專利名稱：用于建筑密封件的密封性檢測的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于建筑密封件的密封性檢測的方法和裝置。本發(fā)明特別涉及一 種用于確定損壞或缺陷位置的方法，特別用于確定在隔膜式、不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的建筑 密封件上的材料強度降低的薄弱位置，該建筑密封件相對于空氣具有強絕緣強度并設(shè)有導(dǎo) 電層，該導(dǎo)電層設(shè)置在建筑密封件的內(nèi)部或外部，導(dǎo)電層基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過 建筑密封件，并且在導(dǎo)電層上施加檢測電壓；本發(fā)明還涉及一種隔膜式建筑密封件，該建筑 密封件由不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的材料構(gòu)成，該建筑密封件相對于空氣具有強絕緣強度，建 筑密封件具有用于確定在建筑密封件上的損壞或缺陷位置、特別是確定材料強度降低的薄 弱位置的檢測裝置，該檢測裝置具有電源，并且建筑密封件還具有導(dǎo)電層，該導(dǎo)電層設(shè)置在 建筑密封件的內(nèi)部或外部并且基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過建筑密封件。
背景技術(shù)：
至今，隔板式密封件在建筑密封件方面占有相當大的份額。建筑密封件的作用是， 確保防止地下水、土壤水和降水侵入到建筑中，并且由此可靠地避免在整個建筑使用期間 建筑基材的損壞和建筑應(yīng)用的受限。通常情況下，隔板式密封件由浙青材料或目前可用的 商品塑料構(gòu)成，并且大多數(shù)在工業(yè)上越來越多地制成條帶狀(bahnenartig)產(chǎn)品，而且還 可以制成平面式鋪設(shè)在現(xiàn)場的密封產(chǎn)品。隔膜式密封件必須是水密封的，從而能夠發(fā)揮其 作用。產(chǎn)品缺陷、有缺陷的工藝、使用不當以及天氣影響都能夠?qū)е赂裟な矫芊饧系?密封性損失，如果沒有及時消除這些損壞因素，那么由此可能在建筑上產(chǎn)生更廣泛的損害。 因此至今，大部分建筑物的損壞都是由于建筑密封件的損壞而造成的。由此可知，即使知道 密封件損壞，系統(tǒng)的損壞也通常不能被消除，這是因為，不能對損壞位置進行定位，而且損 壞位置通常是嵌入式地位于不可進入的建筑結(jié)構(gòu)中。因此，隔膜式建筑密封件的密封件損 壞具有造成巨大的損壞的可能性。在前述背景情況下，近些年來已經(jīng)提出了很多設(shè)想，以開發(fā)出對建筑密封件的密 封性檢測和泄漏定位的技術(shù)方案，其目的是盡可能早地識別到密封件損壞，并且能夠?qū)ζ?所在位置進行精確定位。在此，現(xiàn)今所提供的技術(shù)方案具有以下特征簡單且慣用類型的系統(tǒng)在這種系統(tǒng)中，密封件這樣設(shè)置，即，在密封件的確定干 燥的一側(cè)上提供可視化的控制方案，從而在監(jiān)控的過程中能夠識別到出現(xiàn)侵入的泄漏水。 通過電子濕度探測器的輔助還可以使監(jiān)控自動化。這種構(gòu)造的缺點在于，實際上不能實現(xiàn) 對泄漏的定位，而且也不能將泄漏水與產(chǎn)生凝結(jié)的水區(qū)分開，從而在實際應(yīng)用中不能實現(xiàn) 對泄漏的準確識別。另一個缺點還在于，密封件的檢測總是依賴于密封件要在檢測的時間 點上受到水的侵入或已經(jīng)受到水的浸蝕。真空系統(tǒng)在這種系統(tǒng)中，密封件這樣設(shè)置成兩層，即，在密封層之間還具有一個 可真空化的中間空間。如果該控制空間在確定的低壓條件下真空化，那么能夠通過時間上 的壓力上升驗證密封件的密封性。該系統(tǒng)的優(yōu)點在于，密封件的密封性能夠不需要水的浸蝕而得到檢測。這種方法的缺點是雙密封系統(tǒng)的成本太高，而且在不密封的情況下對于損 壞位置的定位會出現(xiàn)偏差。電阻系統(tǒng)這種系統(tǒng)利用的是，使隔膜式建筑密封件具有明顯較高的特定電阻和 較高的絕緣強度?？梢圆捎貌煌脑O(shè)計方案在電位分析法中，或者在密封件潮濕的外側(cè)測量電勢場，或者在密封件下方確定 為干燥一側(cè)的電接觸層中測量電勢場；在于潮濕的密封外側(cè)之間、或接觸層之間、或其中之 一不存在時而施加電壓的過程中，電勢場對建筑物這樣進行設(shè)定，即，驅(qū)使電流流經(jīng)穿過泄 漏位置。根據(jù)不同的技術(shù)應(yīng)用，這種方法非常高效，并且部分實現(xiàn)了完全自動化的密封性監(jiān) 控以及對泄漏位置的精確定位。專利文獻DE 41 25 430 C2公開了一種具有位于內(nèi)部的導(dǎo)電層的密封薄膜，該密 封薄膜的兩側(cè)分別由不導(dǎo)電層覆蓋。如果密封件上出現(xiàn)泄漏，那么可以這樣識別到泄漏狀 況，即，對由導(dǎo)電層流到地面的電流或流過導(dǎo)電存儲介質(zhì)的電流進行測量。上述方法的缺點在于，泄漏識別主要這樣才能實現(xiàn)，S卩，密封件受到水或潮濕的覆 蓋材料的浸蝕，并且通過侵入的濕氣在泄漏位置上形成一個導(dǎo)電路徑。如果在密封件的頂 側(cè)進行測量，那么必須采用檢測設(shè)備手動掃描整個密封件表面才能實現(xiàn)對密封件的檢測。 這樣就需要很長的時間，并且僅在具有足夠的專業(yè)知識的條件下才能夠得到可靠的結(jié)果。在高壓檢測法中使上述缺點這樣得到避免，S卩，通過一個運動測試電極、即所謂的 火花帚(Funkenbesen)而在密封件外露的背對建筑的一側(cè)上施加一個高壓，該運動測試電 極的相反極或者是指設(shè)置在密封件上的接地構(gòu)建結(jié)構(gòu)，或者是指一個導(dǎo)電層，該導(dǎo)電層直 接位于密封件下方或背面的朝向建筑的一側(cè)上，其中，該導(dǎo)電層或者松散地位于密封件的 下方或背面，或者如專利申請WO 00/01895A1所述的那樣與密封件固定連接。如果測試電 極導(dǎo)引經(jīng)過密封件的損壞位置，那么在該損壞位置上與完好的密封件表面相比具有降低的 絕緣強度，這是因為，或者由于受損而導(dǎo)致材料強度比完好密封件的材料強度減小，或者甚 至僅是由于存在空氣間隙而導(dǎo)致相對于密封件材料而具有明顯減小的絕緣強度。這些情況 導(dǎo)致的結(jié)果是，在經(jīng)過損壞位置時點燃火花。這些現(xiàn)象經(jīng)由設(shè)備進行探測，并由此準確識別 到泄漏。為了能夠僅使用少量電壓進行工作，在所提供的系統(tǒng)中用水檢測裝置替換火花帚 來進行檢測，從而通過將水噴灑到密封位置上來進行施加電壓，然后還侵入到毛細血管式 的損壞位置上，并且由此建立與損壞位置的電連接。上述公知的高壓檢測法的缺點在于，為了實現(xiàn)檢測必須使密封件完全外露，并且 在采用水作為檢測介質(zhì)時，通過流出的水而形成經(jīng)由密封件的邊緣的電連接，由此導(dǎo)致測 量結(jié)果出現(xiàn)錯誤。因為為了檢測必須使密封件完全由測試電極進行掃描，所以該方法特別 耗費工本，特別是對于那些較大或較難進入的密封件必須進行檢測的情況下。如果在檢測 的過程中測試電極沒有掃描到所有的表面，那么就沒有系統(tǒng)化實現(xiàn)監(jiān)控，因此造成缺陷測 量的危險。因此，公知的高壓檢測不適用于系統(tǒng)地、而且在隨后的建造過程中對建筑密封件 進行檢測，這是因為，這樣通常不再具有進入密封件的可能性。