專利名稱：用來測試電子產(chǎn)品的智慧型測試系統(tǒng)及其相關(guān)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明系提供一種智慧型測試系統(tǒng)，尤指一種用來測試電子產(chǎn)品之智慧型測試系統(tǒng)及其相關(guān)方法。
背景技術(shù)：
為了確保電子產(chǎn)品的功能運(yùn)作正常及長期使用下之穩(wěn)定性，電子產(chǎn)品于正式量產(chǎn)或出貨前會(huì)根據(jù)各種情況接受許多不同的測試，例如開關(guān)機(jī)測試。開關(guān)機(jī)測試系不停反復(fù)地開機(jī)或關(guān)機(jī)以保證消費(fèi)者于長時(shí)間使用下電子產(chǎn)品仍然能正常地開機(jī)。由于電子產(chǎn)品的測試非常耗費(fèi)時(shí)間與人力，因此許多型式的測試裝置被開發(fā)出來以代替人力自動(dòng)執(zhí)行電子產(chǎn)品的測試。
請(qǐng)參考圖1，圖1系先前技術(shù)之測試裝置100的示意圖。先前技術(shù)之測試裝置100包含一控制器110(例如一電腦)，以及一信號(hào)轉(zhuǎn)換器120?？刂破?10系以軟件方式設(shè)定所有測試程序，并將控制信號(hào)傳送至信號(hào)轉(zhuǎn)換器120，而信號(hào)轉(zhuǎn)換器120再將控制器110傳來之控制信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子產(chǎn)品130可辨認(rèn)之測試信號(hào)(例如開關(guān)機(jī)信號(hào))，并傳送至電子產(chǎn)品130(待測裝置)，如此即可對(duì)電子產(chǎn)品130進(jìn)行測試。
請(qǐng)參考圖2，圖2系先前技術(shù)之另一測試裝置200的示意圖。不同于圖1之測試裝置100，測試裝置200系為一獨(dú)立之測試箱單獨(dú)運(yùn)作。測試裝置200之微處理器210已直接設(shè)定好所有測試程序，使用者只需于測試裝置200之使用介面220輸入欲測試之次數(shù)或其他條件，微處理器即可產(chǎn)生測試信號(hào)，并通過一輸出端222輸出測試信號(hào)至電子產(chǎn)品230，如此即可對(duì)電子產(chǎn)品230進(jìn)行測試。
然而，上述測試裝置100，200于測試中發(fā)現(xiàn)問題時(shí)，只能單純地記錄測試失敗的次數(shù)并繼續(xù)測試，或者停止測試并等待研發(fā)人員來排解問題。但由于測試需長時(shí)間且持續(xù)地進(jìn)行，若研發(fā)人員無法即時(shí)發(fā)現(xiàn)測試失敗而并排解問題，將會(huì)拖延電子產(chǎn)品測試之時(shí)間，甚至?xí)绊戨娮赢a(chǎn)品上市之進(jìn)度。再者，上述測試裝置100，200無法于發(fā)現(xiàn)問題時(shí)將當(dāng)時(shí)狀況記錄下來，故研發(fā)人員無法得知測試失敗之原因，因而增加研發(fā)人員排解問題之困難性，甚至需要重新測試。

發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明之主要目的，即是要提出一種用來測試電子產(chǎn)品之智慧型測試系統(tǒng)及其相關(guān)方法，以解決先前技術(shù)之問題。
本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)包含一控制器，用來產(chǎn)生設(shè)定數(shù)據(jù)，以及一測試器，用來測試一電子產(chǎn)品。該測試器包含一處理裝置，用來根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)傳送測試信號(hào)至該電子產(chǎn)品，以及根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)和該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)控制該智慧型測試裝置；以及一存儲(chǔ)器，用來記錄該電子產(chǎn)品產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)。
本發(fā)明智慧型測試裝置測試電子產(chǎn)品之方法包含根據(jù)一控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)傳送測試信號(hào)至該電子產(chǎn)品；以及根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)和該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)控制該智慧型測試裝置。

圖1為先前技術(shù)之測試裝置的示意圖。
圖2為先前技術(shù)之另一測試裝置的示意圖。
圖3為本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)的示意圖。
圖4為圖3智慧型測試系統(tǒng)測試電子產(chǎn)品之方法的流程圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)參考圖3，圖3系本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)300的示意圖。本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)300包含一近端(local)控制器310，一遠(yuǎn)端(remote)控制器340，以及一測試器320。近端控制器310和遠(yuǎn)端控制器340可以系電腦或其他型式之控制介面等。測試器320包含一近端控制端321，一遠(yuǎn)端控制端322，一測試端323，一回授端324，一處理裝置326，以及一存儲(chǔ)器328。近端控制端321系耦合于近端控制器310，遠(yuǎn)端控制端322系經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)342耦合于遠(yuǎn)端控制器340，研發(fā)人員可依據(jù)測試程序并通過近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340來產(chǎn)生設(shè)定數(shù)據(jù)，并將設(shè)定數(shù)據(jù)傳送至測試器320。處理裝置326系耦合于近端控制端321，遠(yuǎn)端控制端322，測試端323，回授端324，以及存儲(chǔ)器328。當(dāng)處理裝置326接收到近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340傳來之設(shè)定數(shù)據(jù)后，處理裝置326會(huì)根據(jù)近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340傳來之設(shè)定數(shù)據(jù)產(chǎn)生電子產(chǎn)品330可辨認(rèn)之測試信號(hào)(例如開關(guān)機(jī)信號(hào))，并經(jīng)由測試端323傳送測試信號(hào)至電子產(chǎn)品330。而電子產(chǎn)品330會(huì)根據(jù)接收到之測試信號(hào)執(zhí)行相對(duì)應(yīng)動(dòng)作，例如執(zhí)行基本輸出入系統(tǒng)(basic input/output system，BIOS)之開機(jī)自我測試(power-onself-test，POST)以檢查電子產(chǎn)品330之各個(gè)元件是否運(yùn)作正常。由于回授端324系耦合于電子產(chǎn)品330之一輸出入端，例如USB端或VGA端等，因此電子產(chǎn)品330可通過回授端324將開機(jī)自我測試時(shí)產(chǎn)生之?dāng)?shù)據(jù)，例如屏幕影像數(shù)據(jù)或各晶片之參數(shù)數(shù)據(jù)等回授給處理裝置326(可于電子產(chǎn)品230中植入特定程序以經(jīng)由指定之輸出入端輸出測試數(shù)據(jù)，并通過回授端324回傳回授數(shù)據(jù)給處理裝置326)，而處理裝置326可分析接收到之回授數(shù)據(jù)以判斷是否有錯(cuò)誤訊息發(fā)生。
