專利名稱：液晶顯示裝置的測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示器的制造領(lǐng)域，特別是對面板測試中測試輸入信號 衰減進(jìn)行改善的一種液晶顯示裝置的測試電路。
背景技術(shù)：
目前，薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,簡稱TFT LCD)基于其性能優(yōu)良、大規(guī)模生產(chǎn)特性好、自動化程度 高等優(yōu)點(diǎn)，已迅速超過陰極射線管(Cathode Ray Tube, CRT)的顯示器件而 成為21世紀(jì)的主流產(chǎn) 品o
陣列(Array)面板測試是TFT LCD制造過程中一項(xiàng)基本的工藝，陣列面 板測試通過在玻璃基板上進(jìn)行5層掩膜板(5Mask )或4層掩膜板(4Mask ) 工藝，在玻璃基板上形成TFT結(jié)構(gòu)，在陣列階段結(jié)束后會對基板上所成的每 個TFT開關(guān)進(jìn)行電學(xué)測試。如圖la所示，為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測試電 路的連接示意圖。電學(xué)測試的方法是在像素區(qū)10外圍引出若干條測試引線 20，測試引線20分別連通像素區(qū)10的每條數(shù)據(jù)線30 (DATA)和柵極線40 (GATE),測試時通過焊盤(Pad)將管腳(Pin)與測試引線20連接，達(dá) 到發(fā)送信號的作用。測試過程是先通過柵極線的時鐘脈沖打開TFT，然后 通過數(shù)據(jù)線向像素充電，通過設(shè)備測試部件(Modulator)在像素上方感 應(yīng)電荷，達(dá)到測試的目的。
圖lb為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測試電路的連接放大圖，如圖lb所 示，在現(xiàn)有技術(shù)的面板測試過程中，測試信號是從輸入端串聯(lián)單方向輸入 的，當(dāng)導(dǎo)線較長，電阻較大時，測試輸入信號由一端到另一端的過程中有較大的阻容延遲(RC delay),從而影響了遠(yuǎn)端TFT的充電，導(dǎo)致了電壓 均勻性差，進(jìn)而給準(zhǔn)確測試TFT電學(xué)特性是否完好造成了干擾。而且一旦 測試信號線受阻，如圖la中A點(diǎn)所示，測試信號將無法輸入到余下的柵 極引線，使得測試無法繼續(xù)進(jìn)行。圖lc為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測試電 路的簡略電路圖，如圖lc所示，以19英寸液晶顯示器為例，數(shù)據(jù)線一共 有4320根，與每條數(shù)據(jù)線連接的測試引線密集排布形成多個區(qū)域，每720 根測試引線為一個區(qū)域，則該液晶顯示器一共包含6個區(qū)域。其中，R為 每個區(qū)域上的線電阻，r為區(qū)域之間的線電阻。6個區(qū)域之間采用串聯(lián)連 接，測試信號從輸入端60單向輸入，從圖lc中可以看出，測試信號最先 到達(dá)第一數(shù)據(jù)線70,最后達(dá)到第二數(shù)據(jù)線80,測試信號從輸入端60到第 二數(shù)據(jù)線80的過程中經(jīng)過的線電阻為(6R+5r ),造成的阻容延遲為(6R+5r ) *C。由于區(qū)域間的線電阻近似為區(qū)域上的線電阻的1/3，即R-3r，因此， 現(xiàn)有技術(shù)中測試信號從最先達(dá)到的數(shù)據(jù)線到最后到達(dá)的數(shù)據(jù)線經(jīng)過了 (23*r*C)的阻容延遲。現(xiàn)有技術(shù)中柵極線一端產(chǎn)生的信號衰減與數(shù)據(jù)線 類似，在此不再贅述。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的第一目的是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，而提供一種液晶顯示裝 置的測試電路，實(shí)現(xiàn)在陣列面板測試過程中，減小與數(shù)據(jù)線連接的測試引線 的電阻，降低阻容延遲，減小測試信號到達(dá)數(shù)據(jù)線的衰減，提高數(shù)據(jù)線一端 測試電壓的均勻性。
本發(fā)明的第二目的是提供另外一種液晶顯示裝置的測試電路，實(shí)現(xiàn)在陣 列面板測試過程中，減小與柵極線連接的測試引線的電阻，降低阻容延遲， 減小測試信號到達(dá)柵極線的衰減，提高柵極線一端測試電壓的均勻性。
為實(shí)現(xiàn)上述第一目的，本發(fā)明提供了一種液晶顯示裝置的測試電路，包 括分別與每條數(shù)據(jù)線連接的測試引線，所述測試引線密集排布形成多個區(qū)域，每個區(qū)域并聯(lián)后與至少 一條測試總線連接。
