專利名稱：顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，特別涉及一種用來檢測藥錠、膠囊或糖果等的顆粒物產(chǎn)品的完整性的自動化檢測機(jī)械，利用三個圓盤在其周圍等距設(shè)有數(shù)個吸氣孔，且所述第一與第二圓盤及第二與第三圓盤之間相接，再利用控制吸氣孔的開啟與關(guān)閉來使各個顆粒物被穩(wěn)定的取料、運(yùn)送、翻面及排除等工作。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有對顆粒物(如藥錠、膠囊或糖果)篩檢的機(jī)械與工作，大部分是利用偵測器使各顆粒依序落入輸送帶上，再經(jīng)過篩檢員前面以人工目視檢測方式來完成篩檢不良品的工作；有如上述的物料輸送方式，其一面檢測完之后還要將其翻面再檢測第二面，故上述對顆粒物運(yùn)送的方式太過浪費(fèi)人力，所以對此現(xiàn)有顆粒物檢測機(jī)的方法及構(gòu)造，實(shí)有再研究創(chuàng)新的必要。
本案發(fā)明人有鑒上述現(xiàn)有顆粒物篩檢機(jī)以人工檢測的方法及其構(gòu)造上的缺失，精心研究，并積個人從事所述項事業(yè)的多年經(jīng)驗，終設(shè)計出一種嶄新的顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的，旨在提供一種顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，利用所述送料機(jī)構(gòu)的改良設(shè)計，而可達(dá)到對藥錠、膠囊或糖果等的顆粒物進(jìn)行自動檢測其外觀完整的構(gòu)造。
本實(shí)用新型的次一目的，旨在提供一種顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，所述送料機(jī)構(gòu)可準(zhǔn)確且整齊的排列顆粒物依序的通過各個篩檢器，且所述送料機(jī)構(gòu)具有自動翻面，及將檢測結(jié)果區(qū)分良品與不良品分別排除的功能，而且可減少人工目視檢測的誤差。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型提供一種顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，由儲料桶、排料盤、第一檢測盤及第二檢測盤所組成，其中各排料盤、第一檢測盤及第二檢測盤相鄰之間是以等速而相反方向旋轉(zhuǎn)，顆粒物是由儲料筒落入排料盤周圍的每一溝槽之后，再經(jīng)第一及第二檢測盤的轉(zhuǎn)接，使各個顆粒物得整齊排列而依序的經(jīng)過各個設(shè)于第一及第二檢測盤一側(cè)的檢測器前方，以偵測所述顆粒物的各面外觀或內(nèi)容物是否完整，并將偵測結(jié)果依良品與不良品分別排入不同的收料筒；其特征在所述排料盤由外環(huán)體、花盤、數(shù)個定位彈片組成，而花盤是套設(shè)于外環(huán)體之內(nèi)，所述花盤頂面是呈圓錐形，并輻射的設(shè)有數(shù)個溝槽，所述溝槽延伸至花盤側(cè)壁面的落料溝，而在落料溝底端的外壁面環(huán)設(shè)有數(shù)個吸氣孔，所述吸氣孔的位置是分別對應(yīng)于落料溝的正下方，且其另一端連通至花盤的底面；所述定位彈片為長條型片體，底端向內(nèi)形成勾部，而分別設(shè)置于花盤外側(cè)壁的每一落料溝外面與外環(huán)體之間；所述排料盤是可旋轉(zhuǎn)的組裝在固定的底盤上，所述座盤底面設(shè)有一道與鼓風(fēng)機(jī)連通的弧形凹槽，所述弧形凹槽的位置與吸氣孔通至盤體底面的一端相對應(yīng)，以及在接近所述弧形凹槽起始端的一側(cè)邊設(shè)有吸引構(gòu)件，是針對通過其前方的定位彈片底端勾部產(chǎn)生吸力。
在排料盤下方的座盤頂面的弧形凹槽的外側(cè)邊設(shè)有弧形凸緣，所述弧形凸緣相對于落料溝的正下方有顆粒高度的距離。
