技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種膜厚控制系統(tǒng)及薄膜剖面圖像的字符提取與膜厚采集方法，膜厚控制系統(tǒng)包括擠出單元、冷卻成型單元、拉伸單元、測(cè)厚單元、監(jiān)測(cè)控制單元和收卷單元，其中冷卻成型單元內(nèi)含刻印模塊，監(jiān)測(cè)控制單元內(nèi)有數(shù)顯設(shè)備、膜厚圖像拾取模塊、圖像處理模塊、控制模塊、模頭調(diào)節(jié)器和變頻器。測(cè)厚單元檢測(cè)薄膜厚度并將薄膜剖面圖像傳送給數(shù)顯設(shè)備，并經(jīng)膜厚圖像拾取模塊轉(zhuǎn)送到圖像處理模塊，控制模塊接收?qǐng)D像處理模塊輸出的標(biāo)記有模頭螺栓位置的薄膜厚度值集合后分別通過(guò)變頻器和模頭調(diào)節(jié)器來(lái)調(diào)節(jié)薄膜縱向和橫向的厚度。本發(fā)明實(shí)時(shí)采集薄膜剖面圖像信號(hào)，分析處理得到厚度參數(shù)，通過(guò)模頭螺栓進(jìn)行剖面的厚度調(diào)節(jié)，達(dá)到薄膜橫向厚度均勻的目的，同時(shí)通過(guò)擠出速度的調(diào)節(jié)使薄膜縱向厚度保持一致。

技術(shù)研發(fā)人員：鄒細(xì)勇;朱力;胡曉靜
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)計(jì)量大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.28
技術(shù)公布日：2017.11.03