專利名稱：相干散射成像的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于相干散射成像的設(shè)備和方法。
背景技術(shù)：
目前存在對于快速可靠的材料掃描器的需求。一個特定商業(yè)關(guān)注的領(lǐng)域是快速的行李掃描器領(lǐng)域，其能夠用于很多場合中，但是其經(jīng)常特別用于掃描航空行李。另一個特定商業(yè)關(guān)注的領(lǐng)域是醫(yī)學(xué)掃描器領(lǐng)域。
例如，在20到150KeV的特定能量范圍中X射線光子與物質(zhì)的相互作用能夠用光電子吸收和散射來描述。存在兩種不同類型的散射一方面是非相干或者康普頓散射，另一方面是相干或者瑞利散射。康普頓散射的角度緩慢變化，而瑞利散射是嚴格地向前直射的，并且對于每種類型的材料具有截然不同的結(jié)構(gòu)和特征。相干X射線散射是用于分析材料分子結(jié)構(gòu)的通用工具，例如在半導(dǎo)體工業(yè)中的X射線晶體學(xué)或者X射線衍射。分子結(jié)構(gòu)功能是材料的指紋，其允許良好的鑒別。例如，能夠?qū)⑺苣z炸彈與無害的食品產(chǎn)品區(qū)分開。
對于醫(yī)學(xué)應(yīng)用以及行李檢測而言，在商業(yè)計算機X線斷層造影(CT)掃描器和C型臂系統(tǒng)中通常使用光電子吸收而不是光電子散射。這些系統(tǒng)使用各種計算技術(shù)來從所測量得到的X射線數(shù)據(jù)中計算在樣本中不同位置處樣本的X射線吸收特性，而不是象傳統(tǒng)X射線成像那樣簡單地提供樣本的X射線圖像。
例如，US 2002/0150202A1描述了采用扇形光束的CT設(shè)備，并且還描述了用于旋轉(zhuǎn)該設(shè)備的臺架(gantry)。
在現(xiàn)代裝備中，在所謂的“錐形光束”計算機X線斷層攝影術(shù)中，經(jīng)常使用錐形X射線光束。US 2004/0076265描述了這種類型的CT掃描器。
由于材料鑒別受限于總體線性衰減系數(shù)中的差異，因此該方法僅僅能夠在感興趣區(qū)域的線性衰減系數(shù)有明顯差異時才能進行良好的鑒別。此外，如果兩種不同材料呈現(xiàn)相同的衰減系數(shù)，則僅僅使用線性衰減系數(shù)的組織識別或者材料識別可能是不確定的。
由于散射光子包含額外的對象信息，因此其能夠用于更好的材料鑒別。
US 5,692,029描述了一種檢測器，其將反向散射的X射線用于行李裝卸應(yīng)用中。
在SPIE Volume 2092“Substance Detection Systems”，1993，399到410頁的Strecker等人的“Detection of Explosives in Airport Baggageusing Coherent X-ray Scatter”中已經(jīng)提出了將相干散射作為一種用于行李掃描的合適方法。該文檔描述了炸藥和多種其他普通材料的不同彈性散射光譜。
盡管沒有描述對于行李樣本的實際測量，該文檔建議了為了滿足速度要求，不可能進行成像，取而代之的是測量能量譜，假設(shè)是整個行李的能量譜。因此，所提出的系統(tǒng)不適合對行李中的特定物品進行細節(jié)掃描。
在同一冊SPIE Volume 2092“Substance Detection Systems”，1993，366到377頁的Speller等人的“X-ray scattering signatures for materialidentification”中描述了其他X射線散射試驗。
雖然已經(jīng)有幾年的關(guān)注，但是使用相干散射的行李掃描器目前還沒有走出研究實驗室而進入操作應(yīng)用中。這有幾個原因，包括相干散射中固有的較低信號強度和操作應(yīng)用的困難。
取而代之的是，在實際中行李掃描器簡單地測量X射線的吸收，通常使用傳統(tǒng)成像。然而，這種系統(tǒng)不能進行良好的鑒別，并且非常難以斷定特定的吸收特征是由炸藥造成的還是由多種普通材料中的任意一種，例如巧克力、塑料或者很多其他材料造成的。
