專(zhuān)利名稱(chēng)：檢測(cè)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)儀。
背景技術(shù)：
在組裝生產(chǎn)線上，經(jīng)常需要對(duì)工件上的電導(dǎo)體結(jié)合件進(jìn)行檢測(cè)，以確定其結(jié)合情況是否 良好。
如圖1所示，圖中工件90為一液晶顯示器基座，結(jié)合件包括兩個(gè)第一鉚柱6、三個(gè)第二鉚 柱16、兩個(gè)第三鉚柱8、 一個(gè)第四鉚柱7、 一片方形擋片18及一個(gè)條形擋片19，其中所述第一 鉚柱6和第二鉚柱16差別細(xì)微且所述第一鉚柱6略長(zhǎng)。對(duì)于上述結(jié)合件，需檢測(cè)的指標(biāo)包括 檢測(cè)所述各結(jié)合件是否漏件，檢測(cè)所述兩個(gè)第一鉚柱6和三個(gè)第二鉚柱16的高度，檢測(cè)所述 第一鉚柱6和第二鉚柱16是否錯(cuò)鉚，以及檢測(cè)所述兩個(gè)第一鉚柱6、三個(gè)第二鉚柱16和第四鉚 柱7的位置度/垂直度。
通常，檢測(cè)上述結(jié)合件是否漏件和錯(cuò)鉚，是由人工肉眼檢査完成的。人眼檢測(cè)耗時(shí)長(zhǎng)、 勞動(dòng)強(qiáng)度大，且長(zhǎng)時(shí)間作業(yè)會(huì)使得操作人員視覺(jué)極易疲勞，從而導(dǎo)致檢測(cè)精準(zhǔn)度低、檢錯(cuò)率 高。此方法效率低下，不能滿足量化生產(chǎn)的需求。
請(qǐng)參考圖2和圖3，檢測(cè)上述結(jié)合件的高度通常使用一高度檢具91完成，圖3中D皿x為所述 結(jié)合件的最大極限尺寸，D^n為所述結(jié)合件的最小極限尺寸。檢具91底面貼緊工件90，向鉚 柱方向滑動(dòng)，當(dāng)所述檢具91最大極限尺寸處可通過(guò)、最小極限尺寸處通不過(guò)時(shí)，則鉚柱高度 合格，否則為不合格。其中所述檢具91最大極限尺寸和最小極限尺寸的差值為所述鉚柱高度 所要求的公差值的二倍。此外，不同的鉚柱須使用不同的高度檢具來(lái)檢測(cè)。用此方法，檢測(cè) 一個(gè)工件上多量、多種的鉚柱，比如檢測(cè)連接至所述工件90上的兩個(gè)第一鉚柱6和三個(gè)第二 鉚柱16，對(duì)于操作人員來(lái)講勞動(dòng)強(qiáng)度大、工作過(guò)程復(fù)雜且生產(chǎn)效率低下，不適合量化生產(chǎn)。
請(qǐng)參考圖4，生產(chǎn)線上常使用圖中所示的檢具92檢測(cè)上述結(jié)合件的位置度/垂直度。檢測(cè) 時(shí)，操作人員手持所述檢具92的把手，將檢具92上若干檢測(cè)孔對(duì)準(zhǔn)工件90上的若干被檢測(cè)鉚 柱，將治具平行向下放入所述工件90，當(dāng)所述工件90上的若干被檢測(cè)鉚柱無(wú)阻礙通過(guò)治具上 對(duì)應(yīng)的檢測(cè)孔，則被檢測(cè)鉚柱的位置/垂直度合格，否則，不合格。其中，所述檢具92上檢 測(cè)孔的直徑大于對(duì)應(yīng)被檢測(cè)鉚柱的橫截面直徑，且其差值等于被測(cè)鉚柱位置度/垂直度所要 求的公差值。用此方法檢測(cè)，難以將所述檢具92上檢測(cè)孔對(duì)準(zhǔn)工件90上的被檢測(cè)鉚柱，從而導(dǎo)致被檢測(cè)鉚柱可能會(huì)被檢具沖擊而發(fā)生傾斜等情況；另外，人工同時(shí)判斷若干個(gè)被檢鉚柱 與所述檢具92上的對(duì)應(yīng)檢測(cè)孔的孔壁的觸碰情況相當(dāng)困難，從而嚴(yán)重影響檢測(cè)的精確度。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一操作簡(jiǎn)單快速、檢測(cè)結(jié)果可靠的檢測(cè)儀。 