專利名稱：電子元件檢查分類設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是提供一種于多個置料裝置間設(shè)有共用的3 D取像器，并搭配具多個移料器的搬移裝置，而提升3 D取像器的使用效能，以及易于分類收置電子元件，進(jìn)而節(jié)省設(shè)備成本及增加檢查產(chǎn)能的電子元件檢查分類設(shè)備。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)今，電子元件于制作完成后，業(yè)者是以檢查設(shè)備對電子元件進(jìn)行接點(diǎn)、外觀、真圓度或型號等檢查作業(yè)，請參閱圖1，為現(xiàn)有電子元件檢查設(shè)備的示意圖，其是于機(jī)臺11上配置有一具供料區(qū)121及載臺122的供料器12，其供料區(qū)121是容置有盛裝待檢查電子元件14的料盤13，并以載臺122將具待檢查電子元件14的料盤13作第一方向(如X方向)位移載送至移料器15的下方，移料器15是作第二、三方向(如Y、Z方向)位移于載臺122上的料盤13取出待檢查的電子元件14，并移載至3 D取像器16處，3 D取像器16即對料盤13上的電子元件14進(jìn)行3 D取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，中央控制裝置即對電子元件14進(jìn)行接點(diǎn)、外觀、腳位或真圓度等檢查作業(yè)，移料器15再將3 D取像完畢的電子元件14放回料盤13，進(jìn)而依序取出下一批待檢查的電子元件14，于各電子元件14完成3 D取像作業(yè)后，檢查設(shè)備是以移盤器17將料盤14移載至一具載臺181及收料區(qū)182的收料器18處，收料器18是以載臺181將料盤13載送至2 D取像器19的下方，2 D取像器19是作第二方向位移對料盤13上的電子元件14進(jìn)行2 D取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置即對電子元件14進(jìn)行型號、商標(biāo)等檢查作業(yè)，于各電子元件14完成2 D取像作業(yè)后，載臺181是將具已檢查電子元件14的料盤13載送至收料區(qū)182收置；但是，所述檢查設(shè)備是于一供料器12的側(cè)方配置一 3 D取像器16，以對電子元件14進(jìn)行3 D取像作業(yè)，但3 D取像器16的購置成本相當(dāng)昂貴，若于增設(shè)的各供料器12側(cè)方均增配一 3 D取像器16，對于整體檢查設(shè)備而言，勢必大幅增加成本，又移料器15是將電子元件14移載至3 D取像器16取像后，再放回料盤13收置，并待料盤13作第一方向位移，方可于料盤13上取出下一電子兀件，但卻導(dǎo)致3 D取像器16于移料器15執(zhí)行取放電子元件14作業(yè)時，必須待機(jī)空等下一取像的電子元件14，不僅無法發(fā)揮3 D取像器16的使用效能，更降低檢查設(shè)備的生產(chǎn)效能。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目之一，是提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，其包含多個置料裝置、取像裝置、分類裝置、搬移裝置及中央控制裝置，多個置料裝置分別設(shè)有至少一盛裝待檢查電子元件的料盤，取像裝置于多個置料裝置間設(shè)有共用且取像電子元件的3 D取像器，并設(shè)有至少一可位移動作且取像電子元件的2 D取像器，搬移裝置設(shè)有多個移料器，用以將多個置料裝置處的待檢查電子元件移載至共用的3 D取像器進(jìn)行取像作業(yè)，使得檢查分類設(shè)備可利用各裝置的時序搭配動作，毋須于各置料裝置的側(cè)方相對增設(shè)3 D取像器，達(dá)到大幅節(jié)省設(shè)備成本的實(shí)用效益。[0004]本實(shí)用新型的目之二，是提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，其中，所述搬移裝置設(shè)有多個移料器，用以將多個置料裝置處的待檢查電子元件移載至共用的3 D取像器進(jìn)行取像作業(yè)，進(jìn)而縮減3 D取像器的空等待機(jī)時間，以充分發(fā)揮3 D取像器的使用效能，達(dá)到提升設(shè)備生產(chǎn)效能的實(shí)用效益。