若測試通過，處理裝置326可將回授數(shù)據(jù)或測試結(jié)果儲(chǔ)存于存儲(chǔ)器328中以供研發(fā)人員后續(xù)參考。若測試過程中發(fā)現(xiàn)問題，則處理裝置326可根據(jù)研發(fā)人員預(yù)先設(shè)定之設(shè)定數(shù)據(jù)執(zhí)行相對(duì)應(yīng)動(dòng)作。舉例來說，當(dāng)處理裝置326發(fā)現(xiàn)接收到之回授數(shù)據(jù)含有錯(cuò)誤訊息時(shí)，處理裝置326可根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)判斷此種問題是否可由處理裝置326自行排解，若可自行排解則處理裝置326會(huì)根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)產(chǎn)生除錯(cuò)信號(hào)，并經(jīng)由測試端323傳送除錯(cuò)信號(hào)至電子產(chǎn)品330予以解決問題，而處理裝置326亦會(huì)將有問題之回授數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于存儲(chǔ)器328中以供研發(fā)人員參考，并持續(xù)測試以免測試中斷而影響到測試進(jìn)度。若處理裝置326無法自行排解問題，則處理裝置326會(huì)根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)判斷是否需繼續(xù)進(jìn)行測試，若要繼續(xù)進(jìn)行測試，則處理裝置326會(huì)將有問題之回授數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于存儲(chǔ)器328中并持續(xù)測試，若要停止測試，則處理裝置326會(huì)中斷測試并發(fā)出一簡訊，例如發(fā)出一電子郵件至近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340，甚至系發(fā)出一手機(jī)簡訊以通知研發(fā)人員立即排解問題。當(dāng)研發(fā)人員得知測試發(fā)生問題后，研發(fā)人員可通過近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340來控制測試器320以排解問題，如此可即時(shí)解決問題以避免測試進(jìn)度落后。
為了更明確說明本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)300測試電子產(chǎn)品330之方法，圖4提供一本發(fā)明方法的流程圖400。請(qǐng)參考圖4，并一并參考圖3，圖4之流程圖400包含有下列步驟步驟412使用者通過近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340傳送設(shè)定數(shù)據(jù)至測試器320；步驟414測試器320根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)傳送測試信號(hào)至電子產(chǎn)品330以執(zhí)行測試；
步驟416記錄電子產(chǎn)品產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)于存儲(chǔ)器328中；步驟418是否發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，若否則繼續(xù)步驟420，若是則繼續(xù)步驟422；步驟420測試流程是否全部完成，若否則繼續(xù)步驟414，若是則繼續(xù)步驟422；步驟422測試器320發(fā)出一測試完成之簡訊至近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340以通知使用者；步驟424等待使用者經(jīng)由近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340來執(zhí)行后續(xù)處理；步驟426根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)分析錯(cuò)誤訊息；步驟428判斷問題是否可排除，若否則繼續(xù)步驟430，若是則繼續(xù)步驟434；步驟430判斷是否停止測試，若是則繼續(xù)步驟432，若否則繼續(xù)步驟436；步驟432測試器320發(fā)出一測試失敗之簡訊至近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340以通知使用者，并繼續(xù)步驟424；步驟434測試器320根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)傳送除錯(cuò)信號(hào)至電子產(chǎn)品330以解決問題，且記錄有問題之回授數(shù)據(jù)于存儲(chǔ)器328中，并繼續(xù)步驟414；步驟436測試器320記錄有問題之回授數(shù)據(jù)于存儲(chǔ)器328中，并繼續(xù)步驟414?；旧希鲜鼋Y(jié)果的達(dá)成，流程圖400的步驟并不一定要遵守以上順序，且各個(gè)步驟并不一定系相鄰的，其他的步驟也可介于上述步驟之間。另外，存儲(chǔ)器328除了可儲(chǔ)存測試數(shù)據(jù)外，其亦可提供處理裝置326于運(yùn)作時(shí)所需之記憶空間，例如儲(chǔ)存近端控制器310或遠(yuǎn)端控制器340產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)，如此測試器320即可于接收到設(shè)定數(shù)據(jù)后獨(dú)立運(yùn)作。而本發(fā)明方法可由軟件搭配韌體、硬件或以上三種方式之任意組合來達(dá)成。
相較于先前技術(shù)，本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)300可于測試中發(fā)現(xiàn)問題時(shí)自行分析錯(cuò)誤訊息，以判斷是否可自行處理或繼續(xù)執(zhí)行測試，并記錄有問題之測試數(shù)據(jù)，如此不但可避免測試中斷，亦可提供有問題之訊息于研發(fā)人員以利后續(xù)之研究和產(chǎn)品改良。再者，當(dāng)本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)300無法自行處理問題時(shí)，智慧型測試系統(tǒng)300可發(fā)出一簡訊以通知研發(fā)人員即時(shí)處理，即使測試失敗系發(fā)生于假日，研發(fā)人員亦可通過遠(yuǎn)端控制器340來解決問題，并讓測試?yán)^續(xù)進(jìn)行。因此本發(fā)明智慧型測試系統(tǒng)300可使電子產(chǎn)品之測試進(jìn)度順利進(jìn)行而不致中斷，進(jìn)而降低電子產(chǎn)品研發(fā)之時(shí)間和成本。
