專利名稱：用于接觸檢測件的接觸裝置及接觸檢測件的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于接觸待檢測的電子檢測件，尤其是設(shè)有鍍錫觸點的檢測件的接觸裝 置，至少帶有兩個導(dǎo)向元件，該導(dǎo)向元件具有缺口，通過該缺口，所述接觸元件本質(zhì)上沿軸 向延伸，所述接觸元件在分配的導(dǎo)向元件移向所述檢測件的面上從該面突出以接觸所述檢測 件。
背景技術(shù)：
一開始提到的那種接觸裝置是已知的。為了定位和保持條狀的接觸元件，該元件要放置 在互相軸向間隔設(shè)置的導(dǎo)向元件的缺口中。導(dǎo)向元件做成導(dǎo)向板的形式。缺口優(yōu)選制作成孔 的形式，其中導(dǎo)向長度和孔的位置為固定參數(shù)。做成條狀的觸點成為針，其一端接觸檢測件 的檢測點，而其另一端與連接接觸裝置的電子檢測設(shè)備共同作用。由此形成檢測回路來測試 檢測件的功能，尤其是電子功能。在特殊的構(gòu)形中，接觸檢測件的針尖可以沒有尖端，特別 是當要接觸檢測件的焊點時也可以做成平的。如果經(jīng)常接觸檢測件，那么這就會導(dǎo)致針末端 的污染。污染有時優(yōu)選磨蝕性地，就是磨損去除，其中針長度的一小部分也一起被磨掉。通 過這種相對強烈的針的磨損而導(dǎo)致針相應(yīng)變短，從而必須在達到最小長度時更換針。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的任務(wù)在于，顯著地延長接觸裝置的接觸元件，特別是針的壽命。 根據(jù)本發(fā)明，該任務(wù)如此實現(xiàn)導(dǎo)向元件的軸向間距或者移向檢測件的導(dǎo)向元件的軸向 位置可以被校準以適應(yīng)突出長度。由此實現(xiàn)了導(dǎo)向元件互相的相對軸向移位或者移向檢測件 的導(dǎo)向元件的軸向移位，使得針在用舊以后還能保持足夠長的伸出量以保證良好的接觸。由 此，針是否有接觸尖端或者它們是否做成磨平的樣子都不重要了。盡管如此，平的結(jié)構(gòu)具有 在為了清洗針尖端而進行磨蝕處理時能保持針端形狀的優(yōu)點。采用削尖的針的話，磨損還導(dǎo) 致尖端變短。本發(fā)明對象的另一個優(yōu)點在于，針尖端的伸出量，即突出長度可以保持相對較 短，因為根據(jù)本發(fā)明存在適應(yīng)的可能，其中短的導(dǎo)向保證了良好的導(dǎo)向，這意味著良好的定 位和由此導(dǎo)致的良好的接觸。
根據(jù)本發(fā)明的另一實施方式，導(dǎo)向元件的軸向間距可由至少一個校準裝置校準。校準裝 置負責導(dǎo)向元件的軸向移位，以校準和補充校正接觸元件的突出長度為目的。
優(yōu)選的是，校準裝置涉及連續(xù)的校準裝置和/或分等級的校準裝置。連續(xù)的校準裝置允許 無級校準，而分等級的校準裝置則使得附屬導(dǎo)向元件以規(guī)定的距離跳變移位成為可能。
當校準裝置優(yōu)選做成校準螺紋裝置時，則尤其能實現(xiàn)連續(xù)的校準。如果旋轉(zhuǎn)所述校準裝 置的至少一個螺紋結(jié)構(gòu)，附屬的導(dǎo)向元件就相應(yīng)地連續(xù)在軸向方向上移動。
如果校準裝置是氣壓的、液壓的和/或壓電的校準裝置則是^艮有利的。因此，利用氣壓的 校準裝置，即通過空氣壓力來校準導(dǎo)向元件的軸向間距。可選擇的，液壓的校準裝置也是可 以的，在此情況下利用液壓的校準裝置實現(xiàn)上述的校準。由于校準路徑相對較小，還可以考 慮校準裝置也可以是壓電校準裝置。該壓電校準裝置的距離通過向該壓電校準裝置施加更大 或者更小的電壓而發(fā)生變化。通過電壓的校準而因此實現(xiàn)了導(dǎo)致附屬的導(dǎo)向元件的校準的機 械校準。
沖艮據(jù)本發(fā)明的其他實施方式，校準裝置優(yōu)選為本質(zhì)上能夠徑向移動的楔形和/或階梯裝 置。優(yōu)選地，移向接觸元件的末端區(qū)域的導(dǎo)向元件支撐在軸向間隔開的另一個導(dǎo)向元件上。 兩個導(dǎo)向元件的這種支撐優(yōu)選通過校準裝置實現(xiàn)。如果該校準裝置在長度上可變，尤其是做 成楔形和/或階梯裝置，則很明顯的是根據(jù)楔子的尺寸和/或階梯的等級來校準兩個導(dǎo)向元件的 間距，由此能以相應(yīng)的方式校準接觸元件的突出長度。對于楔形裝置而言該過程可連續(xù)地實 現(xiàn)，而對于階梯裝置而言該過程不連續(xù)地，即分等級地實現(xiàn)。
