專利名稱：一種外圍互連線的測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子或通信領(lǐng)域的測試技術(shù)，具體指一種外圍互連線的測試方法。
背景技術(shù)：
邊界掃描技術(shù)是1985年提出來，它通過存在于器件輸入輸出管腳與內(nèi)核電路之間的邊界掃描單元提高了器件的可控性和可觀察性，通過邊界掃描技術(shù)可以對器件及其外圍電路進(jìn)行測試。1986年成立了JTAG組織，1988年JTAG提出了標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描體系結(jié)構(gòu)，名稱叫Boundary-Scan Architecture StandardProposal，Version 2.0，最后目標(biāo)是應(yīng)用到芯片、印制板與完整系統(tǒng)上的一套完善的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。1990年，IEEE正式承認(rèn)了JTAG標(biāo)準(zhǔn)，經(jīng)過補(bǔ)充和修訂以后，命名為IEEE 1149.1-90。
自從IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布以來，邊界掃描技術(shù)廣泛應(yīng)用于電路板測試、FLASH在板編程等。其實(shí)FLASH器件本身并不帶邊界掃描(BS，BoundaryScan)結(jié)構(gòu)，但是FLASH的周圍一般存在BS器件，從而可以利用周圍的BS器件實(shí)現(xiàn)FLASH加載。利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行FLASH的在板編程既不需要占用額外的設(shè)備，也不需要產(chǎn)品增加額外的硬件，它只需要將相關(guān)的BS器件連成一條掃描鏈，并將邊界掃描接口引出來即可。通過這個(gè)接口可以控制邊界掃描鏈，進(jìn)而控制FALSH的控制線、數(shù)據(jù)線和地址線完成FLASH的讀寫等操作，如圖1所示。
在對FLASH編程之前，應(yīng)確保FLASH芯片焊接和連接正確。但是現(xiàn)在的一般做法，就是不做測試，直接加載，這樣如果存在外圍線故障將導(dǎo)致加載失敗。如果在加載完畢進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)發(fā)現(xiàn)加載失敗，然后才進(jìn)行FLASH的外圍互連測試，這樣比較浪費(fèi)時(shí)間。因?yàn)樽鲆淮瓮鈬ミB測試只要幾秒鐘，而做一次FLASH加載要幾分鐘到幾十分鐘。所以有必要在對LASH編程之前先進(jìn)行外圍互連線測試(而FLASH內(nèi)部單元測試比較花費(fèi)時(shí)間，一般為FLASH編程時(shí)間的幾倍，所以FLASH加載之前并不適宜進(jìn)行FLASH內(nèi)部單元測試，只有在FLASH加載失敗以后的故障診斷中，才有可能通過FLASH內(nèi)部單元測試來查找失效單元)。
但是現(xiàn)有的測試方法一般存在測試不完備或故障定位不準(zhǔn)確的缺點(diǎn)。在FLASH編程之前做測試，是一種比較簡單的實(shí)現(xiàn)方法，就是固定地址交錯(cuò)寫入數(shù)據(jù)“01...0101”和“10...1010”，同時(shí)讀校驗(yàn)，測試數(shù)據(jù)線是否存在故障；然后選定地址“01...0101”和“10...1010”寫入兩個(gè)不同的數(shù)據(jù)，然后讀校驗(yàn)，測試地址線是否存在故障；控制線不作單獨(dú)測試，因?yàn)榭刂凭€的故障通過數(shù)據(jù)線地址線的測試即可檢測出來。
上述方法非常簡單，也能測試固定邏輯故障和部分線路的短路故障，但是有大部分短路故障無法檢測到，而且它也無法區(qū)分?jǐn)?shù)據(jù)線故障和地址線故障。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種外圍互連線的測試方法，所述的方法不僅能夠檢測所有外圍線的故障，而且能夠?qū)收线M(jìn)行精確定位。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供如下的技術(shù)方案一種外圍互連線的測試方法，包括下列步驟1)用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)固定一地址，用“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；5)地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則測試結(jié)束；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測試。
所述步驟1)中，如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測值為全“0”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為0的開路故障；如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測值為全“1”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為1的開路故障。
所述步驟2)和步驟3)中，如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了1-支配型短路故障；如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了0-支配型短路故障。
