專利名稱：顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及諸如液晶顯示器、有機(jī)發(fā)光顯示器、等離子體顯示器 等顯示單元的驅(qū)動(dòng)器。特別是，本發(fā)明涉及諸如列驅(qū)動(dòng)器、源驅(qū)動(dòng)器 或水平驅(qū)動(dòng)器等驅(qū)動(dòng)器。
背景技術(shù)：
由于制造技術(shù)的發(fā)展，近來(lái)，顯示單元的尺寸已經(jīng)變得越來(lái)越大。 具有大尺寸的顯示單元要求驅(qū)動(dòng)器的輸出能夠驅(qū)動(dòng)大容量負(fù)載的能 力。這意味著需要降低驅(qū)動(dòng)器的輸出阻抗。如果輸出阻抗不夠小，就 會(huì)產(chǎn)生諸如缺乏驅(qū)動(dòng)能力、功耗增大或發(fā)熱的問題。
另外，近來(lái)的顯示單元進(jìn)行多灰度顯示，并且已經(jīng)開發(fā)了顯示單 元的多比特驅(qū)動(dòng)器。另外，典型的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器具有數(shù)百個(gè)驅(qū)動(dòng)
輸出，并且包括鎖存電路，電平轉(zhuǎn)換器，D/A轉(zhuǎn)換器以及緩沖放大器。
圖13示出了在根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器中的驅(qū)動(dòng)輸出 電路的實(shí)例。
示于圖13中的驅(qū)動(dòng)器是具有兩個(gè)輸出的輸出電路。顯示單元的驅(qū) 動(dòng)器IO包括鎖存電路11，電平轉(zhuǎn)換器12, D/A轉(zhuǎn)換器13,輸出放大 器15，輸出開關(guān)16以及輸出引腳17。在本實(shí)例中，假設(shè)顯示單元是 液晶顯示器，并且包括極性切換電路14和輸出開關(guān)16。在本實(shí)例中， 在D/A轉(zhuǎn)換器13和輸出放大器15之間設(shè)置極性切換電路14。然而， 可以在輸出放大器15和輸出引腳17之間設(shè)置極性切換電路。在這種 情況下，極性切換電路也可以起輸出開關(guān)的作用。以下，簡(jiǎn)要描述示于圖13中的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的工作情況。鎖 存電路11為每個(gè)驅(qū)動(dòng)輸出保持?jǐn)?shù)字灰度信息，并將該數(shù)字灰度信息作為輸出信號(hào)輸出到電平轉(zhuǎn)換器12。電平轉(zhuǎn)換器12在鎖存電路11和D/A 轉(zhuǎn)換器13之間進(jìn)行電壓電平轉(zhuǎn)換，其中該鎖存電路11是低壓電路， 該D/A轉(zhuǎn)換器13是高壓電路。根據(jù)其數(shù)字值，從電平轉(zhuǎn)換器12輸出 的數(shù)字灰度信息被D/A轉(zhuǎn)換器13轉(zhuǎn)換為具有模擬值的灰度信息信號(hào)。 具有模擬值的灰度信息信號(hào)在預(yù)定周期內(nèi)被極性切換電路14交替地切 換，并輸入到輸出放大器15，其中該模擬值從D/A轉(zhuǎn)換器13輸出。 輸出放大器15將模擬灰度信息信號(hào)放大并在輸出開關(guān)16為ON狀態(tài)時(shí) 將該放大的信號(hào)輸出到輸出引腳17。
在如上所述的多比特驅(qū)動(dòng)器中，測(cè)試可能需要更長(zhǎng)時(shí)間，并且精 度不高。為了克服這些問題，日本未審專利申請(qǐng)公開No.2006-227168 公開了一種技術(shù)以提供一種顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中減少了檢査時(shí)間 并提高了檢查精度。
在公開于日本未審專利申請(qǐng)公開No.2006-227168中的現(xiàn)有技術(shù) 中，驅(qū)動(dòng)器包括選擇鎖存電路的輸出以從預(yù)定比特輸出閂鎖數(shù)據(jù)的選 擇器，以及對(duì)與該預(yù)定比特相對(duì)應(yīng)的電平轉(zhuǎn)換器輸出和灰度電壓輸出 進(jìn)行切換的輸出選擇器。在正常操作中，使選擇器切換以便將灰度電 壓輸出到驅(qū)動(dòng)輸出引腳。在測(cè)試操作中，使選擇器切換以便根據(jù)對(duì)應(yīng) 于該預(yù)定比特的電平轉(zhuǎn)換器的輸出來(lái)輸出電壓(測(cè)試輸出電壓)。
如上所述，具有大尺寸的顯示單元要求驅(qū)動(dòng)器的輸出驅(qū)動(dòng)大容量 負(fù)載的能力。如果驅(qū)動(dòng)器的輸出阻抗不夠小，那么會(huì)導(dǎo)致諸如缺乏驅(qū) 動(dòng)能力、功耗增大或發(fā)熱的問題。
在如日本未審專利申請(qǐng)公開No.2006-227168那樣的現(xiàn)有技術(shù)中， 提供了一種輸出選擇器，其中在正常操作中將灰度電壓輸出到驅(qū)動(dòng)器 的驅(qū)動(dòng)輸出引腳，并且在測(cè)試操作中輸出測(cè)試輸出電壓。這種輸出選擇器需要由晶體管構(gòu)成，因?yàn)樵诩呻娐分袑?shí)現(xiàn)該輸出選擇器。由晶 體管構(gòu)成的開關(guān)具有與其尺寸相應(yīng)的阻抗。因此，如果為了保持大的 驅(qū)動(dòng)能力而使用具有低阻抗的晶體管，那么構(gòu)成選擇器的集成電路的 尺寸增大。另一方面，如果為了避免尺寸增大而使選擇器由小的晶體 管構(gòu)成，那么輸出阻抗增大，并且使驅(qū)動(dòng)輸出負(fù)載的能力缺乏。另外， 如果為了補(bǔ)償驅(qū)動(dòng)能力的缺乏而提高放大器的驅(qū)動(dòng)能力，那么會(huì)導(dǎo)致 諸如功耗增大和發(fā)熱的其他問題。
因此，存在一種在不直接添加選擇器的情況下連接驅(qū)動(dòng)輸出引腳 和測(cè)試信號(hào)的需要，該選擇器是使要求驅(qū)動(dòng)能力的驅(qū)動(dòng)輸出引腳的阻 抗增大的因素之一。
作為現(xiàn)有技術(shù)，存在日本未審專利申請(qǐng)公開No.2006-053480。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其包括保 持灰度信息的鎖存電路，根據(jù)由該鎖存電路所保持的灰度信息輸出模 擬信號(hào)的D/A轉(zhuǎn)換器，設(shè)置在該鎖存電路和該D/A轉(zhuǎn)換器之間的測(cè)試 電路，該測(cè)試電路輸入或輸出關(guān)于該鎖存電路的測(cè)試信號(hào)，在正常操 作中連接該D/A轉(zhuǎn)換器的電壓輸出和驅(qū)動(dòng)器輸出端的開關(guān)，以及在測(cè) 試操作中連接該測(cè)試電路和該驅(qū)動(dòng)器輸出端并在正常操作中使該測(cè)試 電路和該驅(qū)動(dòng)器輸出端斷開的測(cè)試開關(guān)。