在醫(yī)學(xué)CT掃描中的對特征進行識別時存在類似的問題。
因此，需要一種在這些方面能夠有幫助的改進的相干散射成像方法和設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種根據(jù)權(quán)利要求1的相干散射成像系統(tǒng)。
通過關(guān)注感興趣區(qū)域和使用平行參考光束的光譜來為使用樣本光束測量得到的樣本光譜糾正吸收效應(yīng)，能夠從所測量得到的光譜中去掉感興趣區(qū)域之外的區(qū)域所造成的光譜的很多特征。這使得后續(xù)分析變得更容易。
優(yōu)選地，可以使用各種附加樣本路徑。對于每個附加路徑，該方法則包括使得筆形X射線光束沿著所述附加樣本路徑通過樣本，并測量附加樣本散射光譜；使得筆形X射線光束沿著與所述附加樣本路徑平行的附加參考路徑通過樣本，但是不經(jīng)過感興趣區(qū)域，并測量附加參考散射光譜；以及，通過從所述樣本散射光譜中減去基于所述參考散射光譜的散射光譜，來計算附加差異散射光譜。
然后，可以將所述差異散射光譜和至少一個附加差異散射光譜合并，來確定有關(guān)所述感興趣區(qū)域的信息。
由于不同的樣本路徑相互不并行，因此該方法可行。由多個樣本路徑所通過的唯一公共區(qū)域是所述感興趣區(qū)域。因此，通常，公共特征是由所述感興趣區(qū)域造成的。
特別是，可以分析所述差異光譜，來識別公共特征，并且將公共特征作為存在于感興趣區(qū)域中的特征來進行分析。
為了合并光譜，可以將每個差異散射光譜乘以各自的幾何校正系數(shù)，來校正沿著各自路徑的源、準直器(collimator)、感興趣區(qū)域和檢測器之間的各個距離，其中所述幾何校正系數(shù)是位置的函數(shù)。
通常，除了薄樣之外，相干散射光譜不能簡單地乘以一個幾何校正系數(shù)，因為由于樣本的一些區(qū)域更加接近檢測器，一些區(qū)域更加接近源，因此該幾何系數(shù)會沿著路徑變化。然而，在該情況中，僅僅是與感興趣區(qū)域相關(guān)的，因此就可以假設(shè)整個測量得到的光譜都來自于感興趣區(qū)域而簡單地校正整個光譜。這樣，并非由感興趣區(qū)域造成的特征將出現(xiàn)在不正確的位置上。這種特征幾乎和采用不同路徑的特征沒有關(guān)系，因此在該情況下，不精確近似的使用在實際中具有優(yōu)勢。
在另一方面，本發(fā)明還涉及用于具有準直X射線源和檢測器的相干散射成像(CSI)系統(tǒng)的控制器，其包括用于與所述CSI系統(tǒng)交互的接口，適合于向所述CSI系統(tǒng)傳遞控制信號和從所述檢測器接收圖像數(shù)據(jù)；以及使得所述CSI系統(tǒng)和控制器執(zhí)行以下步驟的編碼使用X射線吸收來進行掃描，以識別在樣本對象中的感興趣區(qū)域；使得筆形X射線光束沿著樣本路徑通過所述樣本，通過所述感興趣區(qū)域，并測量樣本散射光譜；使得筆形X射線光束沿著與所述樣本路徑平行的參考路徑通過所述樣本，但是不通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量參考散射光譜；使得所述樣本光譜和所述參考光譜乘以各自的吸收校正系數(shù)，以生成經(jīng)過校正的樣本光譜和參考光譜；以及從所述樣本散射光譜(S)中減去所述經(jīng)過校正的參考散射光譜，以生成差異散射光譜。
在更進的一個方面，本發(fā)明涉及一種相干散射成像(CSI)系統(tǒng)，其包括X射線源；準直器，用于生成來自所述X射線源的X射線的準直光束；樣本室，用于保持樣本；多通道X射線檢測器，用于將由所述樣本彈性散射的X射線作為位置的函數(shù)進行檢測；以及如上所述的控制器。
所述準直器可以在將所述準直器放置的遠離所述光束的第一位置和在所述X射線光束中的第二位置之間進行移動，以允許執(zhí)行筆形光束CSI方法。
本發(fā)明還涉及一種計算機程序產(chǎn)品，其配置為使得CSI掃描器執(zhí)行如上所述的方法。


