專利名稱：用于電路板測試的測試設(shè)備的模塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于電路板測試的測試設(shè)備的模塊，以及一種用于電路板 測試的設(shè)備。
背景技術(shù)：
用于電路板測試的設(shè)備例如可分別從US 3,564,408及US 4,417,204中獲 知。這些設(shè)備具有接觸板，在接觸板上測試探針布置在基本柵格中。這些測試 探針通過長的線纜連接到測試電路。待測試的電路板放置在測試板上，并且在 電路板與測試板之間可裝配適配器，使得在待測試電路板的各測試點與測試探 針之間形成電接觸。
根據(jù)這種類型的測試設(shè)備已開發(fā)出模塊化的測試設(shè)備，例如專利DE32 40 916C2及DE33 40 180C1所描述的測試設(shè)備。這種類型的測試設(shè)備具有母板， 該母板上放置有垂直布置的模塊，各模塊包括電子測試電路的一部分并且在其 上端具有垂直排列的測試探針。在測試設(shè)備中，數(shù)個這樣的模塊彼此并靠著安 裝，其中，測試探針陣列形成替代接觸板的接觸陣列。從而模塊很好地結(jié)合在 一起，多孔板可位于這些測試探針之上，其中每個測試探針穿過該多孔板中的
一個孔，^v而固定在適當?shù)奈恢谩?br> 接觸陣列的模塊化結(jié)構(gòu)在實踐中證明非常成功。這種模塊化結(jié)構(gòu)的主要優(yōu) 點在于在電路板測試中施加的接觸壓力通過模塊被轉(zhuǎn)移到母板。
從實用新型專利DE 88 06 064 U1獲知另一種測試設(shè)備，其中，接觸陣列 在形式上是模塊化的。這些模塊為條形，各模塊具有例如四行正方形墊或接觸 面。這里公開了將墊以柵格形式布置，該柵格的柵格尺寸為例如0.5至2mm。 具有這樣密集布置的墊的模塊在實踐中證明不成功，因為一方面，由于大量的觸點僅能被極大因而昂貴的評估電子設(shè)備所讀取，另 一方面，DE 88 06 064中 描述的實施例具有垂直放置的電路板，在該垂直放置的電路板的端面上直接形 成觸點，該實施例在連續(xù)生產(chǎn)中帶來了相當大的問題。
EP 0 875 767 A2公開了 一種具有評估電子設(shè)備的測試設(shè)備，該評估電子設(shè) 備具有大量的測試連接。該測試設(shè)備具有由多層電路板構(gòu)成的基本柵格，在該 多層電路板的上側(cè)具有以柵格形式布置的觸點。利用布在基本柵格的電路板中 的掃描通道，這些觸點中的若干觸點彼此電連接。在該基本柵格上放置有適配 器和/或轉(zhuǎn)換器，其上可以放置待測試的電路板。該適配器和/或轉(zhuǎn)換器在電路 板上的電路板測試點與基本柵格的觸點之間形成電接觸。
EP 1 322 967 Bl公開了用于電路板測試的測試設(shè)備的另 一模塊。該模塊具 有帶有觸點的條形部分，其構(gòu)成了測試設(shè)備的基本柵格的一部分。在條形部分 的下面布置有豎直板，該豎直板上安裝有一些用于評估測試信號的評估電子設(shè) 備。條形部分上的觸點以柵格形式布置，該柵格的柵格間距不大于2mm,并且 模塊的至少兩個觸點以使得電連接的觸點與電子設(shè)備單元的單輸入相接觸的 方式4皮此電連接。
EP 1 083 434 A2與US 6,445,173 Bl分別描述了用于電路板測試的另一設(shè) 備，其中，基本柵格由相對于該基本柵格的平面成直角站立的電路板構(gòu)成。這 些電路板被描述為基本柵格電路板，其在位于該基本柵格的平面中的狹窄側(cè)面 上具有觸點，這些觸點代表該基本柵格的接觸元件。這些觸點連接到遍布在基 本柵格電路板的一個側(cè)面的導體路徑。這些基本柵格電路板為多層電路板形 式，其中以彼此成直角布局的導體路徑布置在不同的層次以形成矩陣。在彼此 成直角布局的這些導體路徑的交叉點，這些導體^各徑可利用通孔電連接。利用 這些通孔及矩陣，該基本柵格的所選觸點可彼此電連接，使得彼此連接的觸點 只需要一個通向評估電子設(shè)備的連接。由于該矩陣的導體路徑分布在該基本柵 格電路板的相當大的面積上，因此與從上述的EP 0 875 767 A2獲知的掃描通道 相比較更容易實現(xiàn)。
6以前，市場上可獲得的測試設(shè)備的基本柵格的觸點的最大密度為每平方厘
米62個觸點，對應(yīng)于一個邊長為1.27mm的正方形柵格。
