技術(shù)編號(hào)：6102805
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明系提供一種智慧型測(cè)試系統(tǒng)，尤指一種用來測(cè)試電子產(chǎn)品之智慧型測(cè)試系統(tǒng)及其相關(guān)方法。背景技術(shù)為了確保電子產(chǎn)品的功能運(yùn)作正常及長(zhǎng)期使用下之穩(wěn)定性，電子產(chǎn)品于正式量產(chǎn)或出貨前會(huì)根據(jù)各種情況接受許多不同的測(cè)試，例如開關(guān)機(jī)測(cè)試。開關(guān)機(jī)測(cè)試系不停反復(fù)地開機(jī)或關(guān)機(jī)以保證消費(fèi)者于長(zhǎng)時(shí)間使用下電子產(chǎn)品仍然能正常地開機(jī)。由于電子產(chǎn)品的測(cè)試非常耗費(fèi)時(shí)間與人力，因此許多型式的測(cè)試裝置被開發(fā)出來以代替人力自動(dòng)執(zhí)行電子產(chǎn)品的測(cè)試。請(qǐng)參考圖1，圖1系先前技術(shù)之測(cè)試裝置100的示意圖...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。