根據(jù)本發(fā)明的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，能夠在幾乎或完全不改變?cè)擄@ 示單元的該驅(qū)動(dòng)器的輸出性能的情況下，從該驅(qū)動(dòng)器的輸出端輸出內(nèi)
部電路的測(cè)試結(jié)果并將測(cè)試信號(hào)輸入到該驅(qū)動(dòng)器的輸出端。
根據(jù)本發(fā)明的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，能夠在實(shí)質(zhì)上不使該驅(qū)動(dòng)器的 性能劣化的情況下進(jìn)行測(cè)試。因此，能夠以更容易的方式進(jìn)行測(cè)試， 并且能夠同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間和測(cè)試成本。


結(jié)合附圖，根據(jù)下面某些優(yōu)選的實(shí)施例的描述，本發(fā)明的上述和 其他目的、優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚，其中
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的
實(shí)例；
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的測(cè)試電路的特定結(jié)構(gòu)的實(shí)
例；
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的測(cè)試電路的開關(guān)的特定結(jié)構(gòu) 的實(shí)例；
圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試信號(hào)之間 的關(guān)系的表格；
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的輸出放大器的特定結(jié)構(gòu)的
實(shí)例；
圖6是根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的測(cè)試電路的工作情況的時(shí)序
圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的測(cè)試電路的特定結(jié)構(gòu)的另 一實(shí)例；
圖8示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的
實(shí)例；
圖9示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的顯示單元的輸出放大器的結(jié) 構(gòu)的實(shí)例；
圖10示出了根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu) 的實(shí)例；
圖11示出了根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的顯示單元的輸出放大器的 結(jié)構(gòu)的實(shí)例；
圖12示出了根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu) 的實(shí)例；以及
圖13示出了根據(jù)相關(guān)技術(shù)的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的實(shí)例。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在此處將參考示意性的實(shí)施例描述本發(fā)明。本領(lǐng)域技術(shù)人員將 認(rèn)識(shí)到利用本發(fā)明的教導(dǎo)可以完成許多可替換的實(shí)施例，并且本發(fā)明 并不限于用于示例性目的而描繪的實(shí)施例。
第一實(shí)施例
以下，參考附圖將詳細(xì)描繪應(yīng)用了本發(fā)明的第一特定實(shí)施例。在 第一實(shí)施例中，將本發(fā)明應(yīng)用于顯示單元的驅(qū)動(dòng)器。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的 實(shí)例。注意，示于圖1中的驅(qū)動(dòng)器被應(yīng)用于作為顯示單元的液晶顯示 器。為了簡(jiǎn)化的目的，圖1示出了僅具有兩個(gè)輸出的輸出電路的實(shí)例。
驅(qū)動(dòng)器100包括鎖存電路101，測(cè)試電路102， D/A轉(zhuǎn)換器103， 極性切換電路104，輸出放大器105，輸出開關(guān)106，輸出引腳107， 測(cè)試開關(guān)108，測(cè)試控制器109以及測(cè)試信號(hào)線110。如上所述，第一 實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)器100具有兩個(gè)輸出。因此，當(dāng)需要進(jìn)行區(qū)分的時(shí)候， 對(duì)該結(jié)構(gòu)的每個(gè)信號(hào)給定符號(hào)a或b。
鎖存電路101為每個(gè)驅(qū)動(dòng)輸出保持?jǐn)?shù)字灰度信息，并將該數(shù)字灰 度信息作為輸出信號(hào)輸出到測(cè)試電路102。數(shù)字灰度信息的輸出信號(hào)通 過(guò)數(shù)據(jù)總線DBO至DB7被輸入到測(cè)試電路102。
測(cè)試電路102測(cè)試鎖存電路101的輸出信號(hào)，并被連接到測(cè)試信 號(hào)線110。當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于低電平時(shí)，測(cè)試電路102執(zhí)行正常操作， 并將來(lái)自鎖存電路101的信號(hào)直接輸出到D/A轉(zhuǎn)換器103。當(dāng)測(cè)試切 換信號(hào)處于高電平時(shí)，測(cè)試電路102執(zhí)行測(cè)試操作，并將測(cè)試信號(hào)輸 出到測(cè)試信號(hào)線110，其中該測(cè)試信號(hào)是鎖存電路101的輸出信號(hào)的測(cè) 試信息。測(cè)試電路102的測(cè)試信號(hào)由測(cè)試電路102的結(jié)構(gòu)決定，并且 測(cè)試信號(hào)既可以是輸入信號(hào)，也可以是輸出信號(hào)。測(cè)試數(shù)據(jù)控制測(cè)試電路102的工作情況。典型地從測(cè)試裝置(未示出)將該測(cè)試數(shù)據(jù)輸 入到驅(qū)動(dòng)器100。