確實市場上也有具有更高觸點密度(兩倍或四倍)的測試設(shè)備。然而，至 今為止，這些測試設(shè)備在技術(shù)上都非常復雜因而比較昂貴，因此只能極少量地制造。
對于具有基本柵格的測試設(shè)備，即并行測試設(shè)備而言，基本柵格觸點的密 度應(yīng)該進一步增加。這使得難以制造這樣的基本柵格，特別是在該基本柵格的 某些觸點相互電連接的情況下。關(guān)于從EP 1 083 434 A2獲知的基本柵格電路 板，在該基本柵格電路板的狹窄側(cè)面上難以制造相鄰如此近的觸點。對于具有 上述基本柵格的模塊，具有相互電連接的觸點，如果期望觸點密度進一步增加， 則難以實現(xiàn)所選觸點的電連4妄。
例如，如果期望觸點的密度加倍(每平方厘米64個觸點)，則不可能使用 現(xiàn)有方法。因此，為了形成依據(jù)EPO 875767 A2的基本柵才各，必需提供具有48 層的基本柵格電路板。使用現(xiàn)在的制造方法，現(xiàn)今不可能可靠地制造這樣的電 路板。對于這樣的電路板，不可能正確制造其所有連接。然而，有缺陷的基本 柵格在測試設(shè)備中是不容許的。
當基本柵格中的觸點密度增加時出現(xiàn)的又一 問題是加載在基本柵格上的 機械壓力增加。該壓力與觸點的數(shù)量成比例。如果觸點加倍，則壓力也會對應(yīng) 增力口。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明基于以下技術(shù)問題制造用于電路板測試的測試設(shè)備的模塊， 其允許基本柵格上的觸點密度增加；同時還利于基本柵格的所選觸點的筒單連接。
該問題通過具有權(quán)利要求1的特征的模塊得以解決。本發(fā)明的有利擴展在 從屬權(quán)利要求中描述。用于測試未組裝電路板的測試設(shè)備的本發(fā)明模塊用于具有基本柵格的測 試設(shè)備，該基本柵格上布置有適配器和/或轉(zhuǎn)換器，以將該基本柵格的觸點與待 測試電路板的電路板測試點連接。該模塊包括支撐板及接觸板。該接觸板由被 描述為基本柵格元件的剛性電路板部分與至少一個柔性電^各板部分構(gòu)成。該基 本柵格元件上提供有多個觸點，各觸點構(gòu)成該基本柵格的觸點的一部分且以每 平方厘米至少100個觸點的密度布置。該基本柵格元件相對于相應(yīng)的支撐板成 直角地安裝在該支撐板的端面，并且柔性電路板部分以使得接觸板的其它部分 的至少 一部分與該支撐板大致平行的方式彎曲。該基本柵才各元件的各觸點與導 體路徑電接觸，該導體路徑布在接觸板中且從基本柵才各元件延伸到柔性電路板 部分中。
因為基本柵格元件由剛性電路板部分制成，所以基本柵格的觸點可以以通 常方式以任何期望的密度設(shè)置。由于基本柵格元件連接到柔性電路板部分，在 該柔性電路板部分中布有連接到基本柵格元件的觸點且延伸到該柔性電路板 部分中的導體路徑，因此在和基本柵格成直角的平面上具有充分的空間可用于 所選導體路徑的相互電連接，進而用于基本柵格的所選觸點的相互電連接。這 些連接也可通過布于接觸板及支撐板或另 一 電路板中的導體路徑的結(jié)合來實 現(xiàn)。由于在和基本柵格的平面成直角的平面中有很多的空間，因此原則上也可 能在沒有單獨的導體路徑、因而對應(yīng)的觸點相互電連接的情況下使得連接到基 本柵格的觸點的導體路徑通向評估電子設(shè)備。然而這樣的實施例的缺點是評估 電子設(shè)備的能力必需增加以與基本柵格的觸點數(shù)量相匹配。
通過設(shè)置柔性電路板部分，連接到觸點的導體路徑從與基本柵格平行的平 面彎曲到與基本柵格大致成直角的平面。容易形成以彼此成直角布局的導體路 徑的矩陣，其中，利用通孔選擇性連接某些交叉點。然而這些連接也可以以不 同的方式產(chǎn)生。例如，連接到基本柵格的觸點的各導體路徑可通過一個或多個
多路轉(zhuǎn)換器及邏輯模塊(ASIC、 FPGA)的連接而結(jié)合，在所述多路轉(zhuǎn)換器及 邏輯模塊中，布線形成合適的互相連接矩陣。在這里，使用FPGA特別具有優(yōu)勢，因為基本柵格的觸點的連接或互相連接可隨時改變。
在本發(fā)明的優(yōu)選實施例中，接觸板具有兩個柔性電路板部分，基本柵格元 件位于這兩個柔性電路板部分之間。
