專利名稱：：導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及的是一種檢測方法，尤指一種利用影像處理的方式，檢測導(dǎo)線上的導(dǎo)電粒子壓痕等級(jí)分類的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法。
背景技術(shù)：
：液晶顯示構(gòu)裝技術(shù)主要泛指液晶面板與外圍驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的連接技術(shù)。現(xiàn)行市場上因?yàn)椴煌男栌啥蟾庞袔钭詣?dòng)化粘合構(gòu)裝TAB(TapeAutomatedBonding),晶粒玻璃構(gòu)裝COG(ChiponGlass)與覆晶薄膜構(gòu)裝COF(ChiponFilm)等三種主要的構(gòu)裝方式。其中，由于COF具有可撓性、輕巧性以及整合多系統(tǒng)組件的特性，使其在液晶顯示構(gòu)裝產(chǎn)業(yè)中占有一席的地，尤其對(duì)于小尺寸的消費(fèi)性電子產(chǎn)品的應(yīng)用上更具多樣性。COF的構(gòu)裝接合主要是將驅(qū)動(dòng)IC、主動(dòng)和被動(dòng)組件先以覆晶方式封裝在軟板上，再與液晶面板接合，可達(dá)到縮小尺寸與整合多功能芯片組的目的。COF不但耐熱性較佳、透明度高，同時(shí)更有可撓性等優(yōu)點(diǎn)。COF目前主要應(yīng)用在小尺寸手機(jī)、可攜式電子產(chǎn)品與大尺寸LCDTV面板模塊等部分。所以其COF組件整合能力與LCD模塊設(shè)計(jì)能力為此部份廠商發(fā)展的重點(diǎn)。然而COF在與液晶面板構(gòu)裝時(shí)，是利用導(dǎo)線(lead)作為COF與液晶面板的通訊接口。一般而言，如圖l所示，所述的圖為導(dǎo)線的影像示意圖。導(dǎo)線與玻璃之間因?yàn)榫哂袑?dǎo)電粒子，因此在接合加工(bonding)的過程中，在導(dǎo)線表面會(huì)形成所謂的凸點(diǎn)(如區(qū)域90內(nèi)的凸點(diǎn))，也即所謂的導(dǎo)電粒子壓痕。而導(dǎo)電粒子壓痕的程度會(huì)影響到電訊導(dǎo)通效果的優(yōu)劣，因此如何在接合加工后檢測導(dǎo)線的壓痕狀態(tài)是相當(dāng)重要。而在現(xiàn)有技術(shù)中，通常是擷取對(duì)接合后的導(dǎo)線的影像，然后利用人眼判斷的方式進(jìn)行辨識(shí)。不過人員目視檢測導(dǎo)電粒子壓痕狀態(tài)，容易因個(gè)人或環(huán)境因素?zé)o法提供一個(gè)長期穩(wěn)定的狀態(tài)。隨工作時(shí)間長短、情緒波動(dòng)與目視檢測經(jīng)驗(yàn)的不同，每一次的判斷都無法一致。此外，人員目視檢測無數(shù)據(jù)提供加工人員參考。目檢人員，對(duì)于導(dǎo)電粒子往往只計(jì)算顆粒數(shù)，壓痕強(qiáng)弱無法明確的判斷，對(duì)于加工狀態(tài)與時(shí)反應(yīng)性差。綜合上述，因此亟需一種導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法來解決現(xiàn)有技術(shù)所產(chǎn)生的問題。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供一種導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其是利用視覺影像的方式對(duì)導(dǎo)電粒子壓痕進(jìn)行等級(jí)分類，進(jìn)而計(jì)算出對(duì)應(yīng)不同壓痕等級(jí)的導(dǎo)電粒子數(shù)量，以確保導(dǎo)電粒子壓痕質(zhì)量穩(wěn)定度。本發(fā)明提供一種導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其是可以應(yīng)用在電子軟板，如覆晶薄膜(chiponfilm，COF),與電子組件間的導(dǎo)線(lead)加工質(zhì)量，通過視覺影像的方式對(duì)導(dǎo)線內(nèi)的導(dǎo)電粒子壓痕進(jìn)行等級(jí)分類，進(jìn)而計(jì)算出對(duì)應(yīng)不同壓痕等級(jí)的數(shù)量，進(jìn)而判斷出導(dǎo)線形成質(zhì)量的優(yōu)劣。在一實(shí)施例中，本發(fā)明提供一種導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，包括建立復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，每一個(gè)等級(jí)對(duì)應(yīng)有一基準(zhǔn)值；對(duì)一待辨識(shí)影像進(jìn)行一影像處理程序以辨識(shí)出所述的待辨識(shí)影像中的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置；決定對(duì)應(yīng)每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識(shí)值；以及將每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的辨識(shí)值與所述的復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)值進(jìn)行比較以決定出每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。較佳的是，所述的影像處理程序?yàn)閷?duì)所述的待處理影像進(jìn)行梯度強(qiáng)化處理。較佳的是，所述的辨識(shí)值為所述的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的影像梯度值。較佳的是，其中建立復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)還包括有下列步驟提供具有一標(biāo)準(zhǔn)影像，所述的標(biāo)準(zhǔn)影像上具有復(fù)數(shù)個(gè)已知導(dǎo)電粒子壓痕影像；利用目視方式定義出每一個(gè)已知導(dǎo)電粒子壓痕影像所代表的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)；以及求出每一種等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的基準(zhǔn)值。