特別是在隧道密封件上，密封件損壞具有很大的危險，而且密封件損壞通常由于 水流入到建好的隧道中才能發(fā)現(xiàn)，這是因為，在對密封件上的液壓進行設(shè)定、以及在水第一 次浸蝕密封件之前，首先必須對水流保持進行設(shè)定。由于壓力構(gòu)建而在此對于密封件產(chǎn)生 擴大受損的危險，于是通過增加的外界壓力，使密封件越來越壓向混凝土內(nèi)殼。如果內(nèi)殼區(qū)域沒有完全固化，那么內(nèi)殼的外露鋼筋上的密封性會受到壓力并出現(xiàn)穿孔，從而出現(xiàn)進一 步受損的危險。問題由此更加嚴重，即，經(jīng)過所有處理之后，水并不是在密封件中實際的泄 漏位置上從混凝土內(nèi)殼流出，而是在混凝土內(nèi)殼的背面尋找出口，直到在隧道截段的不密 封的接縫處、或是通過混凝土裂縫進入到隧道管道中而流出。這是因為，密封件不可見地隱含位于隧道內(nèi)殼的背面，并且沒有或僅有分散的關(guān) 于泄漏位置的信息，所以，對于隧道密封件泄漏的修理至今仍需要大面積且昂貴的注射措 施，這些措施盡管具有較大的工本耗費卻往往鮮有成功，因此，許多隧道盡管保持對泄漏的 修理，但是時間久了卻產(chǎn)生顯著提高的維護成本。對此，瑞士聯(lián)邦材料檢測機構(gòu)(EMPA)于 2004年的年報中、就共同由瑞士聯(lián)邦街道管理局(Astra)進行的研究項目的結(jié)果進行了報 道，其中，總共對63條瑞士隧道就密封件系統(tǒng)的有效性進行了研究。然后，甚至在采用注射 措施確定泄漏的修理之后，對13條隧道進一步確定為泄漏，其中有10條是維持了高壓水的 隧道。根據(jù)這些負面的結(jié)果以及所記錄的用于泄漏隧道的(往往鮮有成功的)修理和維護 的大量成本，該報告最后提出了緊急呼吁，盡力從一開始就要構(gòu)建成致密的隧道密封件。上述目的這樣才能實現(xiàn)，即，在建筑施工的建筑過程中以及各個即時階段，對密封 件的質(zhì)量和由此特別是密封件的密封性能都能進行檢測；根據(jù)可信的且客觀的測量結(jié)果， 可以系統(tǒng)化地確定損壞位置，并以簡單的方式對所確定的損壞位置進行定位；以及，同樣能 夠系統(tǒng)化識別到其它構(gòu)建過程中的缺陷或薄弱位置，也就是能夠反向?qū)е陆ㄖ芊饧p壞 的構(gòu)建過程，諸如不完全固化，而且，在作為損壞結(jié)果而產(chǎn)生密封件的損壞之前，采用適宜 的措施消除這些缺陷或薄弱位置。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于隔膜式、不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的建筑密封件 的密封性檢測的方法，無論密封件是否貼靠在底層、或是在底側(cè)或頂側(cè)外露，無論用鋼筋加 固、或是不能進入地完全嵌入在建筑結(jié)構(gòu)中，該方法都能實現(xiàn)對于這類密封件的完好的密 封性檢測。對此，當待檢測的密封件沒有用潮濕的材料加固、或是與水有接觸時，所提供的 方法仍應(yīng)該實現(xiàn)密封性控制。特別地，所提供的方法還應(yīng)該實現(xiàn)，在待檢測的密封件中對存 在的損壞位置進行區(qū)域限定或優(yōu)選進行定位。同時，本發(fā)明的目的還在于提供一種隔膜式 建筑密封件，該建筑密封件設(shè)有適宜的檢測裝置，該檢測裝置用以實施所提供的方法。上述目的通過具有權(quán)利要求1的特征的方法、以及具有權(quán)利要求16的特征的建筑 密封件來實現(xiàn)。本發(fā)明的方法用于確定損壞或缺陷位置，特別用于確定在隔膜式、不導(dǎo)電或僅輕 微導(dǎo)電的建筑密封件上的材料強度降低的薄弱位置，建筑密封件相對于空氣具有強絕緣強 度。對此，該建筑密封件設(shè)有(第一)導(dǎo)電層，該導(dǎo)電層設(shè)置在建筑密封件的內(nèi)部或外部，并 且導(dǎo)電層基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過建筑密封件。為了確定損壞、缺陷和/或薄弱位 置，根據(jù)本發(fā)明還采用另一個導(dǎo)電層，該另一個導(dǎo)電層通過建筑密封件與前述導(dǎo)電層形成 電隔離，并且該另一個導(dǎo)電層基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過建筑密封件。在兩個導(dǎo)電層 上施加一檢測電壓，該檢測電壓的強度這樣選擇，即，在建筑密封件中存在(至少)一個不 導(dǎo)電的或僅輕微導(dǎo)電的損壞、缺陷和/或薄弱位置時，產(chǎn)生絕緣強度的超值，并且在損壞、 缺陷和/或薄弱位置的所在處形成電火花或電弧，其中，選擇的檢測電壓小于破壞性檢測電壓，在該破壞性檢測電壓作用下，在與待檢測的建筑密封件相對應(yīng)的未受損的和/或未 變薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火花或電弧形式的電擊穿。詞“僅輕微導(dǎo)電”在本申請文件中理解為，密封件或密封材料的電阻大于101°歐姆 cm0詞“基本上覆蓋整個平面地”可以理解為，所指的導(dǎo)電層至少延伸經(jīng)過建筑密封件 或塑料密封帶的待檢測密封性的表面區(qū)域。例如，塑料密封帶的與相鄰塑料密封帶待焊接 在一起的邊緣區(qū)域也可以不設(shè)置導(dǎo)電層。根據(jù)本發(fā)明，優(yōu)選待檢測的平面式建筑密封件或 塑料密封帶的表面的至少90%被導(dǎo)電層覆蓋整個平面地覆蓋。本發(fā)明的方法消除了開始所述的現(xiàn)有技術(shù)的檢測方法的缺點。該方法實現(xiàn)了對 于隔膜式、不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的建筑密封件的覆蓋整個平面地密封性檢測，而且不需要 使所涉及的密封件必須外露，并且不需要使密封件在待檢測區(qū)域上必須受到濕氣或水的作 用。同時，在使用本發(fā)明方法的情況下，密封件的檢測性還可以在邊界條件下實現(xiàn)。此外，本發(fā)明的方法還實現(xiàn)了在待檢測的密封件中對存在的損壞位置進行定位限 定。然后，通過與固定設(shè)置的電位分析法相結(jié)合，還能在建成的受到水浸蝕的隧道建筑中進 一步實現(xiàn)對密封件的監(jiān)控。根據(jù)本發(fā)明方法的一個優(yōu)選設(shè)計方案，施加在導(dǎo)電層上的檢測電壓這樣選擇，即， 使該檢測電壓為這樣一個電壓值的80%，在該電壓值作用下，在與待檢測的建筑密封件相 對應(yīng)的未受損的和/或未變薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火花或電弧形式的電擊穿。以這種 方式，能夠準確探測到待檢測密封件的薄弱位置，這些薄弱位置是由于材料脫落或?qū)雍駵p 小所導(dǎo)致的；另一方面還確保使密封件的完好表面區(qū)域不受到電壓沖擊的破壞，這些完好 的表面區(qū)域具有所需的額定厚度。在本發(fā)明的另一個設(shè)計方案中，并不是采用固定檢測電壓進行工作，而是使檢測 電壓連續(xù)或逐步地增加，和/或在多個檢測時間段進行檢測，其中，使檢測電壓在每下一個 檢測時間段上增加，直至達到與完好的密封件相對應(yīng)的最小檢測電壓。然后根據(jù)在實際應(yīng) 用中達到的各個擊穿電壓，可以對不同的損壞圖像(例如材料厚度的減小或連續(xù)泄漏)進 行區(qū)分。此外還具有優(yōu)勢地，在已知的時間內(nèi)一直維持檢測電壓，這是因為特別在非常小的 受損情況下需要一定的時間才能檢測到，使該檢測電壓一直維持到在損壞位置上、于檢測 電壓以及由此導(dǎo)致電場的作用下能夠形成點燃通道為止，然后通過該點燃通道才能產(chǎn)生火 花放電。