根據(jù)本發(fā)明的另 一方面，接觸板的形式為柔性電贈4反遍布該接觸板的整個 區(qū)域，在該柔性電路板上放置有一個或多個剛性電路板部分，具有延伸穿過剛 性電路板部分和柔性電路板兩者的通孑U使得兩個不同類型的電路板中的觸點 與導體路徑之間存在電連接。
接觸板也可具有一個或多個其它剛性電路板部分，其被描述為通道部分。 通道部分具有數(shù)個導體路徑，與連接到基本柵格元件的觸點的導體路徑成直角 布局，所述數(shù)個導體路徑形成掃描通道并利用通孔選擇性地電連接到通向基本 柵格元件的觸點的導體路徑。
在可替選實施例中，彼此成直角布局的導體路徑的矩陣也可設(shè)置于支撐板 中，同時在這些導體路徑的特定交叉點處，以使得基本柵格元件的特定觸點彼 此電連4妄的方式形成通孔。


下面通過舉例并結(jié)合附圖的方式來詳細說明本發(fā)明，在附圖中
圖1為依據(jù)本發(fā)明的模塊的橫截面圖2a為圖1中的模塊的俯視圖2b為圖2a的俯視圖的局部放大圖3為處于張開狀態(tài)的接觸板，該接觸板為圖1中的模塊的一部分； 圖4為依據(jù)本發(fā)明的模塊，該模塊具有與支撐板分離示出的接觸板； 圖5為圖1中的模塊的接觸板在通道部分的區(qū)域的細節(jié)圖； 圖6為本發(fā)明模塊的另一實施例的處于張開狀態(tài)的又一接觸板；以及 圖7為模塊的另一示例的側(cè)視圖。
具體實施例方式
圖1至圖4示出了用于測試未組裝電路板的測試設(shè)備的本發(fā)明模塊的第一 實施例。模塊1由支撐板2及接觸板3組成。
支撐板2為鋼制的高的、拉長的矩形板，其長度大約為30cm，高度大約 為6cm。支撐板2在其頂部及底部邊緣大致為4至5mm厚。在支撐板2的側(cè) 面4上設(shè)置有平的凹進部分5，所述凹進部分5遍布支撐板2的整個長度。這 些槽形的凹進部分5具有大約lmm的深度和大約3至4cm的寬度。
在支撐板2的底部邊緣為位于中央的腹板(web ) 6，腹板6向下延伸(圖 1及圖4 )。腹板6和支撐板2的面向下方的端面限定了兩個階躍部分或臺階7, 各臺階7把持接觸片的邊緣，以下將更詳細地說明。
接觸板3為柔性電路板8的形式，該柔性電路板8遍布接觸板3的整個區(qū) 域。在圖3中，接觸板3以張開狀態(tài)示出。至少一個剛性電if各板IO在背離柔 性電路板8的一側(cè)附著到柔性電路板8，剛性電路板10在預(yù)定柵格中包含有觸 點9。該剛性電路板形成基本柵格元件10,其代表用于測試已組裝電路板的并 行(parallel)測試設(shè)備的基本柵格的一部分?；緰?各元件10為拉長的且為 條形，其具有例如大約5mm的寬度以及大約26cm的長度?；緰鸥裨?0 在其各末端部分延伸稍樣i超出柔性電路板8。使用例如纖維增強的粘膠樹脂(半 固化片)，該剛性電路板平展地結(jié)合到該柔性電路板。在基本柵格元件中還設(shè) 置有通孔(未示出)，各通孔從各個觸點9延伸，穿過剛性電路板進入柔性電 路板8中，在柔性電路板8中，各通孔連接到導體路徑14 (圖5 )。
因為觸點是通過將金填充至界定通孔的孔而形成的，所以觸點為圓形。這 些觸點具有0.7mm的直徑。其中布置有觸點9的柵格由彼此交錯的兩個正方形 柵格構(gòu)成。在所述正方形柵格中，各觸點9彼此相距大致為1.27mm,其中， 在正方形的各個角點處具有一個觸點9。在柵格的、布置在正方形的各個角的 四個觸點9之間的中心，在所有情況下都設(shè)置有其它正方形4冊才各的觸點。因此 這兩個柵格彼此相對偏移為柵格的兩個相鄰觸點之間距離的一半。這一半的距離為0.635mm (圖2b )。該柵格的觸點密度為每平方厘米124個觸點，因而為 至今為止通常使用的測試設(shè)備的基本柵格觸點的最大密度的兩倍。因為未組裝 電路板必需同時接觸多個電路板測試點，所以具有這樣高密度觸點的基本柵格 被用于測試未組裝電踏4反。因此，該才莫塊用于測試未組裝電路板。
接觸板3具有兩個剛性電路板11、 12,其安裝在基本柵格元件10的兩側(cè)， 與基本柵格元件IO之間具有間隙。具有剛性電路板ll、 12的接觸板3的這些 部分被描述為通道部分13。
圖5示出了這樣的通道部分13及接觸板3的相鄰區(qū)域的細節(jié)。在柔性電 路板8中布有導體路徑14,各導體路徑連接到觸點9并至少延伸到各通道部分 13之一中。在通道部分13的剛性電路板中設(shè)置有導體路徑15，所述導體路徑 15與導體路徑14成直角布局并被描述為掃描通道15。在掃描通道15與柔性 電路板8的導體路徑14之間的某些交叉點設(shè)置有通孔16，各通孔16將導體路 徑14連接到掃描通道15。在此，利用數(shù)個通孔16將各個掃描通道15連接到 數(shù)個導體路徑14。因此，導體路徑14的組與觸點9的組分別通過掃描通道15 彼此電連接。關(guān)于觸點的互相連接，可參考EP0 875 767 A2與EP 1 083 434 A2 的全部內(nèi)容。
