中具有多條掃描線與數(shù)據(jù)線，而每一條條掃描線與數(shù)據(jù)線便需連接一個 控制開關(guān)，因此檢測電路中需具有多個控制開關(guān)。由于檢測信號是透過控制 開關(guān)然后到達(dá)液晶顯示面板內(nèi)的條掃描線與數(shù)據(jù)線，透過檢測信號而測試掃 描線與數(shù)據(jù)線交集之處，用以控制各個像素(pixd)顯示的薄膜晶體管(thin film transistor, TFT)的運作是否正常。而在控制開關(guān)為龐大的數(shù)目之下，當(dāng)其中某 一個或少數(shù)幾個控制開關(guān)發(fā)生異常時，將使得某幾個像素?zé)o法正常顯示檢測信號，如此容易讓檢測人員或檢測設(shè)備判斷為掃描線、數(shù)據(jù)線或TFT開關(guān)發(fā) 生異常，而造成誤判報廢實際上功能正常的顯示面板。
因此，如何改善已知技術(shù)中液晶顯示面板的檢測電路所衍生的問題，為 一亟待解決的議題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此本發(fā)明提出一種液晶顯示面板的檢測電路與方法。當(dāng)控制開關(guān) 中有某一個發(fā)生異常時，通過本發(fā)明所提出的檢測電路或方法，仍可輕易完 成正常的檢測步驟，不會因為誤判而報廢功能正常的顯示面板，進(jìn)而提升液 晶顯示面板的檢測效率以及產(chǎn)出良率。
本發(fā)明提出一種液晶顯示面板的檢測電路，用以檢測具有多個驅(qū)動單元 與多條信號線的液晶顯示面板，該檢測電路包含多個第一接合墊、多個第二 接合墊、多個控制開關(guān)以及一連接模塊。多個第一接合墊分別對應(yīng)耦接信號 線；多個第二接合墊耦接于至少一個測試墊；多個控制開關(guān)電連接于對應(yīng)的 第一接合墊與第二接合墊之間，用來傳送由測試墊提供的測試信號至液晶顯 示面板內(nèi)；連接模塊配置在控制開關(guān)周圍，當(dāng)控制開關(guān)其中之一發(fā)生異常時， 用來傳送測試信號。
本發(fā)明亦提出一種液晶顯示面板的檢測方法，用以檢測具有多條信號線 的液晶顯示面板，該檢測方法包含下列步驟提供多個第一接合墊，并對應(yīng) 耦接所述多條信號線至所述多個第一接合墊；提供多個第二接合墊，并耦接 于至少一個測試墊；提供多個控制開關(guān)，并通過所述多個控制開關(guān)電連接對
應(yīng)的所述多個第一接合墊與所述多個第二接合墊，傳送由測試墊提供的測試 信號至該液晶顯示面板內(nèi)；以及當(dāng)所述多個控制開關(guān)其中的一控制開關(guān)發(fā)生 異常時，提供一連接模塊取代異常的控制開關(guān)以傳送該測試信號。
可見，應(yīng)用本發(fā)明所述方案后，當(dāng)控制開關(guān)中有某一個發(fā)生異常時，通 過本發(fā)明所提出的檢測電路或方法，仍可輕易完成正常的檢測步驟，不會因為誤判而報廢功能正常的顯示面板，進(jìn)而提升液晶顯示面板的檢測效率以及 產(chǎn)出良率。


圖l:液晶顯示面板的檢測電路的一實施例示意圖； 圖2A:連接模塊電連接控制開關(guān)的第一實施例示意圖； 圖2B:連接模塊電連接控制開關(guān)的第二實施例示意圖； 圖2C:連接模塊電連接控制開關(guān)的第三實施例示意圖； 圖3:液晶顯示面板的檢測方法的流程圖。 附圖標(biāo)號-
10、 10':第一接合墊
20、 20':第二接合墊
30、 30，、 30a、 30b、 30c:測試墊
40、 40，、 40a、 40b、 40c、 40d、 40e、 40f:控制開關(guān)
42:第三端
50、 50':連接模塊
52:短路線 54:備用開關(guān) 60:液晶顯示面板 62:信號線
622:數(shù)據(jù)線 624:掃描線
64:驅(qū)動單元 70:控制信號墊 80:激光焊接點
具體實施方式
有關(guān)本發(fā)明的較佳實施例及其功效，現(xiàn)配合圖式說明如后。
請參照圖1，該圖所示為液晶顯示面板的檢測電路的一實施例示意圖。本
發(fā)明所提出的液晶顯示面板的檢測電路，用以檢測具有多個驅(qū)動單元64與多 條信號線62的液晶顯示面板60，其中該檢測電路包含第一接合墊IO、 10'、 第二接合墊20、 20'、測試墊30、 30'、控制開關(guān)40、 40'及連接模塊50、 50，。