在本發(fā)明的又一個設(shè)計方案中，使待檢測的密封件優(yōu)選分成各個檢測區(qū)段，其中， 可以這樣進行分區(qū)，即，或者將其中的一個導(dǎo)電層或者將兩個導(dǎo)電層都進行分段，從而實現(xiàn) 對待控制密封件的各個檢測區(qū)段的分段式電壓沖擊，這樣有效地使每個密封帶截段還形成 一個檢測截段。為了實現(xiàn)簡單并針對構(gòu)建位置地應(yīng)用本發(fā)明的檢測方法，在本發(fā)明方法的另一個 設(shè)計方案中，使平面式檢測所需的導(dǎo)電層和待檢測的密封件形成為預(yù)先加工而成的多層結(jié) 構(gòu)的三明治式系統(tǒng)，該三明治式系統(tǒng)由導(dǎo)電層和至少一個電絕緣的密封層構(gòu)成，其中，導(dǎo)電 層通過適宜的方式與密封件局部或覆蓋整個平面地連接，這些方式例如為粘接、層壓、膠 合、共擠、氣相沉淀或涂層或這些方法相結(jié)合。對此，導(dǎo)電層的表面電阻優(yōu)選小于IO6歐姆， 并且特定電阻為小于IO5歐姆cm。
本發(fā)明方法的又一個具有優(yōu)勢的設(shè)計方案在于，檢測電壓經(jīng)由至少兩個空間上相 互間隔的供給位置而施加在一個導(dǎo)電層上，并且，在于損壞、缺陷和/或薄弱位置上的電擊 穿過程中對電流或由此對應(yīng)的電學(xué)參數(shù)、特別是電壓進行測量，而且，根據(jù)電流或?qū)?yīng)的電 學(xué)參數(shù)、特別是電壓的比值而得出損壞、缺陷和/或薄弱位置的所在處。以這種方式，即使 待檢測的密封件不能進入或僅可以部分進入的情況下，也能夠相對精確地表示出密封件的 損壞、缺陷和/或薄弱位置的所在處。在此優(yōu)選地，使電壓比值的測量通過一個或多個測量探頭來實現(xiàn)，這些測量探頭 在沒有形成電連接的情況下間接與一個導(dǎo)電層形成電容耦合。由此實現(xiàn)了測量探頭的簡單 且靈活的耦合。這些測量探頭還能夠以簡單的方式進行轉(zhuǎn)換，從而能夠更快地測量和限定 出密封件的損壞、缺陷和/或薄弱位置的所在處。然而，電壓比值的測量還可以通過測量探 頭這樣來實現(xiàn)，即，使測量探頭直接與一個導(dǎo)電層耦合。由本發(fā)明方法的再一個設(shè)計方案可知，建筑密封件的一個導(dǎo)電墊板層，例如潮濕 的基礎(chǔ)層、特別是指一個相對潮濕的或凝固的混凝土層，可以用作是一個導(dǎo)電層。在這種情 況下就不用再建立第二個或附加的導(dǎo)電層；并且替換該第二個或附加的導(dǎo)電層而使用本來 就有的導(dǎo)電墊板層，由此實現(xiàn)了適當?shù)某杀竟?jié)省。例如可以在平面頂上，將相對光滑的混凝 土蓋用作導(dǎo)電墊板層。本發(fā)明方法的另一個具有優(yōu)勢的設(shè)計方案的特征在于，至少使設(shè)置在建筑密封件 的可進入一側(cè)上的導(dǎo)電層設(shè)有不導(dǎo)電層，優(yōu)選設(shè)有顏色明亮的電絕緣塑料薄膜。該不導(dǎo)電 層防止電流沖擊。該不導(dǎo)電層具有明亮的顏色，目的是在建筑密封件的內(nèi)部或區(qū)域中進行 操作時有利于工作人員的視覺條件，并且進一步用于機械受損的可視化識別。對于通用的建筑密封件的盡可能簡單且快速的應(yīng)用具有優(yōu)勢的是，使建筑密封件 共同與導(dǎo)電層以及電絕緣層(塑料薄膜)通過共擠或膠合的方式在工業(yè)上預(yù)先加工成三明 治式的連接薄膜或連接密封帶。特別是在不同層的共擠加工中，時而會導(dǎo)致在中間設(shè)置的 或嵌入的導(dǎo)電層中產(chǎn)生缺陷位置，這樣的缺陷位置不能夠?qū)崿F(xiàn)在隨后待檢測的建筑密封件 上對損壞和/或缺陷位置的可靠確定。為了在可以是不可視的導(dǎo)電層中測量可能存在的缺 陷位置，由本發(fā)明方法的又一個設(shè)計方案可知，使至少設(shè)置在建筑密封件的可進入一側(cè)上 的導(dǎo)電層的覆蓋整個平面的結(jié)構(gòu)、和/或設(shè)置在建筑密封件背面上的導(dǎo)電層的覆蓋整個平 面的結(jié)構(gòu)通過電容測量方式進行測量。本發(fā)明的隔膜式建筑密封件由不導(dǎo)電材料構(gòu)成，從而使建筑密封件相對于空氣具 有強絕緣強度。建筑密封件具有用于確定在建筑密封件上的損壞或缺陷位置、特別是確定 材料強度降低的薄弱位置的檢測裝置，該檢測裝置具有電源。此外，本發(fā)明的建筑密封件還 具有(第一)導(dǎo)電層，該導(dǎo)電層設(shè)置在建筑密封件的內(nèi)部或外部并且基本上覆蓋整個平面 地延伸經(jīng)過建筑密封件。根據(jù)本發(fā)明，建筑密封件還設(shè)有另一個導(dǎo)電層，該另一個導(dǎo)電層通 過建筑密封件與前述的(第一)導(dǎo)電層形成電隔離，并且，該另一個導(dǎo)電層基本上覆蓋整個 平面地延伸經(jīng)過建筑密封件。在此，檢測裝置具有用于設(shè)定經(jīng)由導(dǎo)電層施加在建筑密封件 上的檢測電壓的工具，從而使檢測電壓從零或從大于零的最小值連續(xù)或逐步增加到一個電 壓值，該電壓值以一個安全值縮減地位于破壞性電壓以下，在該破壞性電壓作用下，在與待 檢測的建筑密封件相對應(yīng)的未受損的和/或未變薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火花或電弧 形式的電擊穿，并且這個安全值大于與建筑密封件厚度相對應(yīng)的空氣間隙的絕緣強度。


本發(fā)明的建筑密封件的其它優(yōu)選和具有優(yōu)勢的設(shè)計方案在從屬權(quán)利要求以及接 下來的說明中給出。下面，根據(jù)示出多個實施例的附圖對本發(fā)明進行詳細說明。圖中示出 了 圖1為具有本發(fā)明建筑密封件的隧道的截面圖；圖2至6為本發(fā)明中不同的建筑密封件的局部放大截面圖。
具體實施例方式圖1所示的隧道的圓頂直接在開山洞穴(Gebirgsausbruch) 1建成之后由混凝土 噴漿2和鋼襯料覆蓋。這種隧道的推進通常在軸向局部區(qū)段上是不連續(xù)的。加鋼筋的混凝 土噴漿2形成外側(cè)圓頂，該外側(cè)圓頂?shù)膬?nèi)表面由建筑密封件3來覆蓋。建筑密封件3能夠 防止來自山上的水或濕氣侵入到外側(cè)圓頂2的區(qū)域中。緊接著建筑密封件3的內(nèi)側(cè)是由混 凝土構(gòu)成的內(nèi)側(cè)圓頂4，該內(nèi)側(cè)圓頂以下還稱為“內(nèi)殼annenschale) ”。在內(nèi)側(cè)圓頂或內(nèi)殼 4澆混凝土之前，先檢測建筑密封件3的密封性能。在此，建筑密封件3設(shè)有檢測裝置5，用 于確定可能存在的損壞或缺陷位置。待檢測的建筑密封件3是這樣的一種密封件，該密封件具有由材料決定的高絕緣 電阻并且相對于空氣具有較強的絕緣強度。經(jīng)由兩個導(dǎo)電層6、7，在采用一個適宜的電源 8的情況下，于待檢測密封件表面上施加一個接地電勢或不接地電勢的檢測電壓，從而在導(dǎo) 電層6、7之間的每個位置上都產(chǎn)生一個垂直于待檢測的平面式密封件(密封帶)3的電場； 根據(jù)本發(fā)明，這兩個導(dǎo)電層或者貼靠設(shè)置在待檢測的密封件3的兩個外側(cè)上；或者使其中 一個導(dǎo)電層6或7貼靠設(shè)置在密封件3的一個外側(cè)上，而另一個導(dǎo)電層7或6位于待檢測 的密封件3的內(nèi)部；或者使兩個導(dǎo)電層6、7都位于待檢測的密封件3的內(nèi)部，從而使導(dǎo)電 層6、7在結(jié)構(gòu)上總是通過一個由不導(dǎo)電的密封材料構(gòu)成的層、即通過待檢測的密封件3或 密封帶而電絕緣地相互隔開。