一種檢測(cè)儀，用以檢測(cè)連接于工件的至少一電導(dǎo)體結(jié)合件的漏件、位置度/垂直度、偏 高及偏低等中至少一項(xiàng)檢測(cè)指標(biāo)，所述檢測(cè)儀包括一用于支撐所述工件的下部測(cè)量體、 一活 動(dòng)設(shè)置于所述下部測(cè)量體上方的上部測(cè)量體、 一電源、 一處理器及一結(jié)果指示裝置，所述下 部測(cè)量體和上部測(cè)量體中至少其一對(duì)應(yīng)所述結(jié)合件的檢測(cè)指標(biāo)設(shè)置至少一檢測(cè)件，所述上部 測(cè)量體相對(duì)移動(dòng)至頂住所述下部測(cè)量體支撐的所述工件后，所述檢測(cè)件可與對(duì)應(yīng)結(jié)合件接觸 ，所述檢測(cè)件與對(duì)應(yīng)結(jié)合件組成一開(kāi)關(guān)系統(tǒng)，所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)與所述電源兩極電性相連，所述 開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷表示對(duì)應(yīng)檢測(cè)指標(biāo)合格與否，所述處理器根據(jù)所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷狀態(tài)控制 所述結(jié)果指示裝置指示檢測(cè)結(jié)果。
一種檢測(cè)儀，用以檢測(cè)連接于工件的至少一個(gè)電導(dǎo)體結(jié)合件漏件與否，所述檢測(cè)儀包括 一用于支撐所述工件的下部測(cè)量體、 一活動(dòng)設(shè)置于所述下部測(cè)量體上方的上部測(cè)量體、 一電 源、 一處理器及一結(jié)果指示裝置，所述下部測(cè)量體和上部測(cè)量體中至少其一對(duì)應(yīng)所述結(jié)合件 設(shè)置一個(gè)可在彈性元件的彈性約束下滑動(dòng)的電導(dǎo)性的檢測(cè)銷(xiāo)及一個(gè)行程檢測(cè)器，所述行程檢 測(cè)器上包括一行程開(kāi)關(guān)，所述檢測(cè)銷(xiāo)一端可與所述結(jié)合件接觸并可在所述結(jié)合件的抵壓下受 迫滑動(dòng)，另一端與所述行程開(kāi)關(guān)連接并可抵壓所述行程開(kāi)關(guān)，所述檢測(cè)銷(xiāo)及行程檢測(cè)器與對(duì) 應(yīng)結(jié)合件組成一開(kāi)關(guān)系統(tǒng)，所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)與所述電源兩極電性相連，所述上部測(cè)量體相對(duì)移 動(dòng)至頂住所述下部測(cè)量體支撐的所述工件后，若所述結(jié)合件無(wú)漏件，則所述檢測(cè)銷(xiāo)在所述結(jié) 合件的抵壓下受迫滑動(dòng)而按壓所述行程開(kāi)關(guān)，則所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，否則若所述結(jié)合件漏件 ，則所述檢測(cè)銷(xiāo)在其上彈性元件的彈性約束下不會(huì)產(chǎn)生滑動(dòng)而無(wú)法按壓所述行程開(kāi)關(guān)，則所 述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)斷開(kāi)，所述處理器根據(jù)所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷狀態(tài)控制所述結(jié)果指示裝置指示檢測(cè) 結(jié)果。
一種檢測(cè)儀，用以檢測(cè)連接于工件的至少一個(gè)電導(dǎo)體結(jié)合件偏高是否小于所要求的公差 值，所述檢測(cè)儀包括一用于支撐所述工件的下部測(cè)量體、 一活動(dòng)設(shè)置于所述下部測(cè)量體上方 的上部測(cè)量體、 一電源、 一處理器及一結(jié)果指示裝置，所述下部測(cè)量體和上部測(cè)量體中至少 其一對(duì)應(yīng)所述結(jié)合件設(shè)置一個(gè)可在彈性元件的彈性約束下滑動(dòng)的電導(dǎo)性的檢測(cè)銷(xiāo)及一個(gè)可在 彈性元件的彈性約束下滑動(dòng)的限位檢測(cè)塊，所述檢測(cè)銷(xiāo)及限位檢測(cè)塊與對(duì)應(yīng)結(jié)合件組成一開(kāi) 關(guān)系統(tǒng)，所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)與所述電源兩極電性相連，當(dāng)所述結(jié)合件偏高量不小于所要求的公差