本發(fā)明的另一個實施方式中，校準裝置做成取出裝置，其中導(dǎo)向元件之間的軸向間距通 過取出而變小。正如已經(jīng)說過的，校準裝置設(shè)置在兩個導(dǎo)向元件之間。如果該取出裝置能夠 被取出，則導(dǎo)向元件之間的軸向間距變小。其中當導(dǎo)向元件之間僅有一個取出裝置再取出時， 導(dǎo)向元件就互相觸碰在一起。當然也可以考慮在軸向上設(shè)置若干個排列成行的校準裝置，這 些校準裝置都做成取出裝置，或者具有若干個能夠取出的元件。如果取出其中一個取出裝置 或者元件，則導(dǎo)向元件之間的軸向間距減小相應(yīng)的量，這導(dǎo)致接觸元件的突出長度增大相應(yīng) 的量。當通過磨損而使接觸元件在長度上繼續(xù)變小，取出又一個取出裝置或者又一個元件使 突出長度的修正得以進行。該過程可以相應(yīng)地經(jīng)常重復(fù)，并且依賴于成行排列的取出裝置或 者元件的數(shù)量。
除了上面提到的，很明顯的是利用設(shè)置在導(dǎo)向元件之間的元件或者類似裝置也能夠校準 導(dǎo)向元件之間的軸向間距。因為導(dǎo)向元件支撐在該元件上，該元件形成間距保持器。如果間 距保持器優(yōu)選在其厚度上變化，則根據(jù)本發(fā)明提供了校準接觸元件的突出長度的可能性。對 于前面提到的校準裝置可以考慮的是，這些校準裝置就象已經(jīng)提到的那樣設(shè)置在導(dǎo)向元件之間?？蛇x擇的是，校準裝置分配給接觸裝置的其他組件，為了校準突出長度而改變導(dǎo)向元件 分配給檢測件末端的軸向位置。在所述說明中，至少一個間距保持器設(shè)置在至少兩個導(dǎo)向元 件之間，這就是說導(dǎo)向元件直接或者間接支撐在間距保持器上。間距保持器優(yōu)選在其厚度上 可變。為此可以設(shè)置校準裝置，和/或校準螺紋裝置，和/或氣壓、液壓和/或壓電校準裝置， 和/或楔形裝置，和/或階梯裝置和/或取出裝置。
根據(jù)本發(fā)明的另 一個實施方式，利用至少一個可取出的和/或本質(zhì)上可徑向移動的間距保 持器來校準軸向間距?？扇〕龅拈g距保持器尤其可以做成框架形式或者由框架部件裝配而成。 在此有利的是框架形式的結(jié)構(gòu)做成至少在一面開口的框架結(jié)構(gòu)。以這種方式和方法可以實現(xiàn) U形的框架部件。倘若特別設(shè)置了若干個相互堆疊且可單個取出的此類間距保持器，則根據(jù) 取出的間距保持器的數(shù)量校準突出長度，其中該過程也能夠在時間上連續(xù)不斷地進行。這就 是說，至少一個間距保持器總是在接觸元件相應(yīng)用舊之后被從沿軸向相互疊加的多個間距保 持器中取出。
如果間距保持器做成框架形式，尤其是u形，則它們優(yōu)選互相繞沿軸向的軸旋轉(zhuǎn)設(shè)置。
這就是說，不是所有的U都對準疊加，而是互相旋轉(zhuǎn)例如180。或者90°設(shè)置，以形成具有對 接觸元件而言更穩(wěn)定和更好支撐的內(nèi)部空間的結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明進一步涉及一種用于接觸待檢測的電子檢測件，尤其是具有鍍錫觸點的檢測件的 方法，優(yōu)選采用前面提到的接觸裝置，其中利用本質(zhì)上沿軸向延伸的接觸元件實現(xiàn)接觸，該 接觸元件通過至少兩個導(dǎo)向元件延伸，其中接觸元件在分配的導(dǎo)向元件移向沖企測件的面上從 該導(dǎo)向元件突出以接觸檢測件，并且其中為了適應(yīng)突出長度，導(dǎo)向元件的軸向間距或者移向 檢測件的導(dǎo)向元件的軸向位置被校準/能夠被校準。


結(jié)合實施例，用

本發(fā)明。附圖顯示
圖1為用于接觸待檢測電子檢測件的接觸裝置的放大示意圖2為用于校準接觸元件的突出長度的接觸裝置的間距保持器；
圖3為根據(jù)另一實施例的接觸裝置；
圖4為才艮據(jù)另一實施例的接觸裝置；