以上所述僅為本發(fā)明之較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所做之均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明之涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種用來測試電子產(chǎn)品之智慧型測試系統(tǒng)，包含一控制器，用來產(chǎn)生設(shè)定數(shù)據(jù)；以及一測試器，包含一處理裝置，用來根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)傳送測試信號(hào)至該電子產(chǎn)品，以及根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)和該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)控制該智慧型測試系統(tǒng)；以及一存儲(chǔ)器，用來記錄該電子產(chǎn)品產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智慧型測試系統(tǒng)，其特征在于，該控制器系耦合于該處理裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智慧型測試系統(tǒng)，其特征在于，該控制器系通過一網(wǎng)絡(luò)耦合于該處理裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智慧型測試系統(tǒng)，其特征在于，該處理裝置系耦合于該存儲(chǔ)器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智慧型測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試器另包含一測試端，耦合于該處理裝置和該電子產(chǎn)品之間，用來輸出該測試信號(hào)至該電子產(chǎn)品。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智慧型測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試器另包含一回授端，耦合于該處理裝置和該電子產(chǎn)品之間，用來接收該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智慧型測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試器另包含一控制端，耦合于該處理裝置和該控制器之間，用來接收該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)。
8.一種用來測試電子產(chǎn)品的智慧型測試裝置，包含一控制端，用來接收一控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)；一測試端，用來輸出測試信號(hào)至該電子產(chǎn)品；一回授端，用來接收該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)；一處理裝置，耦合于該控制端、該測試端和該回授端，用來根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)產(chǎn)生該測試信號(hào)，以及根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)和該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)控制該智慧型測試裝置；以及一存儲(chǔ)器，用來記錄該電子產(chǎn)品產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的智慧型測試裝置，其特征在于，該控制器系耦合于該控制端。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的智慧型測試裝置，其特征在于，該控制器系通過一網(wǎng)絡(luò)耦合于該控制端。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的智慧型測試裝置，其特征在于，該處理裝置系耦合于該存儲(chǔ)器。
12.一種智慧型測試裝置測試電子產(chǎn)品的方法，包含根據(jù)一控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)傳送測試信號(hào)至該電子產(chǎn)品；以及根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)和該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)控制該智慧型測試裝置。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，控制該智慧型測試裝置包含儲(chǔ)存該電子產(chǎn)品產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)于一存儲(chǔ)器。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，控制該智慧型測試裝置包含發(fā)出一簡訊。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，控制該智慧型測試裝置包含傳送一除錯(cuò)信號(hào)至該電子產(chǎn)品。
全文摘要
智慧型測試系統(tǒng)包含一控制器，用來產(chǎn)生設(shè)定數(shù)據(jù)，以及一測試器，用來測試一電子產(chǎn)品。該測試器包含一處理裝置，用來根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)傳送測試信號(hào)至該電子產(chǎn)品，以及根據(jù)該控制器產(chǎn)生之設(shè)定數(shù)據(jù)和該電子產(chǎn)品因根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)控制該智慧型測試裝置；以及一存儲(chǔ)器，用來記錄該電子產(chǎn)品產(chǎn)生之回授數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK1979192SQ20051012888
公開日2007年6月13日 申請(qǐng)日期2005年12月2日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月2日
發(fā)明者吳宜昌, 陳怡勛, 詹森達(dá) 申請(qǐng)人:緯創(chuàng)資通股份有限公司