值時(shí)，所述上部測(cè)量體相對(duì)移動(dòng)至頂住所述下部測(cè)量體支撐的所述工件后，所述檢測(cè)銷(xiāo)一端 與所述結(jié)合件接觸并在所述結(jié)合件的抵壓下被迫滑動(dòng)，所述檢測(cè)銷(xiāo)另一端接觸或頂起所述限 位檢測(cè)塊，使所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，當(dāng)所述結(jié)合件偏高量小于所要求的公差值時(shí)，所述檢測(cè)銷(xiāo) 另一端不會(huì)接觸所述限位檢測(cè)塊，所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)斷開(kāi)，所述處理器根據(jù)所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷 狀態(tài)控制所述結(jié)果指示裝置指示檢測(cè)結(jié)果。
本發(fā)明檢測(cè)儀，將所述結(jié)合件與對(duì)其做檢測(cè)的元件納入一電流回路，并將所述結(jié)合件與 對(duì)其做檢測(cè)的元件的接觸條件與所述結(jié)合件的檢測(cè)指標(biāo)直接掛鉤，而使所述結(jié)合件與對(duì)其做 檢測(cè)的元件成為決定所述電流回路通斷的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)，從而通過(guò)判斷所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷來(lái)快 速得出對(duì)所述結(jié)合件的檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明檢測(cè)儀將機(jī)械與電子結(jié)合，大大提高了檢測(cè)的速度 和可靠度，適應(yīng)量化生產(chǎn)的需要。


下面參考附圖結(jié)合具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。
圖1為工件及被檢測(cè)結(jié)合件的立體分解圖。
圖2為原檢測(cè)結(jié)合件高度的檢具及被檢測(cè)工件的立體示意圖。
圖3為圖2的一側(cè)視圖。
圖4為原檢測(cè)結(jié)合件位置度/垂直度的檢具及被檢測(cè)工件另一視角的立體圖。
圖5為本發(fā)明檢測(cè)儀較佳實(shí)施方式的立體圖。
圖6為圖5的分解圖。
圖7為本發(fā)明檢測(cè)儀較佳實(shí)施方式中被檢測(cè)結(jié)合件合格時(shí)的檢測(cè)原理圖。
圖8為圖7中I部分的局部放大圖。
圖9為本發(fā)明檢測(cè)儀較佳實(shí)施方式中被檢測(cè)結(jié)合件漏件時(shí)的檢測(cè)原理圖。
圖10為本發(fā)明檢測(cè)儀較佳實(shí)施方式中被檢測(cè)結(jié)合件位置度/垂直度超差時(shí)的檢測(cè)原理圖
圖ll為本發(fā)明檢測(cè)儀較佳實(shí)施方式中被檢測(cè)結(jié)合件高度偏高時(shí)的檢測(cè)原理圖。
圖12為本發(fā)明檢測(cè)儀較佳實(shí)施方式中被檢測(cè)結(jié)合件高度偏低時(shí)的檢測(cè)原理圖。
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參考圖5和圖6，本發(fā)明檢測(cè)儀的較佳實(shí)施方式包括一電氣控制箱50、 一個(gè)裝設(shè)于所述 電氣控制箱50下方的固定支撐架20、 一固定于所述電氣控制箱50上的氣缸支撐體60、 一裝設(shè) 于所述電氣控制箱50前部的光柵架30、 一裝設(shè)于所述氣缸支撐體60的底板62上的下部測(cè)量體 10、 一個(gè)固定于所述氣缸支撐體60的氣缸裝置68及一個(gè)固定于所述氣缸裝置68下部并懸于所述下部測(cè)量體10上方的上部測(cè)量體80。
所述電氣控制箱50前部上表面設(shè)有一顯示器42、 一指示燈44及若干控制按鈕52;所述電 氣控制箱50內(nèi)設(shè)有一電源及一處理器，在本實(shí)施例中所述處理器為一單片機(jī)。
所述固定支撐架20用以支撐固定所述電氣控制箱50，其下部還設(shè)有四個(gè)輪子，以方便移 動(dòng)本較佳實(shí)施方式檢測(cè)儀。