圖5為根據(jù)另一實施例的接觸裝置。
具體實施例方式
圖1放大且僅示意性地顯示了接觸裝置1。該接觸裝置1具有四個在軸向上a互相平行
間隔設(shè)置的導(dǎo)向元件2， 3, 4和5，設(shè)置在導(dǎo)向元件之間的間隔元件6, 7和8。單個來說， 間隔元件6定位在導(dǎo)向元件2和3之間，間隔元件7定位在導(dǎo)向元件3和4之間，間隔元件 8定位在導(dǎo)向元件4和5之間。導(dǎo)向元件2， 3, 4和5做成導(dǎo)向板9， 10, 11和12形式，而 間隔元件6， 7和8做成框架形式，從而在接觸裝置內(nèi)部形成開放空間13, 14和15。不導(dǎo)電 的導(dǎo)向板9到12每個都具有若干個缺口 16, 17, 18和19,其中缺口 16， 18和19在軸向上 互相對準，缺口 17在徑向r上偏離對準線。接觸元件20可沿軸向移動地"&置在缺口 16到19 內(nèi)，使得該接觸元件20的末端區(qū)域21從導(dǎo)向板12的缺口 19突出一個突出長度H。接觸元 件20的另外一端以末端區(qū)域22從導(dǎo)向板9的缺口 16探出一個長度I。這種設(shè)置如此實現(xiàn)， 接觸元件20局部設(shè)有絕緣部23而在導(dǎo)向板11和12的區(qū)域不設(shè)絕緣部。在該后面提及的區(qū) 域內(nèi)，接觸元件為此由導(dǎo)電性良好的非絕緣性材料做成。還可以選擇采用沒有絕緣部的接觸 元件20。通過使缺口 17相對于其他缺口 16, 18和19偏移，自適應(yīng)的接觸元件20彎曲，由 此接觸元件20自保持但沿軸向可移動地保持在接觸裝置中。缺口 16到19優(yōu)選做成孔，尤其 是用激光束做成的孔。接觸元件20的直徑相對較小，例如象人的頭發(fā)的直徑那么大。
從圖l可以看出，導(dǎo)向板9到12每個都顯示為斷開。這就是說，為了簡便起見，接觸裝 置1僅用單個接觸元件表示。在實際的實施方式中設(shè)有若干個這種接觸元件，以能夠用接觸 元件20的端面(Stirnflaeche) 26接觸待檢測的檢測件25的相應(yīng)數(shù)量的檢測點24。為此，檢 測件25在朝著端面26的方向上移動。此外，每個接觸元件20相對的末端27連到相對接觸 面(未示出)上，該相對接觸面與電子檢測設(shè)備連接。用這種方式和方法，形成到檢測件25 的電路，以便檢測該檢測件的功能。
接觸元件優(yōu)選做成接觸條，尤其是做成接觸針。由于它們的彎曲，它們也被稱為彎針。 在檢測時，末端區(qū)域21的端面26接觸檢測件25的檢測點24，其中在前面的情況下檢 測點24由焊點，即突出的錫頭形成。通過多次接觸過程，接觸元件20接觸檢測件的末端區(qū) 域被污染，從而導(dǎo)致接觸元件有時候被磨損清潔。伴隨于此，不僅污物而且也總是有接觸元 件20的材料被去除，由此接觸元件20相應(yīng)地變短。突出長度H因此變小，從而導(dǎo)致在相應(yīng) 次數(shù)的清潔過程之后必須更換接觸元件20。但由于本發(fā)明的提出，這種更換就不需要了，因 為通過本發(fā)明的導(dǎo)向元件4和5的間距變化而可以校準突出長度H。為此在導(dǎo)向元件4和5 之間，即導(dǎo)向板ll和12之間設(shè)置一個校準裝置28,或者作為可選的實施方式，為導(dǎo)向元件 5設(shè)置一個沒有支撐在導(dǎo)向元件4上而是固定在接觸裝置1的其他部分上的校準設(shè)備28,使 得導(dǎo)向元件5相對于導(dǎo)向元件4軸向移動及可軸向移動。在圖1的實施例中規(guī)定校準裝置28 由若千個互相疊放的間距保持器29組成。根據(jù)圖2,間距保持器29每個都做成框架形式，
即U形的框架部件30。圖2的尺寸與圖1的尺寸并不一致與圖l的尺寸相比，圖2中縮小 了。但很清楚的是，若干個U形的框架部件30的相互堆疊構(gòu)成了設(shè)置于導(dǎo)向板11和12之 間且因此決定導(dǎo)向板11和12之間間距的間距校準裝置28。這種相互堆疊優(yōu)選能繞中心軸M (圖2)轉(zhuǎn)動，例如在使用時兩個U形框架部件互相繞該中心軸M成180°旋轉(zhuǎn)設(shè)置。如果 規(guī)定超過兩個的U形框架部件30,則這些部件優(yōu)選互相成90。角安裝。