由圖1所示可知，信號線62包含多條數(shù)據(jù)線622和多條掃描線624。多 個第一接合墊10對應(yīng)耦接于多條掃描線624,多個第二接合墊20耦接于測試 墊30，第一接合墊10與第二接合墊20是用來在后續(xù)工藝中，與例如掃描線 驅(qū)動電路芯片(gate driving IC)耦接用的接合墊。其中，測試墊30用來傳送測 試信號至液晶顯示面板60的掃描線624。在本實施例中，是包含兩個測試墊 30傳送測試信號至掃描線624，且所述多個第二接合墊20是以間隔方式耦接 于兩個測試墊30(換句話說，由上而下的奇數(shù)個接合墊20與偶數(shù)個接合墊20 是分別耦接于不同的測試墊30)。當(dāng)然，在本發(fā)明的其他實施例中，也可以僅 利用一個測試墊30傳送測試信號至掃描線624，此時所有的第二接合墊20是 耦接于同一測試墊30。
相同地，多個第一接合墊10'對應(yīng)耦接于多條數(shù)據(jù)線622，多個第二接合 墊20'耦接于測試墊30'，第一接合墊10'與第二接合墊20'是用來在后續(xù)工藝 中，與例如數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路芯片(data driving IC)耦接用的接合墊。其中，測試 墊30'用來傳送測試信號至液晶顯示面板60的數(shù)據(jù)線622。在本實施例中，是 包含三個測試墊30，傳送測試信號至數(shù)據(jù)線622，且所述多個第二接合墊20， 是以每三個為一個循環(huán)方式耦接于三個測試墊30，(換句話說，由左而右的第 一個、第四個、第七個.,.接合墊20'耦接于其中的一個測試墊30'，第二個、 第五個、第八個...接合墊20，耦接于另一個測試墊30，，而第三個、第六個、 第九個…接合墊20'耦接于剩下的一個測試墊30')。當(dāng)然，在本發(fā)明的其他實 施例中，也可以僅利用一個測試墊30'傳送測試信號至數(shù)據(jù)線622，此時所有 的第二接合墊20'是耦接于同一測試墊30，。多個控制開關(guān)40電連接于第一接合墊10與第二接合墊20之間，用來傳 送由測試墊30所提供的測試信號至液晶顯示面板60的掃描線624，多個控制 開關(guān)40'電連接于第一接合墊10'與第二接合墊20'之間，用來傳送由測試墊 30'所提供的測試信號至液晶顯示面板60的數(shù)據(jù)線622，通過測試信號可檢測 液晶顯示面板60的運作是否正常。其中，控制開關(guān)40、 40'可為晶體管，且 具有源極電極、漏極電極與柵極電極。由圖1所示可知，控制開關(guān)40、 40' 包含第三端42，亦即晶體管中的柵極電極，而第三端42耦接于控制信號墊 70，控制信號墊70用來傳送控制信號以開啟(tum on)或關(guān)閉(tum off)控制開關(guān) 40、 40'。也就是說，當(dāng)液晶顯示面板60于檢測狀態(tài)時，控制信號開啟控制開 關(guān)40、 40'，此時測試信號可順利進(jìn)入液晶顯示面板60內(nèi)，而執(zhí)行檢測的動 作。而當(dāng)液晶顯示面板60檢測完畢后，即可透過控制信號來關(guān)閉控制開關(guān)40、 40'。西此，本發(fā)明所提出的液晶顯示面板的檢測電路于檢測完畢后，不需多 增加激光切割的工藝。在本實施例中，掃描線端的控制開關(guān)40與數(shù)據(jù)線端的 控制開關(guān)40'是耦接至相同控制信號墊70,在本發(fā)明的其他實施例中，亦可提 供例如兩個控制信號墊，此時可將掃描線端的控制開關(guān)40與數(shù)據(jù)線端的控制 開關(guān)40'分別耦接在不同的控制信號墊。
連接模塊50、 50，包含短路線50與備用開關(guān)(dummy switch)54，且配置在 控制開關(guān)40、 40'的周圍，當(dāng)控制開關(guān)40、 40'其中之一發(fā)生異常時，即可通 過連接模塊50、 50'的短路線50或是短路線50與備用開關(guān)54來傳送測試信 號，此點于后將有更詳盡的說明。其中，控制開關(guān)40、 40，的異常情形，可為 斷路或飽和電壓(saturationvoltage)過高，而導(dǎo)致控制開關(guān)40、 40，無法正常導(dǎo) 通(turn on)等多種狀況。
