藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型涉及藍(lán)寶石加工檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，尤其是一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，它包括檢測(cè)輸送帶，檢測(cè)輸送帶的數(shù)量為兩條，在兩條檢測(cè)輸送帶之間設(shè)有檢測(cè)平臺(tái)，檢測(cè)平臺(tái)與檢測(cè)輸送帶首尾連接，且檢測(cè)平臺(tái)的高度與檢測(cè)輸送帶的上表面一致，在檢測(cè)平臺(tái)上相對(duì)于檢測(cè)輸送帶輸送方向的后方的一端設(shè)有高度檢測(cè)器；在高度檢測(cè)器的前方的檢測(cè)平臺(tái)上設(shè)有分離裝置。該藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，實(shí)現(xiàn)了對(duì)藍(lán)寶石晶片的厚度的自動(dòng)檢測(cè)，檢測(cè)效率高，而且可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)分離，使用性能優(yōu)越。同時(shí)檢測(cè)精度高、漏檢率為零。
【專(zhuān)利說(shuō)明】藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及藍(lán)寶石加工檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，尤其是一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]目前對(duì)藍(lán)寶石加工企業(yè)內(nèi)，對(duì)藍(lán)寶石晶片的厚度的檢測(cè)都是逐一進(jìn)行的，檢測(cè)速度較慢，而且檢測(cè)過(guò)程中需要投入較多的人力物力，同時(shí)檢測(cè)的精度會(huì)因?yàn)椴僮髡叩牟煌a(chǎn)生差異，影響產(chǎn)品的一致性。另外在逐一進(jìn)行取用過(guò)程中，容易造成藍(lán)寶石晶片的損壞，影響質(zhì)量。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的目的是為了解決上述技術(shù)的不足而提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，能實(shí)現(xiàn)藍(lán)寶石晶片的自動(dòng)檢測(cè)，且檢測(cè)速度快、精度高的藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置。
[0004]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型所設(shè)計(jì)的藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，它包括檢測(cè)輸送帶，檢測(cè)輸送帶的數(shù)量為兩條，在兩條檢測(cè)輸送帶之間設(shè)有檢測(cè)平臺(tái)，檢測(cè)平臺(tái)與檢測(cè)輸送帶首尾連接，且檢測(cè)平臺(tái)的高度與檢測(cè)輸送帶的上表面一致，在檢測(cè)平臺(tái)上相對(duì)于檢測(cè)輸送帶輸送方向的后方的一端設(shè)有高度檢測(cè)器；在高度檢測(cè)器的前方的檢測(cè)平臺(tái)上設(shè)有分離裝置。
[0005]上述技術(shù)方案，在兩條檢測(cè)輸送帶之間設(shè)有檢測(cè)平臺(tái)，將藍(lán)寶石晶片間隔均勻的放置在檢測(cè)輸送帶上，并間隔的輸送至檢測(cè)平臺(tái)上；當(dāng)藍(lán)寶石晶片經(jīng)過(guò)檢測(cè)平臺(tái)上的高度檢測(cè)器時(shí)，藍(lán)寶石晶片的厚度會(huì)傳送至控制器。若厚度檢測(cè)合格，則繼續(xù)送入輸送方向前方的檢測(cè)輸送帶上，輸送至合格品收集區(qū)；若厚度檢測(cè)不合格，則控制器控制分離裝置將不合格產(chǎn)品分離至不合格品收集區(qū)。而為了提高檢測(cè)的精度，在檢測(cè)平臺(tái)上不設(shè)置任何輸送裝置，檢測(cè)平臺(tái)上的藍(lán)寶石晶片則通過(guò)后方的藍(lán)寶石晶片的推力促使其往前運(yùn)動(dòng)，而且由于后方的藍(lán)寶石晶片間隔設(shè)置，則使得檢測(cè)平臺(tái)上的藍(lán)寶石晶片間歇運(yùn)動(dòng)，方便檢測(cè)和分離。
[0006]作為優(yōu)化，在檢測(cè)輸送帶和檢測(cè)平臺(tái)的兩側(cè)均設(shè)有擋邊；且檢測(cè)輸送帶和檢測(cè)平臺(tái)的寬度大于藍(lán)寶石晶片的寬度，且小于其寬度的2倍。該結(jié)構(gòu)可使藍(lán)寶石晶片呈直線型輸送，且可避免其在輸送過(guò)程中發(fā)生偏斜而掉落檢測(cè)平臺(tái)或檢測(cè)輸送帶而造成藍(lán)寶石晶片的損壞，提尚安全性。