現(xiàn)在將參考附圖，單純地采用實例的形式來描述本發(fā)明的特定實施例，其中圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的CSI設(shè)備；圖2示出了在本發(fā)明的實施例中所使用的光束路徑；圖3是示出在本發(fā)明的實施例中所使用的方法的流程圖；以及圖4是示出在本發(fā)明中所使用的幾何學(xué)的示意圖。
附圖是示意性的，沒有進行比例標(biāo)定。
具體實施例方式
參考圖1，CSI設(shè)備包括在固定件4上的C型臂2，其連接到驅(qū)動器6，驅(qū)動器6由控制器8控制用于驅(qū)動C型臂進入眾多位置中的任意一個位置。該C型臂支撐X射線源20、準直器22和檢測器24。準直器22能夠進入光束中(如實線所示)或者可以移出光束路徑(如虛線所示)。
C型臂2可以由驅(qū)動器6所驅(qū)動，來旋轉(zhuǎn)C型臂，將源20和檢測器的方向確定為在三維空間中的很多不同角度上。
控制器8包括處理器10和存儲器12，存儲器12包括用于控制控制器以使其驅(qū)動C型臂進入選定位置的編碼14，和適合于使得控制器分析數(shù)據(jù)的編碼?？刂破魍ㄟ^接口18連接到該C型臂系統(tǒng)。
提供了樣本支座26，用于保持樣本30。便利的是，在行李裝卸系統(tǒng)的情況中，樣本支座可以是傳送帶?？商鎿Q的，在醫(yī)學(xué)應(yīng)用中，樣本支座26可以是患者支座。
設(shè)置C型臂2，從而使得X射線從X射線光源20發(fā)射出來，在準直器22中進行準直，以引導(dǎo)其通過樣本30，然后由檢測器24所獲取，檢測器24將入射強度轉(zhuǎn)換為電信號并將該信號提供給控制器8。檢測器24是多通道檢測器，其將X射線作為位置的函數(shù)并從而作為散射角度的函數(shù)來進行檢測。
源20優(yōu)選地為盡可能單色的，以盡可能確保在所測量的散射角度與反向散射波矢量q之間關(guān)系的精確性。因此，可以在源20附近或者沿著光束28的其他位置處提供任選的單色器21。
在使用中，將樣本30放置在樣本支座26上并且準直器不在光束路徑中，設(shè)備用在傳統(tǒng)模式中，不通過提供來自源的X射線使用相干散射信息，使用X射線照射樣本并在多通道X射線檢測器24上采集樣本的圖像。
所采集的圖像可以是傳統(tǒng)的X射線圖像。然而，優(yōu)選的是，使用傳統(tǒng)CT檢測器24，并執(zhí)行CT處理來計算作為樣本30中位置的函數(shù)的X射線吸收。最后，如果需要，可以將X射線源和檢測器移動到多個位置處和多個方向上。
該CT計算或者X射線圖像可以揭示在樣本中的一個或多個可疑感興趣區(qū)域32。
因此，該設(shè)備則可以用在如下的CSI模式中，來提供有關(guān)感興趣區(qū)域32的進一步信息，這是從圖3中的步驟50所示的對感興趣區(qū)域的識別開始的。
在該模式中，引入準直器22，來提供X射線的單一筆形光束28。計算通過感興趣區(qū)域的多個合適的樣本光束路徑(40，44)(步驟52)。
在步驟52，考慮各種需要來選擇不同的樣本路徑40，44。首先，沿著該路徑的X射線的吸收應(yīng)該不是太大。第二，路徑在方向上應(yīng)該盡可能不同，以在盡可能多的方向上照射感興趣區(qū)域。第三，除了感興趣區(qū)域之外，路徑應(yīng)該通過樣本中盡可能相互不同的區(qū)域。不可能滿足所有這些標(biāo)準，因此，選擇路徑的合理數(shù)量，以在一定程度上滿足這些標(biāo)準。
首先，使筆形光束28沿著第一樣本路徑40通過感興趣區(qū)域32，并在多通道檢測器24上測量得到樣本散射光譜S1(步驟54)。在檢測器上將亮度作為位置的函數(shù)進行檢測，該位置與反向散射波矢量(q)相關(guān)。
接下來，使筆形光束28沿著與第一樣本路徑40平行的一個或多個第一參考路徑42行進，但是不通過感興趣區(qū)域32，并測量得到所述一個或多個參考路徑42的參考散射光譜R1(步驟56)。
選擇所述一個(或多個)參考路徑42，從而使得沿著所述路徑的吸收基本上與沿著樣本路徑40的吸收相同。為了校正在所測量的吸收中的任何細微差異，通過用吸收校正系數(shù)A1乘以光譜以得到經(jīng)過吸收校正的參考光譜RC1，即RC1＝R1×AR，來對所述一個(或多個)參考路徑光譜進行吸收校正(步驟58)。還可以對樣品光譜S進行吸收校正SC1＝S1×AS1。