第一檢測盤與第二檢測盤的側(cè)壁面環(huán)設(shè)有數(shù)個吸氣孔，所述吸氣孔之間距與排料盤的吸氣孔間距相同，且其另一端連通至盤體底面；所述第一與第二檢測盤是分別組裝在一固定的座盤32、42上可旋轉(zhuǎn)，所述座盤32、42頂面設(shè)有一道與鼓風(fēng)機(jī)連通的弧形凹槽，所述弧形凹槽的位置與上述吸氣孔通至盤體底面的一端相對應(yīng)，且對應(yīng)于第一檢測盤底面的弧形凹槽的起始端接近上述排料盤底面的弧形凹槽的末端。
在排料盤、第一檢測盤及第二檢測盤底面的座盤上弧形凹槽接近末端處具有藉以減弱過所述遮蔽部的吸氣孔真空吸力的遮蔽部。
在對應(yīng)于第二檢測盤底面的座盤的弧形凹槽內(nèi)設(shè)有一個或一個以上的用來開啟或關(guān)閉相對應(yīng)位置吸氣孔信道的電磁閥。
據(jù)上述構(gòu)造使用時，顆粒物由儲料筒落入排料盤頂面時，可藉排料盤使各個顆粒物得整齊排列移動，再經(jīng)第一及第二檢測盤的轉(zhuǎn)接與翻面，使各個顆粒物依序的通過各個檢測器前方，以偵測所述顆粒物的各面外觀或內(nèi)容物是否完整，并可將偵測結(jié)果依良品與不良品分別適時排入不同的收料筒內(nèi)收集。


圖1為本實(shí)用新型的整體上視組合圖；圖2為本實(shí)用新型的整體正視組合圖；圖3為本實(shí)用新型中的排料盤的側(cè)視剖視圖；圖4為本實(shí)用新型中的第一、第二檢測盤的側(cè)視剖視圖；圖5為本實(shí)用新型中第二檢測盤的座盤的上視示意圖。
附圖標(biāo)記說明儲料筒1；排料盤2；第一檢測盤3；第二檢測盤4；檢測器5；收料筒6；外環(huán)體21；花盤22；定位彈片23；座盤24、32、42；吸引構(gòu)件25；吸氣孔31、41、223；溝槽221；落料溝222；勾部231；弧形凹槽241、321、421；弧形凸緣242；電磁閥422；遮蔽部243、322、422。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型的構(gòu)造、裝置及其特征舉一較佳的可行實(shí)施例并配合圖式詳細(xì)說明如下。
請搭配圖1至圖4所示，本實(shí)用新型的顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造由儲料桶1、排料盤2、第一檢測盤3及第二檢測盤4所組成，其中各排料盤2、第一檢測盤3及第二檢測盤4相鄰之間是以等速而相反方向旋轉(zhuǎn)，顆粒物是由儲料筒1落入排料盤2周圍的每一溝槽之后，再經(jīng)第一及第二檢測盤3、4的轉(zhuǎn)接，使各個顆粒物得整齊排列而依序的經(jīng)過各個設(shè)于第一及第二檢測盤3、4一側(cè)的檢測器5前方，以偵測所述顆粒物的各面外觀或內(nèi)容物是否完整，并可將偵測結(jié)果依良品與不良品分別排入不同的收料筒6；其特征在于所述排料盤2至少由外環(huán)體21、花盤22、數(shù)個定位彈片23組成，而花盤22是套設(shè)于外環(huán)體21之內(nèi)，所述花盤22頂面是呈圓錐形，并輻射的設(shè)有數(shù)個溝槽221，所述溝槽221且延伸至花盤側(cè)壁面的落料溝222，而在落料溝222底端的外壁面環(huán)設(shè)有數(shù)個吸氣孔223，所述吸氣孔223的位置是分別對應(yīng)于落料溝222的正下方，且其另一端連通至花盤22的底面；所述定位彈片23為長條型片體，底端向內(nèi)形成勾部231，而分別設(shè)置于花盤22外側(cè)壁的每一落料溝222外面與外環(huán)體21之間；所述排料盤2是可旋轉(zhuǎn)的組裝在固定的底盤24上，所述座盤24底面設(shè)有與鼓風(fēng)機(jī)(或真空泵)連通的弧形凹槽241，所述弧形凹槽241的位置與吸氣孔223通至盤體底面的一端相對應(yīng)，以及在接近所述弧形凹槽241起始端的一側(cè)邊設(shè)有一吸引構(gòu)件(磁鐵或真空吸鐵)25，所述吸引構(gòu)件25是針對通過其前方的定位彈片23底端的勾部231產(chǎn)生吸力，以使定位彈片的勾部231離開落料溝222而開啟。