其中，所述的基準(zhǔn)值為所述的已知的導(dǎo)電粒子壓痕影像的影像梯度值。較佳的是，待辨識(shí)影像為一電路基板的導(dǎo)線(lead)的影像。其中所述的電路基板為軟性電路板。較佳的是，所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法還包括有根據(jù)所述的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量決定所述的待辨識(shí)影像是否合格的一步驟。其中，決定所述的待辨識(shí)影像是否合格的方式還包括有下列步驟決定一第一門坎值，其為要被采樣的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)門坎；統(tǒng)計(jì)所述的待辨識(shí)影像中等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)大于等于所述的第一門坎值的導(dǎo)電粒子壓痕影像的數(shù)目；決定一第二門坎值；以及如果所述的數(shù)目大于等于所述的第二門坎值的話，則所述的待辨識(shí)影像即判定為一合格影像。圖1為導(dǎo)線的影像示意圖2為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法流程示意圖；圖3為本發(fā)明建立影像標(biāo)準(zhǔn)程序流程示意圖；圖4A至圖4C為壓痕影像處理辨識(shí)示意圖；圖5A與圖5B為待辨識(shí)影像中的壓痕影像等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)識(shí)別示意圖；圖6為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法流程另一實(shí)施例示意圖；圖7為本發(fā)明判斷待辨識(shí)影像所對(duì)應(yīng)的導(dǎo)線是否合格的流程示意圖。附圖標(biāo)記說明2-導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法；2024-步驟；200202-步驟；240~243-步驟；30-導(dǎo)線；90-區(qū)域；91、300-區(qū)域。具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明上述的和另外的技術(shù)特征和優(yōu)點(diǎn)作更詳細(xì)的說明。請(qǐng)參閱圖2所示，所述的圖為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法流程示意圖。所述的導(dǎo)電粒子壓痕分與方法包括有下列步驟，首先進(jìn)行步驟20建立影像標(biāo)準(zhǔn)。在本步驟中，主要是要先建立代表不同壓痕程度的標(biāo)準(zhǔn)，通過建立復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，每一個(gè)等級(jí)對(duì)應(yīng)有一基準(zhǔn)值以利后續(xù)自動(dòng)判別。請(qǐng)參閱圖3所示，所述的圖為本發(fā)明建立影像標(biāo)準(zhǔn)程序流程示意圖。建立標(biāo)準(zhǔn)的程序首先進(jìn)行步驟200,提供具有一標(biāo)準(zhǔn)影像。在本實(shí)施例中，所述的標(biāo)準(zhǔn)影像為液晶面板與覆晶薄膜間的導(dǎo)線(lead)的影像，但不以此為限。如圖4A所示，所述的標(biāo)準(zhǔn)影像上具有復(fù)數(shù)個(gè)已知導(dǎo)電粒子壓痕影像。接著進(jìn)行步驟201，利用目視方式定義出每一個(gè)已知導(dǎo)電粒子壓痕影像所代表的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的種類數(shù)量是可根據(jù)需要而定，在本實(shí)施例中，是定義出六種不同凸出程度的壓痕等級(jí)(05級(jí))，如圖4B所示。其中，0級(jí)的導(dǎo)電粒子壓痕比較輕微，然后壓痕程度逐級(jí)漸增，也即第5級(jí)的導(dǎo)電粒子壓痕程度最大、最明顯。最后，進(jìn)行步驟202以求出每一種等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的基準(zhǔn)值。本步驟中所謂的基準(zhǔn)值是指每一種等級(jí)所對(duì)應(yīng)到的壓痕影像所具有的影像梯度值。本實(shí)施例中影像梯度值求法為在不同的壓痕影像上擷取一區(qū)域范圍。如圖4C所示，以等級(jí)5的壓痕為例，所迷的區(qū)域91內(nèi)可再分成復(fù)數(shù)個(gè)子區(qū)域，然后利用影像處理的方式計(jì)算出每一個(gè)子區(qū)域內(nèi)的影像梯度值，然后再將每一個(gè)子區(qū)域所計(jì)算出的影像梯度值予以加總所得到的一個(gè)累計(jì)值即為代表等級(jí)5的壓痕所具有的基準(zhǔn)值。同理，等級(jí)0至等級(jí)4所對(duì)應(yīng)到的壓痕影像都可以求得到一個(gè)對(duì)應(yīng)的影像梯度值以作為基準(zhǔn)值。求梯度值的方式是可根據(jù)需要而定，并不以本發(fā)明的實(shí)施例為限。再回到圖2所示，建立不同壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)之后，接下來可進(jìn)行步驟21,對(duì)一待辨識(shí)影像進(jìn)行一影像處理程序以辨識(shí)出所述的待辨識(shí)影像中的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置。在本步驟中，主要是先擷取要進(jìn)行檢測的導(dǎo)線的影像以形成所述的待辨識(shí)影像。然后，對(duì)于所述的待辨識(shí)影像上的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕進(jìn)行影像辨識(shí)，其中步驟21中的影像處理程序?yàn)閷?duì)所述的待處理影像進(jìn)行梯度強(qiáng)化處理，以凸顯出壓痕的位置。至于梯度強(qiáng)化的影像處理是屬于現(xiàn)有至技術(shù)，在此不作贅述。