專利名稱：可防止電磁干擾的測試治具及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試治具，特別涉及一種可防止電磁干擾的測試治具。
技術(shù)背景已知自動機(jī)臺上的測試裝置并非密閉裝置，因此遇到R/F (Radio Frequency)產(chǎn)品時，為了避免電子元件受外來電磁的干擾，必須改用人工測 試方法來進(jìn)行測試，其造成生產(chǎn)成本的增加且使得產(chǎn)能無法提升。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于提供一種可防止電磁干擾的測試治具，其可設(shè)置 于自動測試機(jī)臺，該測試治具包含殼體、電磁屏蔽材以及測試裝置，該殼體 具有底板、蓋板及多個側(cè)板，該底板具有第一上表面及第一下表面，該蓋板 具有第二上表面、第二下表面以及貫穿該第二上表面與該第二下表面的測試孔，該側(cè)板具有第一表面及第二表面，其設(shè)置于該底板的該第一上表面上以 形成容置空間，該蓋板覆蓋于該容置空間上，該電磁屏蔽材至少形成于該側(cè) 板的該第二表面，該測試裝置設(shè)置于該容置空間內(nèi)，該測試裝置具有線路載 板及插座，該插座電性連接該線路載板。通過該形成有該電i茲屏蔽材的該殼 體的保護(hù)，可防止放置于該測試裝置內(nèi)的電子元件于測試時受到外來電磁的 干擾且該測試治具設(shè)置于該自動測試機(jī)臺，取代已知人工測試以降低生產(chǎn)成 本及提高產(chǎn)能。依本發(fā)明的一種可防止電磁干擾的測試治具主要包含殼體、電磁屏蔽材 以及測試裝置，該殼體具有底板、蓋板及多個側(cè)板，該底板具有第一上表面 及第一下表面，該蓋板具有第二上表面、第二下表面及測試孔，該測試孔貫 穿該第二上表面與該第二下表面，該側(cè)板具有第一表面及第二表面，該側(cè)板 設(shè)置于該底板的該第一上表面上以形成容置空間，該蓋板覆蓋于該容置空間 上，該電》茲屏蔽材至少形成于該側(cè)板的該第二表面，該測試裝置設(shè)置于該容 置空間內(nèi)，該測試裝置具有線路載板及插座，該插座電性連接該線路載板，且該蓋^1的該測試孔顯露出該插座。


圖1為本發(fā)明一具體實施例的一種可防止電磁干擾的測試治具的立體分 解圖。圖2為本發(fā)明一具體實施例的該可防止電磁干擾的測試治具的立體圖。 圖3為本發(fā)明的一具體實施例的該可防止電磁干擾的測試治具的剖面圖。附圖標(biāo)記說明100可防止電;茲干"^尤的測試治具110框架111容置槽120殼體121底板121a第一上表面121b第一下表面122蓋板122a第二上表面122b第二下表面122c測試孔122d凹槽123側(cè)板123a第一表面123b第二表面123c第一開口130電石茲屏蔽材140測試裝置141線路載板142插座150連接座151第二開口160測試壓4反161壓觸元4牛170底座180支撐座S容置空間具體實施方式
請參閱第1至3圖，依據(jù)本發(fā)明的一具體實施例揭示一種可防止電^茲干 擾的測試治具100,其包含框架110、殼體120、電》茲屏蔽材130以及測試裝 置140，在本實施例中，該框架110設(shè)置于自動測試才幾臺(圖未繪出)上， 該框架110具有容置槽111，該殼體120位于該容置槽111內(nèi)，該殼體120 具有底板121、蓋板122及多個側(cè)板123,該底板121具有第一上表面121a 及第一下表面121b，該蓋板122具有第二上表面122a、第二下表面12W及測試孔122c,該測試孔122c貫穿該第二上表面122a與該第二下表面122b， 在本實施例中，該蓋板122的該第二上表面122a形成有凹槽122d,該測試 孔122c位于該凹槽122d內(nèi)，該側(cè)板123具有第一表面123a及第二表面123b, 該側(cè)板123設(shè)置于該底板121的該第一上表面121a上以形成容置空間S，該 電》茲屏蔽材130至少形成于該第二表面123b,優(yōu)選地，該電》茲屏蔽材130 亦形成于該蓋板122的該第二下表面122b及該底板121的該第一上表面 121a,以使該容置空間S完全被該電磁屏蔽材130包圍，該電磁屏蔽材130 