鎖存電路101和D/A轉(zhuǎn)換器103由數(shù)據(jù)總線DB0至DB7連接。 為了簡(jiǎn)便起見，符號(hào)"DB0至DB7"既表示數(shù)據(jù)總線的名字，也表示 輸出到數(shù)據(jù)總線的信號(hào)(具有0或1的值)。
圖2示出了測(cè)試電路102的特定結(jié)構(gòu)的實(shí)例1。為了簡(jiǎn)便起見， 圖2僅示出了執(zhí)行測(cè)試操作的測(cè)試電路102的一部分的結(jié)構(gòu)。因此， 盡管沒有具體示出，如上所述，在正常操作中，測(cè)試電路102將來(lái)自 鎖存電路101的信號(hào)直接輸出到D/A轉(zhuǎn)換器103。
如圖2所示，測(cè)試電路102包括開關(guān)SW151至SW157。開關(guān)SW151 至SW157的每一個(gè)具有兩個(gè)輸入端a和b以及一個(gè)輸出端c。將八條 數(shù)據(jù)總線DB0至DB7連接到第一級(jí)開關(guān)SW151至SW154。例如，將 DB0連接到SW151的輸入端a,并且將DBl連接到SW151的輸入端b。 第一級(jí)開關(guān)SW151至SW154的輸出端還連接到第二級(jí)開關(guān)SW155和 SW156的輸入端。第二級(jí)開關(guān)SW155和SW156的輸出端還連接到第 三級(jí)開關(guān)SW157。這些開關(guān)SW151至SW157由測(cè)試數(shù)據(jù)TBO至TB2 控制，以便連接輸出端c以及輸入端a或b。例如，當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)TBO 是0時(shí)，這意味著測(cè)試數(shù)據(jù)處于低電平，開關(guān)SW151至SW154的輸 入端a和輸出端c連接。另一方面，當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)TB0是1時(shí)，這意味 著測(cè)試數(shù)據(jù)處于高電平，輸入端b和輸出端c連接。這也能夠應(yīng)用到測(cè) 試數(shù)據(jù)TBI以及開關(guān)SW155和SW156，或測(cè)試數(shù)據(jù)TB2和開關(guān) SW157。
如圖3所示，開關(guān)SW151至SW157包括CMOS傳輸門TG151和 TG152以及反相器Invl51。傳輸門TG151和TG152并聯(lián)連接，并且輸 入端a和傳輸門TG151連接，輸入端b和傳輸門TG152連接。傳輸門 TG151和152的輸出都連接到輸出端c。另夕卜，測(cè)試數(shù)據(jù)輸入端d和反相器Invl51的輸入彼此連接。傳輸門之一被測(cè)試數(shù)據(jù)輸入端d的輸入 信號(hào)和反相器Inv151的輸出信號(hào)排他地選擇。反相器Invl51的輸入信 號(hào)是測(cè)試數(shù)據(jù)。
第一級(jí)開關(guān)SW151至SW154、第二級(jí)開關(guān)SW155和SW156以及 第三開關(guān)SW157由測(cè)試數(shù)據(jù)TB0、 TBl禾QTB2控帝iJ。注意，測(cè)試數(shù)據(jù) TB0、 TBI和TB2的每一個(gè)是二進(jìn)制信號(hào)。如圖4所示，通過(guò)由測(cè)試 數(shù)據(jù)TB0至TB2構(gòu)成的八個(gè)組合，測(cè)試電路102將從鎖存電路101輸 出的八個(gè)信號(hào)之一作為測(cè)試信號(hào)DB0至DB7之一輸出。
D/A轉(zhuǎn)換器103將從測(cè)試電路102輸出的數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信 號(hào)以輸出該模擬信號(hào)。從D/A轉(zhuǎn)換器103a或103b輸出的模擬輸出信 號(hào)是正電壓輸出信號(hào)或負(fù)電壓輸出信號(hào)。例如，如果D/A轉(zhuǎn)換器103a 輸出正電壓輸出信號(hào)，那么D/A轉(zhuǎn)換器103b就輸出負(fù)電壓輸出信號(hào)。
極性切換電路104是開關(guān)，該開關(guān)用于在一定周期內(nèi)使施加在液 晶像素電極和相對(duì)電極之間的電壓的極性反轉(zhuǎn)以避免由于液晶材料的 特性造成的劣化。因此，通過(guò)極性切換電路104使D/A轉(zhuǎn)換器103a的 正電壓輸出和D/A轉(zhuǎn)換器103b的負(fù)電壓輸出在一定周期內(nèi)切換，以被 輸出到下一級(jí)中的輸出放大器。
輸出放大器105將來(lái)自極性切換電路104的信號(hào)放大以將該放大 了的信號(hào)輸出到輸出開關(guān)106。注意，輸出放大器105a或105b可以用 于正電壓或負(fù)電壓。
圖5示出了輸出放大器105的特定結(jié)構(gòu)。如圖5所示，輸出放大 器105包括輸入級(jí)161和輸出級(jí)162。輸入級(jí)161包括PMOS晶體管 M161和M162， NMOS晶體管M163至M165，以及電容元件C161。 輸出級(jí)162包括PMOS晶體管M166和NMOS晶體管M167。輸入級(jí) 161形成差分放大器，并且通過(guò)極性切換電路104將D/A轉(zhuǎn)換器103a或103b的輸出施加到圖5中的輸入IN+。將輸出級(jí)162的輸出施加到 輸入IN-。盡管示于圖5中的輸出放大器105具有差分輸入結(jié)構(gòu)，但是， 輸出放大器105可以用具有單相輸入的放大器取代。
在測(cè)試操作中，測(cè)試開關(guān)108將測(cè)試信號(hào)線IIO連接到輸出引腳 107。例如，測(cè)試開關(guān)108可以使用CMOS傳輸門。
輸出開關(guān)106是使輸出放大器105與驅(qū)動(dòng)器的輸出引腳107斷開 的開關(guān)。當(dāng)模式不是測(cè)試模式(當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于低電平時(shí))和輸 出控制信號(hào)處于高電平時(shí)，輸出開關(guān)106被連接，而當(dāng)輸出控制信號(hào) 處于低電平時(shí)，輸出開關(guān)106被斷開。在驅(qū)動(dòng)該輸出時(shí)，輸出控制信 號(hào)處于高電平。注意，在使數(shù)據(jù)線的極性即將反轉(zhuǎn)前，面板端之間的 連接被短路以收集面板像素的電荷。此時(shí)，將輸出控制信號(hào)設(shè)置為低 電平，并且將輸出開關(guān)106關(guān)斷。因此，輸出開關(guān)106也具有在此時(shí) 間周期期間有效地收集面板的電荷的功能。