本實(shí)用新型的目之三，是提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，其中，所述分類裝置設(shè)有至少一盛裝良品電子元件的良品區(qū)、至少一盛裝不良品電子元件的不良品區(qū)及至少一盛裝次級品電子元件的次級品區(qū)，所述搬移裝置設(shè)有至少一換料器，用以于多個置料裝置及分類裝置間補(bǔ)換電子元件，當(dāng)各置料裝置的料盤上的各電子元件執(zhí)行3 D / 2 D取像作業(yè)完畢后，中央控制裝置控制搬移裝置的換料器將置料裝置的料盤上的不良品電子元件移載至分類裝置的不良品區(qū)，并將良品區(qū)的良品電子元件補(bǔ)置于置料裝置的料盤上，使各置料裝置的料盤收置整盤良品電子元件，達(dá)到易于分類收料的實(shí)用效益。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，包含:機(jī)臺；多個置料裝置:其配置于機(jī)臺，是分別設(shè)有至少一盛裝待檢查電子元件的料盤；取像裝置:其配置于機(jī)臺，是于多個置料裝置間設(shè)有共用的3 D取像器，用以對電子元件進(jìn)行3 D取像作業(yè)，另設(shè)有至少一 2 D取像器，用以對電子元件進(jìn)行2 D取像作業(yè)；分類裝置:其配置于機(jī)臺，是設(shè)有至少一盛裝良品電子元件的良品區(qū)；搬移裝置:其配置于機(jī)臺，設(shè)有多個移料器，以分別于至少一置料裝置與取像裝置的3 D取像器間移載電子元件，另設(shè)有至少一換料器，以于置料裝置與分類裝置的良品區(qū)間進(jìn)行補(bǔ)換料作業(yè)；中央控制裝置:是用以控制及整合各裝置動作，以執(zhí)行自動化作業(yè)。其中，多個置料裝置是分別設(shè)有供料區(qū)及收料區(qū)，所述供料區(qū)容置至少一盛裝待檢查電子元件的料盤，所述收料區(qū)容置至少一盛裝已檢查電子元件的料盤。其中，多個置料裝置分別設(shè)有至少一于供料區(qū)及收料區(qū)間載送料盤的載臺。其中，多個置料裝置設(shè)有驅(qū)動源，用以驅(qū)動載臺于供料區(qū)及收料區(qū)間位移。其中，所述取像裝置設(shè)有至少一機(jī)械手臂，用以驅(qū)動2 D取像器位移。其中，所述分類裝置于機(jī)臺上設(shè)有至少一承置臺，并于承置臺上配置有盛裝良品電子元件的良品區(qū)。其中，所述分類裝置的承置臺是由動力機(jī)構(gòu)驅(qū)動位移。其中，所述分類裝置設(shè)有具至少一空料盤的不良品區(qū)，用以收置不良品電子元件，以及設(shè)有具至少一空料盤的次級品區(qū)，用以收置次級品電子元件。其中，所述搬移裝置設(shè)有至少一動力源，用以驅(qū)動移料器于置料裝置及3 D取像器間移載電子元件。其中，所述搬移裝置設(shè)有另一動力源，用以驅(qū)動換料器于置料裝置與分類裝置間進(jìn)行補(bǔ)換料作業(yè)。本實(shí)用新型可達(dá)到節(jié)省設(shè)備成本及增加檢查產(chǎn)能的實(shí)用效益。

[0023]圖1:現(xiàn)有電子元件檢查設(shè)備的示意圖。圖2:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的示意圖。圖3:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(一)。圖4:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(二)。圖5:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(三)。圖6:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(四)。圖7:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(五)。圖8:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(六)。圖9:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(七)。圖10:本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備的使用示意圖(八)。附圖標(biāo)記說明:〔現(xiàn)有〕11-機(jī)臺；12-供料器；121-供料區(qū)；122-載臺；13_料盤；14_電子元件；15_移料器；16-3 D取像器；17-移盤器；18-收料器；181-載臺；182-收料區(qū)；19_2 D取像器?！脖緦?shí)用新型〕20-機(jī)臺；30_第一置料裝置；31_第一供料區(qū)；311_第一承置器；32_第一收料區(qū)；321_第二承置器；331_第一載臺；332_第二載臺；341_第一驅(qū)動源；342_第二驅(qū)動源；40-第二置料裝置；41_第二供料區(qū)；411_第三承置器；42_第二收料區(qū)；421_第四承置器；431-第三載臺；432_第四載臺；441_第三驅(qū)動源；442_第四驅(qū)動源；50_取像裝置；51_3 D取像器；52_第一機(jī)械手臂；53_第一 2 D取像器；54_第二機(jī)械手臂；55_第二 2 D取像器；60-分類裝置；61_承置臺；62_動力機(jī)構(gòu)；63_良品區(qū)；64_不良品區(qū)；65_次級品區(qū)；70_搬移裝置；71_第一移料器；72_第二移料器；73_第一動力源；74_第二動力源；75_第一換料器；76_第二換料器；77_第三動力源；78_第四動力源；81_料盤；811、811 A -電子元件；82-料盤；821-電子元件；83_料盤；831-電子元件；84、85_料盤。