接著針對連接模塊50、 50'電連接控制開關(guān)40、 40'的實施例舉例說明， 底下的實施例，僅擷取圖1中的部分區(qū)塊，重新繪制以作說明。首先，請先 參照圖2A為連接模塊電連接控制開關(guān)的第一實施例示意圖。于此實施例中， 說明利用激光焊接而電連接的控制開關(guān)40是為相鄰的控制開關(guān)40。如圖2A中所示，假設(shè)三個控制開關(guān)40a、 40b、 40c分別傳送由測試墊30所提供的測 試信號到液晶顯示面板60中的信號線62。此時，如果控制開關(guān)40b發(fā)生異常 時，與控制開關(guān)40b連接的信號線62會因所對應(yīng)的控制開關(guān)40b異常，而無 法傳送測試信號，使得該條信號線62無法正常操作導(dǎo)致液晶顯示面板60顯 示異常。此時，可以利用激光焊接的方式，透過本發(fā)明所提出的連接模塊50 中的短路線52，將異常的控制開關(guān)40b與鄰近的控制開關(guān)40a或40c電連接， 如圖中所示，因為短路線52透過激光焊接點80與控制開關(guān)40a、 40b耦接， 通過此電連接控制開關(guān)40a與控制開關(guān)40b。如此，測試信號即可通過控制開 關(guān)40a而傳送至原本與控制開關(guān)40b連接的信號線。在本實施例中，激光焊 接點80較佳是位在第一接合墊10與控制開關(guān)40a、 40b之間，這樣不但可以 使測試信號正常傳送至每一條信號線，且在后續(xù)工藝中，并不會影響掃描線 驅(qū)動電路芯片或是數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路芯片的信號傳輸。
于此須說明，由于短路線52與控制開關(guān)40、第一接合墊10與第二接合 墊20等元件，可配置于電路板中的不同層(layer)，因此在圖中短路線52以虛 線表示。也由于短路線52與控制開關(guān)40是配置于不同層，因此在未經(jīng)過激 光焊接時，是無法導(dǎo)通的。當(dāng)控制開關(guān)40發(fā)生異常時，才適時由例如激光焊 接的方式透過連接模塊50電性導(dǎo)通特定的控制開關(guān)40,而由其他正常的控制 開關(guān)40(如40a、 40c)來取代異常控制開關(guān)(如40b)的功能。
請參照圖2B為連接模塊電連接控制開關(guān)的第二實施例示意圖。于第二實 施例中，說明利用激光焊接而電連接的控制開關(guān)40是為傳送相同測試信號的 控制開關(guān)40。如圖2B中所示，具有三個測試墊30a、 30b、 30c，此三個測試 墊可將外部提供的測試信號經(jīng)由對應(yīng)的控制開關(guān)40a f傳送至對應(yīng)的信號線 62。更進(jìn)一歩地說，測試墊30a與控制開關(guān)40a、 40d耦接，測試墊30b與控 制開關(guān)40b、 40e耦接，測試墊30c與控制開關(guān)40c、 40f耦接，于是數(shù)據(jù)線 62會對應(yīng)接收不同測試墊30a c所傳送的測試信號。假設(shè)，控制開關(guān)40e發(fā) 生異常，此時，連接模塊50通過短路線52將異常的控制開關(guān)40e與同樣傳送測試信號的控制開關(guān)40b電連接。如圖中所示，因為短路線52透過激光焊 接點80會與控制開關(guān)40b、 40e耦接，通過此電連接控制開關(guān)40b與控制開 關(guān)40e。如此，由測試墊30b所傳送的測試信號即可通過控制開關(guān)40b而傳送 至原本與控制開關(guān)40e連接的信號線。
請參照圖2C為連接模塊電連接控制開關(guān)的第三實施例示意圖。于第三實 施例中，連接模塊52中還包含備用開關(guān)54。而于該實施例中，即說明利用激 光焊接而電連接的控制開關(guān)40是為備用開關(guān)54。如圖2C中所示，假設(shè)三個 控制開關(guān)40a、 40b、 40c分別傳送由測試墊30所提供的測試信號到信號線62。 此時，如果控制開關(guān)40a發(fā)生異常，測試信號將無法傳送至與控制開關(guān)40a 耦接的信號線。此時，短路線52透過激光焊接點80會與控制開關(guān)40a、備用 開關(guān)54耦接，通過此電連接控制開關(guān)40a與備用開關(guān)54。如此，由測試墊 30所傳送的測試信號即可通過備用開關(guān)54而傳送至原本與控制開關(guān)40a連接 的信號線。在本實施例中，激光焊接點80較佳是位在第一接合墊10與控制 開關(guān)40a、第一接合墊10與備用開關(guān)54、第二接合墊10與控制開關(guān)40a、第 二接合墊20與備用開關(guān)54之間，這樣不但可以使測試信號正常傳送至每一 條信號線，且在后續(xù)工藝中，并不會影響掃描線驅(qū)動電路芯片或是數(shù)據(jù)線驅(qū) 動電路芯片的信號傳輸。其中，備用開關(guān)54的數(shù)目可依需求而增設(shè)，并不以 單一個備用開關(guān)54為限。