當(dāng)提供有輸出開關(guān)106時(shí)，在測(cè)試操作中測(cè)試控制器109迫使輸 出開關(guān)106斷開。在第一實(shí)施例中，當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平時(shí)， 輸出開關(guān)106也需要被斷開。因此，測(cè)試控制器109由反相器INVlll 和AND電路AND111形成，其中反相器INVlll使測(cè)試切換信號(hào)反相， 輸出控制信號(hào)和來(lái)自反相器INV111的信號(hào)被輸入到AND電路 ANDlll。
在本發(fā)明中，為了簡(jiǎn)便起見，省略了相關(guān)技術(shù)中描述的電平轉(zhuǎn)換 器。這是因?yàn)槟承y(cè)試電路需要在鎖存電路和測(cè)試電路之間具有電平 轉(zhuǎn)換器，而另一些電路在測(cè)試電路和D/A轉(zhuǎn)換器之間具有電平轉(zhuǎn)換器。 這些組合并不涉及本發(fā)明的實(shí)質(zhì)部分，并因此在本發(fā)明中未示出電平 轉(zhuǎn)換器。
現(xiàn)在，將描述根據(jù)第一實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的工作情況。由于在相關(guān)技術(shù)中已經(jīng)進(jìn)行了解釋，因此省略了鎖存電路、D/A轉(zhuǎn)換 器、極性切換電路以及輸出放大器的工作情況的描述。
現(xiàn)在，在測(cè)試切換信號(hào)處于低電平(正常狀態(tài))的情況下進(jìn)行描
述。在正常狀態(tài)下，測(cè)試切換信號(hào)處于低電平，并且因此測(cè)試電路102 將來(lái)自鎖存電路101的信號(hào)直接輸出到D/A轉(zhuǎn)換器103。此時(shí)，測(cè)試 開關(guān)108是斷開狀態(tài)。在正常狀態(tài)下，存在輸出驅(qū)動(dòng)時(shí)間周期和面板 電荷收集時(shí)間周期。在輸出驅(qū)動(dòng)時(shí)間周期中，輸出控制信號(hào)處于高電 平，并且輸出開關(guān)106處于導(dǎo)通狀態(tài)。因此，輸出放大器105和輸出 引腳107連接。其余操作是與相關(guān)技術(shù)中所描述的操作相同的驅(qū)動(dòng)器 操作。
在第一實(shí)施例中，假設(shè)測(cè)試信號(hào)是來(lái)自測(cè)試電路102的輸出信號(hào)。 因?yàn)闇y(cè)試開關(guān)108被斷開，所以從測(cè)試電路102輸出的測(cè)試信號(hào)可以 處于輸出狀態(tài)，或處于高阻抗?fàn)顟B(tài)。另一方面，當(dāng)測(cè)試信號(hào)處于輸入 狀態(tài)時(shí)，因?yàn)橛蓴嚅_測(cè)試開關(guān)造成的高阻抗?fàn)顟B(tài)不是優(yōu)選的，因此測(cè) 試信號(hào)可以被固定到高電平或低電平。當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于低電平時(shí) (正常操作)，如果測(cè)試電路不受到測(cè)試信號(hào)的影響并且測(cè)試信號(hào)并 不影響輸出引腳107，那么測(cè)試開關(guān)可以處于連接狀態(tài)。如果測(cè)試電路 102的測(cè)試信號(hào)具有能夠經(jīng)受從輸出放大器輸出的灰度電壓的耐電壓， 那么上述的連接狀態(tài)可以是導(dǎo)通狀態(tài)。此時(shí)提到的連接狀態(tài)表示的是 能夠傳輸信號(hào)的狀態(tài)。在傳輸中電平可以被改變。此處提到的導(dǎo)通狀 態(tài)表示的是以相對(duì)低的阻抗完成狀態(tài)連接。
現(xiàn)在，將對(duì)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平(測(cè)試狀態(tài))的情況進(jìn)行描 述。在測(cè)試狀態(tài)下，測(cè)試切換信號(hào)處于高電平，并且鎖存電路101的 輸出被輸入到測(cè)試電路102，并且測(cè)試電路102進(jìn)行測(cè)試，并將測(cè)試信 號(hào)輸出到測(cè)試信號(hào)線110。此時(shí)，測(cè)試控制器109迫使輸出開關(guān)106斷 開，而不考慮輸出控制信號(hào)的狀態(tài)。此時(shí)測(cè)試開關(guān)108處于連接狀態(tài)。 因此，輸出引腳107并不從輸出放大器105輸出該輸出灰度電壓，而是輸出測(cè)試信號(hào)。相反，能夠通過(guò)輸出引腳107輸入來(lái)自外部裝置的 測(cè)試控制信號(hào)。
圖6示出了示于圖2的測(cè)試電路102的特定結(jié)構(gòu)的實(shí)例1的操作。 測(cè)試數(shù)據(jù)TBO、 TBI和TB2的每一個(gè)控制形成測(cè)試電路102的第一級(jí) 開關(guān)SW151至SW154、第二級(jí)開關(guān)SW155和SW156以及第三級(jí)開關(guān) 157的輸入端a或b與輸出端c之間的連接。我們此處假設(shè)當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù) 是O時(shí)，這意味著測(cè)試數(shù)據(jù)是低電平，輸入端a與輸出端c連接，并且 當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)是1時(shí)，這意味著在開關(guān)SW151至157中測(cè)試數(shù)據(jù)處于高 電平，輸入端b和輸出端c連接。
測(cè)試數(shù)據(jù)TBO以預(yù)定時(shí)鐘周期重復(fù)二進(jìn)制數(shù)據(jù)0和1。以測(cè)試數(shù) 據(jù)TBO的時(shí)鐘周期的兩倍長(zhǎng)的時(shí)鐘周期，測(cè)試數(shù)據(jù)TBI重復(fù)二進(jìn)制數(shù) 據(jù)0和1。以測(cè)試數(shù)據(jù)TBO的時(shí)鐘周期的三倍長(zhǎng)的時(shí)鐘周期，測(cè)試數(shù) 據(jù)TB2重復(fù)二進(jìn)制數(shù)據(jù)0和1。通過(guò)周期性地改變測(cè)試數(shù)據(jù)TBO、 TBI 和TB2，數(shù)據(jù)總線DB0至DB7的值(作為測(cè)試目標(biāo)的鎖存電路101的 輸出數(shù)據(jù))被順序地從測(cè)試電路102輸出到測(cè)試信號(hào)線110。