在此，所采用的電源8可以是直流電場或交流電場。為了檢 測平面式密封件3的受損情況，根據(jù)本發(fā)明，在施加有電壓的導(dǎo)電層6、7之間這樣選擇檢測 電壓，即，在完好的密封帶3上，絕緣強度在密封件3的任何位置上都沒有超值；但是在施加 電壓的密封帶3的材料強度由于受損而相對于未受損的狀態(tài)減少的位置上，和/或在密封 件3的由于受損或還由于加工造成的缺陷位置上，對于這些缺陷位置有利的方式是每毫 米待檢測平面式密封件或密封帶3的厚度采用至少1000伏特檢測電壓，其結(jié)果是，在上述 位置上產(chǎn)生電壓擊穿，由此根據(jù)本發(fā)明能夠以不同的方式進行探測并確定位置。通過這種 方式實現(xiàn)了對建筑密封件3或各個密封帶的覆蓋整個平面的總體密封性檢測，并確定密封 件3的受損情況，而不需要使受損位置上必須有水或濕氣或直接短路，然而，密封件3的損 壞的可靠識別即使在這樣的有水或濕氣或直接短路的條件下也能夠通過本發(fā)明的方法來 實現(xiàn)。由此，通過本發(fā)明的方法實現(xiàn)了相對于現(xiàn)有技術(shù)顯著改善的發(fā)展狀況，這種發(fā)展狀況 實現(xiàn)了密封件3的可靠的有利檢測，并且以簡單和可靠的方式確定出密封件的損壞以及對 該密封件的損壞處進行定位，這一點在極端情況下即使在自由懸掛的密封件3上也不取決 于密封件3的構(gòu)造條件，而且也不需要為了檢測方法的使用性而采用水或濕氣。根據(jù)本發(fā)明，為了實現(xiàn)上述方法，可以在檢測過程中，對經(jīng)由導(dǎo)電層6、7施加在待檢測的平面式密封件3上的電壓的強度進行測量，并且還對位于檢測裝置中的電源8的電 流強度進行測量。如果平面式密封件3上存在損壞和/或缺陷位置，那么根據(jù)本發(fā)明只要在 此不是由于受損造成的導(dǎo)電層6、7之間的直接短路，這樣的損壞和/或缺陷位置就指的是 絕緣強度的超值，并且由此穿過待檢測的平面式密封件3實現(xiàn)電擊穿的結(jié)果是，在兩個導(dǎo) 電層6、7之間經(jīng)由電弧流有突然產(chǎn)生的放電電流。這樣就導(dǎo)致了，檢測電壓在待檢測的密 封件3上減小，并且充電電流增加，這方面可以根據(jù)本發(fā)明結(jié)合所測得的檢測電壓和充電 電流的測量值的曲線而獲悉。如果出現(xiàn)受損情況，這種受損使導(dǎo)電層6、7相對于完好的密 封材料電阻而出現(xiàn)低阻抗的短路，那么由此可以識別到，在較低的檢測電壓情況下已經(jīng)流 有相對于未受損的密封件明顯較強的短路電流，該較低的檢測電壓尚不能足夠用于火花放 電。因此，通過本發(fā)明的方法還能夠可靠地確定由短路造成的損壞圖像。反之，如果在沒有 短路電流或電弧放電電流的情況下實現(xiàn)了前述檢測電壓，那么密封件3就被確認完好，這 一點特別是指在較長時間內(nèi)施加最大檢測電壓而沒有產(chǎn)生其它放電效應(yīng)的情況。優(yōu)選地， 使檢測對象的電阻由電壓和電流的比值來表示，并且將其用作附加的質(zhì)量標準。根據(jù)本發(fā)明，當檢測電壓的提供經(jīng)由至少兩個空間上相互呈足夠距離的供給位置 9、10來實現(xiàn)時(參見圖1)，并且當測量到電擊穿時間點上的電流或?qū)?yīng)的電學(xué)參數(shù)、例如 電壓時，也就是說在電弧電流的流動過程中或在任意的供給支路中出現(xiàn)短路電流的短路的 情況下進行測量的值，由此還可以使點火的位置或短路的位置與因此的損壞位置的局部位 置實現(xiàn)地點上的對應(yīng)；從而能夠通過電流或?qū)?yīng)的電壓的比值來表示出火花或短路的所在 處，并因此非常近似確定地表示出損壞位置的所在處，這是因為這個比值持續(xù)對應(yīng)于供給 位置與火花或短路所在處的距離比值；其中，在縱向形成的檢測區(qū)段上，優(yōu)選使供給位置貼 靠在該檢測區(qū)段的兩個相對設(shè)置的狹長邊上。此外，在由于受損造成的短路或由于受損造 成的火花放電時，電壓比值的測量還可以直接在一個或兩個導(dǎo)電層6、7中進行，或者還可 以間接地、在不與電測量電路電連接的情況下、通過一個或多個電容耦合探頭來實現(xiàn)，例如 探頭從密封件3的可視側(cè)面伸出。此外可替換或附加地，根據(jù)本發(fā)明，火花或電弧的產(chǎn)生還可以這樣探測到，S卩，由 火花或電弧產(chǎn)生的電磁干擾信號(所謂的脈沖)采用適宜的探測器(未示出)來測量；和 /或由在損壞位置上的電弧產(chǎn)生的光效應(yīng)和/或熱輻射效應(yīng)和/或材料熱效應(yīng)以適宜的方 式、例如通過適宜的圖像捕獲方法進行測量并分析；這方面還可以適用以下范圍，即，測得 的干擾信號和/或光效應(yīng)和/或熱輻射效應(yīng)和/或材料熱效應(yīng)還可以用于火花和/或短路 位置的定位，以及由此用于受損位置的定位。對此例如可以使用攝像機(未示出)，特別可 以使用熱感攝像機。然而在最簡單的情況下，根據(jù)本發(fā)明，或者，火花延伸的位置可以純可視化地、通 過在出現(xiàn)電弧的過程中進行識別和定位；或者，在火花形成過程之中、或火花形成之后、或 短路電流消除的同時，根據(jù)在密封件3的可視側(cè)上由火花侵蝕和/或熱擴張引起的變化，對 損壞位置進行識別和定位。對此，其優(yōu)點還在于，只要在損壞位置上產(chǎn)生可清楚識別的熱效 應(yīng)就能夠準確獲得損壞位置上的火花形成或短路電流。在本發(fā)明的另一個設(shè)計方案中，至少一個導(dǎo)電層6、7形成為導(dǎo)電的無紡布、纖維 物、針織物或其它平面織物(FlaechengebiIde)，其中，所需的導(dǎo)電性能通過對本身不導(dǎo)電 的無紡布材料、纖維物、針織物或平面織物添加導(dǎo)電的顆粒和/或纖維和/或絲狀物和/或電線來實現(xiàn)；和/或通過對本身不導(dǎo)電的無紡布材料、纖維物、針織物或平面織物，以適宜 的導(dǎo)電材料進行鍍層或浸濕來實現(xiàn)；和/或通過對本身不導(dǎo)電的無紡布材料、纖維物、針織 物或平面織物進行金屬氣相沉淀來實現(xiàn)。和/或采用這樣的無紡布、纖維物、針織物或其它 平面織物，即，它們通過采用導(dǎo)電的纖維和/或絲狀物而具有用于實現(xiàn)檢測方法所需要的 導(dǎo)電性能。在本發(fā)明方法或本發(fā)明裝置的又一個設(shè)計方案中，無紡布材料或其它平面織物的 導(dǎo)電性能這樣來實現(xiàn)，即，在無紡布材料或平面織物的承載材料上涂上、或在承載材料中加 入強吸濕性材料，從而在超過一定空氣濕度時，材料在具有吸濕性的濕氣中至少部分離解， 并且產(chǎn)生了電解的、足夠用于實現(xiàn)本發(fā)明方法的、無紡布材料或平面織物中的濕氣的導(dǎo)電 性能。優(yōu)選地，使吸濕性材料的作用在含水的相態(tài)中實現(xiàn)。在本發(fā)明的檢測裝置或檢測設(shè)備的再一個設(shè)計方案中，使無紡布材料或其它平面 織物在其具有待檢測的密封件3方向的表面的微結(jié)構(gòu)中具有這樣的性能，即，使導(dǎo)電的纖 維、顆粒、絲狀物和/或電線從表面凸出來，從而在導(dǎo)電層6、7之間施加檢測電壓時，在以這 樣程度凸出來的部分上對較高的場強極值進行設(shè)定，其結(jié)果是，在存在確定的損壞條件下 促進電弧的點火。