其中，所述數(shù)據(jù)線包括奇數(shù)據(jù)線和偶數(shù)據(jù)線，所述測試引線包括奇測試 引線和偶測試引線，所述奇數(shù)據(jù)線與所述奇測試引線相連，所述偶數(shù)據(jù)線與 所述偶測試引線相連。
本方案通過改變數(shù)據(jù)線一端測試引線的布局，實(shí)現(xiàn)了測試信號在測試 電路中的并聯(lián)輸入，減小了與數(shù)據(jù)線連接的測試引線的電阻，減小了測試 信號的衰減。
為實(shí)現(xiàn)上述第二目的，本發(fā)明還提供了另外一種液晶顯示裝置的測試 電路，包括分別與每條柵極線連接的測試引線，所述測試引線密集排布形成 多個區(qū)域，每個區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測試總線連接。
其中，所述柵極線包括奇柵極線和偶柵極線，所述測試引線包括奇測試 引線和偶測試引線，所述奇柵極線與所述奇測試引線相連，所述偶柵極線與 所述偶測試引線相連。
本方案通過改變柵極線一端測試引線的布局，實(shí)現(xiàn)了測試信號在測試 電路中的并聯(lián)輸入，減小了與柵極線連接的測試引線的電阻，減小了測試 信號的衰減。
下面通過附圖和實(shí)施例，對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。


圖la為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測試電路的連接示意圖； 圖lb為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測試電路的連接放大圖； 圖lc為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測試電路的簡略電路圖； 圖2a為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例一的連接示意圖； 圖2b為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例一的連接放大圖； 圖2c為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例一的簡略電路圖； 圖3a為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例二的連接示意圖；圖3b為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例二的連接放大圖； 圖3c為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例二的簡略電路圖。
具體實(shí)施例方式
實(shí)施例一
如圖2a所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例一的連接示意 圖。本實(shí)施例提供一種液晶顯示裝置的測試電路，包括分別與每條數(shù)據(jù)線103 連接的測試引線102,測試引線102密集排布形成多個區(qū)域105，每個區(qū)域 105并聯(lián)后與至少一條測試總線連接。具體地，以19英寸液晶顯示器為例， 一共有4320根數(shù)據(jù)線103，編號依次為0~4319， 一條數(shù)據(jù)線103連接一 條測試引線102，測試引線102密集排布形成多個區(qū)域105,其中每720 根測試引線102為一個區(qū)域105。與現(xiàn)有技術(shù)中串聯(lián)連接的方式不同，本 發(fā)明實(shí)施例中各個區(qū)域105之間采用并聯(lián)的方式連接到測試總線上。在每 個區(qū)域105中，數(shù)據(jù)線103按照編號的奇偶不同分為奇數(shù)據(jù)線和偶數(shù)據(jù)線， 相應(yīng)地，與奇數(shù)據(jù)線連接的測試引線102為奇測試引線203，與偶數(shù)據(jù)線 連接的測試引線102為偶測試引線202。因此，測試總線可分為奇測試總 線205和偶測試總線204，其中奇測試總線205和奇測試引線203相連接， 偶測試總線204和偶測試引線202相連接，每個區(qū)域內(nèi)部的奇測試引線203 之間也采用并聯(lián)的方式連接，每個區(qū)域內(nèi)部的偶測試引線202之間也采用 并聯(lián)的方式連接。測試信號分別從奇數(shù)據(jù)線輸入端207和偶數(shù)據(jù)線輸入端 206輸入，分別到達(dá)奇測試總線205和偶測試總線204后，雙向輸入到各 區(qū)域105中的數(shù)據(jù)線103中。