取代周期性地改變測(cè)試數(shù)據(jù)TBO至TB2，也可以通過(guò)特定比特組 合將數(shù)據(jù)總線DB0至DB7的值輸出到測(cè)試信號(hào)線110。在這種情況下， 測(cè)試電路102可以指定由測(cè)試數(shù)據(jù)TBO至TB2的三個(gè)比特所選擇的鎖 存電路101的輸出數(shù)據(jù)之一以將該數(shù)據(jù)作為測(cè)試信號(hào)110輸出。例如， 當(dāng)所有的測(cè)試數(shù)據(jù)TBO至TB2都為0時(shí)，輸出數(shù)據(jù)總線DBO作為測(cè)試 信號(hào)。
圖7示出了示于圖1的測(cè)試電路102的特定結(jié)構(gòu)實(shí)例2。測(cè)試電 路102的結(jié)構(gòu)實(shí)例檢測(cè)兩組8比特?cái)?shù)據(jù)之間的匹配或失配。該實(shí)例的 測(cè)試電路102包括X0R電路X0R161至168和NOR電路NOR 161。 如圖7所示，XOR電路XOR161至168具有一個(gè)端和其他端，其中， 將輸出到數(shù)據(jù)總線DB0至DB7的鎖存電路101的8比特?cái)?shù)據(jù)輸入到所述一個(gè)端，而將從測(cè)試裝置(未示出)輸入到驅(qū)動(dòng)器100的8比特測(cè)
試數(shù)據(jù)TB0至TB7輸入到所述其他端。XOR電路X0R161至168的輸 出被輸入到NOR電路NOR 161，并從測(cè)試電路102被作為測(cè)試信號(hào)輸 出到測(cè)試信號(hào)線110。當(dāng)從鎖存電路101輸出的8比特?cái)?shù)據(jù)(測(cè)量值) 和測(cè)試數(shù)據(jù)的8比特?cái)?shù)據(jù)(期望值)完全匹配時(shí)，測(cè)試電路102輸出 "真"值，否則輸出"假"值。在第二實(shí)例中，由于8比特?cái)?shù)據(jù)并行 比較，因此能夠減少測(cè)試時(shí)間。
數(shù)據(jù)總線DB0至DB7和測(cè)試電路102之間的連接被示于圖2和7 中的測(cè)試電路102內(nèi)的測(cè)試切換信號(hào)控制。盡管在圖2和7中并沒有 特別示出控制器，但是，可以通過(guò)在數(shù)據(jù)總線DB0至DB7和測(cè)試電路 102的輸入部之間設(shè)置另一開關(guān)來(lái)實(shí)現(xiàn)該連接。當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高 電平時(shí)，該開關(guān)關(guān)閉，而當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于低電平時(shí)，該開關(guān)打開。
在根據(jù)第一實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)器100中，甚至當(dāng)將測(cè)試電路添加到驅(qū) 動(dòng)器時(shí)，輸出放大器和輸出引腳之間的開關(guān)也不影響驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)能 力。因此，不會(huì)由于輸出阻抗的增大而導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)能力缺乏的問題。另 外，由于不需要提高輸出放大器的驅(qū)動(dòng)能力以補(bǔ)償驅(qū)動(dòng)能力的缺乏， 因此不會(huì)造成增大的功耗或發(fā)熱的問題。
第二實(shí)施例
以下，參考圖8將描述根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng) 器。圖8示出了根據(jù)第二實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的實(shí)例。 被給予與圖1中相同的符號(hào)的結(jié)構(gòu)是與圖1的結(jié)構(gòu)相同或近似的結(jié)構(gòu)。 第一實(shí)施例和第二實(shí)施例之間的差異在于在第二實(shí)施例中輸出放大器 具有輸出使能功能，并且在輸出放大器120和測(cè)試控制器124的結(jié)構(gòu) 上存在差異。
當(dāng)輸出放大器120具有輸出使能功能時(shí)，在測(cè)試操作中測(cè)試控制 器124使輸出放大器120的輸出為高阻抗?fàn)顟B(tài)。換句話說(shuō)，在測(cè)試操'作中使放大器120的輸出級(jí)為去激活狀態(tài)。測(cè)試控制器124由反相器 INV121形成，當(dāng)測(cè)試開關(guān)處于高電平(測(cè)試操作)時(shí)反相器INV121 使測(cè)試切換信號(hào)反相以使放大器120的輸出為高阻抗?fàn)顟B(tài)。
現(xiàn)在，描述放大器120。圖9示出了具有輸出使能功能的放大器 的實(shí)例。如圖9所示，放大器120包括輸出級(jí)121，測(cè)試切換電路122 和輸出級(jí)123。
來(lái)自D/A轉(zhuǎn)換器103的信號(hào)被輸入到輸入級(jí)121。注意，輸入級(jí) 121的特定結(jié)構(gòu)與示于圖5的放大器輸入級(jí)161的結(jié)構(gòu)相同。
測(cè)試切換電路122包括開關(guān)SW121和SW122。根據(jù)測(cè)試切換信號(hào)， SW121對(duì)從輸入級(jí)121輸出的信號(hào)和VDD電壓進(jìn)行切換，SW122對(duì) 從輸入級(jí)121輸出的信號(hào)和接地電壓進(jìn)行切換。當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于 低電平時(shí)，開關(guān)SW121被連接到輸入級(jí)121的輸出側(cè)，而當(dāng)測(cè)試切換 信號(hào)處于高電平時(shí)，開關(guān)SW121被連接到VDD側(cè)。類似的，當(dāng)測(cè)試 切換信號(hào)處于低電平時(shí)，開關(guān)SW122被連接到輸入級(jí)121的輸出側(cè)， 而當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平時(shí)，開關(guān)SW122被連接到地。
輸出級(jí)123包括在VDD和地之間串聯(lián)連接的PMOS晶體管M121 和NMOS晶體管M122。來(lái)自開關(guān)SW121的輸出被輸入到PMOS晶體 管M121的柵極。類似的，來(lái)自開關(guān)SW122的輸出被輸入到NMOS晶 體管M122的柵極。在PMOS晶體管M121和NMOS晶體管M122之 間設(shè)置放大器120的輸出端。