然后，從樣本散射光譜中減去經(jīng)過校正的散射光譜，以獲得第一差異散射光譜D1，其主要提供有關(guān)感興趣區(qū)域的信息；D1＝SC1-RC1(步驟60)。
采用通過感興趣區(qū)域32的不同的第二樣本路徑44和與第二樣本路徑44平行但是不通過感興趣區(qū)域的一個或多個第二參考路徑46，獲得第二差異散射光譜D2。
如果需要，該過程可以重復(fù)一次或多次，以使用更多的樣本路徑和參考路徑44、46來提供第三差異散射光譜D3，第四差異散射光譜D4等等。
要注意的是，在各個散射光譜中的感興趣區(qū)域與X射線源和檢測器之間的距離不是必須要相等。例如，如果感興趣區(qū)域靠近檢測器，則與感興趣區(qū)域遠離檢測器的情況相比，將是在檢測器上較小的距離與特定q值相對應(yīng)。
因此，首先，通過使用用于從感興趣區(qū)域32進行散射的q標(biāo)度，使得差異光譜D沿著它們各自的x軸進行擴展和收縮。所測量的光譜具有它們的x軸位置坐標(biāo)。散射波矢量q由以下給出(在小角度近似中)q＝h/[2λ(G-L)]如圖4所示，G是從源到檢測器的距離，L是從源到感興趣區(qū)域的距離，h是每個散射光譜的線性偏移(x軸)。λ是所使用的X射線的波長。
為了獲得數(shù)量上正確的散射光譜，將散射光譜乘以幾何校正系數(shù)(GCF)，GCF是位置的函數(shù)。GCF考慮了兩種影響首先，偏離平面(off-plane)檢測器元件的有效檢測器區(qū)域隨著散射角度的增大而減小，第二，到達檢測器元件的被散射光束的立體角根據(jù)該元件到散射中心的距離而降低。偏離平面檢測器元件的GCF由以下給出GCF＝A(G-L)/(h2+(G-L)2)3/2，其中A表示一個檢測器元件的檢測器區(qū)域。
注意，這種與幾何校正系數(shù)的簡單乘法是相對直接的，因為僅僅需要來自較小感興趣區(qū)域的被散射光譜。注意，在感興趣區(qū)域之外，所應(yīng)用的校正將錯誤地計算校正。在現(xiàn)有技術(shù)中，收集了大量的數(shù)據(jù)來計算整個樣品厚度上的相干散射光譜。這要求大量的數(shù)據(jù)和大量的計算資源，因為樣本的不同部分位于與檢測器和源的不同距離上，不可能簡單地用校正系數(shù)乘以所測量的光譜。
相反的是，本發(fā)明對光譜進行校正，就好像光譜僅僅是基于感興趣區(qū)域的一樣，而不管該假設(shè)是錯誤的這一事實。這使得對于具有明顯厚度的樣本而言，在此所述的CSI方法比現(xiàn)有技術(shù)簡單很多，與現(xiàn)有技術(shù)相比，其占用更少的計算能力，需要收集更少的數(shù)據(jù)。后一種優(yōu)點是具有特別優(yōu)勢的，因為其允許總體X射線劑量更低。
注意，由于在感興趣區(qū)域之外的校正將會是錯誤的，因此降低了在感興趣區(qū)域之外的光譜中的特征的相關(guān)的可能性。因此，在本發(fā)明中，不精確近似的使用提高了識別感興趣區(qū)域中的特征的能力。
現(xiàn)在需要將經(jīng)過幾何校正的光譜進行合并。合并光譜的第一可能方法是簡單地對經(jīng)過幾何校正的光譜G進行平均。
然而，樣本路徑全部通過感興趣區(qū)域，但是除了感興趣區(qū)域之外，它們會通過不同區(qū)域。因此，很可能不同光譜的公共特征是由感興趣區(qū)域造成的，而僅僅在不同光譜中的一個中出現(xiàn)的特征不是由感興趣區(qū)域造成的。
因此，在優(yōu)選方法中，將經(jīng)過幾何校正的光譜相互關(guān)聯(lián)來識別公共特征，以得到與感興趣區(qū)域相關(guān)的相關(guān)散射光譜(步驟66)。
例如，可以在一對經(jīng)過幾何校正的光譜G之間進行互相關(guān)計算，來識別公共特征。
然后使用該相關(guān)散射光譜來分析感興趣區(qū)域。例如，在行李檢測應(yīng)用中，將該相關(guān)光譜與各種不同類型的物質(zhì)(例如炸藥)的光譜進行比較，來觀察其是否匹配?？商鎿Q的，在醫(yī)學(xué)應(yīng)用中，將該相關(guān)光譜與各種不同的類型的組織的光譜進行比較，以例如確定感興趣區(qū)域是否出現(xiàn)任何病狀。