所述氣缸支撐體60包括一個(gè)空心的"L"形支架64、 一個(gè)固定于所述支架64下端的底板 62及一個(gè)位于所述支架64頂部的報(bào)警器46，所述底板62上開(kāi)設(shè)一方孔，所述下部測(cè)量體10對(duì) 應(yīng)裝設(shè)于所述方孔處。
所述電氣控制箱50上的顯示器42和指示燈44以及所述氣缸支撐體60上的報(bào)警器46組成本 發(fā)明較佳實(shí)施方式的結(jié)果指示裝置。
所述光柵架30包括一個(gè)用于安裝及固定光柵架30于所述電氣控制箱50的架體32和裝設(shè)于 所述架體32兩端的一對(duì)光柵34。所述光柵34接入所述檢測(cè)儀的開(kāi)關(guān)電路，當(dāng)操作人員的手臂 進(jìn)入所述檢測(cè)儀的工作區(qū)域時(shí)，所述光柵34之間光路被遮擋，所述檢測(cè)儀將停止工作，以保 護(hù)操作人員。
請(qǐng)結(jié)合圖7，所述下部測(cè)量體10是依照被檢測(cè)工件90的輪廓設(shè)計(jì)的，其包括一個(gè)可導(dǎo)電 的底板ll、固定于所述底板11下表面的若干絕緣固定塊12、對(duì)應(yīng)裝設(shè)于所述絕緣固定塊12內(nèi) 的若干檢測(cè)鋼套13、在彈簧的彈性約束下滑動(dòng)地裝設(shè)于所述底板11的若干檢測(cè)銷(xiāo)14，以及固 定于所述底板11下表面并對(duì)應(yīng)位于所述檢測(cè)銷(xiāo)14下方的若干行程檢測(cè)器15。所述底板ll接有 引線E，所述檢測(cè)鋼套13接有引線F。所述引線E、 F分別與所述電氣控制箱50內(nèi)的電源電性相 連。
所述上部測(cè)量體80為一個(gè)方盒體，其包括一個(gè)不導(dǎo)電的基座81、若干裝設(shè)于所述基座 81下方的壓緊支撐銷(xiāo)5、若干通過(guò)彈簧彈性裝設(shè)于所述基座81下方的檢測(cè)銷(xiāo)9、若干固定裝設(shè) 于所述基座81下方的檢測(cè)鋼套4、若干固定裝設(shè)于所述基座81上方的固定鋼套18、若干貫穿 裝設(shè)于所述基座81并對(duì)應(yīng)伸入所述檢測(cè)鋼套4和在彈簧的彈性約束下滑動(dòng)地套接于所述固定 鋼套18內(nèi)的檢測(cè)銷(xiāo)2，以及若干在彈簧的彈性約束下滑動(dòng)地裝設(shè)于所述基座81并位于所述檢 測(cè)銷(xiāo)2上方的限位檢測(cè)塊1 。所述上部測(cè)量體80的檢測(cè)鋼套4設(shè)有一圓柱體中空部分。安裝于 所述基座81上的各部件均是導(dǎo)電體，所述檢測(cè)銷(xiāo)2接有引線A，所述限位檢測(cè)塊1接有引線B， 所述檢測(cè)鋼套4接有引線C，所述檢測(cè)銷(xiāo)9接有引線D。所述引線A、 B、 C、 D分別與所述電氣控 制箱50內(nèi)電源相連。
下面，以一個(gè)第一鉚柱6、 一個(gè)第三鉚柱8和第四鉚柱7的檢測(cè)情況為例，描述本發(fā)明檢
測(cè)儀較佳實(shí)施方式的工作原理。
請(qǐng)參考圖9，并對(duì)比圖7。圖7顯示所述第一鉚柱6、第四鉚柱7和第三鉚柱8各檢測(cè)指標(biāo)均 合格且剛好無(wú)偏差的情況，圖9顯示圖7中所述第四鉚柱7和第三鉚柱8漏件的情況。將所述工 件90對(duì)應(yīng)放置于所述下部測(cè)量體10上，所述上部測(cè)量體80在所述氣缸支撐體60的氣缸裝置 68的帶動(dòng)下向下移動(dòng)，所述上部測(cè)量體80移動(dòng)至其上壓緊支撐銷(xiāo)5剛好壓緊所述工件90為止 。則當(dāng)所述第四鉚柱7無(wú)漏件時(shí)，所述檢測(cè)銷(xiāo)9隨所述上部測(cè)量體80向下移動(dòng)過(guò)程中，所述檢 測(cè)銷(xiāo)9遇到所述第四鉚柱7底面的阻擋，所述檢測(cè)銷(xiāo)9將相對(duì)于所述上部測(cè)量體80上升，所述 檢測(cè)銷(xiāo)9上的彈簧被壓縮，導(dǎo)致所述檢測(cè)銷(xiāo)9頂住所述第四鉚柱7，于是所述檢測(cè)銷(xiāo)9與所述第 四鉚柱7組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，回路電流將從電源依次流過(guò)所述引線D、所述檢測(cè)銷(xiāo)9、所述 