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的又一個設(shè)計方案中，無紡布材料或平面織物 6、7的承載材料相對于熱塑性塑料而由明顯更加耐熱的成分構(gòu)成，優(yōu)選由玻璃纖維、金屬纖 維和/或碳纖維和/或耐熱導(dǎo)電的顆粒、纖維和/或絲狀物構(gòu)成，從而防止了，由于電弧產(chǎn) 生的散熱導(dǎo)致的無紡布材料或平面織物6、7的表面在電弧區(qū)域上過早熔化、粘接或燒毀及 蒸發(fā)。由此防止了電弧過早熄滅，而且還防止了在該位置上不再發(fā)生點火，而沒有在損壞位 置上發(fā)生對于可視化識別所需的由熱量造成的可視的材料變化或足夠用于熱像識別的材 料變熱。在本發(fā)明方法的再一個設(shè)計方案中，限定待檢測的密封件3的一個或兩個導(dǎo)電層 是這樣一部分構(gòu)建結(jié)構(gòu)，即例如為密封件3的墊板(例如圖1中的外側(cè)圓頂2)、和/或是密 封件3的結(jié)構(gòu)覆蓋面，并且該一個或兩個導(dǎo)電層相對于密封件材料具有明顯更高的、足夠 用于實現(xiàn)檢測方法的導(dǎo)電性能，從而可以放棄為了實現(xiàn)檢測方法而采用一個或甚至兩個呈 三明治形式集成在密封件3中的導(dǎo)電層6、7。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的又一個設(shè)計方案中，使至少一個導(dǎo)電層6、7 不導(dǎo)引至密封件3的邊緣，而是僅以這樣的程度導(dǎo)引，S卩，使受到檢測電壓加載的兩層之間 空氣間隙的長度和由此的絕緣強度大于密封性檢測所使用的檢測電壓條件下的數(shù)值(參 見圖2和3)。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的再一個設(shè)計方案中，使至少一個導(dǎo)電層6、7 設(shè)置在密封帶3的內(nèi)部，其中，位于內(nèi)部的導(dǎo)電層6總體上比待檢測的密封帶3更窄，從而 使該導(dǎo)電層6在密封帶的長邊上完全由電絕緣的密封材料包圍住，并且在密封帶的縱向邊 緣上相對于第二導(dǎo)電層7達到了足夠用于實施檢測方法的高絕緣強度。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的又一個設(shè)計方案中，密封件或密封帶3鋪設(shè) 之后、設(shè)置在山體一側(cè)或密封件底側(cè)的導(dǎo)電層6形成為導(dǎo)電的無紡布，其中，該導(dǎo)電的無紡 布在密封帶3的長邊上齊平地導(dǎo)引至密封件3的邊緣，然而在待檢測的密封帶3的另一長 邊上，于焊接區(qū)域11相對于密封帶邊緣的寬度方向上縮進，從而使無紡布在與其相鄰的密封帶3焊接在一起之前不需要耗費工本地從焊接區(qū)域除掉(參見圖3)。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的再一個設(shè)計方案中，密封帶3的外露的未由 導(dǎo)電的無紡布6、7覆蓋住的焊接邊緣11設(shè)有一層易于除掉的導(dǎo)電層61、71，該導(dǎo)電層與導(dǎo) 電的無紡布7、8以適宜的方式形成電連接(參見圖3和4)。由此實現(xiàn)了，待檢測的密封帶 3在與其相鄰的密封帶3焊接在一起之前可以通過本發(fā)明的方法對整個寬度進行檢測，而 不用必須在檢測之后或焊接之前耗費工本地將導(dǎo)電層6、7從焊接區(qū)域11上除掉。由此，設(shè) 置在隨后的焊接區(qū)域11的范圍內(nèi)的導(dǎo)電層61、71能夠以具有優(yōu)勢的方式由導(dǎo)電的自粘接 薄膜、或由導(dǎo)電的自粘接無紡布、或由導(dǎo)電的可擦掉或可洗掉的涂層構(gòu)成。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的又一個設(shè)計方案中，導(dǎo)電層6、7還可以在焊 接區(qū)域11的范圍內(nèi)以這樣的結(jié)構(gòu)實現(xiàn)，即，使設(shè)置在密封件背面的無紡布應(yīng)用于待檢測密 封帶3的總寬度，然而其中，在焊接區(qū)域11的范圍內(nèi)僅具有一個相對于密封帶3較小的附 加抗拉強度(Haftzugfestigkeit)，從而在密封性檢測之后以及在焊接之前沒有大的工本 消耗就能夠在焊接區(qū)域的范圍內(nèi)使無紡布脫落，并且接下來可以對焊接區(qū)域11進行折疊 或切割處理。導(dǎo)電層6和7的折疊處理在圖5中用箭頭來表示。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的再一個設(shè)計方案中，使至少一個導(dǎo)電層6、7 的導(dǎo)電性能、以優(yōu)選的方式使設(shè)置在待檢測的密封件3內(nèi)部的或設(shè)置在密封件3的可進入 的可視一側(cè)的導(dǎo)電層7的導(dǎo)電性能這樣設(shè)定，S卩，自動在臨近最大可行性檢測電壓以及對 密封件完全充電時，于導(dǎo)電層6、7之間出現(xiàn)短路的情況下，使最大可行性短路電流或放電 電流經(jīng)由就此用于充電的密封件3的內(nèi)電阻的導(dǎo)電層7這樣受到限定，即，不能對檢測裝置
5、甚至對生命和肢體產(chǎn)生危險，這一點并不取決于在密封件的哪些位置可以實現(xiàn)由其他人 或個人導(dǎo)致的與處于檢測電壓下的密封件形成接觸或靠近。此外優(yōu)選地，該導(dǎo)電層7或該 兩個導(dǎo)電層6、7在此具有大于IO4歐姆的表面電阻，并且具有大于IO3歐姆cm的特定電阻。 特別由本發(fā)明的建筑密封件的一個優(yōu)選設(shè)計方案可以了解到，在位于內(nèi)部的導(dǎo)電層7的可 視一側(cè)上設(shè)有一層不導(dǎo)電的薄膜或保護層12，該薄膜或保護層優(yōu)選具有明亮的顏色。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的又一個設(shè)計方案中，使至少一個本發(fā)明的導(dǎo) 電層6、7形成為金屬薄膜或金屬化的塑料薄膜、或形成為金屬或金屬化的其它平面織物， 其中，至少一個表面是不導(dǎo)電的。優(yōu)選采用金屬化的材料、或通過添加導(dǎo)電性能高的材料設(shè) 定導(dǎo)電性能、或使用本身導(dǎo)電的塑料，這類材料應(yīng)用這樣設(shè)置在待檢測的密封件3上，即， 使密封件的不導(dǎo)電一側(cè)位于背對密封件3的一側(cè)上，從而只要滿足導(dǎo)電層7的邊緣在檢測 區(qū)段的邊緣完全絕緣，并且導(dǎo)電層7的不導(dǎo)電背面不受損，就能夠在接觸到如此設(shè)置的密 封件3的表面時不與檢測電壓實現(xiàn)電連接。如果在這種結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電層7和在完成密封件3 的構(gòu)建之后鋪設(shè)的螺紋鋼筋、即隧道內(nèi)殼4之間所測量的電阻可以根據(jù)本發(fā)明這樣來確定 是否鋼筋以某種方式貼靠在密封件3上，S卩，密封件在頂側(cè)已經(jīng)受損，但是并沒有被刺穿， 其中，以所述的方式和方法，通過對相電流的測量、或者通過對至少兩條間隔的供給導(dǎo)線的 測量或通過對至少兩個間隔的測量點的測量得到的電阻率或電壓比而能夠在一個導(dǎo)電層