[0007]所述的高度檢測(cè)器為一個(gè)豎直設(shè)置的條狀紅外發(fā)生器和一個(gè)豎直設(shè)置的條狀紅外接收器，紅外發(fā)生器和紅外接收器對(duì)應(yīng)的設(shè)置在檢測(cè)平臺(tái)的兩側(cè)。該結(jié)構(gòu)的設(shè)置，只需藍(lán)寶石晶片經(jīng)過(guò)高度檢測(cè)器即可對(duì)藍(lán)寶石的厚度進(jìn)行檢測(cè)，且可檢測(cè)藍(lán)寶石晶片在傳送方向各個(gè)區(qū)域的厚度，使檢測(cè)數(shù)據(jù)更加完整，檢測(cè)更加全面。
[0008]所述的分離裝置的結(jié)構(gòu)為:在檢測(cè)平臺(tái)的上方設(shè)有滑軌，滑軌的方向與檢測(cè)輸送帶的輸送方向垂直，在滑軌上設(shè)有滑塊，在滑塊上設(shè)有往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，在往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上設(shè)有連接板，在連接板上設(shè)有抽氣裝置，在抽氣裝置上連接有氣管，氣管豎直向下。當(dāng)厚度檢測(cè)裝置檢測(cè)出不合格品并當(dāng)其運(yùn)動(dòng)至分離裝置下方時(shí)，控制其控制往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)向下移動(dòng)，促使氣管的頂部與不合格的藍(lán)寶石晶片接觸，此時(shí)抽氣裝置向外抽氣，從而使得不合格的藍(lán)寶石晶片吸附在氣管上，在利用滑塊在滑軌上的運(yùn)動(dòng)將不合格的藍(lán)寶石晶片輸送至側(cè)邊的不合格品收集區(qū)，簡(jiǎn)單方便，反應(yīng)動(dòng)作快速，提高效率。
[0009]在連接板上沿滑軌方向設(shè)有兩個(gè)抽氣裝置，每個(gè)抽氣裝置上均設(shè)置一個(gè)豎直向下的氣管，且兩個(gè)氣管之間的間隔大于檢測(cè)平臺(tái)的寬度。該結(jié)構(gòu)可在其中一個(gè)氣管向側(cè)邊運(yùn)動(dòng)時(shí)，另一個(gè)氣管位于檢測(cè)平臺(tái)的中間位置，時(shí)刻準(zhǔn)備吸取不合格品，每個(gè)不合格品的撿取滑塊只需單程運(yùn)動(dòng)即可，減少不合格品的處理時(shí)間，提高處理能力，進(jìn)而提高了設(shè)備的檢測(cè)速率和檢測(cè)效率。
[0010]在氣管的下端設(shè)有吸盤(pán)，在吸盤(pán)的中心的下表面設(shè)有內(nèi)凹結(jié)構(gòu)，所述氣管穿過(guò)吸盤(pán)與內(nèi)凹結(jié)構(gòu)連通；吸盤(pán)的內(nèi)凹結(jié)構(gòu)的橫截面尺寸小于藍(lán)寶石晶片的外圍尺寸。該結(jié)構(gòu)可有效的增加氣管與藍(lán)寶石晶片之間的接觸面積，提高其吸附能力，避免發(fā)生脫落的意外，提尚使用性能。
[0011]在吸盤(pán)的下表面為軟性材料層。該結(jié)構(gòu)進(jìn)一步提高了吸附能力，而且在藍(lán)寶石晶片表面存在細(xì)微不平整時(shí)，也能被吸附，吸附能力強(qiáng)。
[0012]所述的往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)為氣缸，氣缸的伸縮桿與連接板連接。
[0013]本實(shí)用新型所得到的藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，實(shí)現(xiàn)了對(duì)藍(lán)寶石晶片的厚度的自動(dòng)檢測(cè)，檢測(cè)效率高，而且可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)分離，使用性能優(yōu)越。同時(shí)檢測(cè)精度高、漏檢率為零。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0014]圖1為本實(shí)用新型的主視圖；
[0015]圖2為本實(shí)用新型的俯視圖；
[0016]圖3為本實(shí)用新型的氣管與吸盤(pán)連接處的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0017]下面通過(guò)實(shí)施例結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述。
[0018]實(shí)施例1:
[0019]如圖1、圖2、圖3所示，本實(shí)施例描述的藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，它包括檢測(cè)輸送帶1，檢測(cè)輸送帶I的數(shù)量為兩條，在兩條檢測(cè)輸送帶I之間設(shè)有檢測(cè)平臺(tái)2，檢測(cè)平臺(tái)2與檢測(cè)輸送帶I首尾連接，且檢測(cè)平臺(tái)2的高度與檢測(cè)輸送帶I的上表面一致，在檢測(cè)平臺(tái)2上相對(duì)于檢測(cè)輸送帶I輸送方向的后方的一端設(shè)有高度檢測(cè)器3 ;在高度檢測(cè)器3的前方的檢測(cè)平臺(tái)2上設(shè)有分離裝置4 ;在檢測(cè)輸送帶I和檢測(cè)平臺(tái)2的兩側(cè)均設(shè)有擋邊12 ;且檢測(cè)輸送帶I和檢測(cè)平臺(tái)2的寬度大于藍(lán)寶石晶片13的寬度，且小于其寬度的2倍。