的材料選自于納米材料、平面六角鐵氧體、非晶磁性纖維、顆粒膜等，該電 ,茲屏蔽材130可以噴涂、印刷涂布或鋪設(shè)的方法形成，該測試裝置140設(shè)置 于該容置空間S內(nèi)，該測試裝置140具有線^各載板141及插座142,該插座 142電性連接該線^各載板141，該插座142用以測試待測電子元件(圖未繪 出)，在本實施例中，至少一側(cè)板123具有第一開口 123c，該第一開口 123c 用以設(shè)置連接器(圖未繪出)，此外，該測試治具IOO另包含有連接座150、 測試壓板160、底座170及支撐座180,該連接座150具有第二開口 151，該 第二開口 151對應(yīng)該側(cè)板123的該第一開口 123c以固定該連接器，該測試 壓板160具有壓觸元件161,該壓觸元件161可通過該測試孔122c將該待測 電子元件力文置于該插座142內(nèi)并壓觸該待測電子元件，以確保該待測電子元 件與該插座142電性連接，該底座170設(shè)置于該容置空間S內(nèi)，該測試裝置 140設(shè)置于該底座170上，該底座170用以增加該測試裝置140的高度，以 〃使該壓觸元件161順利將該待測電子元件;汰置于該插座142內(nèi)并壓觸至該祠: 測電子元件，該支撐座180設(shè)置于該測試裝置140與該底座170之間，該支 撐座180用以保護(hù)該測試裝置140的該線路載板141上的線路且分散該測試 壓板160下壓時所產(chǎn)生的應(yīng)力。本發(fā)明的該測試治具100的該殼體120為密 閉裝置且形成有該電磁屏蔽材130，故放置于該測試裝置140內(nèi)的電子元件 可受到該殼體120的保護(hù)，以阻隔測試時的外來電磁干擾，再者，由于該測 試治具IOO設(shè)置于該自動測試機(jī)臺，因此可自動進(jìn)行測試，具有降低生產(chǎn)成 本及提高產(chǎn)能的功效。本發(fā)明的測試方法首先為提供自動測試機(jī)臺(圖未繪出)，該自動測試 機(jī)臺設(shè)置有一種可防止電》茲干擾的測試治具100,該可防止電/f茲干擾的測試 治具100包含有框架110、殼體120、電磁屏蔽材130、測試裝置140、連接 座150及測試壓板160，該殼體120設(shè)置于該框架110的容置槽111內(nèi)，該殼體120具有底板121、蓋板122及多個側(cè)板123，其余元件的細(xì)部特征如 上所述，在此不多作贅述，接著，放置待測電子元件(圖未繪出)于該測試 裝置140的插座142內(nèi)，在本實施例中，該測試壓板160的壓觸元件161通 過該蓋板122的測試孔122c將該待測電子元件放置于該插座142內(nèi)并壓觸 該待測電子元件，以確保該待測電子元件與該插座142電性連接，其中至少 一側(cè)板123具有第一開口 123c,該第一開口 123c用以設(shè)置連接器(圖未繪 出)，該連接座150具有第二開口 151,該第二開口 151對應(yīng)該側(cè)板123的該 第一開口 123c以固定該連接器，最后，通過該連接器與該自動測試機(jī)臺連 接以自動進(jìn)行測試。本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求所界定的為準(zhǔn)，本領(lǐng)域技術(shù)人員 在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)所作的任何變化與修改，均屬于本發(fā)明的保 護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種可防止電磁干擾的測試治具，其至少包含殼體，其具有底板、蓋板及多個側(cè)板，該底板具有第一上表面及第一下表面，該蓋板具有第二上表面、第二下表面及測試孔，該測試孔貫穿該第二上表面與該第二下表面，該側(cè)板具有第一表面及第二表面，該側(cè)板設(shè)置于該底板的該第一上表面上以形成容置空間，該蓋板覆蓋于該容置空間上；電磁屏蔽材，其至少形成于該側(cè)板的該第二表面；以及測試裝置，其設(shè)置于該容置空間內(nèi)，該測試裝置具有線路載板及插座，該插座電性連接該線路載板，且該蓋板的該測試孔顯露出該插座。