6、7中限定出受損的位置，從而尚在固化之前就能夠識別并消除危險位置。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的再一個設(shè)計方案中，其中一個導(dǎo)電層這樣形 成，即，使該導(dǎo)電層與待檢測的密封件3固定連接，其中，該導(dǎo)電層在待檢測的密封件3的至 少一個長邊上沒有導(dǎo)引到該密封件的邊緣，而是與該邊緣至少這樣間隔，即，能夠使密封帶3與緊鄰其后的密封帶3焊接在一起，而不需要令該導(dǎo)電層通入到焊接區(qū)域11中。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的又一個設(shè)計方案中，至少一個導(dǎo)電層6、7這 樣形成，即，使該導(dǎo)電層通到待連接密封帶的邊緣并由此通入到焊接區(qū)域中，其中，導(dǎo)電層 在連接過程中保持在焊接區(qū)域11中，并且在與密封件3的用于焊接的塑性化材料的焊接過 程中這樣進行混合，即，使導(dǎo)電層6、7的導(dǎo)電性能在焊接區(qū)域中中斷。在本發(fā)明的建筑密封件或檢測設(shè)備的再一個設(shè)計方案中，至少一個導(dǎo)電層6、7形 成為置于待檢測的密封件3之上的可剝離的薄膜層，從而為了實現(xiàn)各個密封帶3的焊接需 要該薄膜層至少實現(xiàn)，可以部分又從密封件3上剝離。在本發(fā)明方法的又一個設(shè)計方案中，上述導(dǎo)電層此外還可以用于在混凝土固化過 程中進行檢測，例如在待固化環(huán)形空間的隧道內(nèi)殼的固化過程中檢測混凝土是否完全填 滿，或是否存在沒有被填滿的區(qū)域，在這些沒有被填滿的區(qū)域中于隨后進行的水壓浸蝕過 程中隧道密封件不能受壓支持在內(nèi)殼的鋼筋上。對此根據(jù)本發(fā)明，對由此不能形成與結(jié)構(gòu) 體或引入的混凝土電連接的一個或兩個導(dǎo)電層的電容在固化過程中或之后相對于引入的 混凝土進行測量，并且將測量值與額定值或參照值作比較。本發(fā)明的實施和應(yīng)用不僅限于隧道。更確切地說，本發(fā)明的方法或本發(fā)明的建筑 密封件還具有優(yōu)勢地應(yīng)用在對垃圾填埋場、液罐和/或屋頂、特別是平屋頂?shù)拿芊饧拿?封性控制過程中。
權(quán)利要求
1.一種用于確定損壞或缺陷位置的方法，特別用于確定在隔膜式、不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo) 電的建筑密封件C3)上的材料強度降低的薄弱位置，所述建筑密封件相對于空氣具有強絕 緣強度并設(shè)有導(dǎo)電層(6)，所述導(dǎo)電層設(shè)置在所述建筑密封件(3)的內(nèi)部或外部，所述導(dǎo)電 層基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過所述建筑密封件，并且在所述導(dǎo)電層上施加檢測電壓， 其特征在于，采用另一個導(dǎo)電層(7)用以確定所述損壞、缺陷和/或薄弱位置，所述另一個 導(dǎo)電層通過所述建筑密封件C3)與前述導(dǎo)電層(6)形成電隔離，并且所述另一個導(dǎo)電層基 本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過所述建筑密封件(3)，其中，在受到電壓沖擊的導(dǎo)電層(6、7) 之間的檢測電壓的強度這樣選擇，即，在所述建筑密封件(3)中存在至少一個不導(dǎo)電的或 僅輕微導(dǎo)電的損壞、缺陷和/或薄弱位置時，產(chǎn)生絕緣強度的超值，并且在損壞、缺陷和/或 薄弱位置的所在處形成電火花或電弧，其中，選擇的所述檢測電壓小于破壞性檢測電壓，在 所述破壞性檢測電壓作用下，在與待檢測的建筑密封件C3)相對應(yīng)的未受損的和/或未變 薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火花或電弧形式的電擊穿。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測電壓從零或從大于零的最小值 連續(xù)或逐步增加到一個電壓值，該電壓值縮減地以一個安全值位于破壞性電壓以下，在該 破壞性電壓作用下，在與待檢測的建筑密封件C3)相對應(yīng)的未受損的和/或未變薄弱的建 筑密封件上產(chǎn)生電火花或電弧形式的電擊穿。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述待檢測的建筑密封件C3)在多個 檢測時間段進行檢測，其中，所述檢測電壓在每下一個檢測時間段內(nèi)增加，直至達到一個縮 減地以一個安全值位于破壞性檢測電壓以下的電壓值，在所述破壞性檢測電壓作用下，在 與待檢測的建筑密封件C3)相對應(yīng)的未受損的和/或未變薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火花 或電弧形式的電擊穿。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項所述的方法，其特征在于，這樣選擇施加在所述導(dǎo) 電層上的檢測電壓，即，使該檢測電壓在每毫米待檢測的建筑密封件(3)的厚度上至少為 1000伏特。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任意一項所述的方法，其特征在于，這樣選擇施加在所述導(dǎo)電 層(6、7)上的檢測電壓，即，使該檢測電壓為這樣一個電壓值的80%，在該電壓值作用下， 在與待檢測的建筑密封件C3)相對應(yīng)的未受損的和/或未變薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火 花或電弧形式的電擊穿。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任意一項所述的方法，其特征在于，在施加在所述導(dǎo)電層上的 檢測電壓作用下探測火花和/或電弧的產(chǎn)生，其中，由火花和/或電弧發(fā)出的電磁干擾信號 通過探測器進行測量，和/或其中，對由火花和/或電弧產(chǎn)生的光效應(yīng)、熱輻射效應(yīng)和/或 材料熱效應(yīng)進行測量和分析。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任意一項所述的方法，其特征在于，在所述導(dǎo)電層(6、7)之一 對通過所述導(dǎo)電層(6、7)施加在待檢測的建筑密封件上的電源(8)的電壓和/或電流強度 進行測量。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任意一項所述的方法，其特征在于，所述檢測電壓經(jīng)由至少 兩個空間上相互間隔的供給位置(9、10)而施加在所述導(dǎo)電層之一(7)上，并且，在于損壞、 缺陷和/或薄弱位置上的電擊穿過程中對電流或由此對應(yīng)的電學(xué)參數(shù)、特別是電壓進行測 量，而且，根據(jù)電流或?qū)?yīng)的電學(xué)參數(shù)、特別是電壓的比值而得出損壞、缺陷和/或薄弱位置的所在處。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，電壓比值的測量通過測量探頭來實現(xiàn)，所 述測量探頭直接與所述導(dǎo)電層之一(7)耦合。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，電壓比值的測量通過一個或多個測量探 頭來實現(xiàn)，所述測量探頭在沒有形成電連接的情況下間接與所述導(dǎo)電層(7)之一形成電容華禹合。
11.根據(jù)權(quán)利要求1至10中任意一項所述的方法，其特征在于，使待檢測的建筑密封件 (3)分成各個檢測區(qū)段，其中，對至少一個導(dǎo)電層這樣進行分段，以便在向所述導(dǎo)電層(6、 7)的各個截段施加檢測電壓的過程中產(chǎn)生一個限定在對應(yīng)的檢測區(qū)段上的電壓沖擊。