圖5以示意性形式示出僅僅數(shù)個導體路徑14及掃描通道15。通常，提供 64、 128或256組相互電連接的導體路徑及相應(yīng)數(shù)量的掃描通道15。這些組的 數(shù)量可以根據(jù)應(yīng)用而變化。通常，相互連接的導體路徑組的數(shù)量在50至500 的范圍內(nèi)，較佳地，在100至300的范圍內(nèi)。
通道部分優(yōu)選是以4吏得在所有情況下兩個、三個、四個或五個導體^各徑14 彼此連接的方式設(shè)計。通過這種方式，與基本柵格的觸點數(shù)量相比，連接的數(shù) 量減半或者甚至是減少為五分之一。
由于利用導體路徑14的互相連接實現(xiàn)的觸點9的互相連接是在與基本柵 格成直角的平面內(nèi)實現(xiàn)，因此與依據(jù)EP 0 875 767 A2的互相連接的模式相比可 得到多得多的空間。因此，該互相連接更加簡單且更加具有成本效率。而且，可以將明顯更多的觸點9安全且可靠地相互連接。
在本實施例中，通道部分13中設(shè)置有額外的剛性電路板11、 12,通過半 固化片粘接以其整個表面與柔性電路板8結(jié)合。至少另外一層與剛性電路板 11、 12—起設(shè)置，在該層中可形成導體路徑(掃描通道)。當然也可使用多層 柔性電路板8代替剛性電路板。然而，使用剛性電路板更加具有成本效率，并 且在剛性電路板中制造通孔可更加容易且更加可靠。
在本實施例中，掃描通道15利用通孔16連4^到導體^4圣14。然而在本發(fā) 明范圍內(nèi)，通道部分13也可能為如下電路板形式在該電鴻4反中，掃描通道 為與位于該通道部分的表面上的觸點相接觸的導體路徑。當將形成通道部分的 電路板結(jié)合到柔性電路板時，通道部分的觸點被焊接到柔性電路板的對應(yīng)觸 點，而柔性電路板的這些相應(yīng)觸點與導體路徑14相接觸。當需要互相電連接 的導體路徑組僅包含少量導體^各徑14 (例如兩個或三個導體^各徑)時，這樣的 實施例是有利的。
通道部分13被布置成與基本柵格元件10具有間隙，使得在所有情況下， 接觸板3的柔性部分17形成在通道部分13與基本4冊格元件10之間。各通道 部分13關(guān)于基本柵格元件10對稱布置，使得兩個柔性部分17具有相等的寬度。
接觸片18、 19設(shè)置在接觸板3的距基本柵格元件IO最遠的末端。接觸片 18、 19沿著柔性電路板8的整個邊緣延伸，并且在柔性電路板8的末端稍微突 出。接觸片18、 19為條形剛性電路板的形式，所述條形剛性電路板與柔性電 路板8結(jié)合。在接觸片18、 19上形成有觸點(未示出，因為這些觸點位于圖3 中接觸板3的背面)，這些觸點連接到布在柔性電路板8中的導體路徑14。然 而，并不是柔性電路板8的每個導體路徑14都通向觸點，而是來自可以通過 掃描通道互相連接的一組導體路徑14的單個導體路徑電連接到觸點。因此， 接觸片18、 19的觸點的總數(shù)明顯少于基本柵格元件10的觸點9的數(shù)量。
接觸板3以使得基本柵格元件10位于支撐板2的一個端面21的方式連接
12到支撐板2，并且相鄰的柔性部分17以使得具有與其鄰接的區(qū)域的接觸板3 大致平行于支撐板2的側(cè)面的方式彎曲。
在本實施例中，接觸板3以其整個表面結(jié)合到支撐板2，其中，通道部分 13設(shè)置在支撐板2的凹進部分5中。接觸片18、 19中的每一個接觸片通過邊 緣部分插入到支撐板2的兩個臺階7之一中，向下延伸稍微超出腹板6且因此 在它們之間限定了類似間隙的空間。在腹板6的區(qū)域中，接觸片18、 19利用 螺釘連接固定到支撐板2。電路板22的邊緣位于兩個接觸片18、 19之間的空 間中，電路板22與接觸片18、 19相比向下延伸適當?shù)木嚯x。在電路板22與 接觸片18、 19相接觸的部分中，電路板22具有觸點，這些觸點被焊接到接觸 片18、 19的對應(yīng)觸點。與基本柵才各元件相反，因為這里有足夠的空間可用， 且觸點具有較大的面積并以大致的柵格布置，因此它們的焊接較容易。但是， 原則上也存在將接觸片18、 19的觸點與電路板22的觸點相接觸的其它方式。 例如，可在接觸片與電路板之間設(shè)置小的彈簧接觸。