于此須說明，由于短路線52與控制開關(guān)40a、 40b、 40c、備用開關(guān)54等 元件，可配置于電路板中的不同層(layer)，因此在圖中短路線52以虛線表示。 也由于短路線52與控制開關(guān)40a、 40b、 40c、備用開關(guān)54是配置于不同層， 因此在未經(jīng)過激光焊接時，是無法導(dǎo)通的。當(dāng)然，若是短路線52與備用開關(guān) 54于設(shè)計上電性耦接，當(dāng)控制開關(guān)40a發(fā)生異常時，僅需要將控制開關(guān)40a 兩端透過激光焊接與短路線52耦接即可。
此外，上述所舉的實施例，請參照圖l，備用開關(guān)54是設(shè)置于驅(qū)動單元 64的對側(cè)。類似的情況，備用開關(guān)54也可設(shè)置于驅(qū)動單元64的同側(cè)，而為了配合備用開關(guān)54的配置，本發(fā)明所提出的檢測電路，亦即包含第一接合
墊10、第二接合墊20、測試墊30、控制開關(guān)40及連接模塊50，也可同樣隨 著備用開關(guān)54而設(shè)置于驅(qū)動單元64的同側(cè)，甚至可設(shè)置于驅(qū)動單元64之內(nèi)， 而與驅(qū)動單元64整合為一體。
請參照圖3，該圖所示為液晶顯示面板的檢測方法的流程圖，可用以檢測 具有多條信號線的液晶顯示面板，該檢測方法包含下列步驟。
步驟S10:提供多個第一接合墊，并對應(yīng)耦接信號線至所述多個第一接合墊。
步驟S20:提供多個第二接合墊，并耦接于至少一個測試墊。
步驟S30:提供多個控制開關(guān)，并通過控制開關(guān)電連接對應(yīng)的第一接合墊
與第二接合墊，傳送由測試墊提供的測試信號至液晶顯示面板內(nèi)。
步驟S40:當(dāng)控制開關(guān)其中之一發(fā)生異常時，提供連接模塊取代異常的控
制開關(guān)以傳送測試信號。
于步驟S40中可包含下列步驟以激光焊接(laser welding) —短路線，使 所述多個控制開關(guān)的其中一異常開關(guān)與所述多個控制開關(guān)中的其他控制開關(guān) 電連接(如圖2A、圖2B所示)。亦或是，提供至少一個備用開關(guān)；以激光焊接 方式使備用開關(guān)與異常的控制開關(guān)并聯(lián)(如圖2C所示)。
上述的液晶顯示面板的檢測方法，還可包含下列步驟耦接控制開關(guān)的 第三端與備用開關(guān)(當(dāng)連接模塊包含備用開關(guān)時)的第三端以接收一控制信號； 依據(jù)控制信號，開啟(tum on)或關(guān)閉(tum off)控制開關(guān)與備用開關(guān)。
雖然本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容已經(jīng)以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定 本發(fā)明，任何熟悉本領(lǐng)域的相關(guān)技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神所作些許 的更動與潤飾，皆應(yīng)涵蓋于本發(fā)明的范疇內(nèi)，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視附 的權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種液晶顯示面板的檢測電路，用以檢測具有多個驅(qū)動單元與多條信號線的一液晶顯示面板，其特征在于，所述檢測電路包含多個第一接合墊，分別對應(yīng)耦接所述多條信號線；多個第二接合墊，耦接于至少一測試墊；多個控制開關(guān)，電連接于對應(yīng)的所述多個第一接合墊與所述多個第二接合墊之間，用來傳送由所述測試墊提供的一測試信號至所述液晶顯示面板內(nèi)；及一連接模塊，配置在所述多個控制開關(guān)周圍，當(dāng)所述多個控制開關(guān)其中之一發(fā)生異常時，用來傳送所述測試信號。
2、 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板的檢測電路，其特征在于，所述連 接模塊是包含至少一短路線，所述多個控制開關(guān)的其中兩控制開關(guān)是與所述短 路線電連接。