12.根據(jù)權(quán)利要求1至11中任意一項所述的方法，其中，所述建筑密封件(3)由相互 經(jīng)焊接連接在一起的塑料密封帶構(gòu)成，其特征在于，至少一個導(dǎo)電層(6、7)這樣形成，即， 該至少一個導(dǎo)電層通到待連接的塑料密封帶C3)的邊緣并由此通入到焊接區(qū)域(11)中，其 中，該至少一個導(dǎo)電層在焊接過程中保持在所述焊接區(qū)域(11)中并且在與所述塑料密封 帶的用于焊接的塑性化材料的焊接過程中這樣進行混合，即，使該至少一個導(dǎo)電層的導(dǎo)電 性能在焊接區(qū)域中被中斷。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至12中任意一項所述的方法，其特征在于，所述建筑密封件(3)的 一個導(dǎo)電墊板層(2)用作所述導(dǎo)電層之一。
14.根據(jù)權(quán)利要求1至13中任意一項所述的方法，其特征在于，至少使設(shè)置在所述建筑 密封件(3)的可進入一側(cè)上的導(dǎo)電層(7)設(shè)有不導(dǎo)電層(12)，優(yōu)選設(shè)有顏色明亮的塑料薄 膜。
15.根據(jù)權(quán)利要求1至14中任意一項所述的方法，其特征在于，通過電容測量方式測量 至少設(shè)置在所述建筑密封件(3)的可進入一側(cè)上的導(dǎo)電層(7)的覆蓋整個平面的結(jié)構(gòu)、和 /或設(shè)置在所述建筑密封件(3)的背面上的導(dǎo)電層(6)的覆蓋整個平面的結(jié)構(gòu)。
16.一種隔膜式建筑密封件(3)，所述建筑密封件由不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的材料構(gòu)成， 所述建筑密封件相對于空氣具有強絕緣強度，所述建筑密封件具有用于確定在所述建筑密 封件C3)上的損壞或缺陷位置、特別是確定材料強度降低的薄弱位置的檢測裝置(5)，所述 檢測裝置具有電源；并且所述建筑密封件還具有導(dǎo)電層(6)，所述導(dǎo)電層設(shè)置在所述建筑 密封件的內(nèi)部或外部并且基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過所述建筑密封件(3)，其特征在 于，還設(shè)有另一個導(dǎo)電層(7)，所述另一個導(dǎo)電層通過所述建筑密封件(3)與前述導(dǎo)電層 形成電隔離，并且，所述另一個導(dǎo)電層基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過所述建筑密封件，其 中，所述檢測裝置( 具有用于設(shè)定經(jīng)由所述導(dǎo)電層施加在所述建筑密封件上的檢測電壓 的工具，以使所述檢測電壓從零或從大于零的最小值連續(xù)或逐步增加到一個電壓值，該電 壓值以一個安全值縮減地位于破壞性電壓以下，在該破壞性電壓作用下，在與待檢測的建 筑密封件C3)相對應(yīng)的未受損的和/或未變薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火花或電弧形式的 電擊穿。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的建筑密封件，其特征在于，所述檢測裝置( 包括用于測量 火花和/或電弧的探測器。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的建筑密封件，其特征在于，所述探測器由至少一個攝像機、 特別是熱感攝像機構(gòu)成。
19.根據(jù)權(quán)利要求16至18中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述檢測裝置 (5)包括至少一個電壓測量儀(15、16)和/或至少一個電流測量儀。
20.根據(jù)權(quán)利要求16至19中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述檢測裝置 包括至少兩條供給導(dǎo)線(13、14)，以使檢測電壓經(jīng)由空間上相互間隔的供給位置(9、10)施 加在所述導(dǎo)電層之一(6、7)上。
21.根據(jù)權(quán)利要求16至20中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述檢測裝置 (5)包括一個或多個測量探頭，用以測量在于所述建筑密封件的損壞、缺陷和/或薄弱位置 上的電擊穿過程中流經(jīng)供給導(dǎo)線(13、14)的電流和/或與該電流成比例的電學(xué)參數(shù)、特別 是電壓。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的建筑密封件，其特征在于，所述一個或多個測量探頭與所 述供給導(dǎo)線(13、14)或所述導(dǎo)電層(6、7)之一形成電連接。
23.根據(jù)權(quán)利要求21所述的建筑密封件，其特征在于，所述一個或多個測量探頭與所 述供給導(dǎo)線(13、14)或所述導(dǎo)電層(6、7)之一形成電容耦合或能夠電容耦合。
24.根據(jù)權(quán)利要求16至23中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述建筑密封 件通過對至少一個所述導(dǎo)電層(6、7)進行分段而分成各個檢測區(qū)段。
25.根據(jù)權(quán)利要求16至M中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述建筑密封 件由相互經(jīng)由焊接連接在一起的塑料密封帶構(gòu)成，其中，所述導(dǎo)電層之一(6、7)通到兩個 相互連接在一起的塑料密封帶的邊緣并由此通入到焊接區(qū)域(11)中，并且其中，該導(dǎo)電層 的導(dǎo)電性能在所述焊接區(qū)域中被中斷。
26.根據(jù)權(quán)利要求16至25中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)與所述建筑密封件(3)的邊緣間隔地終止，以使兩個導(dǎo)電層(6、7)之間的、延伸經(jīng) 由所述建筑密封件C3)邊緣的空氣間隙的絕緣強度大于所述建筑密封件在未受損和/或未 變薄弱的狀態(tài)下的絕緣強度。
27.根據(jù)權(quán)利要求16至沈中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述導(dǎo)電層 (6,7)和隔膜式、不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的建筑密封件(3)形成為預(yù)加工的、多層結(jié)構(gòu)的三明 治式系統(tǒng)，其中，所述導(dǎo)電層(6、7)和與其形成電隔離的所述建筑密封件C3)形成材料配合 連接和/或形狀配合連接。
28.根據(jù)權(quán)利要求16至27中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述導(dǎo)電層 (6,7)的表面電阻小于IO6歐姆，和/或特定電阻為小于IO5歐姆/cm。
29.根據(jù)權(quán)利要求16至觀中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)由無紡布、針織物、薄膜或其它平面織物構(gòu)成，該導(dǎo)電層的構(gòu)成材料由本身不導(dǎo)電 材料制成，該不導(dǎo)電材料設(shè)有導(dǎo)電的顆粒、纖維、絲狀物和/或電線。