在多次清潔過程之后，末端區(qū)域21不再從導(dǎo)向板12的缺口 19處突出得足夠遠了，在先 松開相應(yīng)部件之后，間距保持器29,即U形框架部件30被拿開，然后裝置被重新擰緊或者 壓緊等等。結(jié)果突出長度H與被取出的間距保持器29的厚度對應(yīng)變大，從而又得到足夠的 突出長度H。根據(jù)所采用的間距保持器29的數(shù)量，這個過程可以重復(fù)多次。
圖3顯示了與圖1對應(yīng)的實施例，所以省略了前面的說明。其區(qū)別僅僅在于，在此情況 下的校準裝置28做成校準螺紋裝置31。為此，優(yōu)選在導(dǎo)向板11和12沿軸向的間距之間保 持若干個螺故桿32。如果通過相應(yīng)的工具(箭頭33 )旋轉(zhuǎn)螺纟丈桿32,則導(dǎo)向板11和12之 間的間距發(fā)生變化，結(jié)果使突出長度H可校準。為此螺紋桿32必需在其末端區(qū)域具有反向 螺紋。螺故桿32伸入導(dǎo)向板11和12的相應(yīng)螺鄉(xiāng)丈孔—。這在圖3借助導(dǎo)向板區(qū)域內(nèi)的其中一 根螺紋桿32得到說明。利用校準螺紋裝置31使連續(xù)的校準成為可能，即得到可連續(xù)工作的 校準裝置28。
圖4顯示了仍與圖1的實施例對應(yīng)的另一個實施例，因此引用說明書。僅校準裝置28的 結(jié)構(gòu)不同，在此情況下校準裝置28做成壓電校準裝置34。該壓電校準裝置34設(shè)置在導(dǎo)向板 11和12之間，并且能利用未圖示的電源通電，結(jié)果長度b隨著電壓高低而變化，使得導(dǎo)向 板11和12之間的間距和進而接觸元件20的突出長度H可校準。
圖5顯示了接觸裝置1的與圖1的實施例對應(yīng)的另一個實施例，該實施例僅在校準裝置 28上有區(qū)別，在此情況下校準裝置28做成階梯裝置35。設(shè)有兩個階梯裝置35,作為間距保 持器29且由于每個階梯的形成36而具有不同的厚度。在圖5所示的階梯裝置35的位置，利 用了該裝置的最大厚度以將導(dǎo)向板11和12保持在相應(yīng)的間距。如果接觸元件20的突出長度 H不夠了 ，則在先松開相應(yīng)的部件之后將兩個階梯裝置35向外移動，結(jié)果導(dǎo)向板11在之后 的組合中放置于每個階梯裝置35的階梯面37上，從而導(dǎo)向板11和12之間的間距縮小進而 使突出長度H增大相應(yīng)的尺寸。
沖艮據(jù)圖1,間距保持器29的厚度優(yōu)選達到150 nm，從而在撤出保證獲得間隔層之后有 足夠長的、^目對于接觸元件20的直徑而言不是過長的接觸元件伸出量(突出長度H)。
權(quán)利要求
1、一種用于接觸待檢測的電子檢測件(25)，尤其是設(shè)有鍍錫觸點的檢測件(25)的接觸裝置(1)，具有至少兩個帶有缺口(16，17，18，19)的導(dǎo)向元件(2，3，4，5)，通過所述的缺口，接觸元件(20)本質(zhì)上沿軸向延伸，所述接觸元件(20)在分配的導(dǎo)向元件(5)的移向所述檢測件(25)的面上從該面突出以接觸所述檢測件(25)，其特征在于，能夠校準所述導(dǎo)向元件(2，3，4，5)的軸向間距或者移向所述檢測件(25)的導(dǎo)向元件(5)的軸向位置以適應(yīng)突出長度(H)。
2、 如權(quán)利要求1所述的接觸裝置，其特征在于，所述導(dǎo)向元件(2, 3， 4, 5)的軸向間 距能夠利用至少一個校準裝置(28)來校準。
3、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述校準裝置(28)能夠連 續(xù)地校準和/或分等級地校準。
4、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述校準裝置(28)為校準 螺紋裝置(31)。
5、 如前面任意一項權(quán)利要求所迷的接觸裝置，其特征在于，所述校準裝置(28)為氣壓、 液壓和/或壓電的校準裝置(34)。
6、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述校準裝置(28)為本質(zhì) 上能夠徑向移動的楔形裝置和/或階梯裝置(35)。