接下來進(jìn)行步驟22,決定對(duì)應(yīng)每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識(shí)值。在本步驟中，如圖5A所示，先找出經(jīng)過影像處理程序處理后的待辨識(shí)影像上的壓痕位置。然后利用步驟202的方式，對(duì)每一個(gè)方框區(qū)域內(nèi)的壓痕影像進(jìn)行運(yùn)算以求出每一個(gè)區(qū)域內(nèi)所對(duì)應(yīng)的壓痕所具有的一辨識(shí)值。在本實(shí)施例中，所述的辨識(shí)值為所述的區(qū)域內(nèi)的影像梯度值，其方式是如同圖4C所示。再回到圖2所示，最后進(jìn)行步驟23,將每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。由于在步驟20中，已經(jīng)決定出不同等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的壓痕所具有的基準(zhǔn)值(影像梯度值)大小。因此在步驟23中所決定出關(guān)于所述的待辨識(shí)影像中的每一個(gè)壓痕影像所具有的辨識(shí)值(也即影像梯度值)。因此，可以將所述的辨識(shí)值與所述的基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，然后可以根據(jù)比較的結(jié)果斷定辨識(shí)值屬于哪一個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。例如表一所示，為每一等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的梯度值。在此需說明的是所述的基準(zhǔn)值為方便說明而定，實(shí)際上并不一定是表中的值。表一為每一等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的梯度值關(guān)系表<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>在本實(shí)施例中，例如圖5A的導(dǎo)線30內(nèi)所具有壓痕的位置中，區(qū)域300所具有的辨識(shí)值為65，則根據(jù)表一的內(nèi)容可以斷定區(qū)域300內(nèi)所具有的壓痕影像其是屬于等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)2。同理，對(duì)于導(dǎo)線30內(nèi)所有具有方框區(qū)域的壓痕影像都可以根據(jù)其所具有的影像梯度值而根據(jù)表一找到對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，其結(jié)果如圖5B所示。通過上述的步驟20至步驟23的過程可以辨識(shí)出每一條導(dǎo)線上所具有的導(dǎo)電粒子壓痕所具有的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)參閱圖6所示，所述的圖為本發(fā)明的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法流程另一實(shí)施例示意圖。在本實(shí)施例中，基本上與圖2所示的程序相同，差異的是利用步驟23所辨識(shí)出的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)可進(jìn)一步的利用步驟24根據(jù)所述的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量，決定所述的待辨識(shí)影像是否合格。請(qǐng)參閱圖7所示，所述的圖為本發(fā)明判斷待辨識(shí)影像所對(duì)應(yīng)的導(dǎo)線是否合格的流程示意圖。首先進(jìn)行步驟240,決定一第一門坎值，其為要被采樣的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)門坎。接下來，進(jìn)行步驟241統(tǒng)計(jì)所述的待辨識(shí)影像中等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)大于等于所述的第一門坎值的導(dǎo)電粒子壓痕影像的數(shù)目。以圖5B為例，對(duì)于導(dǎo)線30而言的各個(gè)等級(jí)的壓痕數(shù)量3口下表二所示。表二每一等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的梯度值關(guān)系表<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>而在本實(shí)施例中，所述的第一門坎值是要以哪一個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)為界，可根據(jù)需要而定。例如如果有等級(jí)2為界的話，則大于等于等級(jí)2的壓痕數(shù)目為17個(gè)。接著進(jìn)行步驟242,決定一第二門坎值。然后進(jìn)行步驟243，如果所述的數(shù)目大于等于所述的第二門坎值的話，則所述的待辨識(shí)影像即判定為一合格影像。例如假設(shè)，所述的第二門坎值為15,則根據(jù)上述導(dǎo)線30根據(jù)所述的第一門坎值所決定的壓痕數(shù)量與所述的第二門坎值比較的話(17>15)，因此可以判斷所述的導(dǎo)線30為合格的加工結(jié)果。雖然在本實(shí)施例以單一導(dǎo)線作說明，但是實(shí)際上也可以整個(gè)待測影像所有導(dǎo)線的壓痕總數(shù)來進(jìn)行判斷，這是熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人，根據(jù)本發(fā)明前述的說明可以予以變化應(yīng)用。量穩(wěn)定度，以利進(jìn)行檢測判斷的優(yōu)點(diǎn)。因此已經(jīng)可以提高所述的產(chǎn)業(yè)的竟?fàn)幜σ约皫?dòng)周遭產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，誠已符合發(fā)明專利法所規(guī)定申請(qǐng)發(fā)明所需具備的要件，故依法提起發(fā)明專利的申請(qǐng)。