第四鉚柱7、所述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E，最后回到電源，回路導(dǎo)通，所述 處理器偵測(cè)到所述回路導(dǎo)通信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示；若所述第四鉚柱 7漏件時(shí)，則所述檢測(cè)銷(xiāo)9在向下移動(dòng)過(guò)程中將不受阻擋而部分穿過(guò)所述第四鉚柱7對(duì)應(yīng)于所 述工件90上的鉚孔，所述檢測(cè)銷(xiāo)9與所述第四鉚柱7組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)由于所述第四鉚柱7的漏 件而無(wú)法導(dǎo)通，所述引線D、所述檢測(cè)銷(xiāo)9、所述第四鉚柱7、所述工件90、所述下部測(cè)量體 IO和所述引線E所在的回路將無(wú)電流流過(guò)，回路斷路，所述處理器偵測(cè)到所述回路斷路信號(hào) ，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示。當(dāng)所述第三鉚柱8無(wú)漏件時(shí)，所述第三鉚柱8將抵 壓所述檢測(cè)銷(xiāo)14而使其上彈簧被壓縮，所述檢測(cè)銷(xiāo)14向下移動(dòng)而使所述行程檢測(cè)器15上的行 程開(kāi)關(guān)閉合，所述檢測(cè)銷(xiāo)14、所述行程檢測(cè)器15和所述第三鉚柱8組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，所 述行程檢測(cè)器15導(dǎo)通，所述處理器偵測(cè)到所述行程檢測(cè)器15的導(dǎo)通信號(hào)，并控制所述結(jié)果指 示裝置做出相應(yīng)指示；當(dāng)所述第三鉚柱8漏件時(shí)，所述檢測(cè)銷(xiāo)14不被抵壓，所述檢測(cè)銷(xiāo)14在 其上彈簧的約束下不會(huì)產(chǎn)生移動(dòng)而無(wú)法使所述行程檢測(cè)器15上的行程開(kāi)關(guān)閉合，所述檢測(cè)銷(xiāo) 14、所述行程檢測(cè)器15和所述第三鉚柱8組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)由于所述第三鉚柱8的漏件而不導(dǎo)通 ，所述行程檢測(cè)器15是斷開(kāi)的，所述處理器偵測(cè)到所述行程檢測(cè)器15的斷開(kāi)信號(hào)，并控制所 述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示。同理，對(duì)所述工件90上其它結(jié)合件漏件的判斷，也可以利用 所述第四鉚柱7或第三鉚柱8的漏件判斷的方式來(lái)進(jìn)行。
請(qǐng)參考圖IO，并對(duì)比圖7。圖10顯示所述第一鉚柱6和第四鉚柱7位置度/垂直度超差的情 況。所述第一鉚柱6或第四鉚柱7位置度/垂直度檢測(cè)指標(biāo)的判斷標(biāo)準(zhǔn)為所述第一鉚柱6或第四 鉚柱7位置度/垂直度的偏移量是否超出公差值范圍，即所述第一鉚柱6或第四鉚柱7位置度/ 垂直度的偏移量小于公差值時(shí)為合格，否則為超差。設(shè)定所述第一鉚柱6位置度/垂直度合格 時(shí)，所述上部測(cè)量體80的檢測(cè)鋼套4的圓柱體中空部分的中心線與所述第一鉚柱6的中心線處于同一直線上，假設(shè)所述第一鉚柱6的橫截面直徑為d6，設(shè)定所述第一鉚柱6的位置度/垂直 度公差值為^6，則所述檢測(cè)鋼套4的中空部分的橫截面直徑為D6， D6= d6+06。