如圖2b所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例一的連接放大 圖，圖2b只顯示了測試電路中的兩個區(qū)域105,從圖2b可以看出，每個區(qū) 域105上均存在各導(dǎo)線帶來的電阻，測試信號可以對每個區(qū)域105直接加信 號，將區(qū)域105之間的電阻轉(zhuǎn)移在測試總線上，而測試總線上的電阻不會降低測試信號的均勻性。因此，當(dāng)測試信號從輸入端輸入，在到達(dá)各區(qū)域105 中的數(shù)據(jù)線103的過程中只經(jīng)過各區(qū)域105上的線電阻。再如圖lb所示，現(xiàn) 有技術(shù)的測試電路中測試信號從輸入端到各區(qū)域105數(shù)據(jù)線103的過程中除 了經(jīng)過各區(qū)域105上的線電阻外，還必須經(jīng)過區(qū)域105之間的線電阻。
如圖2c所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例一的簡略電 路圖，本圖也是對上述19英寸液晶顯示器所作的筒化，圖中將6個區(qū)域 包含的測試引線分為并聯(lián)連接的兩組，每組包含3個區(qū)域。測試輸入信號 從輸入端106雙向輸入，雙向分別輸入到左右兩組數(shù)據(jù)線中，以左邊一組 為例，測試信號經(jīng)過一個線電阻R首先到達(dá)第一數(shù)據(jù)線107,此時測試信 號已造成R"的衰減，到達(dá)第二數(shù)據(jù)線108所經(jīng)過的線電阻為(r+R/2)， 又造成了阻容延遲為(R/2+r) *C的信號衰減。其中，R為每個區(qū)域上的 線電阻，r為區(qū)域之間的線電阻，由于區(qū)域間的線電阻近似為區(qū)域上的線 電阻的1/3，即R-3r,因此，本發(fā)明實(shí)施例中測試信號從最先達(dá)到的數(shù)據(jù) 線到最后到達(dá)的數(shù)據(jù)線經(jīng)過了阻容延遲為(5/2*r*C)的衰減，右邊一組 測試信號的衰減同左邊類似，在此不再贅述。
再如圖lc所示，現(xiàn)有技術(shù)的測試電路中測試信號從輸入端60到第二 數(shù)據(jù)線80的過程中造成的阻容延遲為23*r*C，因此，改進(jìn)后的測試電路 的信號衰減比現(xiàn)有技術(shù)中測試電路的信號衰減明顯減少了 ，只為現(xiàn)有技術(shù) 的17. 4%。
本發(fā)明實(shí)施例通過改變測試電路中數(shù)據(jù)線一端的輸入信號布局，由串 聯(lián)改為并聯(lián)，并且雙向輸入測試信號，明顯改善了信號衰減現(xiàn)象，從而使 得對像素的充電更加均勻，測試效果更好。同時，由于線路之間均采用并 聯(lián)連接，即使一路測試信號線受損，其他并聯(lián)的信號線仍然能對相對應(yīng)的 數(shù)據(jù)線加信號，可以最小程度上減小不能測試的區(qū)域，保證良好的測試效 果。
本發(fā)明實(shí)施例還可以采用多路相同的測試輸入信號輸入，為每個測試總線各提供 一 個測試輸入信號，可以達(dá)到與上述實(shí)施例相同的效果。 實(shí)施例二
如圖3a所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例二的連接示意 圖。本發(fā)明實(shí)施例提供另外一種液晶顯示裝置的測試電路，包括分別與每條 柵極線104連接的測試引線102，測試引線102密集排布形成多個區(qū)域105， 每個區(qū)域105并聯(lián)后與至少一條測試總線連接。具體地，仍以19英寸液 晶顯示器為例， 一條柵極線104連接一條測試引線102,測試引線102密 集排布形成多個區(qū)域105，其中每720根測試引線102為一個區(qū)域105。 本發(fā)明實(shí)施例中各個區(qū)域105之間釆用并聯(lián)的方式連接到測試總線上。在 每個區(qū)域105中，柵極線104按照編號的奇偶不同分為奇柵極線和偶柵極 線，相應(yīng)地，與柵極線連接的測試引線102分為奇測試引線203和偶測試 引線202，與測試引線連接的測試總線也分為奇測試總線205和偶測試總 線204，每個區(qū)域內(nèi)部的奇測試引線203之間以及偶測試引線202之間也 采用并聯(lián)的方式連接。測試信號分別從奇柵極線輸入端301和偶片冊極線輸 入端302輸入，分別到達(dá)奇測試總線205和偶測試總線204后，雙向輸入 到各區(qū)域105中的對冊極線104中。
如圖3b所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例二的連接放大 圖，圖中只顯示了測試電路中的兩個區(qū)域105,從圖3b可以看出，每個區(qū)域 105上均存在各導(dǎo)線帶來的電阻，測試信號可以對每個區(qū)域105直接加信號， 將區(qū)域105之間的電阻轉(zhuǎn)移在測試總線上。因此，當(dāng)測試信號從輸入端輸入， 在到達(dá)各區(qū)域105中的柵極線104的過程中只經(jīng)過各區(qū)域105上的線電阻。