具體實(shí)施方式
為對本實(shí)用新型作更進(jìn)一步的了解，茲舉一較佳實(shí)施例并配合圖式，詳述如后:請參閱圖2，本實(shí)用新型電子元件檢查分類設(shè)備包含機(jī)臺20、多個置料裝置、取像裝置50、分類裝置60、搬移裝置70及中央控制裝置(圖未示出)，多個置料裝置是配置于機(jī)臺20上，并分別設(shè)有至少一盛裝待檢查電子元件的料盤，于本實(shí)施例中，檢查分類設(shè)備設(shè)有第一置料裝置30及第二置料裝置40，其中，所述第一置料裝置30是設(shè)有第一供料區(qū)31及第一收料區(qū)32，第一供料區(qū)31設(shè)有多個第一承置器311，用以承置至少一盛裝待檢查電子元件811的料盤81，第一收料區(qū)32設(shè)有多個第二承置器321，用以承置至少一盛裝已檢查電子元件的料盤，另設(shè)有至少一于第一供料區(qū)31及第一收料區(qū)32間載送料盤81的載臺，于本實(shí)施例中，設(shè)有第一載臺331及第二載臺332，第一、二載臺331、332分別由第一、二驅(qū)動源341、342驅(qū)動作第一、三方向位移，以交替于第一供料區(qū)31載出盛裝待檢查電子元件811的料盤81，并將料盤81載送至第一收料區(qū)32收置；所述第二置料裝置40設(shè)有第二供料區(qū)41及第二收料區(qū)42，第二供料區(qū)41設(shè)有多個第三承置器411，用以承置至少一盛裝待檢查電子元件821的料盤82，第二收料區(qū)42設(shè)有多個第四承置器421，用以承置至少一盛裝已檢查電子元件的料盤，另設(shè)有至少一于第二供料區(qū)41及第二收料區(qū)42間載送料盤82的載臺，于本實(shí)施例中，設(shè)有第三載臺431及第四載臺432，第三、四載臺431、432分別由第三、四驅(qū)動源441、442驅(qū)動作第一、三方向位移，以交替于第二供料區(qū)41載出盛裝待檢查電子元件821的料盤82，并將料盤82載送至第二收料區(qū)42收置；所述取像裝置50裝配于機(jī)臺20，并于多個置料裝置間設(shè)有共用的3 D取像器，用以取像電子元件，取像裝置50另設(shè)有至少一可位移動作的2 D取像器，用以取像電子元件，取像裝置50是將3 D / 2 D的取像資料傳輸至中央控制裝置，于本實(shí)施例中，所述取像裝置50是于第一、二置料裝置30、40間設(shè)有3 D取像器51，并于第一置料裝置30的上方設(shè)有至少一由第一機(jī)械手臂52帶動作第二方向位移的第一 2 D取像器53，用以取像電子元件，以及于第二置料裝置40的上方設(shè)有至少一由第二機(jī)械手臂54帶動作第二方向位移的第二 2 D取像器55，用以取像電子元件；所述分類裝置60是裝配于機(jī)臺20，并設(shè)有至少一盛裝良品電子元件的良品區(qū)，以供換料，更進(jìn)一步，是于固定式的承置臺或活動式的承置臺上配置有至少一盛裝良品電子元件的良品區(qū)，于本實(shí)施例中，是設(shè)有至少一由動力機(jī)構(gòu)62驅(qū)動作至少一第一方向位移的承置臺61，并于承置臺61上配置有良品區(qū)63、不良品區(qū)64及次級品區(qū)65，良品區(qū)63是容置至少一盛裝良品電子元件831的料盤83，不良品區(qū)64是容置至少一空的料盤84，用以盛裝不良品電子元件，次級品區(qū)65是容置至少一空的料盤85，用以盛裝次級品電子元件；所述搬移裝置70是裝配于機(jī)臺20，并設(shè)有多個移料器，以分別將至少一置料裝置處的電子元件移載至3 D取像器51進(jìn)行取像作業(yè)，另設(shè)有至少一換料器，用以于至少一置料裝置與分類裝置60間進(jìn)行補(bǔ)換料作業(yè)，于本實(shí)施例中，設(shè)有第一、二移料器71、72，第一移料器71是由第一動力源73驅(qū)動作第二、三方向位移，以于第一置料裝置30及3 D取像器51間移載電子元件811，第二移料器72是由第二動力源74驅(qū)動作第二、三方向位移，以于第二置料裝置40及3 