專利名稱：一種發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子電路測試領(lǐng)域，特別涉及到一種發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路。
背景技術(shù)：
通常發(fā)光二極管經(jīng)封裝完成后，需要對其電性參數(shù)或光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測試，以確保其相關(guān)性能指標(biāo)和可適用性。以前的測試方法主要是利用專用的發(fā)光二極管儀器完成，普遍存在效率低，精準(zhǔn)度低的缺點；目前普遍使用的是自動化程度較高且精度較高的電路完成測試，該測試方法比以前的人工分光相比，存在很大的進(jìn)步，但其本身仍存在一些缺陷，比如在測試發(fā)光二極管正向電壓時，發(fā)光二極管與正向恒流源導(dǎo)通后，發(fā)現(xiàn)通過發(fā)光二極管的正向電流隨時間的延長有所降低，并且降到一頂程度后才會穩(wěn)定，因此，直接導(dǎo)致了所測發(fā)光二極管正向電壓值偏高；并且在不同的電壓環(huán)境下，測試發(fā)光二極管的各項電性參數(shù)都會有較大誤差；在測試電路中所選用的電子元器件的精度，靈敏度不同，往往也會導(dǎo)致測試結(jié)果存在誤差，并且電流源或電壓源的調(diào)整范圍較小，同樣也影響了可測試發(fā)光二極管對象的范圍。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路，其中，電阻R1、R2與R3串聯(lián)，連接在地線與恒壓源/恒流源之間，由計算機上層控制軟件控制恒壓源/恒流源的輸出，電阻R2兩端的取樣電壓與指定的標(biāo)準(zhǔn)電壓源均通過切換電路輸入至計算機上層控制軟件；標(biāo)準(zhǔn)電壓源接入電路，構(gòu)成本電路的校準(zhǔn)回路；計算機上層控制軟件分別與D/A恒壓源基準(zhǔn)和D/A恒流源基準(zhǔn)相接，所述D/A恒壓源基準(zhǔn)和D/A恒流源基準(zhǔn)分別提供了各自的參考電壓，所述D/A恒壓源基準(zhǔn)通過與其對應(yīng)的比較器的一個輸入端與恒壓源相連，電阻R2和R3之間的節(jié)點電位與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒壓源相關(guān)的反饋電路，該比較器的輸出端與恒壓源連接，恒壓源與其反饋電路路構(gòu)成本電路的恒壓控制回路；在所述的第二回路中，比較器將電阻R2和R3之間的節(jié)點電位和D/A恒壓源基準(zhǔn)的輸入電壓進(jìn)行比較判斷，確保FH點電位處于所控制的電位范圍之內(nèi)；所述D/A恒流源基準(zhǔn)通過與其對應(yīng)的比較器的一個輸入端與恒流源相連，電阻R1兩端的取樣電壓與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒流源相關(guān)的反饋電路，該比較器的輸出端與恒流源連接，恒流源與其反饋電路路構(gòu)成本電路的恒流控制回路；所述的第三回路中與D/A恒流源基準(zhǔn)相對應(yīng)的比較器將電阻R1兩端的取樣電壓與D/A恒流源基準(zhǔn)提供的輸入電壓進(jìn)行比較判斷，確保通過R1的電流在控制的有效范圍之內(nèi)；測試待測發(fā)光二極管時，電阻R3與電阻R1、R2斷開，待測發(fā)光二極管與電阻R1、R2串聯(lián)。
通過以上技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明有以下優(yōu)點首先，電路中設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)電源，提供整個電路自檢標(biāo)準(zhǔn)電源，防止測試產(chǎn)生誤差；其次，D/A恒流源基準(zhǔn)和D/A恒壓源基準(zhǔn)分別提供高精度的恒流源和恒壓源的參考電壓；再次，集成運算放大器和單管放大組合方式提供電源，提高電源輸出功率；最后，電路中包括反饋電路，提高了電源的輸出精度。


下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明圖1是本發(fā)明提供發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路的電路圖；圖2是圖1所示電路的原理流程圖；圖3為本發(fā)明第一實施例流程圖；圖4為本發(fā)明第二實施例流程圖。