以下，將描述根據(jù)第二實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的工作情況。 除了放大器120和測(cè)試控制器124之外，省略其他結(jié)構(gòu)的描述，因?yàn)?這些結(jié)構(gòu)與在第一實(shí)施例中的那些結(jié)構(gòu)相同。也省略了對(duì)測(cè)試電路102 的特定結(jié)構(gòu)和工作情況的描述。在測(cè)試操作中，測(cè)試切換信號(hào)處于高電平，并且從測(cè)試控制器124
輸出的信號(hào)處于低電平。因此，測(cè)試切換電路122的開關(guān)SW121被連 接到VDD偵U，并且開關(guān)SW122被連接到接地側(cè)。因此，高電平信號(hào) 被輸入到輸出級(jí)123的PMOS晶體管M121的柵極，并且PMOS晶體 管M121被關(guān)斷。另一方面，低電平信號(hào)被輸入到NMOS晶體管M122 的柵極，并且NMOS晶體管M122也被關(guān)斷。因此，輸出級(jí)123的兩 晶體管處于斷開狀態(tài)，并且放大器輸出端處于高阻抗?fàn)顟B(tài)。換句話說(shuō)， 在測(cè)試操作中輸出級(jí)123處于去激活狀態(tài)。此時(shí)，測(cè)試開關(guān)108處于 連接狀態(tài)，并且測(cè)試信號(hào)被連接到輸出引腳107。因此，輸出引腳107 能夠被用于測(cè)試信號(hào)的引腳。
另一方面，在正常操作中，測(cè)試切換信號(hào)處于低電平，并且從測(cè) 試控制器124輸出的信號(hào)處于高電平。因此，測(cè)試切換電路122的開 關(guān)SW121和SW122被連接到輸入級(jí)121的輸出側(cè)。因此，輸入級(jí)121 的輸出信號(hào)被輸入到輸出級(jí)123，并且輸出級(jí)123起反相放大器的作用。 從D/A轉(zhuǎn)換器103輸入到輸出放大器120的信號(hào)被輸出到具有預(yù)定驅(qū) 動(dòng)能力的放大器輸出端。其余的操作與第一實(shí)施例的正常操作相同。
在根據(jù)第二實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)器100中，與在第一實(shí)施例中一樣，甚 至當(dāng)將測(cè)試電路添加到驅(qū)動(dòng)器時(shí)，輸出放大器和輸出引腳之間的開關(guān) 也不影響驅(qū)動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)能力。因此，不會(huì)由于輸出阻抗的增大而導(dǎo)致 驅(qū)動(dòng)能力缺乏的問題。另外，由于不需要提高輸出放大器的驅(qū)動(dòng)能力 以補(bǔ)償驅(qū)動(dòng)能力的缺乏，因此不會(huì)造成增大的功耗或發(fā)熱的問題。
第三實(shí)施例
參考圖10，將描述根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器。 圖IO示出了根據(jù)第三實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的實(shí)例。被給 予與圖1和8相同的符號(hào)的結(jié)構(gòu)表示與圖1和8中的那些結(jié)構(gòu)相同或 近似的結(jié)構(gòu)。測(cè)試電路102的特定結(jié)構(gòu)和工作情況的描述也相同。第 二實(shí)施例和第三實(shí)施例之間的差異在于，在第三實(shí)施例中，輸出放大器的輸出級(jí)的電路被構(gòu)造為測(cè)試信號(hào)的輸出緩沖器。在輸出放大器130 和測(cè)試控制器134的結(jié)構(gòu)方面存在差異。然而，僅當(dāng)測(cè)試電路102的 測(cè)試信號(hào)是輸出信號(hào)時(shí)，第三實(shí)施例才是有效的。
當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平(測(cè)試操作)時(shí)，測(cè)試控制器134將 測(cè)試信號(hào)線110連接到輸出放大器130的輸出級(jí)。因此，測(cè)試控制器 134由使測(cè)試切換信號(hào)反相的反相器INV 131形成。
圖11示出了根據(jù)第三實(shí)施例的放大器130的實(shí)例。在圖11中， 放大器130包括輸入級(jí)131、測(cè)試切換電路132和輸出級(jí)133。輸入級(jí) 131和輸出級(jí)133具有與示于第二實(shí)施例的輸入級(jí)121和輸出級(jí)123相 同的結(jié)構(gòu)，并因此省略其描述。
測(cè)試切換電路132包括開關(guān)SW131和SW132。根據(jù)通過(guò)反相器 INV 131使測(cè)試切換信號(hào)反相所獲得的信號(hào)，開關(guān)SW131和SW132切 換測(cè)試信號(hào)和從輸入級(jí)131輸出的信號(hào)。當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于低電平
(正常操作)時(shí)，開關(guān)SW131被連接到輸入級(jí)131的輸出側(cè)。當(dāng)測(cè)試 切換信號(hào)處于高電平(測(cè)試操作)時(shí)，開關(guān)SW131被連接到測(cè)試信號(hào) 線110側(cè)。類似的，當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于低電平(正常操作)時(shí)，開 關(guān)SW132被連接到輸入級(jí)131的輸出側(cè)。當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平
(測(cè)試操作)時(shí)，開關(guān)SW132被連接到測(cè)試信號(hào)線IIO側(cè)。
接下來(lái)，將描述第三實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的工作情況。然 而，除了形成放大器130的測(cè)試切換電路132之外的結(jié)構(gòu)與第二實(shí)施 例中的相同。因此，省略重復(fù)的描述。在正常操作中的工作情況也與 第二實(shí)施例的相同，并因此省略了重復(fù)描述。
在測(cè)試操作中，測(cè)試切換信號(hào)處于高電平，并且從測(cè)試控制器134 輸出的信號(hào)處于低電平。因此，測(cè)試切換電路132的開關(guān)SW131被連 接到測(cè)試信號(hào)線110側(cè)。類似的，開關(guān)SW132也被連接到測(cè)試信號(hào)線110側(cè)。因此，輸出級(jí)133起輸出測(cè)試信號(hào)的邏輯輸出緩沖器的作用， 并且該信號(hào)被輸出到具有預(yù)定驅(qū)動(dòng)能力的放大器輸出端。
因此，在根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)器中，能夠在測(cè)試操作中