據(jù)上述構(gòu)造使用時，顆粒物由儲料統(tǒng)1落入排料盤2錐形頂面時，會藉其旋轉(zhuǎn)離心力及溝槽221的作用而分別沿周圍的每一落料溝222向下掉落下，此時，顆粒物會先由定位彈片23底端的勾部231暫時勾持而無法再掉落。又當(dāng)所述排料盤2帶著顆粒物轉(zhuǎn)到接近吸引構(gòu)件25時，一方面利用所述吸引構(gòu)件25吸引其所對應(yīng)的定位彈片23底端，使所述一定位彈片23瞬間開啟，而讓所述落料溝222內(nèi)的顆粒物繼續(xù)往下掉，另一方面同時因在其下方對應(yīng)的吸氣孔223的另一端進(jìn)入弧形溝槽241的起始端，致其可以與鼓風(fēng)機(jī)(或真空泵)相通而將剛掉下的顆粒物吸住并隨之移動，而上述被吸開的定位彈片23在離開吸引構(gòu)件25位置時又會自動彈回，以阻擋在落料溝222底部而防止所述落料溝222的其它顆粒物繼續(xù)掉落；如上所述，本實(shí)用新型即可準(zhǔn)確且整齊依序排列顆粒物，并帶動它繼續(xù)向前移動而不掉落。
再者，如上述的座盤24頂面的弧形凹槽241的外側(cè)邊得設(shè)有弧形凸緣242，所述弧形凸緣242且相對于落料溝222的正下方有顆粒物高度的距離；當(dāng)如上述的顆粒物由落料溝222掉到吸氣孔223的位置時，可藉所述弧形凸緣242頂面的支撐，以使落下的顆粒物排列的水平高度更為整齊。
如上述的構(gòu)造，其中的第一檢測盤3與第二檢測盤4的側(cè)壁面環(huán)設(shè)有數(shù)個吸氣孔31、41(如圖2及圖4所示)，所述吸氣孔31、41之間距與排料盤2的吸氣孔223間距相同，且其另一端連通至盤體底面；所述第一與第二檢測盤3、4是分別可旋轉(zhuǎn)的組裝在固定的座盤32、42上，所述座盤32、42頂面設(shè)有一道與鼓風(fēng)機(jī)(或真空泵)連通的弧形凹槽321、421，所述弧形凹槽321、421的位置與上述吸氣孔31、41通至盤體底面的一端相對應(yīng)，且對應(yīng)于第一檢測盤3底面的弧形凹槽321的起始端恰接近上述排料盤2底面的弧形凹槽241的末端，以及所述第二檢測盤4底面的弧形凹槽421的起始端接近第一檢測盤3底面的弧形凹槽321的末端。如上述的構(gòu)造，其中亦可在各個弧形凹槽241、321、421的末端處設(shè)遮蔽部243、322、422，利用所述遮蔽部243、322、422可使對應(yīng)此位置的吸氣孔223、31、41掉落或排除。
如上述的構(gòu)造，當(dāng)顆粒物被吸引并轉(zhuǎn)至排料盤2底面的弧形凹槽241的末端或遮蔽部243時，會因通過此處的吸氣孔223的真空吸力受阻斷或減弱而易于脫落，并在此同時在鄰接的第一檢測盤3上對應(yīng)的吸氣孔31開始吸氣，且這一邊的空氣吸力較強(qiáng)，而可將上述脫落的顆粒物轉(zhuǎn)由第一檢測盤3吸住并隨之移動；同理，被第一檢測盤3吸住的顆粒物在轉(zhuǎn)至所對應(yīng)的弧形凹槽321的末端或遮蔽部322時，可轉(zhuǎn)由第二檢測盤4上對應(yīng)的吸氣孔41吸住并隨之移動，達(dá)到將受檢的顆粒物翻面的功效。
如以上所述構(gòu)造，請參閱圖5所示，其中位于第二檢測盤4底面的座盤42上，在所述座盤42的弧形凹槽421內(nèi)設(shè)有一個或一個以上的電磁閥422，所述電磁閥422可用來控制相對應(yīng)位置的吸氣孔信道開、關(guān)；據(jù)而，當(dāng)受檢的顆粒物被檢測到有瑕疵時，在所述瑕疵的顆粒物移到對應(yīng)于上述電磁閥422的位置的瞬間，所述電磁閥422會受電流的驅(qū)動而產(chǎn)生吹氣進(jìn)入相對應(yīng)位置的吸氣孔41內(nèi)，使所述吸氣孔41內(nèi)的真空吸力減弱，進(jìn)而達(dá)到所述一位置將檢測為良品或不良品的顆粒物排除到不同的收料筒的功效。
綜上所述，本實(shí)用新型的顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，確實(shí)能達(dá)到整齊排列、穩(wěn)定輸送及自動翻面的功效。