[0020]所述的高度檢測(cè)器3為一個(gè)豎直設(shè)置的條狀紅外發(fā)生器和一個(gè)豎直設(shè)置的條狀紅外接收器，紅外發(fā)生器和紅外接收器對(duì)應(yīng)的設(shè)置在檢測(cè)平臺(tái)2的兩側(cè)。
[0021]所述的分離裝置4的結(jié)構(gòu)為:在檢測(cè)平臺(tái)2的上方設(shè)有滑軌5，滑軌5的方向與檢測(cè)輸送帶I的輸送方向垂直，在滑軌5上設(shè)有滑塊6，在滑塊6上設(shè)有往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，在往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上設(shè)有連接板8，所述的往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)為氣缸7，在連接板8上設(shè)有抽氣裝置9，在抽氣裝置9上連接有氣管10，氣管10豎直向下。在連接板8上沿滑軌5方向設(shè)有兩個(gè)抽氣裝置9，每個(gè)抽氣裝置9上均設(shè)置一個(gè)豎直向下的氣管10，且兩個(gè)氣管10之間的間隔大于檢測(cè)平臺(tái)2的寬度。在氣管10的下端設(shè)有吸盤(pán)11，在吸盤(pán)11的中心的下表面設(shè)有內(nèi)凹結(jié)構(gòu)，所述氣管10穿過(guò)吸盤(pán)11與內(nèi)凹結(jié)構(gòu)連通；吸盤(pán)11的內(nèi)凹結(jié)構(gòu)的橫截面尺寸小于藍(lán)寶石晶片13的外圍尺寸，在吸盤(pán)11的下表面為軟性材料層14。
【權(quán)利要求】
1.一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，它包括檢測(cè)輸送帶，其特征是:檢測(cè)輸送帶的數(shù)量為兩條，在兩條檢測(cè)輸送帶之間設(shè)有檢測(cè)平臺(tái)，檢測(cè)平臺(tái)與檢測(cè)輸送帶首尾連接，且檢測(cè)平臺(tái)的高度與檢測(cè)輸送帶的上表面一致，在檢測(cè)平臺(tái)上相對(duì)于檢測(cè)輸送帶輸送方向的后方的一端設(shè)有高度檢測(cè)器；在高度檢測(cè)器的前方的檢測(cè)平臺(tái)上設(shè)有分離裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，其特征是:在檢測(cè)輸送帶和檢測(cè)平臺(tái)的兩側(cè)均設(shè)有擋邊；且檢測(cè)輸送帶和檢測(cè)平臺(tái)的寬度大于藍(lán)寶石晶片的寬度，且小于其寬度的2倍。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，其特征是:所述的高度檢測(cè)器為一個(gè)豎直設(shè)置的條狀紅外發(fā)生器和一個(gè)豎直設(shè)置的條狀紅外接收器，紅外發(fā)生器和紅外接收器對(duì)應(yīng)的設(shè)置在檢測(cè)平臺(tái)的兩側(cè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，其特征是:所述的分離裝置的結(jié)構(gòu)為:在檢測(cè)平臺(tái)的上方設(shè)有滑軌，滑軌的方向與檢測(cè)輸送帶的輸送方向垂直，在滑軌上設(shè)有滑塊，在滑塊上設(shè)有往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，在往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上設(shè)有連接板，在連接板上設(shè)有抽氣裝置，在抽氣裝置上連接有氣管，氣管豎直向下。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，其特征是:在連接板上沿滑軌方向設(shè)有兩個(gè)抽氣裝置，每個(gè)抽氣裝置上均設(shè)置一個(gè)豎直向下的氣管，且兩個(gè)氣管之間的間隔大于檢測(cè)平臺(tái)的寬度。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，其特征是:在氣管的下端設(shè)有吸盤(pán)，在吸盤(pán)的中心的下表面設(shè)有內(nèi)凹結(jié)構(gòu)，所述氣管穿過(guò)吸盤(pán)與內(nèi)凹結(jié)構(gòu)連通；吸盤(pán)的內(nèi)凹結(jié)構(gòu)的橫截面尺寸小于藍(lán)寶石晶片的外圍尺寸。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，其特征是:在吸盤(pán)的下表面為軟性材料層。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種藍(lán)寶石晶片厚度檢測(cè)裝置，其特征是:所述的往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)為氣缸，氣缸的伸縮桿與連接板連接。
【文檔編號(hào)】B07C5/10GK204194310SQ201420597566
【公開(kāi)日】2015年3月11日 申請(qǐng)日期:2014年10月16日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月16日
【發(fā)明者】楊國(guó)峰, 楊文娟 申請(qǐng)人:杭州世明光電有限公司