將測(cè)試信號(hào)與輸出引腳107連接。在正常操作中，輸出放大器130和 輸出引腳107之間的關(guān)系等效于沒有測(cè)試電路102的結(jié)構(gòu)。因此，不 存在輸出阻抗增大的問題。另外，通過(guò)由輸出放大器130的輸出級(jí)133 構(gòu)成的強(qiáng)邏輯輸出緩沖器輸出測(cè)試信號(hào)。因此，由于不存在如在第一 和第二實(shí)施例中的驅(qū)動(dòng)器那樣的具有阻抗的測(cè)試開關(guān)，因此能夠在測(cè) 試操作中輸出高速測(cè)試信號(hào)。由此，能夠減少測(cè)試時(shí)間。
第四實(shí)施例
現(xiàn)在，參考圖12，將描述根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例的顯示單元的驅(qū) 動(dòng)器。圖12示出了根據(jù)第四實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的實(shí)例。 被給予與圖1相同的符號(hào)的結(jié)構(gòu)表示與圖1中的那些結(jié)構(gòu)相同或近似 的結(jié)構(gòu)。測(cè)試電路102的特定結(jié)構(gòu)和工作情況的描述也相同。第一實(shí) 施例和第四實(shí)施例之間的差異在于，當(dāng)在D/A轉(zhuǎn)換器103和輸出放大 器105之間設(shè)置切換電路(在本實(shí)例中為極性切換電路104)時(shí)，在測(cè) 試操作中開關(guān)被迫斷開。因此，測(cè)試控制器141和測(cè)試開關(guān)142的結(jié) 構(gòu)與在第一實(shí)施例中的那些結(jié)構(gòu)不同。然而，僅當(dāng)測(cè)試電路的測(cè)試信
號(hào)是輸出信號(hào)時(shí)，第四實(shí)施例才有效。
當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平(測(cè)試操作)時(shí)，測(cè)試控制器141將 極性切換電路關(guān)斷(極性切換電路的控制信號(hào)處于低電平)。因此， 測(cè)試控制器141包括反相器INV 141、反相器INV 142、 AND電路AND 141以及AND電路AND 142。反相器INV 141使測(cè)試切換信號(hào)反相， 并且反相器INV 142使極性切換信號(hào)反相。AND電路AND 141將反相 器INV 142的輸出信號(hào)和極性切換信號(hào)作為輸入信號(hào)輸出到極性切換 電路，并且AND電路AND 142將反相器INV 141的輸出信號(hào)和反相 器INV 142的輸出信號(hào)作為輸入信號(hào)輸出到極性切換電路。當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平(測(cè)試操作)時(shí)，測(cè)試開關(guān)142將測(cè)
試信號(hào)線110連接到輸出放大器105的輸入。
現(xiàn)在，將描述根據(jù)第四實(shí)施例的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器的工作情況。
當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于低電平(正常操作)時(shí)，由反相器INV 141反相 的高電平信號(hào)被輸入到AND電路AND 141和AND 142。因此，極性 切換信號(hào)和通過(guò)使極性切換信號(hào)反相所獲得的信號(hào)被從測(cè)試控制器 141直接輸出，并且工作情況與相關(guān)技術(shù)中的工作情況相同。類似的， 測(cè)試開關(guān)142被關(guān)斷，并且測(cè)試信號(hào)線110和輸出放大器105的輸入 彼此斷開。
另一方面，在測(cè)試控制器141中，當(dāng)測(cè)試切換信號(hào)處于高電平(測(cè) 試操作)時(shí)，由反相器INV 141反相的低電平信號(hào)被輸入到AND電路 AND 141和AND 142。因此，AND電路AND 141和AND 142都輸出 低電平信號(hào)，并且所有極性反轉(zhuǎn)開關(guān)104都處于斷開狀態(tài)。同時(shí)，測(cè) 試開關(guān)142處于ON狀態(tài)，因此測(cè)試信號(hào)線110與輸出放大器105的輸 入端連接。因此，測(cè)試信號(hào)通過(guò)輸出放大器105被輸出到具有預(yù)定驅(qū) 動(dòng)能力的輸出引腳107。
因此，由于在正常操作中輸出放大器105和輸出引腳107之間的 關(guān)系等效于不存在測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)，因此不會(huì)造成輸出阻抗增大的問 題。另外，測(cè)試信號(hào)也通過(guò)輸出放大器輸出。因此，在測(cè)試信號(hào)和輸 出引腳之間不存在如第一實(shí)施例和第二實(shí)施例中的驅(qū)動(dòng)器那樣具有阻 抗的測(cè)試開關(guān)。因此，能夠在測(cè)試操作中輸出高速測(cè)試信號(hào)，這能夠 減少測(cè)試時(shí)間。
顯然本發(fā)明并不限于上面的實(shí)施例，而是在不脫離本發(fā)明的精神 和范圍的情況下可以進(jìn)行修改和改變。例如，該驅(qū)動(dòng)器可以被應(yīng)用到 有機(jī)發(fā)光顯示器，等離子體顯示器，SED等。
權(quán)利要求
1.一種顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，該驅(qū)動(dòng)器包括鎖存電路，該鎖存電路保持灰度信息；D/A轉(zhuǎn)換器，該D/A轉(zhuǎn)換器根據(jù)由所述鎖存電路保持的所述灰度信息輸出模擬信號(hào)；測(cè)試電路，該測(cè)試電路設(shè)置在所述鎖存電路和所述D/A轉(zhuǎn)換器之間，所述測(cè)試電路輸入或輸出關(guān)于所述鎖存電路的測(cè)試信號(hào)；開關(guān)，該開關(guān)在正常操作中連接所述D/A轉(zhuǎn)換器的電壓輸出和驅(qū)動(dòng)器輸出端；以及測(cè)試開關(guān)，該測(cè)試開關(guān)在測(cè)試操作中連接所述測(cè)試電路和所述驅(qū)動(dòng)器輸出端，并且在正常操作中斷開連接所述測(cè)試電路和所述驅(qū)動(dòng)器輸出端。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，進(jìn)一步包括放大所 述模擬信號(hào)的放大器，其中，在測(cè)試操作中所述放大器的輸出級(jí)響應(yīng)于測(cè)試切換信號(hào)變 為去激勵(lì)狀態(tài)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，進(jìn)一步包括放大所 述模擬信號(hào)的放大器，其中，在測(cè)試操作中所述測(cè)試開關(guān)將所述測(cè)試信號(hào)施加到所述放 大器的輸出級(jí)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，所述開關(guān)對(duì) 所述D/A轉(zhuǎn)換器的電壓輸出的極性進(jìn)行切換，以將信號(hào)輸出到所述驅(qū) 動(dòng)器輸出端。