具體實施例方式
圖1描述的是本發(fā)明所提供的發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路的電路圖，其中，電阻R1、R2與R3串聯(lián)，連接在電源與地線與恒壓源/恒流源之間，由計算機上層控制軟件控制恒壓源/恒流源的輸出，電阻R2兩端的取樣電壓與指定的標(biāo)準(zhǔn)電壓源均通過切換電路輸入至計算機上層控制軟件；標(biāo)準(zhǔn)電壓源接入電路，可以完成對整個電路進(jìn)行校驗；計算機上層控制軟件分別與D/A恒壓源基準(zhǔn)和D/A恒流源基準(zhǔn)相接，所述D/A恒壓源基準(zhǔn)通過與其對應(yīng)的比較器的一個輸入端與恒壓源相連，電阻R2和R3之間的節(jié)點電位與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒壓源相關(guān)的反饋電路，該比較器的輸出端與恒壓源連接，恒壓源與其反饋電路路構(gòu)成本電路的第二回路；所述D/A恒流源基準(zhǔn)通過與其對應(yīng)的比較器的一個輸入端與恒流源相連，電阻R1兩端的取樣電壓與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒流源相關(guān)的反饋電路，該比較器的輸出端分別與恒流源連接，恒流源與其反饋電路路構(gòu)成本電路的第三回路；發(fā)光二極管與電阻R3可開關(guān)并聯(lián)，并上報發(fā)光二極管的兩端電壓至計算機上層軟件顯示。
圖2描述的是發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路的電路圖的原理流程圖。包括步驟D1)對電路進(jìn)行校準(zhǔn)，包括對增益和A/D通路的校驗、恒流源方式下的電路校驗、恒壓源方式下的電路校驗；D2)用戶根據(jù)需要提出測試請求，請求消息所包括的信息通過上層軟件以及ISA插槽傳送至所述發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路中；D3)所述發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路根據(jù)其中的地址與數(shù)據(jù)，控制發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路工作在恒流源方式或者恒壓源方式；D4)所述發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路工作在恒流源方式或者恒壓源方式，并完成對發(fā)光二極管電性參數(shù)的測試，并將電性參數(shù)上報至上層軟件。
請參閱圖3，為本發(fā)明第二實施例流程圖，該實施例主要反映了所述發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路工作于恒流源方式時，本發(fā)明完整的實施過程。
S1)標(biāo)準(zhǔn)電壓源接入電路，完成對整個電路進(jìn)行校驗，并自動校準(zhǔn)補償值；S2)上層軟件根據(jù)用戶信息自動計算并輸出數(shù)據(jù)至D/A恒流源基準(zhǔn)進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；S3)設(shè)置所述發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路工作于正向恒流源方式；S4)將轉(zhuǎn)換后的結(jié)果與電阻R1兩端的取樣電壓進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果控制所述正向恒流源輸出正向恒定電流；
S5)根據(jù)簡單算法測試發(fā)光二極管的正向電壓和反向電壓；具體方法表現(xiàn)為恒定電路中通過R1的正向電流和反向電流，測試出FH與FL之間的差值電壓，將所述差值電壓的數(shù)值返回計算機，從而完成了對發(fā)光二極管的正向電壓和反向電壓的測試。
請參閱圖4，為本發(fā)明第三實施例流程圖，該實施例主要反映了所述發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路工作于恒壓源方式時，本發(fā)明完整的實施過程。