接觸片18、 19螺接到電路板22,使得確保足夠的機械穩(wěn)定性。
集成電路23可設(shè)置在電路板22上，以形成評估電子設(shè)備的一部分，通過 評估電子設(shè)備產(chǎn)生并評估測量信號。然而，也可能電路板22不具有這樣的部 件，也可能電路板22僅設(shè)置有連接到評估電子設(shè)備的導線。優(yōu)選是通過測試 設(shè)備中設(shè)置的插接連接器(未示出)實現(xiàn)評估電子設(shè)備的連接，并且電路板22 的下邊緣插入該插接連接器中。
支撐板2從接觸板3的側(cè)面略微突出。支撐板2的突出部分的底部邊緣形 成支撐24 (圖4 ),支撐24放置在測試設(shè)備中合適的支撐軌道(未示出)上并 吸收施加在基本柵格上的測試設(shè)備的全部壓力。由于^=莫塊1設(shè)計為具有穩(wěn)定的 支撐板2，支撐板2將測試設(shè)備的全部壓力轉(zhuǎn)移到支撐軌道，因此電路板22 沒有機械負荷。通過這種方式，在基本柵格下面的區(qū)域中，機械負荷在初期就 從該電路分離，使得由于電路板22不承受任何機械負荷，所以容易為電路板 22提供更多的功能元件。圖6示出了接觸板3的可替換實施例。該接觸板也具有柔性電路板8、基 本才冊格元件10、以及通道部分13,通道部分13 ^皮布置成與基本4冊格元件10 之間具有間隙，并且在通道部分13與基本柵格元件10之間形成柔性部分17。 此外還設(shè)置有接觸片18。在接觸板的本實施例中，Y義設(shè)置有一個通道部分13 及一個接觸片18。因此，接觸板3僅在支撐板2的兩個側(cè)面之一上從支撐板2 的端面21延伸至臺階7。在其它方面，具有該接觸板3的模塊的設(shè)計及功能對 應(yīng)于上述模塊1。
圖6所示實施例的缺點在于所有的導體路徑都通過柔性電路板8通向基本 柵格元件10的一側(cè)，使得該柔性電路板中導體路徑的密度明顯大于圖5所示 實施例中的該密度。因此，在接觸板3相對于支撐板2—側(cè)布置的情況下，提 供相互重疊的兩個或更多柔性電路板也可能是有利的。這種方式下，可減小導 體路徑的密度。
以上已結(jié)合實施例對本發(fā)明進行了說明。在本發(fā)明的范圍內(nèi)，可能有各種 不同的修改。因此，例如接觸板3不必以其整個表面結(jié)合到支撐板2。也可能 存在其它類型的連接，例如螺釘或鉚釘。在本實施例中，支撐板2由鋼制成且 能夠吸收相當大的力。對于不產(chǎn)生如此大力的較小的測試設(shè)備，支撐板也可以 使用強度比鋼小的材料。也可使用一種類似剛性的合成材料來代替鋼。特別地， 另外有利的是，支撐板為電路板形式，其中觸點的互相連接出現(xiàn)在支撐板中。 導體路徑的互相連接也可在與接觸板3分離的互連板中實現(xiàn)。這樣的互連板為 在一個側(cè)面上具有觸點的電路板，這些觸點與接觸板的相應(yīng)觸點電接觸。這樣 的實施例的優(yōu)點在于，通過更換互連板可以不同地布置各觸點的互相連接。
利用柔性電路板8將導體路徑從基;^冊格元件10轉(zhuǎn)移到垂直方向提供了 大量的空間，使得在通道部分13的區(qū)域中不僅可實現(xiàn)互相連接，而且可實現(xiàn) 復雜電路。圖7示出了具有基本柵格元件10的模塊1的相關(guān)示例的側(cè)視圖。 物理上所述模塊按照上述實施例設(shè)計。允許復雜電路的多層剛性電路板位于通 道部分13中。該電路包含四個多路轉(zhuǎn)換器25以及控制元件26,控制元件26
14為邏輯模塊。控制元件26經(jīng)由數(shù)據(jù)線27連接到評估電子設(shè)備。數(shù)據(jù)線27較 佳為數(shù)據(jù)總線形式，該數(shù)據(jù)總線被引導穿過測試設(shè)備的所有模塊，并且各控制 元件26可通過該數(shù)據(jù)總線由評估電子設(shè)備控制。
控制元件控制多路轉(zhuǎn)換器25。在本實施例中，設(shè)置四個多路轉(zhuǎn)換器25。 各多路轉(zhuǎn)換器25利用導體路徑28 (為了簡化圖示，僅示出了少數(shù)導體路徑28 ) 連接到基本柵格元件10的觸點9。
