冰箱檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及制冷領(lǐng)域，尤其涉及一種冰箱檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，冰箱通常通過檢測(cè)間室門體是否關(guān)閉來提醒用戶，起到保護(hù)冰箱中食物和節(jié)約能源的目的。門體未關(guān)閉主要指兩種情況:(1)門體與間室之間還有一段距離；(2)由于門體上的門封條老化，導(dǎo)致門封條與間室邊框之間的吸附力減弱，門體關(guān)閉后出現(xiàn)反彈現(xiàn)象，使得間室邊框與門體之間出現(xiàn)縫隙?，F(xiàn)有技術(shù)中主要有兩種結(jié)構(gòu)來檢測(cè)門體是否關(guān)閉:機(jī)械按鈕檢測(cè)結(jié)構(gòu)、磁敏開關(guān)檢測(cè)結(jié)構(gòu)。
[0003]機(jī)械按鈕檢測(cè)結(jié)構(gòu)主要是于間室邊框上設(shè)計(jì)一個(gè)可伸縮的機(jī)械按鈕，當(dāng)門體關(guān)閉過程中按下該機(jī)械按鈕時(shí)即判定門體已經(jīng)關(guān)閉，但是，一方面，當(dāng)門體與間室之間還有一小段距離時(shí)門體便可按下該機(jī)械按鈕，導(dǎo)致誤判；另一方面，該結(jié)構(gòu)也無法檢測(cè)到門封條老化而產(chǎn)生的縫隙。
[0004]磁敏開關(guān)檢測(cè)結(jié)構(gòu)主要是于間室邊框上設(shè)置磁敏開關(guān)檢測(cè)裝置，于對(duì)應(yīng)的門體門封條處設(shè)置磁性元件，當(dāng)門體關(guān)閉時(shí)，磁敏開關(guān)檢測(cè)裝置與磁性開關(guān)之間形成重疊面積，若重疊面積大于第一預(yù)設(shè)值，則判定門體已經(jīng)關(guān)閉，但是，當(dāng)門封條發(fā)生老化而反彈產(chǎn)生縫隙時(shí)，由于縫隙較小，磁敏開關(guān)檢測(cè)裝置與磁性開關(guān)之間的重疊面積仍然大于第一預(yù)設(shè)值，如此，該結(jié)構(gòu)也無法檢測(cè)到門封條老化而產(chǎn)生的縫隙。
[0005]另外，由于門封條老化在外觀上并不會(huì)太明顯，用戶難以判斷門封條是否已經(jīng)老化，從而導(dǎo)致用戶體驗(yàn)效果不佳。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種冰箱檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的之一，本發(fā)明一實(shí)施方式提供一種冰箱檢測(cè)方法，所述方法包括步驟:
檢測(cè)間室及門體之間的第一間距；
根據(jù)所述第一間距判斷所述門體狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距小于或等于第一閾值時(shí)，判斷所述門體處于關(guān)門狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于反彈狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于或等于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于打開狀態(tài)；統(tǒng)計(jì)反彈次數(shù)，當(dāng)判斷所述門體由所述開門狀態(tài)或所述關(guān)門狀態(tài)切換至所述反彈狀態(tài)時(shí)，所述反彈次數(shù)累計(jì)加一；
根據(jù)所述反彈次數(shù)判斷所述門封條是否處于老化狀態(tài)。
[0008]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，步驟“根據(jù)所述反彈次數(shù)判斷所述門封條是否處于老化狀態(tài)”具體包括:
統(tǒng)計(jì)關(guān)門次數(shù)，當(dāng)判斷所述門體由所述開門狀態(tài)或所述反彈狀態(tài)切換至所述關(guān)門狀態(tài)時(shí)，所述關(guān)門次數(shù)累計(jì)加一； 計(jì)算反彈概率，所述反彈概率=反彈次數(shù)/ (反彈次數(shù)+關(guān)門次數(shù))，當(dāng)所述反彈概率大于或等于第三閾值時(shí)，判斷所述門封條處于老化狀態(tài)。
作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，步驟“根據(jù)所述反彈次數(shù)判斷所述門封條是否處于老化狀態(tài)”具體包括:
判斷累計(jì)的反彈次數(shù)是否大于E次，若是，則判斷所述門封條處于老化狀態(tài)，若否，則判斷所述門封條處于非老化狀態(tài)。
[0009]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，步驟“根據(jù)所述反彈次數(shù)判斷所述門封條是否處于老化狀態(tài)”具體包括:
判斷累計(jì)的反彈次數(shù)的連續(xù)次數(shù)是否大于F次，若是，則判斷所述門封條處于老化狀態(tài)，若否，則判斷所述門封條處于非老化狀態(tài)。
[0010]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，步驟“根據(jù)所述反彈次數(shù)判斷所述門封條是否處于老化狀態(tài)”之后還包括:
若判斷所述門縫條處于老化狀態(tài)，發(fā)出提示信息；若判斷所述門縫條處于非老化狀態(tài)，繼續(xù)統(tǒng)計(jì)反彈次數(shù)。
[0011]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，步驟“根據(jù)所述第一間距判斷所述門體狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距小于或等于第一閾值時(shí)，判斷所述門體處于關(guān)門狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于反彈狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于或等于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于打開狀態(tài)”具體包括:
根據(jù)所述第一間距判斷所述門體狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距至少連續(xù)L次小于或等于第一閾值時(shí)，判斷所述門體處于關(guān)門狀態(tài)；當(dāng)所述第一間距至少連續(xù)M次大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于反彈狀態(tài)；當(dāng)所述第一間距至少連續(xù)N次大于或等于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于打開狀態(tài)，L、M、N為大于等于2的自然數(shù)。
[0012]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，步驟“根據(jù)所述第一間距判斷所述門體狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距小于或等于第一閾值時(shí)，判斷所述門體處于關(guān)門狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于反彈狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于或等于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于打開狀態(tài)”具體包括:
根據(jù)所述第一間距判斷所述門體狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距不低于連續(xù)L次小于或等于第一閾值時(shí)，判斷所述門體處于關(guān)門狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距低于連續(xù)L次小于或等于第一閾值時(shí)，不做判斷；當(dāng)所述第一間距不低于連續(xù)M次大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于反彈狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距低于連續(xù)M次大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，不作判斷；當(dāng)所述第一間距不低于連續(xù)N次大于或等于第二閾值時(shí)，判斷所述門體處于打開狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距低于連續(xù)N次大于或等于第二閾值時(shí)，不做判斷，L、M、N為大于等于2的自然數(shù)。
[0013]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，L、M、N的至少其中之二不相同。
[0014]為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的之一，本發(fā)明一實(shí)施方式提供一種冰箱檢測(cè)裝置，所述冰箱包括至少一間室及開閉所述間室的門體，所述間室具有邊框，所述門體具有對(duì)應(yīng)所述邊框的門封條，所述裝置還包括距離感應(yīng)器及處理器，距離感應(yīng)器位于所述間室和所述門體的至少其中之一上，所述距離感應(yīng)器用于感應(yīng)所述門體及所述間室之間的第一間距；處理器與所述距離感應(yīng)器相連，所述處理器包括用于累計(jì)反彈次數(shù)的計(jì)數(shù)器；其中，當(dāng)所述第一間距小于或等于第一閾值時(shí)，所述處理器判斷所述門體處于關(guān)門狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，所述處理器判斷所述門體處于反彈狀態(tài)，當(dāng)所述第一間距大于或等于第二閾值時(shí)，所述處理器判斷所述門體處于打開狀態(tài)；當(dāng)所述處理器判斷所述門體由所述開門狀態(tài)或所述關(guān)門狀態(tài)切換至所述反彈狀態(tài)時(shí)，所述反彈次數(shù)累計(jì)加一，所述處理器根據(jù)所述反彈次數(shù)判斷所述門封條是否處于老化狀態(tài)。
[0015]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，所述計(jì)數(shù)器還用于累計(jì)關(guān)門次數(shù)，所述處理器還用于計(jì)算反彈概率，當(dāng)所述處理器判斷所述門體由所述開門狀態(tài)或所述反彈狀態(tài)切換至所述關(guān)門狀態(tài)時(shí)，所述關(guān)門次數(shù)累計(jì)加一，所述反彈概率=反彈次數(shù)/ (反彈次數(shù)+關(guān)門次數(shù))，當(dāng)所述反彈概率大于或等于第三閾值時(shí)，所述處理器判斷所述門封條處于老化狀
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[0016]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，所述處理器還用于判斷累計(jì)的反彈次數(shù)是否大于E次，若是，則所述處理器判斷所述門封條處于老化狀態(tài)，若否，則所述處理器判斷所述門封條處于非老化狀態(tài)。
[0017]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，所述處理器還用于判斷累計(jì)的反彈次數(shù)的連續(xù)次數(shù)是否大于F次，若是，則所述處理器判斷所述門封條處于老化狀態(tài)，若否，則所述處理器判斷所述門封條處于非老化狀態(tài)。
[0018]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，所述裝置還包括提示裝置，當(dāng)所述處理器判斷所述門縫條處于老化狀態(tài)時(shí)，所述處理器控制所述提示裝置工作，當(dāng)所述處理器判斷所述門縫條處于非老化狀態(tài)時(shí)，所述處理器繼續(xù)統(tǒng)計(jì)反彈次數(shù)。
[0019]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，所述距離感應(yīng)器每隔第一時(shí)間間隔檢測(cè)所述第一間距，當(dāng)所述第一間距至少連續(xù)L次小于或等于第一閾值時(shí)，所述處理器判斷所述門體處于關(guān)門狀態(tài)；當(dāng)所述第一間距至少連續(xù)M次大于第一閾值且小于第二閾值時(shí)，所述處理器判斷所述門體處于反彈狀態(tài)；當(dāng)所述第一間距至少連續(xù)N次大于或等于第二閾值時(shí)，所述處理器判斷所述門體處于打開狀態(tài)，L、Μ、N為大于等于2的自然數(shù)。
[0020]作為本發(fā)明一實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn)，所述距離