所述步驟4)中，如果讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測試地址與全0地址的值相等，則可能為固定邏輯0故障，故障位置為當(dāng)前測試地址對應(yīng)數(shù)字“1”的地址線；如果讀全0地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為1-支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
所述步驟5)中，如果讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測試地址與全1地址的值相等，則可能為固定邏輯1故障，故障位置為當(dāng)前測試地址對應(yīng)數(shù)字“0”的地址線；如果讀全1地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為0-支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
所述步驟2)也可采用“01”三角形數(shù)據(jù)矩陣進(jìn)行測試。
所述步驟4)和步驟5)中的地址線可先采用走步“0”矩陣后采用走步“1”矩陣進(jìn)行測試。
本發(fā)明根據(jù)FLASH器件本身的特點(diǎn)，提出了一種完備的FLASH外圍互連線測試方法，這種測試方法不僅能夠檢測到外圍互連線的所有呆滯型故障和橋接短路故障，而且能夠進(jìn)行精確的故障定位，報(bào)告故障發(fā)生位置和故障類型，還能區(qū)分1-支配型短路故障和0-支配型短路故障。該測試方案能夠保證在FLASH加載之前，F(xiàn)LASH的外圍連接關(guān)系是正常的，保障了FLASH加載的有效性，避免了不必要的時(shí)間。


圖1為利用邊界掃描技術(shù)實(shí)現(xiàn)FLASH在板編程的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。
圖2為本發(fā)明對FLASH數(shù)據(jù)線的測試流程圖。
圖3為本發(fā)明對FLASH地址線的測試流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的測試方法，可以劃分為三個(gè)大的操作步驟。根據(jù)FLASH器件的特點(diǎn)，在每一次寫操作之前需要進(jìn)行擦除操作，而且FLASH的器件特點(diǎn)是擦除以后數(shù)據(jù)為1，然后只能將數(shù)據(jù)1改寫為數(shù)據(jù)0，不能將數(shù)據(jù)0改寫為數(shù)據(jù)1，所以FLASH的外圍互連測試的整個(gè)過程如下表


第一步測試用來測試數(shù)據(jù)線是否存在開路故障和固定邏輯故障，第二步測試用來測試數(shù)據(jù)線是否存在短路故障，第三步測試用來測試地址線是否存在開路或短路故障。在第二步測試結(jié)束進(jìn)行數(shù)據(jù)線故障診斷，在第三步測試結(jié)束進(jìn)行地址線故障診斷。
第一步測試的故障診斷比較簡單，在擦除某一塊以后，在該塊內(nèi)的某個(gè)固定地址應(yīng)該能讀到全1，如果沒有讀到全1，就說明數(shù)據(jù)線存在S-A-0的故障(固定為0故障)，數(shù)值為0的數(shù)據(jù)線就是發(fā)生S-A-0的故障線位置。然后在該地址寫入全0讀全0，如果寫入全0沒有讀到全0，就說明數(shù)據(jù)線存在S-A-1的故障(固定為1故障)，數(shù)值為1的數(shù)據(jù)線就是發(fā)生S-A-1的故障線位置。
第二步測試需要對短路故障的數(shù)據(jù)線位置和什么類型的短路故障進(jìn)行判斷，下面是第二步測試結(jié)果的一個(gè)例子，其中包含故障診斷的結(jié)果(假設(shè)數(shù)據(jù)線b3b2b1b0，測試向量r0r1...r6)

對數(shù)據(jù)線的開路故障和短路故障的診斷流程，如圖2所示，用偽程序語言表示如下BEGINFOR 實(shí)際測試響應(yīng)矩陣V的每一列ViIF Vi和期望響應(yīng)矩陣T的相應(yīng)列Ti不一致報(bào)告存在故障；IF Vi的每一個(gè)分量都固定為1報(bào)告第i條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為1的開路故障；
ELSE IF Vi的每一個(gè)分量都固定為0報(bào)告第i條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為0的開路故障；ELSE IF 存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望響應(yīng)的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生1-支配型短路故障ELSE IF存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望響應(yīng)的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生0-支配型短路故障ELSE報(bào)告故障類型無法判斷，同時(shí)報(bào)告故障發(fā)生在哪一根數(shù)據(jù)線上END IFEND IFEND FORIF不存在故障報(bào)告數(shù)據(jù)線測試沒有發(fā)現(xiàn)故障；END。
在確保數(shù)據(jù)線沒有故障之后，可以進(jìn)行第三大步測試，對地址線進(jìn)行測試，下表是第三大步測試結(jié)果的一個(gè)例子，并包含故障診斷的結(jié)果


上表中，單元格中帶下劃線的數(shù)據(jù)，表示讀回?cái)?shù)據(jù)有誤。無下劃線的數(shù)據(jù)表示讀回?cái)?shù)據(jù)正常。其中黑色加重?cái)?shù)據(jù)表示對故障定位有用的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)。