連接到多路轉(zhuǎn)換器25的導體路徑28分為n組，各多路轉(zhuǎn)換器能在各種情 況下將一組中的所有導體路徑28切換至對應(yīng)的輸出導體路徑29。輸出導體路 徑29通向評估電子"i殳備。
控制元件26控制n組導體路徑28和所述觸點9中哪些分別通過相關(guān)的多 路轉(zhuǎn)換器25連接到輸出導體路徑29。而且，通過這種方式，與觸點9的數(shù)量 相比，模塊的輸出(輸出導體路徑29)數(shù)量可明顯減少。這樣布置的優(yōu)點在于 各觸點之間沒有永久不變的互連，相反，各觸點可被單獨切換到評估電子設(shè)備 的連才妄。
原則上，單個多路轉(zhuǎn)換器應(yīng)足以相對于觸點的數(shù)量減少輸出導體路徑的數(shù) 量。然而，由于連接到導體路徑28且屬于共同多路轉(zhuǎn)換器的不同組的兩個觸 點9不能同時連接到輸出導體路徑，所以在這樣的兩個觸點之間不可能進行測 量，因此使用可由控制元件26彼此獨立觸發(fā)的數(shù)個多路轉(zhuǎn)換器是有利的。如 果設(shè)置數(shù)個多路轉(zhuǎn)換器25,則每組的觸點數(shù)量變小。由于連接到不同多路轉(zhuǎn)換 器25的觸點能同時連接到輸出導體路徑29,所以這些觸點始終可以不考慮其 所屬的組而彼此在一起進行測試，因此減少了相關(guān)問題。而且，將基本柵格的 觸點有技巧地分配到待測試電路板的相關(guān)電路板測試點，可避免出現(xiàn)應(yīng)在它們 之間進行測量的兩個電路板測試點被連接到屬于共同多路轉(zhuǎn)換器25的不同組 的導體路徑28的情況。如同從EP 0 875 767 A2中已知的那樣，這樣的分配可 通過位于基本柵格上的適配器中的測試針的傾斜定位來實現(xiàn)。
利用該模塊，基本柵格元件10的若干組觸點可以接通并經(jīng)由數(shù)據(jù)線27由評估電子設(shè)備單獨測試。這產(chǎn)生了極其靈活的測試系統(tǒng)，考慮到大量的觸點， 該系統(tǒng)通過較d、的測量電子設(shè)備單元實現(xiàn)。
控制元件26也可被編程成使得其根據(jù)預(yù)定的測量周期在所有模塊之間自 動切換多路轉(zhuǎn)換器25,其中，該測試周期是通過數(shù)據(jù)線27發(fā)送的，或從前已 預(yù)先進行了同步的。
圖7所示的切換機制代表了一種獨立的發(fā)明構(gòu)思，該構(gòu)思也可經(jīng)由與通向 基本柵格元件的鏈路無關(guān)的柔性電路板實現(xiàn)。
上述測試設(shè)備的模塊的實施例具有基本柵格元件，在該基本柵格元件上， 基本柵格的觸點以每平方厘米124個觸點的密度布置。依據(jù)本發(fā)明進行的條形 基本柵格元件與柔性電路板部分的結(jié)合，通過相對于基本柵格偏轉(zhuǎn)成垂直，以 簡單的方式提供了很多空間，使得基本柵格的大量觸點可以可靠地連接到評估 電子設(shè)備，其中該基本柵格元件由剛性電路板部分構(gòu)成，并且在該柔性電路板 部分中，引導導體路徑與基本柵格元件的觸點接觸。較佳地，設(shè)置兩個柔性電 路板部分，各柔性電路板部分包含一些導體路徑。在較佳實施例中，包含在柔 性電路板部分中的導體路徑利用掃描通道進行特定電連接，使得評估電子設(shè)備 的必需連4妄減少。
本發(fā)明的另 一有利變型在于將基本柵格元件、連接到該基本柵格元件的柔 性電路板部分、以及由高強度材料(例如鋼或合適強度的合成材料)制成的支 撐板相結(jié)合，使得由多個觸點產(chǎn)生的機械負荷以及電連接都可以得到可靠地處理。
在所述實施例的描述中，使用了頂部及底部方向，頂部表示朝向基本柵才各 的方向，底部表示背離基本柵格的方向。依據(jù)本發(fā)明的模塊提供給用于對通常 在頂部及底部同時進行測試的未組裝的電路板進行測試的測試設(shè)備，使得該測 試設(shè)備具有兩個相對的基本柵格陣列，這兩個基本柵格陣列通過壓力一起移 動。位于其間的待測試電路板上下受到來自該兩個基本柵格陣列之間的接觸元 件的壓力，并且在適用的情況下受到來自中間適配器及轉(zhuǎn)換器之間的接觸元件的壓力。對于安裝在電路板上的模塊來說，方向"底部"與"頂部"當然要相
應(yīng)地反向o
本發(fā)明可簡單總結(jié)如下