在存在多個光譜的情況下，可以在每個光譜與參考散射光譜之間進行互相關(guān)，所述參考散射光譜給出了例如特定材料的預(yù)計散射光譜。然后可以計算平均互相關(guān)，如果該平均值大于預(yù)定閾值，則給出警告。當(dāng)然，可以對其他的所有感興趣材料的光譜重復(fù)進行互相關(guān)。
通過關(guān)注特定感興趣區(qū)域的散射光譜，本發(fā)明允許對感興趣區(qū)域的相干散射光譜進行準確判斷。該方法僅僅使用幾個筆形光束，因此所使用的總的X射線劑量小于現(xiàn)有系統(tǒng)中所需要的劑量。
本發(fā)明作為傳統(tǒng)CT掃描器的附件特別有價值，其允許對由傳統(tǒng)CT掃描器所揭示的典型結(jié)果執(zhí)行CSI。
盡管以上對本發(fā)明的描述使用了多個樣本光束，如果情況需要，則本發(fā)明也可以僅僅使用一個樣本光束。
盡管以上描述采用了C型臂系統(tǒng)，本發(fā)明也可以用于其他配置，尤其是錐形光束CT系統(tǒng)。
該系統(tǒng)并不局限于行李裝卸，而是可以用于任何使用X射線的場合，例如用于對人和動物的身體進行成像，以及材料評估。
因此，顯然對于該詳細描述的特定系統(tǒng)存在各種變體，并且很多其他的變化對于本領(lǐng)域技術(shù)人員是顯而易見的。
權(quán)利要求
1.一種操作相干散射成像(CSI)系統(tǒng)的方法，包括執(zhí)行掃描，以識別在樣本對象(30)中的感興趣區(qū)域(32)；使得筆形X射線光束(28)沿著樣本路徑(40)通過所述樣本，通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量樣本散射光譜(S1)；使得筆形X射線光束沿著與所述樣本路徑(40)平行的參考路徑(42)通過所述樣本(30)，但是不通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量參考散射光譜(R1)；以及通過從所述樣本散射光譜(S1)中減去基于所述參考散射光譜(R1)的散射光譜，來計算差異散射光譜(D1)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括，將所述差異散射光譜(D1)與感興趣材料的至少一個散射光譜M進行比較。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，還包括對于通過所述感興趣區(qū)域(32)的一個或多個附加樣本路徑(44)中的每一個而言進行以下操作，所述附加樣本路徑(44)與其他樣本路徑(40，44)不平行使得筆形X射線光束(28)沿著所述附加樣本路徑(40)通過所述樣本(30)，通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量附加樣本散射光譜(S2，S3)；使得筆形X射線光束(28)沿著與所述附加樣本路徑(40)平行的附加參考路徑(44)通過所述樣本，但是不通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量附加參考散射光譜(R2，R3)；以及通過從所述樣本散射光譜(S2，S3)中減去基于所述參考散射光譜(R2，R3)的散射光譜，來計算附加差異散射光譜(D2，D3)。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，包括將所述差異光譜(D1，D2，D3)相互關(guān)聯(lián)來識別公共特征，并將所述公共特征作為存在于所述感興趣區(qū)域(32)中的特征進行分析。