對地址線開路故障和短路故障的測試診斷流程，如圖3所示，用偽程序語言表示如下BEGIN先分析走步1的測試響應(yīng)IF 讀到數(shù)據(jù)和期望的數(shù)據(jù)完全一致報(bào)告地址線走步1算法測試沒有發(fā)現(xiàn)故障；ELSEFOR 對除全0地址以外的每一個(gè)地址進(jìn)行分析IF 讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，而且該地址和全0地址的值相等記錄下來，可能為固定邏輯0故障，故障位置為該地址對應(yīng)數(shù)字“1”的地址線ELSE IF 讀全0地址的數(shù)據(jù)與讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等記錄下來，為1支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路ELSE IF 全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)或者讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)值與期望值不一致報(bào)告故障類型無法判斷，同時(shí)報(bào)告故障發(fā)生哪一個(gè)地址上。
ELSE
該地址沒有發(fā)現(xiàn)故障END FOR再先分析走步0的測試響應(yīng)IF 讀到數(shù)據(jù)和期望的數(shù)據(jù)完全一致報(bào)告地址線走步0算法測試沒有發(fā)現(xiàn)故障；ELSEFOR 對除全1地址以外的每一個(gè)地址進(jìn)行分析IF 讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，而且和該地址的值相等記錄下來，可能為固定邏輯1故障，故障位置為該地址對應(yīng)數(shù)字“0”的地址線ELSE IF 讀全1地址的數(shù)據(jù)與讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等記錄下來，為0支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路ELSE IF 全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)或者讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)值與期望值不一致報(bào)告故障類型無法判斷，同時(shí)報(bào)告故障發(fā)生哪一個(gè)地址上。
ELSE該地址沒有發(fā)現(xiàn)故障END FOR最后對診斷結(jié)果進(jìn)行綜合分析FOR 存在故障的地址線IF 該地址線被判斷為0-支配型短路故障或1-支配型短路故障則斷定該地址線為0-支配型短路故障或1-支配型短路故障
ELSE IF 該地址線被判斷為固定邏輯0故障或固定邏輯1故障則斷定該地址線為固定邏輯0故障或固定邏輯1故障ELSE IF 該地址線被判斷為固定邏輯0故障或固定邏輯1故障則斷定該地址線為固定邏輯故障ELSE該地址線存在無法判斷故障類型的故障END FOREND假設(shè)地址線數(shù)目為d，數(shù)據(jù)線數(shù)目為n，則一總需要對存儲單元進(jìn)行4*(n+d)+3次讀或?qū)懙牟僮鳎硗膺€需要四次擦除操作。本發(fā)明方法對固定邏輯故障(Stuck-at fault)、固定開路故障(Stuck-open fault)和橋接短路故障(Short fault)的故障覆蓋率都是100％，而且能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的故障診斷，區(qū)分不同類型的短路故障，不會(huì)出現(xiàn)任何漏測情況。
另外在FLASH的外圍互連測試中，如果控制線存在故障，則讀寫操作全部錯(cuò)誤，所以根據(jù)測試結(jié)果也能診斷出來；如果數(shù)據(jù)線或地址線的故障影響了FLASH操作命令字(Command Code)的寫入，則FLASH的測試結(jié)果出現(xiàn)很大的異常，也能很容易地分析出來。所以這些故障不作單獨(dú)測試，均能在數(shù)據(jù)線和地址線地測試中得到檢測。
權(quán)利要求
1.一種外圍互連線的測試方法，其特征在于，該方法包括下列步驟1)、用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)、固定一地址，用“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)、選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)、地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；5)、地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則測試結(jié)束；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測試。
2.如權(quán)利要求1所述的外圍互連線的測試方法，其特征在于所述步驟1)中，如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測值為全“0”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為0的開路故障；如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測值為全“1”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為1的開路故障。