本發(fā)明涉及一種用于電路板測試的測試設(shè)備的模塊。這樣的測試設(shè)備具有 基本柵格，在該基本柵格上可以布置適配器和/或轉(zhuǎn)換器，以將基本柵格的觸點 與待測試電路板的電路板測試點相連接。該模塊包括支撐板及接觸板。該接觸 板由被描述為基本柵格元件的剛性電路板部分與至少 一 個柔性電路板部分構(gòu) 成。該基本柵;格元件上設(shè)置有觸點，各觸點構(gòu)成基本4冊格的觸點的一部分。該 基本柵格元件安裝在該支撐板的端面，并且該柔性電^各板部分以使得該接觸板 的其它部分的至少一部分平行于該支撐板的方式彎曲?；緰鸥裨母饔|點 與導體路徑電接觸，其中，這些導體路徑布在接觸板中且從基本柵格元件延伸
到柔性電路板部分中。 附圖標記列表
1模塊
2支撐板
3接觸板
4支撐板的側(cè)面
凹進部分
6腹板
7臺階
8柔性電路板
9觸點
10基本4冊々各元件
11剛性電路板
12剛性電^各才反13 通道部分
14 導體路徑
15 掃描通道
16 通孔
17 柔性部分
18 接觸片
19 4姿觸片
20
21 端面
22 電路板
23 集成電路
24 支撐
25 多路轉(zhuǎn)換器
26 控制元件
27 數(shù)據(jù)線
28 導體3各徑
29 輸出導體路徑
18
權(quán)利要求
1、一種用于電路板測試的測試設(shè)備的模塊，其中，所述測試設(shè)備具有基本柵格，所述基本柵格上可布置適配器和/或轉(zhuǎn)換器，以連接所述基本柵格的觸點(9)與待測試電路板的電路板測試點，并且，所述模塊具有支撐板(2)及接觸板(3)，其中，所述接觸板(3)由被描述為基本柵格元件(10)的剛性電路板部分與至少一個柔性電路板部分(17)構(gòu)成，并且所述基本柵格元件為所述基本柵格的一部分，且所述基本柵格元件(10)上設(shè)置有觸點(9)，各觸點(9)構(gòu)成所述基本柵格的觸點的一部分并以每平方厘米至少100個觸點的密度布置，并且所述基本柵格元件(10)與所述支撐板(2)的平面成直角安裝在所述支撐板(2)的端面，并且所述柔性電路板部分(17)以使得所述接觸板的其它部分的至少一部分大致平行于所述支撐板(2)的方式彎曲，其中，所述基本柵格元件(10)的各所述觸點(9)與導體路徑(14)電接觸，所述導體路徑(14)布在所述接觸板中并從所述基本柵格元件(10)延伸到所述柔性電路板部分(17)中。
2、 如權(quán)利要求1所述的模塊，其特征在于，所述接觸板的剛性電路板部 分安裝并連接到柔性電路板(8)的區(qū)域，其中，柔性部分(17)構(gòu)成所述柔 性電路板(8)的區(qū)域，且所述觸點(9)利用通孔電連接到布在所述柔性電路 板(8)中的所述導體路徑(14)。
3、 如權(quán)利要求1或2所述的模塊，其特征在于，所述基本柵格元件(IO) 的所述剛性電路板部分為拉長的且為條形。
4、 如權(quán)利要求1-3中任一項所述的模塊，其特征在于，所述接觸板具有 兩個柔性電路板部分(17),其中，所述基本柵格元件(10)布置在所述兩個 柔性電3各板部分之間。
5、 如權(quán)利要求1-4中任一項所述的模塊，其特征在于，所述基本柵格元 件(10)的特定觸點(9)互相電連4妄。
6、 如權(quán)利要求5所述的模塊，其特征在于，所述特定觸點(9)之間的電 連接形成在所述接觸板(3)中。
7、 如權(quán)利要求6所述的模塊，其特征在于，所述接觸板(3)具有至少又 一個剛性電路才反部分(11, 12)，所述至少又一個剛性電鴻4反部分(11， 12) 被描述為通道部分且與所述支撐板(2)大致平行布置，并且在所述至少又一 個剛性電路板部分(11, 12)中形成有所述導體路徑(14)之間的電連接。
8、 如權(quán)利要求7所述的模塊，其特征在于，所述通道部分(11, 12)具 有數(shù)個導體路徑(15),所述導體路徑(15)被描述為掃描通道，所述導體路 徑(15)與連接到所述基本柵格元件的觸點(9)的導體路徑(14)成直角布 局，并且連接到所述電路板測試點的所述導體路徑利用通孔(16)連接使得所 述特定電鴻4反測試點(9)互相電連才妄。
9、 如權(quán)利要求5所述的模塊，其特征在于，所述接觸板的導體路徑(14) 與所述支撐板(2)的相應(yīng)導體路徑互相電連接，并且所述特定電路板測試點 之間的電連接形成于所述支撐板(2)中。