若所述第一 鉚柱6位置度/垂直度合格，則當(dāng)所述上部測(cè)量體80的壓緊支撐銷(xiāo)5壓緊所述工件90時(shí)，所述 第一鉚柱6伸入所述檢測(cè)鋼套4而不會(huì)與之接觸，即所述檢測(cè)鋼套4與所述第一鉚柱6組成的開(kāi) 關(guān)系統(tǒng)不導(dǎo)通，所述引線C、所述檢測(cè)鋼套4、所述第一鉚柱6、所述工件90、所述下部測(cè)量 體l0和所述引線E以及電源所組成的回路將無(wú)電流流過(guò)，回路斷路，所述處理器偵測(cè)到所述 回路斷路信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示；當(dāng)所述第一鉚柱6的位置度/垂直度 超差時(shí)，所述檢測(cè)鋼套4將與所述第一鉚柱6接觸，即所述檢測(cè)鋼套4與所述第一鉚柱6組成的 開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，回路電流將從電源依次流過(guò)所述引線C、所述檢測(cè)鋼套4、所述第一鉚柱6、 所述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E，最后回到電源，回路導(dǎo)通，所述處理器偵測(cè) 到所述回路導(dǎo)通信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示。設(shè)定所述第四鉚柱7位置度 /垂直度合格時(shí)，所述檢測(cè)鋼套l3的中空部分的圓柱體中心線與所述第四鉚柱7的中心線處于 同一直線上，假設(shè)所述第四鉚柱7的橫截面直徑為d7，設(shè)定所述第四鉚柱7的位置度/垂直度 公差值為^7，則所述檢測(cè)鋼套13中空部分的橫截面直徑為D7， D7= d7+ 07。若所述第四鉚 柱7位置度/垂直度合格，則當(dāng)所述上部測(cè)量體80的壓緊支撐銷(xiāo)5壓緊所述工件90時(shí)，所述檢 測(cè)鋼套13不會(huì)與所述第四鉚柱7接觸，即所述檢測(cè)鋼套13與所述第四鉚柱7組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)不 導(dǎo)通，所述引線D、所述檢測(cè)銷(xiāo)9、所述第四鉚柱7、所述檢測(cè)鋼套13和所述引線F以及電源所 組成的回路將無(wú)電流流過(guò)，回路斷路，所述處理器偵測(cè)到所述回路導(dǎo)通信號(hào)，并控制所述結(jié) 果指示裝置做出相應(yīng)指示；若所述第四鉚柱7的位置度/垂直度超差，則所述檢測(cè)鋼套13將與 所述第四鉚柱7接觸，即所述檢測(cè)鋼套13與所述第四鉚柱7組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，回路電流從 電源依次流過(guò)所述引線D、所述檢測(cè)銷(xiāo)9、所述第四鉚柱7、所述檢測(cè)鋼套13和所述引線F，最 后回到電源，回路導(dǎo)通，所述處理器偵測(cè)到所述回路導(dǎo)通信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做 出相應(yīng)指示。
請(qǐng)參考圖ll，并對(duì)比圖7。圖11顯示所述第一鉚柱6高度偏高的情況。所述第一鉚柱6高 度檢測(cè)指標(biāo)的判斷標(biāo)準(zhǔn)為所述第一鉚柱6的高度偏差量是否超出公差值范圍，即所述第一鉚 柱6高度偏差量小于公差值時(shí)為合格，所述第一鉚柱6高度偏高量不小于公差值時(shí)為偏高。假 設(shè)所述第一鉚柱6高度的公差值為S 。若所述第一鉚柱6高度合格，則當(dāng)所述上部測(cè)量體80的 壓緊支撐銷(xiāo)5壓緊所述工件90時(shí)，所述上部測(cè)量體80的檢測(cè)銷(xiāo)2被所述第一鉚柱6頂起，被頂 起的距離小于2S，特別地，當(dāng)所述第一鉚柱6的高度毫無(wú)偏差時(shí)，所述檢測(cè)銷(xiāo)2的接觸片17 (如圖8所示)到所述限位檢測(cè)塊1和所述固定鋼套18的距離均為S ，所述檢測(cè)銷(xiāo)2與所述第
一鉚柱6組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，電流將從電源依次流過(guò)所述引線A、所述檢測(cè)銷(xiāo)2、所述第一 鉚柱6、所述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E，最后回到電源，而由于所述所述檢測(cè) 銷(xiāo)2沒(méi)有觸及所述限位檢測(cè)塊1 ，所述檢測(cè)銷(xiāo)2與所述限位檢測(cè)塊1組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)斷開(kāi)，則對(duì) 于另一回路中依次連接的所述引線B、所述限位檢測(cè)塊l、所述檢測(cè)銷(xiāo)2、所述第一鉚柱6、所 