3.如權(quán)利要求1或2所述的外圍互連線的測試方法，其特征在于所述步驟2)和步驟3)中，如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了1-支配型短路故障；如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了0-支配型短路故障。
4.如權(quán)利要求3所述的外圍互連線的測試方法，其特征在于所述步驟4)中，如果讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測試地址與全0地址的值相等，則可能為固定邏輯0故障，故障位置為當(dāng)前測試地址對應(yīng)數(shù)字“1”的地址線；如果讀全0地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為1-支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
5.如權(quán)利要求1或4所述的外圍互連線的測試方法，其特征在于所述步驟5)中，如果讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測試地址與全1地址的值相等，則可能為固定邏輯1故障，故障位置為當(dāng)前測試地址對應(yīng)數(shù)字“0”的地址線；如果讀全1地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為0-支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
6.一種外圍互連線的測試方法，其特征在于，該方法包括下列步驟1)用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)固定一地址，用“01”三角形數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；5)地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則測試結(jié)束；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測試。
7.一種外圍互連線的測試方法，其特征在于，該方法包括下列步驟1)用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)固定一地址，用“01”或“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1 故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，再進(jìn)行下列步驟；5)地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測試地址線的故障，如果實(shí)測值與期望值相同，則測試結(jié)束；如果實(shí)測值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測試。
8.如權(quán)利要求7所述的外圍互連線的測試方法，其特征在于所述步驟2)和步驟3)中，如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了1-支配型短路故障；如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了0-支配型短路故障。
9.如權(quán)利要求7所述的外圍互連線的測試方法，其特征在于所述步驟4)中，如果讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測試地址與全0地址的值相等，則可能為固定邏輯0故障，故障位置為當(dāng)前測試地址對應(yīng)數(shù)字“1”的地址線；如果讀全0地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為1-支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
10.如權(quán)利要求7所述的外圍互連線的測試方法，其特征在于所述步驟5)中，如果讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測試地址與全1地址的值相等，則可能為固定邏輯1故障，故障位置為當(dāng)前測試地址對應(yīng)數(shù)字“0”的地址線；如果讀全1地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為0-支配型短路故障，對應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
全文摘要
一種外圍互連線的測試方法，包括下列步驟固定一個(gè)地址，采用一組全“1”數(shù)據(jù)和一組全“0”數(shù)據(jù)測試FLASH數(shù)據(jù)線的呆滯型故障。固定地址，用“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線；然后選用一組相異地址，用走步1數(shù)據(jù)矩陣測試數(shù)據(jù)線，這樣可以檢測所有短路故障。地址采用走步1矩陣，數(shù)據(jù)采用走步0矩陣；然后地址采用走步0矩陣，數(shù)據(jù)還是采用走步0矩陣，這樣可以檢測到地址線的呆滯型故障和短路故障。本發(fā)明的測試方法不僅能夠檢測到外圍互連線的所有呆滯型故障和橋接短路故障，而且能夠進(jìn)行精確的故障定位，報(bào)告故障發(fā)生位置和故障類型。
文檔編號G01R31/28GK1619326SQ20031011535
公開日2005年5月25日 申請日期2003年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2003年11月19日
發(fā)明者李穎悟, 游志強(qiáng) 申請人:華為技術(shù)有限公司