技術編號：6113539
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及電子電路測試領域，特別涉及到一種發(fā)光二極管的電性參數測試電路。背景技術 通常發(fā)光二極管經封裝完成后，需要對其電性參數或光學參數進行測試，以確保其相關性能指標和可適用性。以前的測試方法主要是利用專用的發(fā)光二極管儀器完成，普遍存在效率低，精準度低的缺點；目前普遍使用的是自動化程度較高且精度較高的電路完成測試，該測試方法比以前的人工分光相比，存在很大的進步，但其本身仍存在一些缺陷，比如在測試發(fā)光二極管正向電壓時，發(fā)光二極管與正向恒流源導通后，發(fā)現通過發(fā)...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。