30.根據(jù)權(quán)利要求16至觀中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)由無紡布、針織物或其它平面織物構(gòu)成，該導(dǎo)電層的構(gòu)成材料由導(dǎo)電的纖維和/或 絲狀物制成。
31.根據(jù)權(quán)利要求16至觀中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)由無紡布、針織物、薄膜或其它平面織物構(gòu)成，該導(dǎo)電層的構(gòu)成材料由本身不導(dǎo)電 材料制成，其中，所述無紡布、針織物、薄膜或其它平面織物設(shè)有由導(dǎo)電材料構(gòu)成的涂層，特 別設(shè)有氣相沉淀的金屬層。
32.根據(jù)權(quán)利要求16至洲中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)由無紡布、針織物或其它平面織物構(gòu)成，該導(dǎo)電層的構(gòu)成材料由本身不導(dǎo)電材料 制成，其中，所述無紡布或平面織物含有吸濕性材料。
33.根據(jù)權(quán)利要求16至觀中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)由無紡布、針織物或其它平面織物構(gòu)成，面向待檢測的建筑密封件的、該導(dǎo)電層的 構(gòu)成材料的表面是這樣的，即，使導(dǎo)電的纖維、絲狀物和/或電線從表面、朝向所述建筑密 封件(3)的方向凸出來。
34.根據(jù)權(quán)利要求16至觀中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo) 電層(6、7)由無紡布、針織物或其它平面織物構(gòu)成，該導(dǎo)電層的構(gòu)成材料由玻璃纖維、金屬 纖維和/或碳纖維制成，其中，如果無紡布、針織物或平面織物的承載材料僅由玻璃纖維構(gòu) 成，那么所述玻璃纖維含有導(dǎo)電的顆粒、纖維、絲狀物和/或電線、導(dǎo)電涂層或吸濕性材料。
35.根據(jù)權(quán)利要求16至34中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)設(shè)置在塑料密封帶的內(nèi)部，所述建筑密封件(3)由該塑料密封帶構(gòu)成，其中，所述 導(dǎo)電層(6)總地比所述塑料密封帶窄，以使所述導(dǎo)電層(6)在所述塑料密封帶的長邊上完 全由電絕緣的密封材料包圍住。
36.根據(jù)權(quán)利要求16至34中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述建筑密封 件由可相互焊接的塑料密封帶構(gòu)成，其中，所述導(dǎo)電層之一(6、7)與各塑料密封帶的背面 連接，并且其中，該設(shè)置在背面的導(dǎo)電層齊平地或幾乎齊平地與所述塑料密封帶的一條長 邊連接，并且相對于所述塑料密封帶的另一條長邊以限定出背面的焊接區(qū)域(11)的寬度 調(diào)整終止。
37.根據(jù)權(quán)利要求36所述的建筑密封件，其特征在于，所述背面的焊接邊緣(11)設(shè)有 容易除掉的導(dǎo)電邊緣層(61、71)，所述導(dǎo)電邊緣層與設(shè)置在背面的導(dǎo)電層(6、7)形成電連接。
38.根據(jù)權(quán)利要求37所述的建筑密封件，其特征在于，所述導(dǎo)電邊緣層(61、71)由一層 導(dǎo)電的自粘接薄膜、導(dǎo)電的自粘接無紡布或?qū)щ姷目刹恋艋蚩上吹舻耐繉訕?gòu)成。
39.根據(jù)權(quán)利要求16至34中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，所述建筑密封 件由可相互焊接連接的塑料密封帶構(gòu)成，其中，所述導(dǎo)電層之一(6、7)與各塑料密封帶的 背面連接并延伸經(jīng)過該塑料密封帶的整個寬度，并且該導(dǎo)電層在限定背面焊接邊緣的邊緣 區(qū)域上僅通過減小的附加抗拉強度與該塑料密封帶連接。
40.根據(jù)權(quán)利要求16至39中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)、特別是設(shè)置在所述建筑密封件(3)的可進入的可視側(cè)上的導(dǎo)電層(7)這樣設(shè)定 其導(dǎo)電性能，即，使自動在施加最大可行性檢測電壓、并且所述建筑密封件完全充電的過程 中、在導(dǎo)電層之間出現(xiàn)短路的情況下流動的最大短路電流或放電電流限定在一個無生命危 險的數(shù)值上。
41.根據(jù)權(quán)利要求40所述的建筑密封件，其特征在于，所述一個或兩個導(dǎo)電層(6、7)具 有大于IO4歐姆的表面電阻，和/或大于IO3歐姆/cm的特定電阻。
42.根據(jù)權(quán)利要求16至41中任意一項所述的建筑密封件，其特征在于，至少一個導(dǎo)電 層(6、7)由金屬薄膜、金屬化的塑料薄膜、通過增強導(dǎo)電性能的添加物調(diào)整導(dǎo)電的塑料薄 膜、由本身導(dǎo)電的塑料制成的導(dǎo)電塑料薄膜、金屬織物或金屬化的平面織物構(gòu)成，其中，所述導(dǎo)電層背向所述建筑密封件(3)的一側(cè)是不導(dǎo)電的、和/或設(shè)有不導(dǎo)電層(12)。
43.根據(jù)權(quán)利要求42所述的建筑密封件，其特征在于，所述不導(dǎo)電層(1 由電絕緣的 顏色明亮的塑料層構(gòu)成。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于確定損壞或缺陷位置的方法，特別用于確定在隔膜式、不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的建筑密封件(3)上的材料強度降低的薄弱位置，建筑密封件相對于空氣具有強絕緣強度并設(shè)有導(dǎo)電層(6)，該導(dǎo)電層設(shè)在建筑密封件(3)的內(nèi)部或外部并基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過建筑密封件，在導(dǎo)電層上施加檢測電壓。為確定所述損壞、缺陷和/或薄弱位置采用另一個導(dǎo)電層(7)，該另一個導(dǎo)電層通過建筑密封件與前述導(dǎo)電層(6)形成電隔離，并且另一個導(dǎo)電層基本上覆蓋整個平面地延伸經(jīng)過建筑密封件。在受到電壓沖擊的導(dǎo)電層(6、7)之間的檢測電壓的強度這樣選擇在建筑密封件(3)中存在至少一個不導(dǎo)電或僅輕微導(dǎo)電的損壞、缺陷和/或薄弱位置時，產(chǎn)生絕緣強度的超值，并且在損壞、缺陷和/或薄弱位置的所在處形成電火花或電弧，其中，選擇的檢測電壓小于破壞性檢測電壓，在破壞性檢測電壓作用下，在與待檢測的建筑密封件(3)相對應(yīng)的未受損的和/或未變薄弱的建筑密封件上產(chǎn)生電火花或電弧形式的電擊穿。此外還要求保護一種對應(yīng)構(gòu)成的建筑密封件(3)。
文檔編號E02D31/02GK102099531SQ200980128345
公開日2011年6月15日 申請日期2009年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月19日
發(fā)明者安德烈亞斯·勒德爾, 諾貝特·科馬 申請人:普羅吉歐監(jiān)控技術(shù)有限公司