7、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述校準裝置(28)做成取 出設(shè)備形式，其中通過取出所述的校準裝置(28)而減小所述導(dǎo)向元件(2, 3， 4， 5)之間 的軸向間距。
8、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述導(dǎo)向元件(2, 3, 4， 5) 的軸向間距能夠利用至少一個設(shè)置于所述導(dǎo)向元件(2, 3, 4， 5)之間的間距保持器(29) 進行校準。
9、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述間距保持器(29)在厚 度上可變。
10、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述間距保持器(29)在 厚度上可以利用所述校準裝置(28)，和/或所迷校準螺紋裝置(31),和/或氣壓、液壓和/或 壓電校準裝置(34),和/或楔形裝置和/或階梯裝置(35),和/或取出裝置進行校準。
11、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述軸向間距能夠利用至 少一個可取出的和/或本質(zhì)上可徑向移動的間距保持器(29)進行校準。
12、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述可取出的間距保持器 (29)做成框架形式或者由框架部件(30)裝配而成。
13、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述框架形式的結(jié)構(gòu)做成 至少在一面開放的框架結(jié)構(gòu)。
14、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述框架形式的結(jié)構(gòu)利用 U形框架部件(30)構(gòu)成。
15、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，^沒有若干個，尤其是互相 疊加的間距保持器(29 ),所述間距保持器(29)能夠單個被取出。
16、 如前面任意一項權(quán)利要求所述的接觸裝置，其特征在于，所述尤其互相疊加的間距 保持器(29)圍繞沿軸向的軸(M)互相旋轉(zhuǎn)設(shè)置。
17、 一種用于接觸待檢測的檢測件(25 ),尤其是是設(shè)有鍍錫觸點的檢測件(25 )的方法， 優(yōu)選采用如前面任意一項或幾項權(quán)利要求所述的接觸裝置(1),利用本質(zhì)上沿軸向延伸的、 穿過至少兩個導(dǎo)向元件(2, 3, 4, 5)延伸的接觸元件(20),其中所述接觸元件(20)在分 配的導(dǎo)向元件(5)移向所述檢測件(25)的面上從該面突出以接觸所述;險測件(25),其中 所述導(dǎo)向元件(2， 3， 4, 5)的軸向間距或者移向所述檢測件(25)的導(dǎo)向元件(5)的軸向 位置能夠被校準以適應(yīng)突出長度(H )。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于接觸待檢測電子檢測件(25)，尤其是設(shè)有鍍錫觸點的檢測件(25)的接觸裝置(1)，具有至少兩個帶有缺口(16，17，18，19)的導(dǎo)向元件(2，3，4，5)，通過所述接觸元件(20)本質(zhì)上沿軸向延伸，所述接觸元件(20)在分配的導(dǎo)向元件(5)的向所述檢測件(25)的面上從該面突出以接觸所述檢測件(25)。規(guī)定所述導(dǎo)向元件(2，3，4，5)的軸向間距或者移向所述檢測件(25)的導(dǎo)向元件(5)的軸向位置能夠被校準以適應(yīng)所述突出長度(H)。
文檔編號G01R1/02GK101191800SQ200710162079
公開日2008年6月4日 申請日期2007年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月27日
發(fā)明者烏爾里希·高斯, 賴納·施密德 申請人:精煉金屬股份有限公司