10、 如權(quán)利要求9所述的模塊，其特征在于，所述支撐板(2)設(shè)置有彼 此成直角布局的導體路徑的矩陣，同時在這些導體路徑的某些交叉點以使得所 述基本柵格元件的所述特定觸點互相電連接的方式形成通孔。
11、 如權(quán)利要求6-10中任一項所述的模塊，其特征在于，各觸點(9)電 連接到至少一個其它觸點(9)，而所述互相電連接的觸點(9)形成包括至少 兩個、三個、四個或五個互相電連^妄的觸點(9)的組。
12、 如權(quán)利要求l-ll中任一項所述的模塊，其特征在于，所述基本柵格元 件的所述觸點以規(guī)則的柵格布置。
13、 如權(quán)利要求1-12中任一項所述的模塊，其特征在于，所述基本柵格 元件(10)的所述觸點(9)的密度為每平方厘米至少120個觸點。
14、 如權(quán)利要求1-12中任一項所述的模塊，其特征在于，所述支撐板(2) 由剛性材料例如鋼或合成材料制成，并且在所述模塊的各末端突出一小塊以形成支撐(24),所述模塊通過所述支撐(24)可被放置在測試設(shè)備的適合的支 撐軌道上，使得施加在所述基本柵格元件上的壓力被轉(zhuǎn)移到所述支撐軌道。
15、 如權(quán)利要求13所述的支撐板，其特征在于，所述支撐板被設(shè)計為吸 收所述基本柵格元件上的至少25牛頓/平方厘米(N/cm2)的壓力。
16、 一種用于電路板測試的測試設(shè)備的模塊，特別是如權(quán)利要求1-15中 任一項所述的模塊，其中，所述測試設(shè)備具有基本柵格，在所述基本柵格上可 布置適配器和/或轉(zhuǎn)換器，以連接所述基本柵格的觸點(9)與待測試電路板的 電路板測試點，并且所述模塊具有支撐板(2)及基本柵格元件(10)，所述基 本柵格元件(10)由剛性電路板部分構(gòu)成，其中，所述基本柵格元件(10)具 有觸點，各觸點構(gòu)成所述基本柵格的觸點的一部分且所述基本柵格元件(10) 與所述支撐板(2)的平面成直角安裝在所述支撐板(2)的端面，并且設(shè)置有 與所述支撐板(2)大致平行的電路板，在所述電路板上形成有導體路徑，各 所述導體路徑與所述基本柵格元件(10)的所述觸點(9)之一接觸，并且在 所述電路板上安裝有至少一個多路轉(zhuǎn)換器(25),其中，所述多路轉(zhuǎn)換器(25) 連接到若干組導體路徑，各所述導體路徑與所述觸點(9)之一接觸，使得在 所有情況下這些導體路徑組之一可連接到一組對應(yīng)的輸出導體路徑(29)，其 中，所述輸出導體路徑(29)通向評估電子設(shè)備。
17、 如權(quán)利要求16所述的模塊，其特征在于，設(shè)置有數(shù)個多路轉(zhuǎn)換器。
18、 如權(quán)利要求16或17所述的模塊，其特征在于，設(shè)置有控制元件(26 ) 以控制所述多路轉(zhuǎn)換器或所述多個多路轉(zhuǎn)換器(25 )。
19、 如權(quán)利要求18所述的模塊，其特征在于，所述控制元件(26)通過 數(shù)據(jù)線(27 )連接到所述評估電子設(shè)備，使得對連接到所述輸出導體路徑(29 ) 的導體路徑組的分配可根據(jù)所述評估電子設(shè)備而變化。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于電路板測試的測試設(shè)備的模塊(1)。這樣的測試設(shè)備具有基本柵格，該基本柵格上可以布置適配器或轉(zhuǎn)換器，以將該基本柵格上的觸點連接到供測試的電路板。該模塊包括支撐板(2)及接觸板。該接觸板由被稱為基本柵格元件的剛性電路板部分(10)與至少一個柔性電路板部分(17)構(gòu)成。該基本柵格元件上設(shè)置有觸點，各觸點構(gòu)成基本柵格的觸點的一部分。該基本柵格元件布置在該支撐板的前側(cè)面上，并且該柔性電路板部分以使得該接觸板的其余部分的至少一部分平行于該支撐板的方式彎曲?；緰鸥裨挠|點與布在接觸板中的導體路徑電接觸，這些導體路徑從基本柵格元件延伸到柔性電路板部分中。
文檔編號G01R31/28GK101558317SQ200780046261
公開日2009年10月14日 申請日期2007年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月15日
發(fā)明者呂迪格·戴麥爾, 安德魯·古爾佐, 尤威·路絲格, 沃納·穆勒, 福克·戈德史密特, 維克特·羅曼諾夫 申請人:Atg路德邁股份有限公司