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分離式測試治具的制作方法

文檔序號:6119046閱讀:496來源:國知局
專利名稱:分離式測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種分離式測試治具,特別是指一種使用方便、擴展性強的分離式測試治具。
背景技術(shù)
計算機在組配完成之后,需要經(jīng)過全面的功能測試來確定其是否為優(yōu)良品,這其中包括對計算機上各種I/O(input/output輸入輸出)設(shè)備的測試,這些對I/O設(shè)備的測試過程中可能出現(xiàn)各種錯誤,例如,開路、短路等狀況,在出廠前這些問題都應(yīng)該被檢測出來并加以解決。
在大規(guī)模生產(chǎn)時,由于需要測試的機器數(shù)量多,測試時間短,所以大部分設(shè)備的測試均要求實現(xiàn)高速化,為此通常都使用測試治具來實現(xiàn)高速化測試?,F(xiàn)有的I/O設(shè)備測試治具是將一待測試的I/O設(shè)備直接插接在一測試板上,這需要對I/O設(shè)備的接口部分進行頻繁的插拔動作,時間一長則容易將該I/O設(shè)備的接口部分的引腳損壞。

發(fā)明內(nèi)容鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種能有效保護待測端口引腳并能簡化測試程序的測試治具。
一種分離式測試治具,用于測試計算機輸入輸出端口,包括一端口引伸部,該端口引伸部包括一插頭端,該端口引伸部設(shè)有一將該端口的引腳引出的插槽端,該分離式測試治具還包括一測試板卡,該測試板卡設(shè)有一連接該插槽端及設(shè)于該測試板卡上的測試線路的插頭連接部。
相對于現(xiàn)有技術(shù),該分離式測試治具可靠性好,使用方便,能減少測試中對I/O端口的引腳的磨損,更換測試治具過程簡化。