權(quán)利要求1.一種顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，由儲料桶、排料盤、第一檢測盤及第二檢測盤所組成，其中各排料盤、第一檢測盤及第二檢測盤相鄰之間是以等速而相反方向旋轉(zhuǎn)，顆粒物是由儲料筒落入排料盤周圍的每一溝槽之后，再經(jīng)第一及第二檢測盤的轉(zhuǎn)接，使各個顆粒物得整齊排列而依序的經(jīng)過各個設(shè)于第一及第二檢測盤一側(cè)的檢測器前方，以偵測所述顆粒物的各面外觀或內(nèi)容物是否完整，并將偵測結(jié)果依良品與不良品分別排入不同的收料筒；其特征在所述排料盤由外環(huán)體、花盤、數(shù)個定位彈片組成，而花盤是套設(shè)于外環(huán)體之內(nèi)，所述花盤頂面是呈圓錐形，并輻射的設(shè)有數(shù)個溝槽，所述溝槽延伸至花盤側(cè)壁面的落料溝，而在落料溝底端的外壁面環(huán)設(shè)有數(shù)個吸氣孔，所述吸氣孔的位置是分別對應(yīng)于落料溝的正下方，且其另一端連通至花盤的底面；所述定位彈片為長條型片體，底端向內(nèi)形成勾部，而分別設(shè)置于花盤外側(cè)壁的每一落料溝外面與外環(huán)體之間；所述排料盤是可旋轉(zhuǎn)的組裝在固定的底盤上，所述座盤底面設(shè)有一道與鼓風(fēng)機(jī)連通的弧形凹槽，所述弧形凹槽的位置與吸氣孔通至盤體底面的一端相對應(yīng)，以及在接近所述弧形凹槽起始端的一側(cè)邊設(shè)有吸引構(gòu)件，是針對通過其前方的定位彈片底端勾部產(chǎn)生吸力。
2.如權(quán)利要求1所述的顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，其特征在于在排料盤下方的座盤頂面的弧形凹槽的外側(cè)邊設(shè)有弧形凸緣，所述弧形凸緣相對于落料溝的正下方有顆粒高度的距離。
3.如權(quán)利要求1所述的顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，其特征在于第一檢測盤與第二檢測盤的側(cè)壁面環(huán)設(shè)有數(shù)個吸氣孔，所述吸氣孔之間距與排料盤的吸氣孔間距相同，且其另一端連通至盤體底面；所述第一與第二檢測盤是分別組裝在一固定的座盤32、42上可旋轉(zhuǎn)，所述座盤32、42頂面設(shè)有一道與鼓風(fēng)機(jī)連通的弧形凹槽，所述弧形凹槽的位置與上述吸氣孔通至盤體底面的一端相對應(yīng)，且對應(yīng)于第一檢測盤底面的弧形凹槽的起始端接近上述排料盤底面的弧形凹槽的末端。
4.如權(quán)利要求3所述的顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，其特征在于在排料盤、第一檢測盤及第二檢測盤底面的座盤上弧形凹槽接近末端處具有藉以減弱過所述遮蔽部的吸氣孔真空吸力的遮蔽部。
5.如權(quán)利要求3所述的顆粒物自動檢測機(jī)的送料構(gòu)造，其特征在于在對應(yīng)于第二檢測盤底面的座盤的弧形凹槽內(nèi)設(shè)有一個或一個以上的用來開啟或關(guān)閉相對應(yīng)位置吸氣孔信道的電磁閥。
專利摘要一種顆粒物篩檢機(jī)的送料構(gòu)造，由儲料桶、排料盤、第一檢測盤及第二檢測盤所組成，其中的顆粒物由儲料桶落入排料盤周圍的每一溝槽之后，再經(jīng)第一及第二檢測盤的轉(zhuǎn)接，使各個顆粒物得整齊排列而依序的經(jīng)過各個設(shè)于第一及第二檢測盤一側(cè)的檢測器前方，以偵測所述顆粒物的外觀或內(nèi)容物是否完整。并可將偵測結(jié)果依良品和不良品分別排入不同的收料筒。
文檔編號G01N35/00GK2906625SQ20062011307
公開日2007年5月30日 申請日期2006年4月25日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月25日
發(fā)明者陳英仁, 陳英任 申請人:陳英仁, 陳英任