5. 根據(jù)權(quán)利要求所述l的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，根據(jù)輸出控 制信號(hào)控制所述開關(guān)的導(dǎo)通狀態(tài)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，根據(jù)所述測(cè) 試切換信號(hào)控制所述測(cè)試開關(guān)的導(dǎo)通狀態(tài)。
7. —種顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，該驅(qū)動(dòng)器包括 鎖存電路，該鎖存電路保持灰度信息；D/A轉(zhuǎn)換器，該D/A轉(zhuǎn)換器根據(jù)由所述鎖存電路保持的所述灰度 信息輸出模擬信號(hào)；測(cè)試電路，該測(cè)試電路設(shè)置在所述鎖存電路和所述D/A轉(zhuǎn)換器之 間，所述測(cè)試電路輸入或輸出關(guān)于所述鎖存電路的測(cè)試信號(hào)；開關(guān)，該開關(guān)在正常操作中連接所述D/A轉(zhuǎn)換器的正電壓輸出和 第一驅(qū)動(dòng)器輸出端，并連接負(fù)電壓輸出和第二驅(qū)動(dòng)器輸出端；以及測(cè)試開關(guān)，該測(cè)試開關(guān)在測(cè)試操作中連接所述測(cè)試電路以及所述 第一驅(qū)動(dòng)器輸出端和所述第二驅(qū)動(dòng)器輸出端，并且在正常操作中斷開 連接所述測(cè)試電路以及所述第一驅(qū)動(dòng)器輸出端和所述第二驅(qū)動(dòng)器輸出 端。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，進(jìn)一步包括放大所 述模擬信號(hào)的放大器，其中，所述開關(guān)在測(cè)試操作中將輸出級(jí)設(shè)置為去激活狀態(tài)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，進(jìn)一步包括放大所 述模擬信號(hào)的放大器，其中，在測(cè)試操作中所述測(cè)試開關(guān)將所述測(cè)試信號(hào)施加到所述放 大器的輸出級(jí)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，所述開關(guān) 是將所述D/A轉(zhuǎn)換器的正電壓輸出輸出到第一驅(qū)動(dòng)器輸出端，并將所 述D/A轉(zhuǎn)換器的負(fù)電壓輸出輸出到第二驅(qū)動(dòng)器輸出端的切換電路。
11. 一種顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，該驅(qū)動(dòng)器包括 鎖存電路，該鎖存電路保持灰度信息；D/A轉(zhuǎn)換器，該D/A轉(zhuǎn)換器根據(jù)由所述鎖存電路保持的所述灰度信息輸出模擬信號(hào)；總線線路，該總線線路連接所述鎖存電路和所述D/A轉(zhuǎn)換器； 測(cè)試電路，該測(cè)試電路連接到所述總線線路并輸出測(cè)試信號(hào)； 放大器，該放大器放大所述模擬信號(hào)并輸出所放大的模擬信號(hào)； 測(cè)試切換信號(hào)線，該測(cè)試切換信號(hào)線控制所述測(cè)試電路和所述總線線路之間的連接；以及測(cè)試開關(guān)，該測(cè)試開關(guān)響應(yīng)于所述測(cè)試切換信號(hào)控制給所述放大器供應(yīng)所述測(cè)試信號(hào)。
12. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，所述測(cè)試 電路進(jìn)一步連接到測(cè)試數(shù)據(jù)線路，并根據(jù)所述總線線路的數(shù)據(jù)和所述 測(cè)試數(shù)據(jù)線路的數(shù)據(jù)輸出測(cè)試信號(hào)。
13. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，所述測(cè)試 電路進(jìn)一步連接到測(cè)試數(shù)據(jù)線路，并將所述總線線路的所述數(shù)據(jù)與所 述測(cè)試數(shù)據(jù)線路的所述數(shù)據(jù)的比較結(jié)果作為測(cè)試信號(hào)輸出。
14. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，所述測(cè)試 開關(guān)設(shè)置在所述測(cè)試電路和所述放大器的輸出級(jí)之間。
15. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其中，所述測(cè)試 開關(guān)設(shè)置在所述測(cè)試電路和所述放大器的輸入級(jí)之間。
全文摘要
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種顯示單元的驅(qū)動(dòng)器，其包括保持灰度信息的鎖存電路，根據(jù)該鎖存電路保持的灰度信息輸出模擬信號(hào)的D/A轉(zhuǎn)換器，設(shè)置在該鎖存電路和該D/A轉(zhuǎn)換器之間的測(cè)試電路，該測(cè)試電路輸入或輸出關(guān)于該鎖存電路的測(cè)試信號(hào)，在正常操作中將該D/A轉(zhuǎn)換器的電壓輸出與驅(qū)動(dòng)器輸出端連接的開關(guān)，以及在測(cè)試操作中將該測(cè)試電路與該驅(qū)動(dòng)器輸出端連接并且在正常操作中將該測(cè)試電路與該驅(qū)動(dòng)器輸出端斷開的測(cè)試開關(guān)。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101290740SQ20081008709
公開日2008年10月22日 申請(qǐng)日期2008年4月11日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月11日
發(fā)明者堀良彥 申請(qǐng)人:恩益禧電子股份有限公司