述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E，其無(wú)電流流過(guò)，此時(shí)所述處理器偵測(cè)到上述兩 回路的通斷信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示；若所述第一鉚柱6高度偏高，則 所述上部測(cè)量體80的檢測(cè)銷(xiāo)2被所述第一鉚柱6頂起，被頂起的距離不小于2 S ，所述檢測(cè)銷(xiāo) 2與所述第一鉚柱6組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，電流將從電源依次流過(guò)所述引線A、所述檢測(cè)銷(xiāo)2、 所述第一鉚柱6、所述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E，最后回到電源，同時(shí)，由于 所述所述檢測(cè)銷(xiāo)2觸及或頂起所述限位檢測(cè)塊1，所述檢測(cè)銷(xiāo)2與所述限位檢測(cè)塊1組成的開(kāi)關(guān) 系統(tǒng)導(dǎo)通，則對(duì)于另一回路，電流也將將從電源依次流過(guò)所述引線B、所述限位檢測(cè)塊l、所 述檢測(cè)銷(xiāo)2、所述第一鉚柱6、所述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E最后回到電源， 此時(shí)所述處理器偵測(cè)到上述兩回路的導(dǎo)通信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示。另 外，利用此方式也可判斷是否將較短的所述第二鉚柱16錯(cuò)鉚為較長(zhǎng)的所述第一鉚柱6。
請(qǐng)參考圖12，并對(duì)比圖7。圖12顯示所述第一鉚柱6高度偏低的情況。所述第一鉚柱6高 度檢測(cè)指標(biāo)的判斷標(biāo)準(zhǔn)為所述第一鉚柱6的高度偏差量是否超出公差值范圍，即所述第一鉚 柱6高度偏差量不大于公差值時(shí)為合格，所述第一鉚柱6高度偏低量大于公差值時(shí)為偏低。若 所述第一鉚柱6高度合格，則當(dāng)所述上部測(cè)量體80的壓緊支撐銷(xiāo)5壓緊所述工件90時(shí)，所述上 部測(cè)量體80的檢測(cè)銷(xiāo)2被所述第一鉚柱6頂起，被頂起的距離小于2 S ，所述檢測(cè)銷(xiāo)2與所述第 一鉚柱6組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)導(dǎo)通，電流將從電源依次流過(guò)所述引線A、所述檢測(cè)銷(xiāo)2、所述第一 鉚柱6、所述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E最后回到電源，回路導(dǎo)通，所述處理器 偵測(cè)到所述回路導(dǎo)通信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示；若所述第一鉚柱6高度 偏低，則所述第一鉚柱6無(wú)法觸及所述上部測(cè)量體80的檢測(cè)銷(xiāo)2，所述檢測(cè)銷(xiāo)2與所述第一鉚 柱6組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)斷開(kāi)，回路中將無(wú)電流流過(guò)所述引線A、所述檢測(cè)銷(xiāo)2、所述第一鉚柱6、 所述工件90、所述下部測(cè)量體10和所述引線E，回路斷路，所述處理器偵測(cè)到所述回路斷路 信號(hào)，并控制所述結(jié)果指示裝置做出相應(yīng)指示。另外，利用此方式也可判斷是否將較長(zhǎng)的所 述第一鉚柱6錯(cuò)鉚為較短的所述第二鉚柱16。
上述各電路的通斷狀態(tài)均由所述單片機(jī)采集、判斷及處理。由于上述各電路的通斷狀態(tài) ，只取決于各電路中所述各結(jié)合件及與其作連接的檢測(cè)件所組成的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷狀態(tài)，因 此，實(shí)際上所述單片機(jī)是對(duì)所述各開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷狀態(tài)做出采集、判斷及處理。所述單片機(jī)
