專利名稱：瓷磚尺寸檢測設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及建筑行業(yè)所用的設(shè)備，具體地說，是涉及瓷磚尺寸檢測設(shè)備。
背景技術(shù)：
陶瓷墻地磚的尺寸誤差對瓷磚的質(zhì)量影響很大。大多數(shù)廠家采用人工測量瓷磚的尺寸，測量的準(zhǔn)確度、穩(wěn)定性以及效率都存在很多問題。因此，人們急需研制一種高效率、高精度的機(jī)器檢測設(shè)備，對陶瓷生產(chǎn)質(zhì)量控制起重要作用。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足之處，而提供一種制備簡便，使用效果較好的瓷磚尺寸檢測設(shè)備。
本實(shí)用新型目的可以通過如下措施來實(shí)現(xiàn)瓷磚尺寸檢測設(shè)備是由密閉的測量箱、同步皮帶、位移傳感器和光源制成，測量箱置于同步皮帶上方，測量箱與同步皮帶之間放入被測瓷磚和光源，其中，測量箱將平面反射鏡、鏡頭和線陣CCD傳感器密封，線陣CCD傳感器位于測量箱左側(cè)，鏡頭在測量箱的左上方，二個(gè)平面反射鏡分別位于測量箱右上方、右下方，測量箱底部的進(jìn)光口由平面透鏡密封，平面透鏡對應(yīng)測量箱位置，安裝平面反射鏡，平面反射鏡安在測量箱內(nèi)，平面反射鏡均有一個(gè)角度，同步皮帶運(yùn)輸瓷磚，旋轉(zhuǎn)編碼器驅(qū)動在同步皮帶軸上；同步測量，用移動傳感器均布在被測量瓷磚的上面，以測量瓷磚的厚度和表面平整度。
本實(shí)用新型相比現(xiàn)有技術(shù)采用人工測量瓷磚的尺寸，具有如下優(yōu)點(diǎn)本實(shí)用新型采用機(jī)器視覺的方法，檢測瓷磚的長度、寬度、厚度、邊直度、角直度、表面平整度等幾項(xiàng)指標(biāo)，系統(tǒng)根據(jù)每塊瓷磚的實(shí)際尺寸，并將瓷磚分為不同的等級，以便后工序的工作，同時(shí)，大大提高了測量的準(zhǔn)確度、穩(wěn)定性以及效率，降低成本，增加經(jīng)濟(jì)效益。


圖1本實(shí)用新型瓷磚尺寸檢測設(shè)備圖2本實(shí)用新型瓷磚尺寸檢測設(shè)備的使用狀態(tài)圖中1、線陣CCD傳感器 2、鏡頭 3、4、5、平面反射鏡 6、光源 7、平面透鏡 8、瓷磚 9、旋轉(zhuǎn)編碼器 10、同步皮帶 11、測量箱12、位移傳感器具體實(shí)施方式
下面列舉一個(gè)實(shí)施例，對本發(fā)明加以進(jìn)一步說明。但本實(shí)用新型不只限于該實(shí)施例。
實(shí)施例1本實(shí)用新型采用高像素點(diǎn)的線陣CCD(電荷耦合器件)1，鏡頭2采用固定焦距鏡頭，為減少設(shè)備的體積，增加光學(xué)器件的機(jī)械穩(wěn)定性，系統(tǒng)采用一組平面反射鏡延長物距。CCD1、鏡頭2和平面反射鏡組3、4、5被密封在一個(gè)測量箱內(nèi)，以減少外界灰塵和光線對測量的干擾。LED或者熒光光源安置在測量箱底部，測量箱進(jìn)光窗口的寬度可調(diào)，并且進(jìn)光窗口有透光性高的平面透鏡7密閉。測量箱11作為一個(gè)組件，便于現(xiàn)場安裝。光源的角度、平面反射鏡組的反射角度以及像距都可調(diào)。
本實(shí)用新型采用一組位移傳感器，以測量瓷磚的厚度和表面平整度，傳感器均布于瓷磚上部。
瓷磚的輸送采用同步皮帶輸送。CCD測量方向與沿輸送方向垂直，即橫向尺寸?？v向的位移采用旋轉(zhuǎn)編碼器測量，并且編碼器的輸出脈沖觸發(fā)CCD的測量，使兩個(gè)方向測量保持同步。
檢測設(shè)備的基本原理圖如圖所示，瓷磚8由同步皮帶10輸送，光源6的光線經(jīng)瓷磚8表面反射進(jìn)入測量箱11內(nèi)部。測量箱進(jìn)光口由平面透鏡7密閉。光線經(jīng)平面反射5、4和3，水平進(jìn)入鏡頭2，然后CCD傳感器1上成像。旋轉(zhuǎn)編碼器9用于測量輸送位移，并觸發(fā)CCD傳感器1的測量。
本實(shí)用新型測量部件由線陣CCD、位移傳感器12和旋轉(zhuǎn)編碼器9組成，密閉的測量箱11將反射鏡組3、4、5、鏡頭2和CCD傳感器1密封，反射鏡組成用于增加物距，光源采用LED光源或者熒光光源。同步測量，用移動傳感器12均布在被測量瓷磚的上面，以測量瓷磚的厚度和表面平整度。
權(quán)利要求1.瓷磚尺寸檢測設(shè)備，其特征在于它是由密閉的測量箱(11)、同步皮帶(10)位移傳感器(12)和光源(6)制成，測量箱置于同步皮帶上方，測量箱與同步皮帶之間放入被測瓷磚(8)和光源(6)，其中，測量箱將平面反射鏡(3)、(4)、(5)鏡頭(2)和線陣CCD傳感器(1)密封，線陣CCD傳感器位于測量箱左側(cè)，鏡頭(2)在測量箱的左上方，平面反射鏡(3)、(4)分別位于測量箱右上方、右下方，測量箱底部的進(jìn)光口由平面透鏡(7)密封，平面透鏡(7)對應(yīng)測量箱位置安裝平面反射鏡(5)平面反射鏡安在測量箱內(nèi)，平面反射鏡(3)、(4)、(5)均有一個(gè)角度，同步皮帶(10)輸送瓷磚(8)，旋轉(zhuǎn)編碼器(9)驅(qū)動在同步皮帶軸上；同步測量，用移動傳感器(12)均布在被測瓷磚的上面，以測量瓷磚的厚度和表面平整度。
專利摘要本實(shí)用新型涉及瓷磚尺寸檢測設(shè)備，它是由檢測箱、同步皮帶、位移傳感器和光源制成，詳細(xì)結(jié)構(gòu)見說明書。本實(shí)用新型制備簡便，測量準(zhǔn)確，穩(wěn)定性好，效率高，該儀器測量代替人工測量。本實(shí)用新型用于瓷磚尺寸檢測，測定瓷磚長度、寬度、厚度、邊直度、角直度、表面平整度等。
文檔編號G01B11/30GK2676144SQ20032012206
公開日2005年2月2日 申請日期2003年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2003年11月20日
發(fā)明者曹健 申請人:曹健