2、 如權(quán)利要求1所述的可防止電磁干擾的測試治具，其另包含有框架， 該框架具有容置槽，該殼體位于該容置槽內(nèi)。
3、 如權(quán)利要求1所述的可防止電磁干擾的測試治具，其中至少一側(cè)板 具有第一開口，該第一開口用以設(shè)置連接器。
4、 如權(quán)利要求3所述的可防止電磁干擾的測試治具，其另包含有連接 座，該連接座具有第二開口，該第二開口對應(yīng)該側(cè)板的該第一開口并用以固 定該連接器。
5、 如權(quán)利要求1所述的可防止電磁干擾的測試治具，其另包含有測試 壓板，該測試壓板具有壓觸元件，該壓觸元件可通過該測試孔。
6、 如權(quán)利要求1所述的可防止電磁干擾的測試治具，其另包含有底座， 該底座設(shè)置于該容置空間內(nèi)，該測試裝置設(shè)置于該底座上。
7、 如權(quán)利要求6所述的可防止電磁干擾的測試治具，其另包含有支撐 座，該支撐座設(shè)置于該測試裝置與該底座之間。
8、 如權(quán)利要求1所述的可防止電磁干擾的測試治具，其中該電》茲屏蔽材形成于該蓋板的該第二下表面及該底板的該第一上表面。
9、 一種可防止電磁干擾的測試方法，其包含下列步驟提供自動測試機(jī)臺，該自動測試機(jī)臺設(shè)置有可防止電磁干擾的測試治 具，該可防止電磁干擾的測試治具包含殼體，其具有底板、蓋板及多個側(cè)板，該底板具有第一上表面及第 一下表面，該蓋板具有第二上表面、第二下表面及測試孔，該測試孔貫 穿該第二上表面與該第二下表面，該側(cè)板具有第一表面及第二表面，該 側(cè)板設(shè)置于該底板的該第一上表面上以形成容置空間，該蓋板覆蓋于該 容置空間上；電磁屏蔽材，其至少形成于該側(cè)板的該第二表面；以及 測試裝置，其設(shè)置于該容置空間內(nèi)，該測試裝置具有線路載板及插座，該插座電性連接該線路載板，且該蓋板的該測試孔顯露出該插座；以及將待測電子元件放置于該測試裝置的該插座內(nèi)，以進(jìn)行測試。
10、 如權(quán)利要求9所述的可防止電磁干擾的測試方法，其另包含有框架， 該框架具有容置槽，該殼體位于該容置槽內(nèi)。
11、 如權(quán)利要求9所述的可防止電磁干擾的測試方法，其中至少一側(cè)板 具有第一開口，該第一開口用以設(shè)置連接器。
12、 如權(quán)利要求11所述的可防止電^f茲干擾的測試方法，其另包含有連 接座，該連接座具有第二開口，該第二開口對應(yīng)該第一開口并用以固定該連 接器。
13、 如權(quán)利要求9所述的可防止電磁干擾的測試方法，其另包含有測試 壓板，該測試壓板具有壓觸元件，該壓觸元件通過該測試孔。
14、 如權(quán)利要求9所述的可防止電磁干擾的測試方法，其中該電磁屏蔽 材形成于該蓋板的該第二下表面及該底板的該第 一上表面。
15、 如權(quán)利要求9所述的可防止電磁干擾的測試方法，其另包含有利 用測試壓4反通過該測^式孔以壓觸該4寺測電子元4牛。
全文摘要
本發(fā)明公開一種可防止電磁干擾的測試治具及其測試方法。該可防止電磁干擾的測試治具設(shè)置于自動測試機(jī)臺，該測試治具主要包含殼體、電磁屏蔽材以及測試裝置，該殼體具有底板、蓋板及多個側(cè)板，該蓋板具有測試孔，該側(cè)板具有第一表面及第二表面，該側(cè)板設(shè)置于該底板的上表面上以形成容置空間，該蓋板覆蓋于該容置空間上，該電磁屏蔽材至少形成于該側(cè)板的該第二表面，該測試裝置設(shè)置于該容置空間內(nèi)。由于該殼體為密閉裝置且在該殼體內(nèi)形成有該電磁屏蔽材，故放置于該測試裝置內(nèi)的電子元件可受到該殼體的保護(hù)，以阻隔測試時的外來電磁干擾，且由于該測試治具設(shè)置于該自動測試機(jī)臺，取代已知人工測試，具有降低生產(chǎn)成本及提高產(chǎn)能的功效。
文檔編號G01R31/00GK101231307SQ20081007432
公開日2008年7月30日 申請日期2008年2月15日 優(yōu)先權(quán)日2008年2月15日
發(fā)明者廖軍達(dá), 蕭國忠, 詹家華, 許智成, 黃俊源 申請人:日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司