圖1是本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的立體圖。
圖2是本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的第一串口插槽端的正視圖。
圖3是本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的第二串口插槽端的正視圖。
圖4是本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的第三串口插槽端的正視圖。
圖5是本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的滑動式串口測試板卡部分的平面示意圖。
圖6是本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的自由連接式串口測試板卡及其測試線路的平面示意圖。
圖7是本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的一對多測試示意圖。
具體實施方式請參閱圖1,本實用新型分離式測試治具包括一端口引伸部10及一測試板卡30。
請繼續(xù)參閱圖1,該端口引伸部10的一端為一插頭端11,另一端為一插槽端13,該插頭端11與該插槽端13由電纜相連,該插頭端11的形式應(yīng)與計算機的待測I/O端口形式保持一致。例如,若測試端口為串口,則該插頭端11應(yīng)選擇串口插頭,若測試端口為并口,則該插頭端11應(yīng)選擇并口插頭。該插槽端13需根據(jù)該插頭端11的具體形式設(shè)計成相對應(yīng)的形式。例如,若該插頭端11為串口形式,則該插槽端13應(yīng)設(shè)計為串口的連線形式,若該插頭端11為并口形式,則該插槽端13應(yīng)設(shè)計為并口連線形式。其中,每一種形式的插槽端13均可以設(shè)計成多種結(jié)構(gòu)。
下面以串口形式的插槽端13為例,介紹三種不同的串口插槽端設(shè)計。
請參閱圖2,第一串口插槽端131該第一串口插槽端131的插槽引腳排布與串口的針腳排布一一對應(yīng),該第一串口插槽端131的第一到第五引腳按順序排列在插槽的一側(cè),其第六到第九引腳按順序排列在插槽的另一側(cè)。由于該第一串口插槽端131的引腳排布的位置與串口針腳的排布位置是一一對應(yīng)的,這種基本連線方式設(shè)計方便了工作人員的測試及檢查。
請參閱圖3,第二串口插槽端133該第二串口插槽端133的插槽引腳中去掉了第五引腳(該第五引腳為地線,故在測試時可暫不連接),第一到第四引腳及第六到第九引腳共八個引腳按順序呈“一”字形平行排列,引腳的平行排布只要求在測試板卡的一個面上集成測試線路,方便了工作人員的查看,并減少了測試板卡30測試線路設(shè)計的復(fù)雜度,有利于多種測試線路版本集成的測試板卡設(shè)計。
請參閱圖4,第三串口插槽端135該第三串口插槽端135的引腳中也去掉了第五引腳,其引腳是按照使用頻率的高低來分組排列,第二引腳、第三引腳、第四引腳、第六引腳依次按順序排列在插槽的一側(cè),第七引腳、第八引腳、第九引腳、第一引腳依次按順序排列在插槽的另一側(cè),由于引腳是按照使用頻率的高低來排布,因此也可有效降低測試板卡30測試線路設(shè)計的復(fù)雜度,有利于多種測試線路版本集成的測試板卡30設(shè)計,并且能同時減少本測試治具占用的空間。
對于并口插槽端也可以做相類似的結(jié)構(gòu)設(shè)計。例如,將并口插槽端的引腳排布位置與計算機并口的引腳排布位置一一對應(yīng),這樣可方便工作人員的測試及檢查;也可將并口插槽端的引腳排布按照各引腳的使用頻率高低來決定其排布位置,并且由于并口的引腳相對較多,這種引腳排布方式更加能有效降低測試板卡30測試線路設(shè)計的復(fù)雜度。其他I/O端口形式的設(shè)計可以參照以上串口及并口的設(shè)計思路設(shè)計出與各種I/O端口形式相適應(yīng)的插槽端。
該測試板卡30的設(shè)計相對比較靈活,集成于該測試板卡30上的測試電路有多組,并可根據(jù)測試要求進行有針對性的設(shè)計,但其接口部分的設(shè)計需與該端口引伸部10的插槽端13的形式相對應(yīng)。下面以與第一串口插槽端131相對應(yīng)的測試板卡30為例,介紹兩種不同的測試板卡30,每種板卡的測試擴充裝置有所區(qū)別。
請參閱圖5,滑動式串口測試板卡31該滑動式串口測試板卡31的插頭連接部311與該第一串口插槽端131相對應(yīng),該插頭連接部311的一側(cè)設(shè)有10個可滑動金屬彈片313及5個引腳315,這些引腳315分別對應(yīng)該第一串口插槽端131的第一至第五引腳;該插頭連接部311的另一側(cè)設(shè)有8個可滑動金屬彈片317及4個引腳319,這些引腳319分別對應(yīng)該第一串口插槽端131的第六腳至第九腳。該滑動式串口測試板卡31上已集成好的測試線路分為兩組,不同組的測試線路對待測端口的測試重點不同。該滑動金屬彈片313及317被分為兩組,任意兩相鄰的滑動金屬彈片屬于不同組別。該滑動式串口測試板卡31上設(shè)置有與該滑動金屬彈片313及317相連的滑動開關(guān)33,該開關(guān)33撥動時將帶動該滑動金屬彈片313及317滑動,分別使該引腳315及319連到不同組別的滑動金屬彈片313及317上,以連接不同組別的測試線路。
請參閱圖6,自由連接式串口測試板卡35該自由連接式串口測試板卡35的插頭連接部351與該第一串口插槽端131相對應(yīng),該插頭連接部351的一側(cè)設(shè)有五個引腳355,其另一側(cè)設(shè)有4個引腳359。該自由連接式串口測試板卡35上設(shè)有與該引腳355及359相對應(yīng)的插孔37,該引腳355、359可通過連線與該插孔37按測試需要自由組合連接。如圖6所示,該插孔37的第二、第三腳連在一起,第四、第六腳連在一起,第七、第八腳連在一起,第一、第五及第九腳懸空,這種連接方法對應(yīng)測試該測試板卡上的一組測試線路,可測試計算機的待測I/O端口的某個特定的功能;不同的連接方法對應(yīng)該測試板卡上不同的測試線路。
請參閱圖7,該自由連接式串口測試板卡35還能實現(xiàn)一對多的并行測試。一對多的并行測試只需將計算機的待測I/O端口51、53、55的引腳對應(yīng)連線并聯(lián)在該自由連接式串口測試板卡35的插孔37處,即可實現(xiàn)一對多的并行測試。
本實用新型較佳實施方式分離式測試治具的該端口引伸部10的插槽端13及該測試板卡30均為印刷電路板。該端口引伸部的第一串口插槽端131可用第二串口插槽133或第三串口插槽135替換,同時測試板卡30也做相應(yīng)替換;若計算機待測端口為其他形式(如并口、USB通用串行總線端口或IEEE1394火線端口等),該端口引伸部10及與其配套的測試板卡30也應(yīng)做相應(yīng)的設(shè)計替換。
權(quán)利要求1.一種分離式測試治具,用于測試計算機輸入輸出端口,包括一端口引伸部,該端口引伸部包括一插頭端,其特征在于該端口引伸部設(shè)有一將該端口的引腳引出的插槽端,該分離式測試治具還包括一測試板卡,該測試板卡設(shè)有一連接該插槽端及設(shè)于該測試板卡上的測試線路的插頭連接部。
2.如權(quán)利要求1所述的分離式測試治具,其特征在于該插槽端設(shè)有若干連接該插頭連接部的引腳。
3.如權(quán)利要求2所述的分離式測試治具,其特征在于該插槽端的引腳的排布形式與該端口的引腳排布形式一致。
4.如權(quán)利要求2所述的分離式測試治具,其特征在于該插槽端的引腳的排布形式為所有引腳呈“一”字平行排列。
5.如權(quán)利要求2所述的分離式測試治具,其特征在于該插槽端的引腳的排布形式根據(jù)測試線路使用頻率的高低分組排列。
6.如權(quán)利要求1所述的分離式測試治具,其特征在于該端口引伸部的插槽端與插頭端之間由電纜連接。
7.如權(quán)利要求1所述的分離式測試治具,其特征在于該測試板卡上設(shè)有若干可擴充該測試板卡測試功能的滑動金屬彈片。
8.如權(quán)利要求7所述的分離式測試治具,其特征在于該測試板卡上設(shè)有多組不同的測試線路,所述滑動金屬彈片被分為兩組,每一組滑動金屬彈片分別與一組測試線路相連。
9.如權(quán)利要求8所述的分離式測試治具,其特征在于該測試板卡上設(shè)有一帶動所述滑動金屬彈片滑動以選擇測試線路組別的開關(guān)。
10.如權(quán)利要求1所述的分離式測試治具,其特征在于該測試板卡上設(shè)有可擴充測試端口數(shù)量并能自由連接測試線路的若干插孔。
專利摘要一種分離式測試治具,用于測試計算機輸入輸出端口,包括一端口引伸部,該端口引伸部包括一插頭端,該端口引伸部設(shè)有一將該端口的引腳引出的插槽端,該分離式測試治具還包括一測試板卡,該測試板卡設(shè)有一連接該插槽端及設(shè)于該測試板卡上的測試線路的插頭連接部。
文檔編號G01R31/317GK2890923SQ20062005698
公開日2007年4月18日 申請日期2006年3月23日 優(yōu)先權(quán)日2006年3月23日
發(fā)明者劉萍, 陳麗萍 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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