將處理結(jié)果傳送給所述顯示器42、指示燈44以及報(bào)警器46組成的結(jié)果指示裝置。當(dāng)單片機(jī)采 集、判斷及處理后得出所述各結(jié)合件的檢測(cè)指標(biāo)均合格時(shí)，所述指示燈44亮且所述顯示器 42上顯示"0K";當(dāng)單片機(jī)得出所述各結(jié)合件的檢測(cè)指標(biāo)存在不合格情況時(shí)，所述報(bào)警器46 報(bào)警且所述顯示器42上顯示不合格的指標(biāo)及不合格結(jié)合件在所述工件90上的對(duì)應(yīng)點(diǎn)位。當(dāng)然 ，組成所述結(jié)果指示裝置的顯示器42、指示燈44以及報(bào)警器46也可以單獨(dú)使用或者兩兩結(jié)合 使用。
另外，根據(jù)檢測(cè)精度要求等的不同需要，本實(shí)施例中的彈簧還可以用其它彈性元件如彈 性橡膠、彈性樹(shù)脂、油氣和液壓機(jī)構(gòu)等進(jìn)行替代。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)儀，用以檢測(cè)連接于工件的至少一個(gè)電導(dǎo)體結(jié)合件的至少一項(xiàng)檢測(cè)指標(biāo)，其特征在于所述檢測(cè)儀包括一用于支撐所述工件的下部測(cè)量體、一活動(dòng)設(shè)置于所述下部測(cè)量體上方的上部測(cè)量體、一電源、一處理器及一結(jié)果指示裝置，所述下部測(cè)量體和上部測(cè)量體中至少其一對(duì)應(yīng)所述結(jié)合件的檢測(cè)指標(biāo)設(shè)置至少一檢測(cè)件，所述上部測(cè)量體相對(duì)移動(dòng)至頂住所述下部測(cè)量體支撐的所述工件后，所述檢測(cè)件可與對(duì)應(yīng)結(jié)合件接觸，所述檢測(cè)件與對(duì)應(yīng)結(jié)合件組成一開(kāi)關(guān)系統(tǒng)，所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)與所述電源兩極電性相連，所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷表示對(duì)應(yīng)檢測(cè)指標(biāo)合格與否，所述處理器根據(jù)所述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的通斷狀態(tài)控制所述結(jié)果指示裝置指示檢測(cè)結(jié)果。
全文摘要
一種檢測(cè)儀，用以檢測(cè)連接于工件的至少一電導(dǎo)體結(jié)合件的漏件、位置度/垂直度、偏高及偏低等中至少一項(xiàng)檢測(cè)指標(biāo)，包括一支撐工件的下部測(cè)量體、一活動(dòng)設(shè)于下部測(cè)量體上方的上部測(cè)量體、一電源、一處理器及一結(jié)果指示裝置。下部測(cè)量體和上部測(cè)量體中至少其一對(duì)應(yīng)結(jié)合件的每項(xiàng)檢測(cè)指標(biāo)設(shè)置至少一檢測(cè)件，上部測(cè)量體頂住工件后，檢測(cè)件可與對(duì)應(yīng)結(jié)合件接觸并與其組成一開(kāi)關(guān)系統(tǒng)。開(kāi)關(guān)系統(tǒng)與電源兩極相連，其通斷表示對(duì)應(yīng)檢測(cè)指標(biāo)合格與否。處理器根據(jù)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)通斷狀態(tài)控制結(jié)果指示裝置指示檢測(cè)結(jié)果。所述檢測(cè)儀大大提高了檢測(cè)速度和可靠度，適應(yīng)量化生產(chǎn)需要。
文檔編號(hào)G01D21/00GK101196414SQ20061020121
公開(kāi)日2008年6月11日 申請(qǐng)日期2006年12月5日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月5日
發(fā)明者宮連仲, 張秉君 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司