J1)標(biāo)準(zhǔn)電壓源接入電路，完成對整個電路進(jìn)行校驗，并自動校準(zhǔn)補償值；J2)上層軟件根據(jù)用戶信息自動計算并輸出數(shù)據(jù)至D/A恒壓源基準(zhǔn)進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，恒定FH點的點電壓；J3)設(shè)置所述發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路工作于恒壓源方式；J4)將經(jīng)D/A恒壓源基準(zhǔn)轉(zhuǎn)換后的結(jié)果與FH點的點電壓進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果控制FH點的點電壓工作在指定電壓下；J5)并測試發(fā)光二極管的正向電流和反向電流兩個參數(shù)，具體方法表現(xiàn)為恒定電路中FH與FL之間的差值電壓，并測試通過R2的電流I，因為電阻R2與發(fā)光二極管串聯(lián)在電路中，所以電流I即為發(fā)光二極管的電流值，將電流值返回計算機，從而完成了對發(fā)光二極管的正向電流和反向電流的測試。
綜上所述，在對所述發(fā)光二極管進(jìn)行測試之前，首先通過本發(fā)明所提供的標(biāo)準(zhǔn)電源，既提供整個電路自檢標(biāo)準(zhǔn)電源，避免電路可能存在的相關(guān)缺陷；進(jìn)一步通過D/A恒流源基準(zhǔn)和D/A恒壓源基準(zhǔn)分別提供高精度的恒流源和恒壓源的參考電壓；并且在電路中包括反饋電路，確保電源的輸出精度。最后，用戶可以根據(jù)自己的實際需要，通過上層軟件的操作界面有選擇地對所述發(fā)光二極管的正向電流、反向電流或者正向電壓、反向電壓進(jìn)行精確測量。
以上對本發(fā)明所提供的一種發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了特定個例對本發(fā)明的原理及實施方式進(jìn)行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)依據(jù)本發(fā)明的思想，在特定實施方式及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路，其特征在于，電阻R1、R2與R3串聯(lián)，連接在地線與恒壓源/恒流源之間，由計算機上層控制軟件控制恒壓源/恒流源的輸出，標(biāo)準(zhǔn)電壓源接入電路，構(gòu)成本電路的校準(zhǔn)回路，通過電阻R2兩端的取樣電路獲取該回路中的電流大小，并將獲取的電流值與指定的標(biāo)準(zhǔn)電壓源均通過切換電路輸入至計算機上層控制軟件；計算機上層控制軟件分別與D/A恒壓源基準(zhǔn)和D/A恒流源基準(zhǔn)相接，所述D/A恒壓源基準(zhǔn)通過與其對應(yīng)的比較器的一個輸入端與恒壓源相連，電阻R2和R3之間的節(jié)點電位與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒壓源相關(guān)的反饋電路，該比較器的輸出端與恒壓源連接，恒壓源與其反饋電路構(gòu)成本電路的恒壓控制回路；所述D/A恒流源基準(zhǔn)通過與其對應(yīng)的比較器的一個輸入端與恒流源相連，電阻R1兩端的取樣電壓與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒流源相關(guān)的反饋電路，該比較器的輸出端分別與恒流源連接，恒流源與其反饋電路路構(gòu)成本電路的恒流控制回路；測試發(fā)光二極管時，電阻R3與電阻R1、R2斷開，待測發(fā)光二極管與電阻R1、R2串聯(lián)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種發(fā)光二極管的電性參數(shù)測試電路，其中，該電路由校準(zhǔn)回路、恒壓控制回路、恒流控制回路組成，所述校準(zhǔn)回路中設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)電源，提供整個電路自檢標(biāo)準(zhǔn)電源；所述恒壓控制回路通過D/A恒壓源基準(zhǔn)提供高精度的恒壓源的參考電壓；所述恒流控制回路通過D/A恒壓源基準(zhǔn)提供高精度的恒流源的參考電壓；恒壓控制回路和恒流控制回路中設(shè)置有反饋電路，提高了電源的輸出精度。
文檔編號G01R31/26GK1900729SQ200610061729
公開日2007年1月24日 申請日期2006年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月18日
發(fā)明者楊少辰, 韓金龍, 羅會才, 潘登 申請人:楊少辰, 韓金龍, 羅會才