3、 如權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板的檢測電路，其特征在于，所述短 路線是以激光焊接方式短路電連接于所述兩控制開關(guān)的第一接合墊之間以及 短路電連接于所述兩控制開關(guān)的第二接合墊之間。
4、 如權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板的檢測電路，其特征在于，所述測 試墊的數(shù)目是為多個，用以傳送多個測試信號，其中與所述短路線電連接的所 述兩控制開關(guān)是為傳送相同測試信號。
5、 如權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板的檢測電路，其特征在于，所述連 接模塊還包含至少一備用開關(guān)，與所述多個控制開關(guān)并聯(lián)。
6、 如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板的檢測電路，其特征在于，所述備 用開關(guān)是設(shè)置于所述驅(qū)動單元的對側(cè)。
7、 如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板的檢測電路，其特征在于，所述備 用開關(guān)是設(shè)置于所述驅(qū)動單元的同側(cè)。
8、 如權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板的檢測電路，其特征在于，所述控制幵關(guān)包含一第三端，且所述第三端耦接于一控制信號。
9、 一種液晶顯示面板的檢測方法，用以檢測具有多條信號線的一液晶顯 示面板，其特征在于，所述檢測方法包含下列步驟提供多個第一接合墊，并對應(yīng)耦接所述多條信號線至所述多個第一接合墊；提供多個第二接合墊，并耦接于至少一測試墊；提供多個控制開關(guān)，并通過所述多個控制開關(guān)電連接對應(yīng)的所述多個第一 接合墊與所述多個第二接合墊，傳送由所述測試墊提供的一測試信號至所述液 晶 顯示面板內(nèi)；及當(dāng)所述多個控制開關(guān)其中的一所述控制開關(guān)發(fā)生異常時，提供一連接模塊 取代異常的所述控制開關(guān)以傳送所述測試信號。
10、 如權(quán)利要求9所述的液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，提供所 述連接模塊取代異常的所述控制開關(guān)的步驟，包含下列步驟以激光焊接一短路線，使所述多個控制開關(guān)的其中一異常開關(guān)與所述多個 控制開關(guān)中的其他控制開關(guān)電連接。
11、 如權(quán)利要求10所述的液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，提供 所述連接模塊取代異常的控制開關(guān)的步驟，包含下列步驟-提供至少一備用開關(guān)；以激光焊接方式，使所述備用開關(guān)與所述多個控制開關(guān)中的所述異常開關(guān) 電性并聯(lián)。
12、 如權(quán)利要求11所述的液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于，所述 方法還包含下列步驟耦接所述多個控制開關(guān)的一第三端與至少一所述備用開關(guān)的一第三端于 一控制信號；及依據(jù)所述控制信號，開啟或關(guān)閉所述多個控制開關(guān)與至少一所述備用幵關(guān)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種液晶顯示面板的檢測電路與方法。其中，液晶顯示面板的檢測電路用以檢測具有多個驅(qū)動單元與多條信號線的液晶顯示面板，該檢測電路包含多個第一接合墊分別對應(yīng)耦接信號線；多個第二接合墊耦接于至少一個測試墊；多個控制開關(guān)電連接于對應(yīng)的第一接合墊與第二接合墊之間，用來傳送由測試墊提供的測試信號至液晶顯示面板內(nèi)；連接模塊配置在控制開關(guān)周圍，當(dāng)控制開關(guān)其中之一發(fā)生異常時，用來傳送測試信號。
文檔編號G01R31/00GK101303462SQ20081013199
公開日2008年11月12日 申請日期2008年7月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月4日
發(fā)明者劉俊欣, 陳勇志 申請人:友達(dá)光電股份有限公司