5.一種用于具有準直X光源(20，22)和檢測器(24)的相干成像(CSI)系統(tǒng)的控制器(8)，包括用于與所述CSI系統(tǒng)交互的接口(18)，其適合于向所述CSI系統(tǒng)傳遞控制信號和從所述檢測器接收圖像數(shù)據(jù)；以及使得所述CSI系統(tǒng)和控制器執(zhí)行以下步驟的編碼(14)使用X射線吸收來進行掃描，以識別在樣本對象(30)中的感興趣區(qū)域；使得筆形X射線光束(40)沿著樣本路徑通過所述樣本，通過所述感興趣區(qū)域，并測量樣本散射光譜(S)；使得筆形X射線光束沿著與所述樣本路徑(40)平行的參考路徑(42)通過所述樣本，但是不通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量參考散射光譜(R)；使得所述參考散射光譜(R)乘以相應(yīng)的吸收校正系數(shù)(A)，以生成經(jīng)過校正的參考散射光譜(C)；以及從所述樣本散射光譜(S)中減去所述經(jīng)過校正的參考散射光譜(C)，以生成差異散射光譜(D)。
6.如權(quán)利要求5所述的控制器(8)，其中，所述編碼另外配置為將所述差異散射光譜(D1)與感興趣材料的至少一個散射光譜M進行比較。
7.如權(quán)利要求5或6所述的控制器(8)，其中，所述編碼(14)設(shè)置為，對于與其他樣本路徑(40，44)不平行的一個或多個附加樣本路徑(44)，使得所述CSI系統(tǒng)使得筆形X射線光束沿著所述附加樣本路徑(44)通過所述樣本，通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量附加樣本散射光譜；使得筆形X射線光束沿著與所述附加路徑平行的參考路徑(46)通過所述樣本，但是不通過所述感興趣區(qū)域(32)，并測量附加參考散射光譜；其中，所述編碼(14)還配置為使得所述附加參考散射光譜乘以相應(yīng)的吸收校正系數(shù)，以生成經(jīng)過吸收校正的附加參考散射光譜；從所述附加樣本散射光譜中減去所述附加參考散射光譜，以生成附加差異散射光譜；以及將所述差異散射光譜與所述一個或多個附加差異散射光譜進行合并，以確定關(guān)于所述感興趣區(qū)域的信息。
8.如權(quán)利要求6所述的控制器，還包括配置為將所述差異光譜相互關(guān)聯(lián)以識別公共特征并根據(jù)作為存在于所述感興趣區(qū)域中的特征的所述公共特征來分析所述差異光譜的代碼。
9.一種相干散射成像(CSI)系統(tǒng)，包括X射線源(20)，用于生成X射線；準直器(22)，用于生成來自所述X射線源的X射線的準直筆形光束；樣本支座(26)，用于保持樣本(30)；多通道X射線檢測器(24)，用于將由所述樣本彈性散射的X射線作為位置的函數(shù)進行檢測；構(gòu)架(2)，用于支撐所述X射線源(20)、準直器(22)和多通道X射線檢測器(24)；驅(qū)動器(6)，用于移動所述構(gòu)架(2)；以及根據(jù)權(quán)利要求5到7中任意一項所述的控制器(8)。
10.如權(quán)利要求8所述的CSI系統(tǒng)，其中，所述準直器(22)能夠在遠離所述X射線源(20)的第一位置和與所述X射線源(20)成一直線的第二位置之間移動，以生成X射線的平行筆形光束(28)，當(dāng)所述準直器(22)在所述第一位置時所述X射線源(20)所生成的X射線光束比當(dāng)所述準直器(22)在所述第二位置時所生成的筆形光束(28)更寬。
11.記錄在數(shù)據(jù)載體上的計算機程序產(chǎn)品，所述計算機程序產(chǎn)品包含用于使得CSI系統(tǒng)執(zhí)行如權(quán)利要求1到4中任意一項所述的方法的代碼(14)。
全文摘要
描述了一種CSI系統(tǒng)，其使用通過具有感興趣區(qū)域(32)的樣本(30)的筆形光束(40，42，44，46)。從通過感興趣區(qū)域的樣本光束(40，44)的每個相干散射光譜中減去使用各自的參考光束(42，46)得到的光譜。將測量結(jié)果合并，以確定感興趣區(qū)域(32)的特征，同時使得樣本(30)的其他區(qū)域的特征的影響最小化。
文檔編號G01T1/164GK101014883SQ200580030188
公開日2007年8月8日 申請日期2005年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月11日
發(fā)明者烏多·范斯特文達勒, 延斯－彼得·施洛姆卡, 米夏埃多·格拉斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司