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明而言僅僅是說明性的，而非限制性的。本專業(yè)技術(shù)人員理解，在本發(fā)明權(quán)利要求所限定的精神和范圍內(nèi)可對(duì)其進(jìn)行許多改變，修改，甚至等效，但都將落入本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。9權(quán)利要求1、一種導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于包括建立復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，每一個(gè)等級(jí)對(duì)應(yīng)有一基準(zhǔn)值；對(duì)一待辨識(shí)影像進(jìn)行一影像處理程序以辨識(shí)出所述的待辨識(shí)影像中的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置；決定對(duì)應(yīng)每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識(shí)值；以及將每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的辨識(shí)值與所述的復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)值進(jìn)行比較以決定出每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于所述的影像處理程序?yàn)閷?duì)所述的待處理影像進(jìn)行梯度強(qiáng)化處理。3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，'其特征在于所述的辨識(shí)值為所述的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的影像梯度值。4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于建立復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)還包括有下列步驟提供一標(biāo)準(zhǔn)影像，所述的標(biāo)準(zhǔn)影像上具有復(fù)數(shù)個(gè)已知導(dǎo)電粒子壓痕影像；利用目視方式定義出每一個(gè)已知導(dǎo)電粒子壓痕影像所代表的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)；以及求出每一種等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電粒子壓痕影像所具有的基準(zhǔn)值。5、根據(jù)權(quán)利要求4所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于所述的基準(zhǔn)值為所述的已知的導(dǎo)電粒子壓痕影像的影像梯度值。6、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于所述的待辨識(shí)影像為一電路基板與電子組件間的導(dǎo)線的影像。7、根據(jù)權(quán)利要求6所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于所述的電路基板為軟性電路板。8、根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于還包括一步驟根據(jù)所述的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量，決定所述的待辨識(shí)影像是否合格。9、根據(jù)權(quán)利要求8所述的導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其特征在于所述的決定所述的待辨識(shí)影像是否合格的方式還包括有下列步驟決定一第一門坎值，其為要被采樣的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)門坎；統(tǒng)計(jì)所述的待辨識(shí)影像中等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)大于等于所述的第一門坎值的導(dǎo)電粒子壓痕影像的數(shù)目；決定一第二門坎值；以及如果所述的數(shù)目大于等于所述的第二門坎值的話，則所述的持辨識(shí)影像即判定為一合格影像。全文摘要本發(fā)明為一種導(dǎo)電粒子壓痕分級(jí)方法，其是可自動(dòng)辨識(shí)導(dǎo)線(lead)上的導(dǎo)電粒子壓痕的等級(jí)。所述的方法首先建立復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，每一個(gè)等級(jí)對(duì)應(yīng)有一基準(zhǔn)值。然后辨識(shí)出一待辨識(shí)影像中的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的位置。接著決定對(duì)應(yīng)每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像的一辨識(shí)值。隨后將每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的辨識(shí)值與所述的復(fù)數(shù)個(gè)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)值進(jìn)行比較以決定出每一個(gè)導(dǎo)電粒子壓痕影像所對(duì)應(yīng)的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。利用本發(fā)明的方法可以維持檢測導(dǎo)電粒子壓痕在檢測分級(jí)時(shí)的穩(wěn)定度，以避免現(xiàn)有利用人工方式檢廁所產(chǎn)生的判斷不一的問題。文檔編號(hào)B07C5/342GK101632990SQ20081013359公開日2010年1月27日申請(qǐng)日期2008年7月21日優(yōu)先權(quán)日2008年7月21日發(fā)明者彭火熾申請(qǐng)人:均豪精密工業(yè)股份有限公司