D取像器51間移載電子元件821，另搬移裝置70設(shè)有第一、二換料器75、76，第一換料器75是由第三動力源77驅(qū)動作第二、三方向位移，用以將第一置料裝置30的料盤81上的不良品電子元件或次級品電子元件移載至分類裝置60的不良品區(qū)64的料盤84或次級品區(qū)65的料盤85，并將良品區(qū)63的料盤83上的良品電子元件831補(bǔ)置于第一置料裝置30的料盤81上，使第一置料裝置30的料盤81收置整盤良品的電子元件，第二換料器76是由第四動力源78驅(qū)動作第二、三方向位移，用以將第二置料裝置40的料盤82上的不良品電子元件或次級品電子元件移載至分類裝置60的不良品區(qū)64的料盤84或次級品區(qū)65的料盤85，并將良品區(qū)63的料盤83上的良品電子元件831補(bǔ)置于第二置料裝置40的料盤82上，使第二置料裝置40的料盤82收置整盤良品的電子元件，所述中央控制裝置是用以控制及整合各裝置動作，以執(zhí)行自動化作業(yè)。請參閱圖3，第一置料裝置30是以第一驅(qū)動源341驅(qū)動第一載臺331作第三方向位移，而于第一供料區(qū)31的第一承置器311處移載具待檢查電子元件811的料盤81，于第一載臺331承載料盤81后，第一驅(qū)動源341是驅(qū)動第一載臺331作第一方向位移將料盤81載送至搬移裝置70的第一移料器71處，第一移料器71是由第一動力源73驅(qū)動作第二、三方向位移，而于料盤81上取出待檢查的電子元件811 ;請參閱圖4，第一移料器71是由第一動力源73驅(qū)動作第二方向位移，將待檢查的電子元件811移載至3 D取像器51處，3 D取像器51即對待檢查的電子元件811進(jìn)行3 D取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置是檢查電子元件811的接點(diǎn)、外觀、腳位或真圓度等，另第二置料裝置40是以第三驅(qū)動源441驅(qū)動第三載臺431作第三方向位移，而于第二供料區(qū)41的第三承置器411處移載具待檢查電子元件821的料盤82，于第三載臺431承載料盤82后，第三驅(qū)動源441是驅(qū)動第三載臺431作第一方向位移將料盤82載送至搬移裝置70的第二移料器72處，第二移料器72是由第二動力源74驅(qū)動作第二、三方向位移，而于料盤82上取出待檢查的電子元件821 ;請參閱圖5，于3 D取像器51取像電子元件811完畢后，第一移料器71是作第二方向位移將電子元件811移載至第一置料裝置30處，并放回料盤81，第二移料器72是由第二動力源74驅(qū)動作第二方向位移，將待檢查的電子元件821接續(xù)移載至3 D取像器51處，3 D取像器51即對待檢查的電子元件821進(jìn)行3 D取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置是檢查電子元件821的接點(diǎn)、外觀、腳位或真圓度等；請參閱圖6，于料盤81上的各電子元件811執(zhí)行3 D取像作業(yè)完畢后，第一置料裝置30是以第一驅(qū)動源341驅(qū)動第一載臺331作第一方向位移，將料盤81載送至取像裝置50的第一 2 D取像器53處，第一 2 D取像器53是由第一機(jī)械手臂52驅(qū)動作第二方向位移，而對料盤81上待檢查的電子元件811進(jìn)行2 D取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置是檢查電子元件811的型號、商標(biāo)等；請參閱圖7，于料盤81上的各電子元件811執(zhí)行3 D / 2 D取像作業(yè)完畢后，第一置料裝置30是以第一驅(qū)動源341驅(qū)動第一載臺331作第一方向位移，將料盤81載送至第一換料器75處，所述分類裝置60是以動力機(jī)構(gòu)62驅(qū)動承置臺61作第一方向位移,使良品區(qū)63、不良品區(qū)64及次級品區(qū)65位于料盤81的側(cè)方，中央控制裝置是依檢查結(jié)果，而控制第一換料器75作第二、三方向位移將料盤81上的不良品電子元件811 A取出，另料盤82上的各電子元件821執(zhí)行3 D取像作業(yè)完畢后，第二置料裝置40是以第三驅(qū)動源441驅(qū)動第三載臺431作第一方向位移，將料盤82載送至取像裝置50的第二 2 D取像器55處，第二 2 D取像器55是由第二機(jī)械手臂54驅(qū)動作第二方向位移，而對料盤82上的電子元件821進(jìn)行2 D取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置檢查電子元件821的型號、商標(biāo)等；請參閱圖8，第一換料器75作第二、三方向位移將不良品電子元件811 A移載至分類裝置60的不良品區(qū)64的空料盤84分類收置；請參閱圖9，中央控制裝置是控制第一換料器75作第二、三方向位移，于分類裝置60的良品區(qū)63的料盤83取出良品電子元件831，并移載補(bǔ)置于第一置料裝置30的料盤81上；請參閱圖10，于第一置料裝置30的料盤81執(zhí)行換補(bǔ)料作業(yè)完畢后，所述料盤81是盛裝整盤均為良品的電子兀件811、831，第一置料裝置30是以第一驅(qū)動源341驅(qū)動第一載臺331作第一、三方向位移，將整盤具良品電子元件811、831的料盤81載送至第一收料區(qū)32處，并置放于第二承置器321上收置。