如圖3c所 示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測試電路實(shí)施例二的簡略電 路圖，本圖也是對上述19英寸液晶顯示器所作的簡化，同圖2c類似。根 據(jù)實(shí)施例 一 中對簡化測試電路的分析，本實(shí)施例中測試信號/人最先達(dá)到 的柵極線到最后到達(dá)的柵極線也經(jīng)過了阻容延遲為(5/2*r*C)的衰減。 再如圖lc所示，現(xiàn)有技術(shù)的測試電if各中測試信號從輸入端60到第二數(shù)據(jù)線80的過程中造成的阻容延遲為23*r*C，因此，改進(jìn)后的測試電路的 信號衰減比現(xiàn)有技術(shù)中測試電路的信號衰減明顯減少了 ，只為現(xiàn)有技術(shù)的 17. 4%。
本發(fā)明實(shí)施例通過改變測試電路中柵極線一端的輸入信號布局，由串 聯(lián)改為并聯(lián)，并且雙向輸入測試信號，明顯改善了信號衰減現(xiàn)象，從而使 得對像素的充電更加均勻，測試效果更好。同時，由于線路之間均采用并 聯(lián)連接，即使一路測試信號線受損，其他并聯(lián)的信號線仍然能對相對應(yīng)的 柵極線加信號，可以最大程度上減小不能測試的區(qū)域，保證良好的測試效 果。
本發(fā)明實(shí)施例還可以采用多路相同的測試輸入信號輸入，為每個測試 總線各提供一 個測試輸入信號，可以達(dá)到與上述實(shí)施例相同的效果。
本發(fā)明實(shí)施例也可以將數(shù)據(jù)線 一 端和柵極線 一 端的測試電路均作以 上改進(jìn)，通過改變兩端測試信號的輸入布局，可以進(jìn)一步提高區(qū)域內(nèi)和區(qū) 域相互間的電壓均勻性，進(jìn)一步改善測試效果。
最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對其進(jìn) 行限制，盡管參照較佳實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換， 而這些修改或者等同替換亦不能使修改后的技術(shù)方案脫離本發(fā)明技術(shù)方案的 精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示裝置的測試電路，包括分別與每條數(shù)據(jù)線連接的測試引線，所述測試引線密集排布形成多個區(qū)域，其特征在于每個區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測試總線連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的測試電路，其特征在于所述數(shù) 據(jù)線包括奇數(shù)據(jù)線和偶數(shù)據(jù)線，所述測試引線包括奇測試引線和偶測試引線， 所述奇數(shù)據(jù)線與所述奇測試引線相連，所述偶數(shù)據(jù)線與所述偶測試引線相連。
3. —種液晶顯示裝置的測試電路，包括分別與每條棚-極線連接的測試引 線，所述測試引線密集排布形成多個區(qū)域，其特征在于每個區(qū)域并聯(lián)后與至 少一條測試總線連接。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置的測試電路，其特征在于所述柵 極線包括奇柵極線和偶柵極線，所述測試引線包括奇測試引線和偶測試引線， 所述奇沖冊才及線與所述奇測試引線相連，所述偶對冊極線與所述偶測試引線相連。
全文摘要
本發(fā)明公開了液晶顯示裝置的測試電路，其中一種測試電路包括分別與每條數(shù)據(jù)線連接的測試引線，測試引線密集排布形成多個區(qū)域，每個區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測試總線連接。另一種測試電路包括分別與每條柵極線連接的測試引線，測試引線密集排布形成多個區(qū)域，每個區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測試總線連接。本發(fā)明通過改變測試電路中數(shù)據(jù)線或柵極線一端的輸入信號布局，使得測試信號并聯(lián)雙向輸入，改善了測試輸入信號的衰減，本發(fā)明無需改變設(shè)備軟硬件結(jié)構(gòu)和工藝過程，結(jié)構(gòu)簡單，易于實(shí)現(xiàn)。
文檔編號G01R31/00GK101556383SQ20081010387
公開日2009年10月14日 申請日期2008年4月11日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月11日
發(fā)明者崢 王 申請人:北京京東方光電科技有限公司