權(quán)利要求1.一種電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，包含: 機(jī)臺； 多個置料裝置:其配置于機(jī)臺，是分別設(shè)有至少一盛裝待檢查電子元件的料盤； 取像裝置:其配置于機(jī)臺，是于多個置料裝置間設(shè)有共用的3 D取像器，用以對電子元件進(jìn)行3 D取像作業(yè)，另設(shè)有至少一 2 D取像器，用以對電子元件進(jìn)行2 D取像作業(yè)； 分類裝置:其配置于機(jī)臺，是設(shè)有至少一盛裝良品電子元件的良品區(qū)； 搬移裝置:其配置于機(jī)臺，設(shè)有多個移料器，以分別于至少一置料裝置與取像裝置的3D取像器間移載電子元件，另設(shè)有至少一換料器，以于置料裝置與分類裝置的良品區(qū)間進(jìn)行補(bǔ)換料作業(yè)； 中央控制裝置:是用以控制及整合各裝置動作，以執(zhí)行自動化作業(yè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，多個置料裝置是分別設(shè)有供料區(qū)及收料區(qū)，所述供料區(qū)容置至少一盛裝待檢查電子元件的料盤，所述收料區(qū)容置至少一盛裝已檢查電子元件的料盤。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，多個置料裝置分別設(shè)有至少一于供料區(qū)及收料區(qū)間載送料盤的載臺。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，多個置料裝置設(shè)有驅(qū)動源，用以驅(qū)動載臺于供料區(qū)及收料區(qū)間位移。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，所述取像裝置設(shè)有至少一機(jī)械手臂，用以驅(qū)動2 D取像器位移。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，所述分類裝置于機(jī)臺上設(shè)有至少一承置臺，并于承置臺上配置有盛裝良品電子元件的良品區(qū)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，所述分類裝置的承置臺是由動力機(jī)構(gòu)驅(qū)動位移。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，所述分類裝置設(shè)有具至少一空料盤的不良品區(qū)，用以收置不良品電子元件，以及設(shè)有具至少一空料盤的次級品區(qū)，用以收置次級品電子元件。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，所述搬移裝置設(shè)有至少一動力源，用以驅(qū)動移料器于置料裝置及3 D取像器間移載電子元件。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢查分類設(shè)備，其特征在于，所述搬移裝置設(shè)有另一動力源，用以驅(qū)動換料器于置料裝置與分類裝置間進(jìn)行補(bǔ)換料作業(yè)。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種電子元件檢查分類設(shè)備，其包含多個置料裝置、取像裝置、分類裝置、搬移裝置及中央控制裝置，多個置料裝置分別設(shè)有至少一盛裝待檢查電子元件的料盤，取像裝置于多個置料裝置間設(shè)有共用的3Ｄ取像器，并設(shè)有至少一可位移動作的2Ｄ取像器，搬移裝置設(shè)有多個移料器，于3Ｄ取像完畢后，取像裝置是以2Ｄ取像器對各置料裝置上的電子元件進(jìn)行2Ｄ取像作業(yè)，分類裝置設(shè)有盛裝良品電子元件的良品區(qū)及盛裝不良品電子元件的不良品區(qū)，中央控制裝置是控制搬移裝置的換料器將各置料裝置的料盤上的不良品電子元件移載至分類裝置的不良品區(qū)，并將良品區(qū)的良品電子元件補(bǔ)置于料盤上，達(dá)到節(jié)省設(shè)備成本及增加檢查產(chǎn)能的實(shí)用效益。
文檔編號B07C5/36GK202921577SQ20122061350
公開日2013年5月8日 申請日期2012年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月19日
發(fā)明者鄭煒彥, 陳奐維, 賴正鑫, 曹允杰 申請人:臺灣暹勁股份有限公司